Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Майкельсон

Рис. 28. Использование интерферометра Майкельсона для Фурье-спек- Рис. 28. <a href="/info/1615048">Использование интерферометра</a> Майкельсона для Фурье-спек-

Рис. 9.2-8. Основные узлы интерферометра Майкельсона. Рис. 9.2-8. Основные узлы интерферометра Майкельсона.
    Опишите принцип действия интерферометра Майкельсона. [c.199]

    В интерферометре Жамена (фиг. 31) предполагается, что в исследуемой области оптическая плотность выше плоский волновой фронт сохраняется, но скорость его распространения в исследуемой области меньше. В интерферометре Майкельсона (фиг. 31) разность оптических путей возникает в результате отражения от поверхности исследуемого объекта. [c.76]

    КР-спектрометры выпускаются как укомплектованные монохроматорами (дифракционными решетками), так и в мультиплексном (с интерферометром) варианте. В настоящее время также производят комбинированные ИК-КР-спектрометры, оборудованные интерферометром Майкельсона. [c.171]

    Здесь речь идет об интерферометре Майкельсона, однако существуют и другие типы интерферометров. — Прим. перев. [c.37]

    Когда модулированное ИК-излучение достигает образца, он поглощает знергию и нагревается, в результате чего возникают тепловые колебания с частотой модуляции излучения. Амплитуда тепловых колебаний зависит от количества поглощенной знергии. Если частота модуляции находится в акустическом диапазоне, мы можем слышать, как образец поглош ет свет. Используя интерферометр Майкельсона, можно получить звуковую волну в диапазоне акустических частот (фотоакустический сигнал), модулированный поглощением ИК-излучения образцом. Спектры регистрируются при помощи микрофона, помещенного в ячейку с инертным газом. Преимуществом данного подхода является полное отсутствие необходимости пробоподготовки. Метод является полностью неразрушающим. Это значит, что не происходит потерь информации при взаимодействии образца с растворителем или в процессе пробоподготовки (например, шлифовке). [c.184]

    В конце XIX в. положение дел в физике казалось вполне удовлетворительным. Один из служащих Патентного бюро США даже подал ставшее впоследствии знаменитым прошение об увольнении, выразив желание покинуть отмирающее агентство, которому, по его мнению, было суждено все меньше и меньше работы в будущем, поскольку большинство изобретений уже выполнено. В 1894 г. при вступлении в должность заведующего физической лабораторией в Чикаго известный физик Майкельсон высказал мнение, что все наиболее важные физические законы уже установлены и что наши будущие открытия предстоит высматривать в шестом десятичном знаке . Термодинамика, статистическая механика и теория электромагнитного поля достигли блестящих успехов в объяснении свойств материи. Была доказана электрическая природа самих атомов, и, стало быть, они несомненно должны были подчиняться законам электромагнитного поля, установленным Максвеллом. [c.329]


    Конструкция приборов, работающих в области от 10—20 см до 5000 см , основана на классической схеме Майкельсона (рис. 32.6). Параллельный пучок света от источника направляется в интерферометр, состоящий из делителя пучка А и двух зеркал В, и Ва. Делитель представляет собой пластину из прозрачного материала обычно (КВг) с покрытием, отражающим точно 50 % падающего излучения. Одна половина светового потока направляется к зеркалу В ,-другая — к Й2. Возвратившись от зеркал по тем же самым путям, пучки вновь соединяются в один на делительной пластине (хотя половина светового потока и отражается в сторону источника) и попадают на детектор. Если излучение монохроматично, то в зависимости от длины путей АВ, и ЛВз интенсивность результирующего пучка за счет интерференции двух [c.763]

    Интерферометр Майкельсона, мультиплексное кодирующее устройство. [c.174]

    Томсон Дж Дж. (Великобритания) Майкельсон A.A. (США) [c.777]

    В мультиплексных системах, основанных на фурье-преобразовании, используются интерферометры Майкельсона для спектрального кодирования полихроматического спектра. Эти системы применяются как в ИК-, так и в КР- [c.174]

    В качестве интерференционных систем используются в настоящее время интерферометр Майкельсона и эталон Фабри и Перо. [c.12]

    Источники ИК-излучения испускают полихроматическое излучение. В спектроскопических методах работают либо с монохроматическим излучением (используя системы с монохроматорами) по причинам, обсуждавшимся в начале этой главы, либо со сложными кодирующими системами (мультиплексные системы). В первом случае для получения всего спектра применяют призменные монохроматоры или дифракционные решетки. Во втором случае для модулирования ИК-излучения обычно используют интерферометр Майкельсона. Если необходимы узкие спектральные диапазоны, удобно использовать оптические фильтры или лазерные источники. [c.171]

    Фис. 8.22. Ход лучей в интерферометре Майкельсона а — зеркальный образец б — шероховатый образец / —. фотоэлемент 2 —лазер 3 — зеркало для сравнения 4 —. делитель луча [c.185]

