Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Влияние на интенсивность линий физико-механических свойств пробы

    Следующее требование заключается в соответствии эталонов по их общему составу и технологии изготовления анализируемым пробам. Это требование вытекает из рассмотренных в гл. II многочисленных влияний на интенсивность спектральных линий со стороны третьих элементов, присутствующих в пробе, основного вещества пробы и, наконец, её физико-механических свойств. Так, например, эталоны, предназначенные для анализа низколегированных сталей, нельзя использовать для анализа высоколегированных сталей, хотя в обоих случаях определяемые элементы (например 51, Мп и т. д.) содержатся в одних и тех же концентрациях. Присутствие в высоколегированных сталях больших содержаний хрома и никеля связано с изменением физико-механических свойств металла, что сопровождается сдвигом градуировочных графиков (рис. 186). Аналогичным образом действуют уже небольшие количества XV и т. д. 1). Соответ- [c.213]


    Непосредственное влияние физико-механических свойств металла проявляется в том, что, например, при работе с искрой эталоны, приготовленные для анализа литья, зачастую могут оказаться непригодными для анализа готовых изделий той же марки металла. Прокатка и термообработка, которым подвергаются металлы в процессе изготовления изделия, также когут обусловить, при одной и той же концентрации элемента, изменение относительной интенсивности линий соответствующей пары. Чтобы получить правильные результаты анализа, необходимо, следовательно, анализировать такие пробы с помощью эталонов, прошедших такую же обработку. Подобным же образом могут сказаться и различия Б размерах проб — так, например, тонкий листовой материал часто требует использования соответствующих эталонов, так как интенсивность линий в некоторой степени зависит от условий теплоотдачи проб. Некоторое влияние оказывают и размеры разрядных поверхностей электродов, поскольку, как мы видели, размеры обискриваемых поверхностей определяют время и режим обискривания . [c.214]


Введение в спектральный анализ (1946) -- [ c.79 , c.213 ]




ПОИСК





Смотрите так же термины и статьи:

Линии интенсивность

Свойства интенсивные

Физико-механические свойства

влияние механических



© 2024 chem21.info Реклама на сайте