Интерференционные явления

И получают интерференционную картину, т. е. объектом нашего рассмотрения будут интерференционные явления. [c.130]

Практическое использование метода ультразвукового структурного анализа по величине коэффициента затухания в производственных условиях часто связано с большими трудностями или вообще невозможно. При определении коэффициента затухания ультразвуковых колебаний в металле необходимо учитывать влияние потерь, возникающих при передаче энергии через промежуточную среду (смазку) ослабление энергии в связи с расхождением пучка ультразвуковых лучей интерференционные явления вследствие непараллельности отражающих ультразвуковую энергию граней образца или изделия и другие факторы. До последнего времени имелись лишь ограниченные данные об успешном применении ультразвука для контроля структуры металлических материалов и изделий в производственных усло- [c.67]

Неоднородные ширины линий, обусловленные анизотропными взаимодействиями, также ведут к интерференционным явлениям в 2М-спектрах поликристаллических порошков или аморфных материалов (см. разд. 7.3). Этих нежелательных явлений можно избежать, если получить 2М-пики в моде чистого поглощения. [c.380]

Разброс Z , обусловленный непостоянством толщины клеевого шва, неоднородностями изделия, не являющимися браковочными признаками, и интерференционными явлениями, создает мешающий фон, затрудняющий [c.269]

Волны СВЧ легко получить в виде когерентных поляризованных гармонических электромагнитных колебаний, а это дает возможность обеспечивать высокую чувствительность и точность контроля, используя интерференционные явления, возникающие при взаимодействии когерентных волн с диэлектрическим слоем. [c.420]

Измерения интенсивности рассеяния света [5, 28, 62] или мутности являются, как и рентгенография, удобными источниками информации относительно существования и формы агрегатов. Однако при плотной упаковке и регулярном расположении агрегатов (как это имеет место в блоксополимерах или их концентрированных растворах) интерференционные явления искажают картину рассеяния [33, 58, 61]. Таким образом, метод измерения интенсивности рассеяния света дает быструю и точную информацию только для очень разбавленных растворов. Ранее было установлено, что диаметры агрегатов изменяются незначительно нри смешении блоксополимера с очень большим количеством полибутадиена [33]. Но измерения [c.185]

Как было показано в предыдущем параграфе, при рассеянии медленных нейтронов системой ядер интерференционные явления определяются только когерентной частью амплитуды рассеяния. Вычислим теперь влияние пространственного распределения ядер [c.602]

При очень больших энергиях нейтрона (>. С а) интерференционные явления исчезают, и сечение реакции а (п, п) (а - - Х)2. [c.904]

Интерференционные явления в приборах. Потери на отражение зависят от длины волны излучения и поэтому могут исказить распределение [c.92]

Оптические датчики. Для контроля роста пленок при вакуумном испарении можно использовать ряд оптических явлений, таких как поглощение, пропускание и отражение света и интерференционные явления. Необходимая для этого аппаратура относительно проста и состоит главным образом из источника света и фотоэлемента. Оба они размещаются в отдельной системе (вне вакуума), которая содержит необходимые для наблюдения оптические окна. Выбор вида измеряемой величины определяется типом подложки и материалом измеряемой пленки. Для пленок металла, например, можно проводить измерение оптического пропускания при условии, что пленки осаждаются на прозрачные подложки. Однако количество прошедшего света Тг быстро уменьшается с увеличением толщины пленки, так что точные измерения ограничены относительно тонкими пленками. Кроме того, закон поглощения света в веществе с коэффициентом поглощения а см 1 Г, = То ехр [ — ас1] на стадиях роста пленки, когда происходит образование зародышей и когда пленка является островковой, не выполняется [139]. Аналогичные замечания относятся и к методу измерения отражения света. По этим причинам оптические датчики используются главным образом для диэлектрических пленок. [c.151]

В кварцевых приборах сложные интерференционные явления могут наблюдаться в результате двойного лучепреломления в кварце. [c.93]

Правильная форма образующихся кристаллов свидетельствует о том, что структурные элементы, которыми могут быть атомы или Молекулы, расположены в определенном порядке. Упорядоченное расположение точек называется точечной решеткой. Интерференционные явления должны возникать, как это следует из волновой теории, при прохождении света через такую точечную решетку или при отражении от густо усеянных точками плоскостей решетки или плоскостной сетки в том случае, если константа решетки или в данном случае расстояние между соседними плоскостями решетки находятся в определенном соотношении с длиной волн проходящего света. Нетрудно показать, что при прохождения обычного света через кристаллы не происходит дифракционных явлений. Используя число Авогадро Na, можно определить число атомов, содержащихся в одном кубическом сантиметре вещества с известной плотностью. На основании этого можно определить и константу решетки. [c.231]