    На рис., 28, а приведена одна из схем Фурье-спектрометра. Исследуемое излучение падает на входное отверстие интерферометра Майкельсона через выходное отверстие можно увидеть интерференционную картину полос равной толщины или полос равного наклона в зависимости от настройки интерферометра. Если зеркало интерферометра 5 параллельно изображению зеркала 8 , то можно видеть полосы равного наклона. Результирующая интенсивность на выходе прибора будет зависеть от разности хода Д, [c.51]

    В оптической схеме интерферометра Майкельсона (рис. 29, а) зеркала заменены дифракционными решетками и Р . [c.51]

    На рис. 29, б изображена обратно-круговая оптическая схема СИСАМа В этой схеме вместо двух используется одна дифракционная решетка. Дело в том, что приборы, построенные по схеме интерферометра Майкельсона (рис. 29, а), обладают высокой чувствительностью к внешним воздействиям и интерференционная картина поэтому весьма нестабильна. [c.52]

    Сопоставление различных типов спектрометров может быть сделано с точки зрения их светосилы при одних и тех же значениях Яр- Например, спектрометр с эталоном Фабри—Перо может иметь выигрыш в светосиле по сравнению со спектрометром с дифракционной решеткой в 100—200 раз при одинаковых значениях разрешающей способности Яр. Приборы интерференционной спектроскопии, основанные на применении интерферометра Майкельсона, еще более перспективны в этом отношении. [c.39]

    Наиболее известным зеркальным интерферометром является интерферометр Майкельсона (1882 г.) [29, 30] (фиг. 31), который псиользуется главным образом для измерения длин и исследования поверхностей. Он не очень удобен для измерений в прозрачных объектах, за исключением измерений коэффициентов рефракции газов и жидкостей. Измерительный пучок дважды пересекает исследуемый объект по различным траекториям, обусловленным отклонением пучка вследствие градиента коэффициента рефракции в исследуемом объекте. Это усложняет обработку таких интерфе-рограмм. Кроме того, интерферометр Майкельсона применяется в исследованиях тонкой структуры атомных спектров и классическом опыте Майкельсона [31]. Модифицированные зеркальные интерферометры используются главным образом для оценки оптических элементов (линз, зеркал), как, например, интерферометр Тваймана—Грина [32], аналогичный интерферометру Майкельсона, и интерферометр для определения искажений волнового фронта (Бэйтс [33]), аналогичный интерферометру Маха—Цендера. [c.76]

    КР-спектрометры с фурье-преобразованием (ФП) основаны на интерферометре Майкельсона. В данном случае можно работать с единственным светоделителем (СаГг) во всем спектральном диапазоне (4000-10 см ), потому что существующие лазеры генерируют излучение в области 10000 см (1,06мкм), а рамановский эффект вызывает колебательные сдвиги максимум на 4000 см от возбуждающей линии. Этот интервал хорошо укладывается [c.177]

    Прибором для ФС служит фурье-спектрометр (рис.), основная часть к-рого - иигерферометр Майкельсона (изобретен [c.222]


    В чем заключаются преимущества мультиплексности и геометрического фактора ИК-спектрометров на основе интерферометра Майкельсона  [c.199]

    А. Майкельсоном в 1880), Интерферометр содержит два взаимно пч>пендикулярных зеркала - неподвижное 1 и подвижное 2 и полупрозрачную светоделительную пластину 3, расположенную в месте пересечения падающих пучков излучения и пучков, отраженнБГх от обоих зеркал. Пучок излучения от источника 4, попадая на пластину 3, разделяется на два пучка. Один из них направляется на неподвижное зеркало [c.222]

    Механическое движение и фиксация положения стола осуществляются специальным приводом, часто с оптическим контролем положения меток совмещения, заранее нанесенных на подложку. Вообще оптическое определение положения подложки осуществляется интерферомет-рически (интерферометр Майкельсона), методом счета муаровых полос или по специальным меткам совмещения. [c.24]

    Обеспечение прецизионной работы движущегося механизма очень важно для успешной работы в видимой и особенно в ультрафиолетовой области (почему ). С этой целью в механизме используют воздушные подшипники для двигающегося зеркала Майкельсона и интерферометры с сервоприводом Не-Ne-интepфepoмeтp для определения точного положения зеркала, а также интерферометр для обозначения точек белого света , т. е. начальной точки развития интерферограммы. [c.177]

    Принцип этого метода заключается в том, что свет, прибли-гжающийся к образцу, накладывается на свет, возвращающийся от образца. Как уже отмечалось, оба эти световых луча различаются тем, что отраженный рассеянный свет является частотно-модулированным. При способе наложения на выходе интерферометра получают разность частот между обоими лучами света в виде электрического сигнала на фотоэлементе. На рис. 8.22 показан интерферометр Майкельсона. Поверхность образца освещается лазером через оптический делитель луча. На этом делителе часть лазерного луча отщепляется и зеркалом для сравнения отражается на фотоэлемент. Одновременно здесь же отражается на фотоэлемент и свет, приходящий от образца, и накладывается на первоначальный луч лазера. При этом разность частот вызывает модуляцию освещенности на фотоэлементе и может быть снята как электрический сигнал [761]. [c.185]

