Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Установка определения критического пересыщения

Рис. 3.11. Схема установки для определения критического пересыщения пара Рис. 3.11. <a href="/info/13990">Схема установки</a> для <a href="/info/1690227">определения критического пересыщения</a> пара

    На рис. 3.11 изображена схема установки для определения критического пересыщения пара серной кислоты. Сухой, тщательно отфильтрованный воздух направляют двумя потоками в установку. Первый поток поступает в испаритель 1 для насыщения паром серной кислоты, а затем через сопло выбрасывается в камеру смешения 3, создавая тем самым свободную струю. Второй поток также направляется в камеру смешения и здесь образует среду, в которую вдувается струя. [c.116]

    Рпс 6.9. Схема установки для определения критического пересыщения пара i — сопло г—камера смешения з—источник света 4 —линза 5—фотоэлемент б —свободная струя. [c.238]

    На рис. 14 изображена схема установки для определения критического пересыщения пара серной кислоты. [c.61]

    Изложенные соображения показывают, таким образом, что флуктуа-ционное возникновение мостика-зародыша кристаллизационного контакта между частицами дисперсной фазы может иметь место при сочетании определенных пересыщений в окружающей среде и определенных механических усилий (приложенных извне или внутренних напряжений, обусловленных кристаллизационным давлением), обеспечивающих уменьшение зазора до необходимой достаточно малой величины. Для подтверждения этих представлений проводятся непосредственные измерения усилия, приводящего к срастанию кристаллов при заданном пересыщении, с использованием разработанной ранее установки [13]. Эта установка позволяет с помощью магнитоэлектрической сис-мы плавно сблизить два кристалла, приложить на определенное время необходимое заданное сжимающее усилие (в широком интервале значений от 10 до 10 дин) и затем, прикладывая усилие в обратном направлении, измерить его критическое значение, необходимое для разъединения кристаллов, т. е. прочность контакта р . Указанная методика позволяет оценивать прочность контактов, возникающих между кристаллами различных веществ вследствие локальных пластических деформаций при разных усилиях поджима и различных температурах в газовой среде и в жидких средах, содержащих добавки поверхностноактивных веществ. [c.64]


Теоретические основы образования тумана при конденсации пара Издание 3 (1972) -- [ c.10 ]




ПОИСК





Смотрите так же термины и статьи:

Пересыщение

Пересыщение критическое



© 2025 chem21.info Реклама на сайте