Точный расчет выражения (2.17) представляет значительные трудности и не является необходимым. Это связано с тем, что в данном случае толщина й диэлектрической пленки много больше длины волны рабочего излучения ко- Отсюда следует вывод о возможности расчета коэффициента отражения без учета интерференционных явлений при многократном отражении света от границ [c.105]

Правомерность пренебрежения интерференционными явлениями и учетом в выражении (2.17) членов, содержащих фгз и р, можно доказать следующим образом. Известно [120, с. 68], что разность хода двух интерферирующих лучей описывается выражением [c.106]

Дальнейшим развитием работ, посвященных изучению динамических интерференционных явлений, следует считать создание и использование Бонзе и Хартом рентгеновских интерферометров. 28]. Как и оптические интерферометры, их рентгеновские аналоги позволяют получать когерентные волны, но рентгеновского диапазона. Эти вновь созданные приборы открывают интересную перспективу сверхпрецизионных и сверхчувствительных измерений как параметров идеальных и реальных кристаллов, так и различных длин и физических величин за пределами кристалла. Рентге- [c.13]

Весьма интересным, с точки зрения эксперимента, является наблюдение и расчет интерференционных явлений в слабо расходящихся парах Кн1 и Км- Эта интерференция относится к полосам равной толщины, т. е. разность фаз, отвечающая наблюдаемым при этом периодическим изменениям интенсивности, связана с величиной АА согласно (3.37). [c.63]

Более строгое рассмотрение вопроса резонансного поглощения гамма-лучей, как это было показано в литературе [32, 33] (см. также [34]), требует учета интерференционных явлений. [c.29]

Интерференционные явления в приборах. Потери на отражение зависят от длины волны излучения и поэтому могут исказить распределение энергии, регистрируемое спектральным прибором. Отражения от оптических поверхностей могут привести также к резким искажениям распределения энергии, создавая иногда впечатление ложных спектральных полос или линий. [c.90]

Характерными свойствами электрона, как и любой материальной частицы, являются масса покоя, энергия и импульс. Это так называемые корпускулярные свойства электрона. Волну характеризуют длина, частота, интерференционные явления. Связь меж- [c.143]

Кристаллизация из расплава. Если тонкий слой расплавленного вещества охладить под покровным стеклом, то получается тонкая кристаллическая пленка органического соединения. Этот способ приготовления препаратов для микроскопического исследования нашел ряд полезных применений. Таким методом можно получить кристаллы сколь угодно малой толщины кроме того, очень часто на одном препарате образуются кристаллы, оптически различно ориентированные, что также удобно при изучении интерференционных явлений. Обычно такие плавленые препараты изготовляются следующим образом на предметном стекле помещают несколько миллиграммов исследуемого вещества и накрывают покровным стеклом [c.260]

Овербек (1933 г.) изучал цвета тонй1Х пленок олова, распыленных на воздухе или в кислороде, и пришел к заключению, что цвет покрытия обусловлен интерференционными явлениями [9]. Кроме того, он провел несколько процессов распыления в азоте. Полученные пленки были темно-коричневого цвета, но становились прозрачными при последующем отжиге на воздухе. [c.502]

Весьма важным вопросом при контроле швов любой толщины является обеспечение стабильного акустического контакта искателя с изделием в процессе контроля, т. е. в динамическом режиме. В ультразвуковой дефектоскопии используют два способа ввода энергии упругих колебаний в изделие — контактный и иммерсионный. Независимо от способа ввода ультразвука в изделие высота шероховатостей поверхности, их периодичность и форма влияют на амплитуду сигнала, его длительность, спектральный состав и характеристику направленности поля искателя [42, 54, 57, 64, 90,129]. Однако при иммерсионном способе ввода исключается влияние толщины слоя контактной жидкости между поверхностями изделия и искателя. В слое вследствие многократных отражений ультразвукового импульса возникают интерференционные явления, влияющие на его амплитуду. Чем больше разница в акустических свойствах между протектором искателя, слоем и материалом изделия, тем сильнее влияет изменение величины зазора на амплитуду [18]. Изменение толщины слоя на десятые доли миллиметра может в несколько раз и,зменкть амплитуду, [c.200]

Теперь от поведения и свойств классических частиц перейдем к рассмотрению микрочастиц, например электрона. Экспериментально доказано, с одной стороны, что электрон ведет себя как частица его заряд принимает дискретные значения (опыт Милликена) и его можно локализовать определенным образом (на пластинке в камере Вильсона). Однако если попытаться локализовать положение электрона в данный момент времени со сколь угодно высокой точностью, то можно убедиться, что это оказывается невозможным. С другой стороны, были проведены эксперименты, которые показали, что электрон имеет волновые свойства. В интерференционных явлениях (обнаруженных в опытах Дэвисона, Джермера и Раппа) электрон ведет себя как волна, длина которой определяется соотношением [c.14]