    Мезрих с соавторами [1035] в 1974 г. опубликовали интерферометрический метод лазерного сканирования (раздел 13.2). В качестве одного из двух зеркал интерферометра Майкельсона.-служит тонкая гибкая мембрана. Она располагается в акустической ячейке, заполненной жидкостью, и перемещается вместе с ультразвуковым волновым полем. Поверхность мембраны сканируется системой отклонения лазерного луча (ультразвуковидение, камера R A). [c.194]

    Этот акустический метод получения изображения основывается иа ннтерферометрическом измерении движений тонкой мембраны, колеблющейся под действием поля ультразвуковых волн. Такая металлизированная мембрана является зеркалом в одном из плеч интерферометра Майкельсона (рис. 13.2 [1035]). [c.294]

    Принципиальная блок-схема фурье-спектрометра, построенного на базе интерферометра Майкельсона, приведена на рис. 11.49. Поток инфракрасного излучения от источника 1, модулированный прерывателем 2, делится светоделителем 3 на два пучка. Один из них направляется на подвижное зеркало 4, которое может перемещаться с постоянной скоростью в направлении, перпендикулярном его фронтальной поверхности. Отраженный от этого зеркала пучок интерферирует с пучком, отраженным от неподвижного зеркала 5. Далее излучение с помощью системы линз 6 фокусируется на детектор 8, проходя через исследуемый образец, помещенный в кюветное отделение 7. Регистрируемая детектором интерферо-грамма, возникающая при перемещении зеркала, содержит информацию [c.290]

    Исследование качества поверхности может быть произведено на интерферометре Майкельсона или Кестерса. Ниже изложено использование для этой цели интерферометра Майкельсона (рис. 93). [c.146]

    Прибор построен на базе интерферометра Майкельсона, настроенного на получение колец равного наклона. Свет от источника (на рисунке не показан) после зеркала I фокусируется на отверстии модулятора 2, а затем с помощью осветителя 3, 4, 5 попадает на входную диафрагму 6 интерферометра Майкельсона. Интерферометр состоит из подвижного плоского зеркала 11, неподвижного плоского зеркала 12, светоделительной пластинки 9 и компенсирующей пластинки 10. Пучки света, пройдя диафрагму 6 и отразившись от зеркальца 7 и параболического коллиматора 8, параллельным пучком падают на свётоде-лительную пластинку 9. После отражения от зеркал II и 12 пучки вновь соединяются на пластинке 9 и интерферируют. Пластинка 10 компенсирует разность хода в одной из ветвей интерферометра. [c.306]

    На рис. 8 показана схема двухлучевого микроинтерферометра Линника. В ее основу положен принцип действия интерферомефа Майкельсона. Свет от источника I (лампа накаливания) проходит через конденсор 2 и диафрагму 3, зеркалом 4 делится на два когерентных пучка, которые фокусируются объективами 5 и 5 на эталонное зеркало 6 и конфолируемую поверхность 7 соответственно. После Офажения от эталона и изделия пучок проходит через те же элементы схемы и фокусируется линзой 8 в шюскости диафрагмы 9, в которой с [c.497]

    Еще в середине XVII в. Р. Бойль и Гук описали интерференционные явления в тонких пленках однако создание спектральных приборов на основе интерференции относится к самому концу XIX в. и связано с именами Майкельсона, Фабри и Перо. Развитие интерференционных систем главным образом определялось развитием техники нанесения отражающих полупрозрачных слоев на стеклянные пластины с точными поверхностями. Имя Майкельсона связано с созданием ступенчатого эшелона (в настоящее время не применяемого из-за больших трудностей изготовления) и двухлучевого интерферометра, широко используемого для разных целей. Фабри и Перо создали многолучевой интерферометр и эталон, получившие их имя и широко используемые в настоящее время. [c.48]

    Для выполнения работы необходимо иметь интерферометр типа Майкельсона или Кестерса, прибор для контроля разрешающей способности, термостат, уровень, имеющий точность Г, и некоторые вспомогательные материалы и химические вещества. [c.137]


Смотреть страницы где упоминается термин Майкельсон: [c.223]    [c.255]    [c.641]    [c.769]    [c.80]    [c.84]    [c.610]    [c.222]    [c.222]    [c.96]    [c.10]    [c.163]   
Успехи спектроскопии (1963) -- [ c.103 ]




ПОИСК





Смотрите так же термины и статьи:

Интерферометр Майкельсона

Майкельсон Mihelson

Майкельсона апериодический

Майкельсона многолучевой

Майкельсона переносный газовый

Майкельсона периодический

Майкельсона поляризационный

Майкельсона режим работы

Майкельсона эшелон

Разрешающая сила эшелона Майкельсона

Угловая дисперсия эшелона Майкельсона

Уравнения Майкельсона



© 2024 chem21.info Реклама на сайте