Развитие полуклассического метода расчета в последнее время показало, что, сохраняя представление о движении частиц по определенным траекториям, можно в известном приближении учесть и квантовые эффекты, происхоясдение которых обязано принципу суперпозиции, выражаемому формулой (8.9). Возникающие при вычислении Т перекрестные члены вида агОц ответственны за так называемые интерференционные явления, которые не могут быть получены при последовательном классическом описании. Примером интерференционных явлений может служить осцил-ляционная структура дифференциальных сечений рассеяния атомов [264] и немонотонный характер зависимости вероятности колебательного возбуждения от номера колебательного уровня нри неупругих молекулярных столкновениях [1252] и столкновениях, сопровождающихся реакцией [1395]. Это показывает, что механизмы многих элементарных процессов могут быть поняты, но крайней мере качественно, в рамках полуклассиче-ских представлений о движении ядер [1747, 1764], [c.89]

Еще в середине XVII в. Р. Бойль и Гук описали интерференционные явления в тонких пленках однако создание спектральных приборов на основе интерференции относится к самому концу XIX в. и связано с именами Майкельсона, Фабри и Перо. Развитие интерференционных систем главным образом определялось развитием техники нанесения отражающих полупрозрачных слоев на стеклянные пластины с точными поверхностями. Имя Майкельсона связано с созданием ступенчатого эшелона (в настоящее время не применяемого из-за больших трудностей изготовления) и двухлучевого интерферометра, широко используемого для разных целей. Фабри и Перо создали многолучевой интерферометр и эталон, получившие их имя и широко используемые в настоящее время. [c.48]

Интерференционные явленна. Некоторой особенностью определения дефектов в крупных изделиях является случай, когда дефекты располагаются близко к одной из его боковых поверхностей и на большом расстоянии от поверхности, с которой производится контроль. Обычно максимальная амплитуда отран енного от дефекта сигнала соответствует нахождению щупа дефектоскопа непосредственно над дефектом. Смещение щупа в ту или иную сторону вдоль прозвучиваемой поверхности ведет к уменьшению амплитуды отраженного от дефекта сигнала. В то же время для дефектов, отстоящих на иеболь- [c.108]

Селективные изменения пропускания, связанные с интерференцией, могут наблюдаться и в приемнике излучения, в частности, в окне фотоэлемента или фотоумножителя. Для проверки наличия интерференции регистрируют заведомо гладкий сплошной спектр, например спектр лампы накаливания. Наблюдаемые периодические изменения интенсивности можно подавить, наклеив на окно фотоумножителя дополнительный слой прозрачного диэлектрика. В спектроскопической литературе такого рода интерференционные явления не оцисаны, но их легко наблюдать при постановке специального опыта. Поэтому с возможностью возникновения таких полос следует считаться. [c.93]

Если пленка на поверхности элемента НПВО достаточно толста и обладает относительно высокой проводимостью, как в случае ОППЭ из SnOj, то картина осложняется поглощением и интерференционными явлениями в пленке. Соответствующая теория излагается в [33, 34]. На рис. 15 показан ход лучей в изотропной поглощающей пленке 2 с оптическими константами 2 и граничащей с поглощающим раствором 3 и нанесенной на прозрачную подложку /. [c.108]

Неудобства работы с ОППЭ из ЗпОз, обусловленные интерференционными явлениями (их можно устранить, используя [c.112]

Поэтому резонансное поглощение на линиях естественной ширины должно было бы практически полностью отсутствовать. Ликвидация отдачи, а следовательно, и возможность наблюдения ядерной гамма-резонансной флуоресценции связаны с взаимодействием ядер в твердых телах. Спектр колебаний атомов в твердом теле (фононный спектр) можно при этом описать на основе картины набора осцилляторов в потенциальных ямах с характеристическими частотами, кратными некоторой частоте (Оа. Переход осциллятора с более высоких уровней на более низкие сопровождается поглощением фононов, т. е. исчезновением их из колебательного спектра кристалла. Противоположный процесс связан с возбуждением (испусканием) фононов, т. е. с появлением их в колебательном спектре. Число фононов данного сорта определяется как строением кристалла, так и его температурой. При предельно низких температурах (Т = 0) в решетке твердого тела происходят лишь нулевые колебания со спектром характеристических частот, который зависит от строения кристалла и может быть охарактеризован некоторой средней энергией колебаний йшср [14]. Пока энергия отдачи ядра при излучении или поглощении гамма-квантов меньше энергии связей атомов в кристаллах (исчисляющейся электронвольтами), разрыва этих связей не происходит. В этом случае все возбуждения, связанные с импульсом отдачи, который неизбежно приобретается ядром при излучении или поглощении гамма-кванта, становятся коллективными. Все осцилляторы остаются в своих потенциальных ямах. Они могут лишь переходить при этом с одного энергетического уровня на другой. Поэтому передачи импульса отдельным осцилляторам не происходит импульс отдачи воспринимается всей решеткой как целым. Однако часть энергии ядерного перехода может передаваться осцилляторам, т. е. расходоваться на возбуждение фононов . Таким образом, разрывается характерная для гамма-перехода в свободном ядре однозначная связь энергии и импульса отдачи. Лишь в том частном случае, когда возбуждения фононов не происходит, т. е. все осцилляторы остаются на тех же энергетических уровнях, подобная однозначная связь восстанавливается — и энергия и импульс делятся теперь между гамма-квантом и кристаллом как целым. Импульс отдачи свободного ядра mv практически равен импульсу отдачи кристалла MV М — масса всего кристалла), но это значит, что энергия отдачи кристалла MV I2 в М1т раз меньше энергии отдачи одиночного свободного ядра, т. е. энергия отдачи 7 криот становится ничтожно малой, гораздо меньше естественной ширины линии Г. В спектрах излучения и поглощения появляются линии, не смещенные по энергии благодаря отсутствию отдачи. Именно эти линии оказываются к тому же неуширен-ными вследствие когерентности электромагнитных волн и интерференционных явлений при 7 = 0. Или иначе для кристалла как целого выполняются и столь жесткие условия, как /Икрист <С г (ШТ) (или / крист < г (Г/е), где е — энергия нулевых колебаний, а поэтому всегда D = < Г). [c.22]

Правильная форма образующихся кристаллов свидетельствует о том, что структурные элементы, которыми могут быть атомы или молекулы, расположены в определенном порядке. Упорядоченное расположепие точек называется точечной решеткой. Интерференционные явления должны возникать, как это следует из волновой теории, при прохождении света через такую точечную решетку или при отражении от густо усеянных точками [c.206]

В отличие от прибора УЗИП-2 прибор УЗИП-3 (его блок-схема показана на фиг. 145) работает на сферических волнах в зоне, где нет интерференционных явлений, а поле полностью сформировано (область Фраунгофера). [c.230]

В оптически активном одноосном кристалле плоскополяризованный свет, проходя в направлении, параллельном оптической оси, разделяется на два поляризованных по кругу (вправо и влево) луча, которые распространяются в кристалле со слегка различными скоростями. По выходе из кристалла оба эти луча вновь образуют плоскополяризованный луч, плоскость поляризации которого, однако, повернута относительно первоначальной на некоторый угол. Так как поворот плоскости поляризации не влияет на интерференционные явления, изучаемые с помощью поляризационного микроскопа, то в дальнейшем мы не будем касаться этого явления. Явление- вращения плоскости поляризации будет предметом рассмотрения специальной главы тома П1 этой книги (глава Поляриметрня ). [c.245]

Интерференционные цвета. Важным свойством двупреломляющих кристаллов является их способность давать в поляризованном свете интерференционные явления. Явления интерференции можно наблюдать, если выполнены три условия свет, входящий в кристалл, должен быть поляризованным кристалл должен быть ориентирован так, чтобы входящий луч разделялся на два взаимно перпендикулярно поляризованных луча, которые проходят через кристалл с разными скоростями колебания лучей, выходящих из кристалла, должны быть снова сведены в одну плоскость при помощи второй поляризационной призмы, называемой в этом случае анализатором. Явление интерференции можно легко понять, если воспользоваться векторной диаграммой. На рие. 56 длина и направление вектора А изображают амплитуду и плоскость колебания поляризованной световой волны. Поляризованная световая волна разделяется кристаллом на две волны (представлены векторами В и С), плоскости колебания которых взаимно перпендикулярны. Векторы В н С разлагаются в плоскости колебания анализатора, которая принята на этом рисунке перпендикулярной к вектору А, на две составляющие Л и . На рие. 57 плоскость колебания анализатора совпадает с вектором А. Таким образом, первый случай отвечает скрещенным николям, а второй — параллельным. Для скрещенных николей обе волны имеют ту же амплитуду, а именно 0D = ОЕ — = О А sin в eos в, тогда как для параллельных николей 0D = О А os ft [c.248]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология