Интенсивность линий рентгеновского спектра, относительная

Относительная интенсивность рентгеновских спектральных линий для большого числа элементов в настоящее время хорошо известна. Она не зависит от условий получения спектров, химического состава пробы и содержания в ней анализируемого элемента. В принципе это позволяет использовать рентгеновские спектральные линии в качестве марок интенсивности для построения характеристической кривой эмульсии. Для этого, конечно, необходимо, чтобы спектральная чувствительность используемого для получения спектра прибора не зависела от угла отражения, иными словами, чтобы пространственная разобщенность линий рентгеновского спектра элемента на спектрограмме не приводила к искажению истинного соотношения их интенсивностей. Этому условию не удовлетворяют, например, спектрографы типа Иоганна с постоянным по величине протяженным фокусом рентгеновской трубки при равномерном качании кассеты спектрографа. По некоторым причинам здесь наблюдается систематическое искажение величины интенсивности рентгеновских спектральных линий элемента, приводящее к относительному возрастанию интенсивности коротковолновых линий. Это делает нерациональным использование описываемого метода построения характеристической кривой при работе с такими приборами. [c.42]

Целью издания настоящего справочника является по крайней мере частичное восполнение указанного пробела в литературе по рентгеновской спектроскопии. Для большего удобства пользования справочником было решено распределить имеюш,ийся материал в двух томах, каждый из которых представлял бы самостоятельный интерес. Настоя-ш,ая книга, являющаяся первым томом справочника, содержит достаточно полную сводку длин волн известных в настоящее время линий рентгеновских спектров элементов, данные об относительных интенсивностях этих линий, общие сведения о коэффициентах ослабления и рассеяния рентгеновских лучей, а также некоторые данные из теории строения атома, используемые в рентгеновской спектроскопии. [c.4]

Если при данной величине открытого участка кристалла желательно без ущерба для точности анализа повысить интенсивность линий рентгеновского спектра, то для этого наиболее целесообразно создание такой конструкции рентгеновской трубки, антикатод которой составлял бы с направлением касательной к поверхности отражающего кристалла угол, близкий к прямому. В этом случае фактическая протяженность фокусного пятна в рентгеновской трубке может быть много больше, чем вычисленная по формуле (28). Это, во-первых, позволяет, не изменяя удельной нагрузки единицы поверхности анода, увеличить общую мощность рентгеновской трубки, которая эффективно используется в спектрографе во-вторых, делает возможным приблизить кристалл вплотную к антикатоду и таким образом увеличить интервал углов, в котором при данной величине кристалла может проводиться одновременное спектральное определение содержания различных элементов в пробе в-третьих, позволяет использовать для очень большого интервала углов строго неизменную поверхность фокусного пятна и, наконец, приводит к большой остроте линий, связанной с тем, что в отражении лучей каждой длины волны участвует относительно небольшая часть изогнутого кристалла. [c.35]

Интенсивность линий рентгеновского спектра зависит от распределения бомбардирующих электронов по скоростям или от распределения интенсивности в спектре возбуждающего излучения в случае флуоресцентных спектров. При одинаковых условиях интенсивность характеристических линий спектра максимальна, когда максимальная интенсивность источника возбуждения соответствует энергии возбуждения данной линии. Интенсивность спектра зависит также от числа излучающих атомов, вероятности излучательного перехода и некоторых других факторов. Точная оценка величин, оказывающих влияние на интенсивность спектральной линии, очень сложна. Более надежны данные, так же как и в оптической эмиссионной спектроскопии, полученные по относительной интенсивности двух спектральных линий. [c.121]

Недостаток рассматриваемого метода построения характеристической кривой — относительно небольшое число линий рентгеновского спектра одного элемента, которые могут быть использованы одновременно в качестве марок интенсивности. В случае линий /С-серии число линий равно трем, для -серии оно не превышает четырех. В этих условиях для надежного построения характеристической кривой эмульсии приходится пользоваться искусственными приемами. [c.43]

Глава 1. Взаимодействие рентгеновских лучей с веществом и рентгеновские спектры. 1-1. Характеристическое рентгеновское излучение (длины волн К-серии рентгеновского излучения, длины волн Ь-серии рентг(Шовского излучения, относительные интенсивности линий if-серии характеристического спектра, ширина линий характеристического спектра, индексы асимметрии линий характеристического спектра). 1-2. Перевод С-единиц в абсолютные ангстремы. 1-3. Соотношения между единицами коэффициентов поглощения. 1-4. Рассеяние рентгеновских лучей (рассеяние рентгеновских лучей различных энергий электронными оболочками и ядрами атомов, рассеяние рентгеновских лучей в газах, массовые коэффициенты рассеяния рентгеновских лучей, массовые коэффициенты рассеяния о /р, коэффициенты рассеяния сечения некогерентного рассеяния рентгеновских лучей). 1-5. Поглощение рентгеновских лучей (скачок поглощения для некоторых элементов, вычисление коэффициентов поглощения, номограмма для определения коэффициентов поглощения). 1-6. Суммарное ослабление рентгеновских лучей (атомные коэффициенты ослабления для элементов, массовые коэффициенты ослабления у,/р для элементов, массовые коэффициенты ослабления ц/р для больших длин волн, массовые коэффициенты ослабления ц/р для малых длин волн, массовые коэффициенты ослабления ц/р для некоторых соединений, толщина слоя половинного ослабления рентгеновских лучей для некоторых элементов, толщина слоя ослабления при различных углах падения лучей на образец). 1-7. Ионизирующее действие рентгеновских лучей. 1-8. Преломление рентгеновских лучей (единичные декременты показателя преломления, углы полного внутреннего отражения). [c.320]

Метод базируется на двух важнейших особенностях рентгеновских спектров. Первая из них заключается в практической независимости интенсивности и длин волн линий испускания атома от химической связи вторая — в том, что число линий рентгеновского спектра элемента невелико, а относительная интенсивность наиболее ярких из них может быть известна. Кроме того, известно, что между интенсивностью линий и числом атомов элемента, участвующих в их создании, существует пропорциональность. [c.127]

Относительные интенсивности линий в сериях характеристического рентгеновского спектра определяются соответствующими правилами отбора, т. е. вероятностями квантовых переходов, а Зависимость выходов, флуоресценции (1) и оже-электро-частоты, как уже было сказано J,pJ, вакансии в /(-оболочке (см. равенство VI.5), дают раз- от атомного номера 2 элемента ности энергии квантовых уровней электронов. [c.139]

Рентгеновский спектрометр с дисперсией по энергии является удобным средством для качественного рентгеновского микроанализа. Тот факт, что весь спектр, представляющий интерес (область от 0,75 до 20 кэВ (или до энергии пучка)), может быть получен одно временно, обеспечивает возможность быстрой оценки состава образца. Так как эффективность 51 (Ь1)-детектора фактически постоянна (около 100%) в диапазоне энергий 3—10 кэВ, относительные интенсивности пиков для серий рентгеновских линий элементов близки к значениям, генерируемым в образце. В качестве негативной стороны следует отметить сравнительно низкое по сравнению с кристалл-дифракционным спектрометром энергетическое разрещение спектрометра с дисперсией по энергии, что часто приводит к проблемам, связанным с взаимодействием спектров, таких, как невозможность разделения линий рентгеновских серий разных элементов при низких энергиях (-<3 кэВ). Кроме того, наличие спектральных артефактов, таких, как пики потерь или суммарные пики, усложняет спектр, особенно когда рассматриваются пики с низкой относительной интенсивностью. [c.272]

Все линии, вызванные переходами электронов, оканчивающимися на К-уровне, относятся к К-серии. Из переходов, оканчивающихся на Ь-уровне, образуются линии Ь-серии и т. д. Таким образом, рентгеновские спектры состоят из серий, обозначаемых буквами К, Ь, М, Ы, О и т. д. Появление в спектре К-серии данного элемента обязательно сопровождается появлением остальных серий. Каждая серия состоит из линий, обозначаемых в порядке возрастания частоты излучения как а, р, у и т.д. Наиболее интенсивными являются линии К-серии, затем идут линии Ь-серии и т.д. Относительная интенсивность линий в серии определяется вероятностью переходов между уровнями и правилами отбора для радиационных переходов [c.5]

Вагнер [50] привел сводку относительной чувствительности самых интенсивных линий спектров ЭСХА для ряда элементов, используя в качестве первичного и вторичного эталонов линии F(ls) и Na(ls) соответственно. Данные получены с рентгеновским возбуждением на алюминиевом аноде и относятся к однородным образцам бесконечной толщины (табл. 1). [c.426]

Обычно у элементов линии характеристического спектра излучения лежат в разных областях длин волн,>что позволяет относительно легко производить их определение рентгеноспектральными методами. Однако в случае циркония и гафния наблюдается довольно редкое явление в рентгеновской спектроскопии, состоящее в том, что интенсивные линии гафния очень близки, а в некоторых порядках отражения практически полностью совпадают с линиями циркония. Поэтому количественное рентгеноспектральное определение гафния в присутствии циркония является довольно трудным. [c.434]

Получить излучение с узкими полосами длин волн в отдельных точках рентгеновского излучения относительно легко, но не так просто создать монохроматор, с помощью которого можно произвольно менять длину волны. Излучение с узким спектром можно получить тремя способами 1) с помощью фильтров, выделяющих характеристические линии, которые значительно интенсивнее фона 2) с помощью монохроматора, в котором диф-фракционной решеткой служит кристалл с известными межплоскостными постоянными 3) с помощью радиоактивных источников. [c.226]

Неполная монохроматичность излучения, особенно белый спектр рентгеновской трубки, создает сильный фон в основном в области малых углов дифракции. Это можно видеть из рис. VII.136, где приведены картины рассеяния ПВХ, снятые в медном излучении с двумя сбалансированными никелевым и кобальтовым фильтрами. Увеличению интенсивности рассеяния белого спектра полимерами способствует значительно меньший их коэффициент поглощения для длин волн порядка 0,SA, чем для большинства Кц-линий (см. табл. VII.5). Это приводит к относительному обогащению дифрагированных лучей длинами волн белого спектра по сравнению с первичным пучком. [c.218]

Даже самая жесткая стабилизация напряжения на рентгеновской трубке, а также стабилизация ее анодного тока еще не гарантируют стабильность излучения трубки. Кроме того, их стабилизация при сравнительно большой потребляемой мощности — достаточно сложная техническая задача. Это не позволяет получать результаты анализа высокой точности, особенно при работе в режиме таймер . Значительно снизить требования к стабильности работы трубки позволяет монитор. Монитор — это дополнительный к аналитическому, отдельный спектрометрический канал со своим детектором излучений и своим счетно-регистрирующим каналом, его используют в качестве элемента сравнения, т. е. для работы по относительным измерениям. Принцип устройства и работы монитора был рассмотрен выше каналы неразложенного света в стилометре ФЭС-1 и для измерения интенсивности линии сравнения в квантометре ДФС-10 — это типичные примеры мониторных каналов. В рентгеноспектральных установках используют несколько разновидностей мониторов в качестве элемента сравнения здесь может быть взята интенсивность фона сплошного спектра или линии излучения рентгеновской трубки, интенсивность линии сравнения от самой пробы или специального стандартного образца. [c.208]

Относительные интенсивности линий. Хотя имеется большое число возможных переходов для заполнения вакансий на оболочке, за счет которых возникают линии рентгеновского излучения различной энергии, например Ка и К или вплоть до 25 различных -линий, вероятность каждого типа перехода меняется в значительной степени. Относительные интенсивности линий означают относительные вероятности образования линий внутри серии, т. е. линий, возникающих за счет ионизации данной оболочки. Отметим, что относительное соотношение линий устанавливается внутри серии, например такой, как -серия эти величины не включают в себя относительные соотношения линий между сериями, как, например, /С-серии по отношению к -серии. Относительные интенсивности линий в серии сложным образом меняются в зависимости от атомного номера. Соотношение линий в /С-серии хорошо известно, но в - и М-се.-риях они известны гораздо меньше. В табл. 3.7 в первом приближении приведены относительные интенсивности линий значительной интенсивности относительные интенсивности линий являются полезными при интерпретации спектров, наблюдаемых с помощью рентгеновского спектрометра с дисперсией по энергии. [c.76]

Кристалличность, вычисляемая по данным инфракрасной спектроскопии, определяет число мономерных единиц, входящих в регулярно построенную спираль изотактического полимера. Эта величина не равна ки истинной степени кристалличности, ни относительному содержанию изотактического полимера, поскольку интенсивность полос, по которым судят о кристалличности, не изменяется при нарушениях кристаллической решетки, а изотактические макромолекулы, не образующие спирали, не дают вклада в интересующие исследователя полосы. Миллер показал, что в некоторых случаях для закаленных образцов инфракрасный спектр указывает на полную кристалличность полимера, в то время как по дифракции рентгеновских лучей можно видеть, что упорядоченность кристаллической решетки весьма низкая. Эта форма полипропилена, промежуточная между кристаллической и аморфной, была названа Миллером некристаллической . Кристалличность, измеряемая методом инфракрасной спектрометрии, оценивается по интенсивности какой-либо полосы, относимой к кристаллическому состоянию, для пленок одной и той же толщины. Обычно за меру толщины принимается интенсивность линии спектра, сохраняющейся в аморфном полимере. Независимые измерения толщины пленки могут быть выполнены методом поглощения р-частиц Во многих работах кристалличность оценивали по интенсивности полос при 840 или 997 см а в спектре аморфного полимера фиксировали полосы при 975 или 1160 смг (работы 5 . Однако использовать полосы при 1160 см как стандарт толщины пленки менее желательно, поскольку эта полоса образуется вследствие наложения различных колебаний. [c.353]

Возможность проведения количественного элементарного анализа вещества по рентгеновским спектрам испускания основана на предположении, что интенсивность спектральных линий пропорциональна числу атомов элементов, входящих в состав исследуемой пробы. При использовании первичного метода возбуждения спектра это предположение хорошо оправдывается экспериментально. Это открывает возможность проведения прямого определения элементарного состава веществ по абсолютным интенсивностям спектральных линий. Однако практически зависимость интенсивности линий от большого числа трудно контролируемых и не всегда поддающихся теоретическому расчету факторов заставляет отказаться от этого пути. Все современные методы количественного рентгеноспектрального анализа основаны поэтому на сопоставлении относительных интенсивностей линий, одна из которых принадлежит определяемому элементу, а другая— элементу сравнения, вводимого в тех или иных количествах в анализируемый образец. Фотографические методы определения относительных интенсивностей линий, представляющие собой важнейший элемент анализа, подробно изложены в предыдущей главе. Здесь обратимся к рассмотрению других вопросов. [c.102]

Относительная интенсивность линий Л -серии рентгеновского спектра некоторых [c.129]

Метод, основанный на получении и анализе спектра электронов из свободных атомов, а также из атомов соединений при облучении их монохроматическим ультрафиолетовым или рентгеновским излучением, был назван электронной спектроскопией для химического анализа [4]. Основные характеристики метода следующие высокая разрешающая способность по энергиям 10 — или 0,05—0,1 и 0,5—2 эв при возбуждении ультрафиолетовым излучением и рентгеновскими лучами, соответственно энергия связи электронов на квантовых п- и /-уровнях определяется относительно уровня вакуума или уровня Ферми в металлах, а распределение интенсивности в электронной линии передает распределение электронов по состояниям этого уровня фотоэлектронные спектры, излучаемые конденсированными системами, характеризуют тонкий поверхностный слой вещества порядка 30—40 А. Этот метод является неразрушающим, и потери вещества могут быть обусловлены только испарением его в вакууме. [c.131]

Большое число методов измерения относительной интенсивности рентгеновских спектральных линий основано на использовании характеристической кривой эмульсии, которая может быть построена при помощи одного из приемов, описанных ранее. При выполнении массовых анализов можно ограничиться использованием характеристической кривой, полученной заранее для данного сорта эмульсии и выбранных условий проявления. При проведении исследований, требующих большей точности, желательно строить характеристическую кривую для каждой пленки, и для ее построения пользоваться данными, снятыми с той же самой спектрограммы, по которой осуществляется количественное сопоставление интенсивностей спектральных линий определяемых элементов. Для перехода от отношения измеренных на опыте почернений сравниваемых линий к отношению их интенсивностей нужно знать вид зависимости D=f (/). В рентгеновской области спектра сопоставление почернения спектральных линий различных элементов сильно упрощается из-за практической независимости формы кривой почернения эмульсии от длины волны. [c.76]

Рядом исследователей [90—92] опубликованы ИК-спектры целлюлозы в ближней ИК-области и проведено отнесение по-, юс поглощения [93], связанных с комбинациями основных частот и (или) обертонами. Невозможность соотнести линию поглощения со специфическими химической связью или колебаниями несколько ограничивает структурную информацию, которая могла бы быть получена из спектров в ближней ИК-об-ласт11. Были отмечены [92, 93] различия в степени разрешения и относительных интенсивностях линий для различных образцов целлюлозы, но не проведено специфических корреляций. Из ИК-спектров можно оцепить кристалличность целлюлозы, а также прочность внутримолекулярных водородных связей и силы кристаллической решетки. Так как преобладающими яв-ляются валентные и деформационные колебания связей С—О и О—И, это позволяет ожидать, что кристалличность будет влиять и на ближнюю ИК-область. По интенсивности полос поглощения в ближней ИК-области была определена [94] степень кристалличности. Полученные данные для природной и регенерированной целлюлозы были сопоставлены с данными метода дифракции рентгеновских лучей (рис. 169). Значения, полученные методом ИК-спектроскопии, зависят от размеров кристаллитов. [c.473]

Описываемый в этом разделе метод количественного определения относительной интенсивности рентгеновских спектральных линий принадлежит к числу наиболее молодых и наименее изученных. Возникший на базе работ, посвяш,енных выяснению вида зависимости почернения от экспозиции в видимой области спектра [74], он лишь в самое последнее время начал более или менее систематически разрабатываться в качестве одного из возможных приемов рентгеноспектрального анализа [75]. [c.95]

Рассматриваемый метод определения относительной интенсивности спектральных линий основан на использовании явления поглощения. В описанном ниже виде метод был предложен впервые для решения некоторых задач оптического спектрального анализа Террейем и Барретом [68]. В рентгеновской области спектра этот метод применил И. Г. Демьяников [69]. Идея метода заключается в следующем. На пути рентгеновских лучей перед кассетой спектрографа располагают алюминиевый клинообразный поглотитель, толщина которого уменьшается вдоль спектральных линий, например, сверху вниз. При таком расположении поглотителя поглощение монохроматических лучей в алюминиевом клине будет приводить к ослаблению начальной интенсивности линии, величина которого будет тем больше, чем дальше удалена от основания рассматриваемая точка линии Известно, что коэффициент поглощения вещества зависит от длины волны рентгеновских лучей. Поэтому излучение различного состава, вообще говоря, должно поглощаться в клине по-разному. Однако для спектральных линий с близкими длинами волн, которые наиболее часто используются для [c.86]

Особенно значительно влияние химической связи на струк-туру рентгеновских спектров элементов с небольшими атомными номерами. В этом случае положение максимума, ширина, относительная интенсивность линий рентгеновского спектра элемента часто оказываются отличными от значений, характеризующих свободный атом, из-за влияния со стороны атомов, окружающих данный в соединении. Иногда в спектре атома в соединении наблюдается также появление новых, но преимуществу недиаграммных линий. Независимо от степени возмущающего действия соседе на энергетическое состояние электронов в атоме исследуемого в соединении элемента, одной 3 самых чувствительных характеристик этого влиян 1я остается форма рентгеновских ЛИНШ1, особенно тех из них, начальным уровнем для которых является какой-либо из внешних уровней атома. Эта характеристика может быть использована для изучения структуры твердых тел. Поэтому в пределах группы легк1 х элементов от лития до серы, которые будут рассматриваться ниже, наибольший интерес представляют линии Кр-группы, появляющиеся в результате перехода валентных электронов с Мидц- и М1у,у-уровней на К-уровень атома. [c.39]

Исследования в области рентгеновской спектроскопии, получившие большое развитие сразу же после открытия явления диффракции рентгеновских лучей в кристаллах, как известно, сыграли выдаюш уюся роль в создании современной теории атома. Уже в первые годы физики, работавшие в этой области, накопили большой экспериментальный материал, касающийся величин длин волн и относительной интенсивности линий рентгеновских спектров большинства химических элементов, и установили в высшей степени интересные и важные закономерности. Их объяснение, так же как и возможность создания на базе новых теоретических представлений рациональной систематики линий рентгеновского снектра, являлось одним из паиболее крупных успехов теории атома. Только после этого и особенно после успешного внедрения в 30-х годах нашего столетия в практику светосильных рентгеновских спектрографов с изогнутым кристаллом стало возможным использование рентгеновской спектроскопии в химии. При помощи этого нового аналитического метода были впервые обнаружены и охарактеризованы некоторые, до тех пор неизвестные химические элементы — рений и гафний, существование которых в природе было предсказано Д. И. Менделеевым. [c.201]

В рентгеновских спектрах ширина линий и расстояние между ЛИНИЯМ сопоставимы, поэтому кривая поглощения имеет вид непрерывного контура с небольшими провалами между линиями. Для полного описания такой кривой необходи1ио знать не только частоту линий поглощения, но 1 их относительные интенсивности, фор1иу линий поглощения и форму границы сплошного спектра. [c.252]

Рентгеновский спектр — это распределение интенсивности рентгеновского излучения, испущенного образцом (РЭА, РФА) или прошедшего через образец (РАА), по энергиям (ипи длинам волн). Как правило, рентгеновский спектр содержит небольшое число спекгральных линий (эмиссионный спектр) ипи скачков поглощения (абсорбционный спектр). На рис. 11.29 и 11.30 изображены соответственно рентгенофлуоресцентный спектр металлического сплава и фрагмент рентгеноабсорбционного спектра вблизи края поглощения для произвольного материала. Фоновый сигнал эмиссионного рентгеновского спектра формируют кванты рентгеновского излучения, неупруго рассеянные на электронах атомов твердого тела. Рентгеновская эмиссия возникает при электронных переходах между внутренними (остовными) уровнями атомов. Относительная простота [c.251]

Каждое индивидуальное химическое соединение установленного состава дает характерный спектр дифракции рентгеновских лучей, поэтому последний может быть использован в дальнейшем для целей идентификации. Наиболее простой рентгеноструктурной характеристикой является порошковая рентгенограмма. На рис. 1 и 2 приведены порошковые рентгенограммы некоторых из изученных соединений. Поскольку вид порошковых рентгенограмм зависит от условий их получения, то в качестве характеристики лучше приводить таблицу с набором межплоскостных расстояний и соответствующих им интенсивностей линий порошковой рентгенограммы химического соединения. Такие таблицы со значениями межплоскостных расстояний в А (ангстрем) или кХ (килоикс) и относительными интенсивностями линий / (в десяти- или стобалльной шкале) приводятся обычно в периодической литературе и в законченных или продолжающихся выпусках рентгенометрических определителей [1, 2]. В некоторых справочниках [c.50]

МИКРОРЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬ-НЫЙ АНАЛИЗ, л о к а л ь н ы й рентгеноспектральный анализ — анализ состава микрообъема твердого материала по первичным рентгеновским спектрам содержащихся в нем хим. элементов разновидность рентгеноспектралъно-го анализа. Впервые проведен в начале 50-х гг. 20 в. во Франции и в СССР. М. а, основан на возбуждении острофокусированным до диаметра 0,1—3 мкм пучком электронов (электронным зондом) характеристического рентгеновского излучения в микрообъеме исследуемого материала. Миним. анализируемый объем зависит от размера зоны возбуждения рентгеновского излучения, определяемого диаметром пучка электронов и степенью их рассеяния в материале, и составляет 1- -10 мк.и . Различают качественный (см. Качественный анализ) и количественный (см. Количественный анализ) М. а. хим. элементов от лития до урапа. При качественном М. а. возбужденное в материале рентгеновское излучение разлагают в спектр, и линии спектра идентифицируют. При количественном М. а. измеряют интенсивность характеристических линий определяемых хим. элементов относительно интенсивности соответствующих линий от эталонов с последующим пересчетом относительной интенсивности на концентрацию. При расчете концентрации вводят поправки на различие условий возбуждения и выхода рентгеновских лучей из исследуемого матерпала и эталона. Методика расчета концентрации при использовании в качестве. эталона чистых хим. элементов обеспечивает точ- [c.817]

Последним вопросом, рассматриваемым здесь в связи с анализом легких элементов, является чувствительность рентгеновских спектров, как абсорбционных, так и эмиссионных, к химическому состоянию элемента (см. 1.22). Влияние химического состояния обычно не очень существенно, но оно может проявиться в изменении N , обусловленном смещением максимума интенсивности по щкале длин волн, которое в свою очередь вызвано изменением химического состояния анализируемого элемента. Такое смещение максимума интенсивности аналитической линии по сравнению с положением этой линии, зарегистрированным для чистого элемента, может привести к изменению распределения числа счетов относительно их прежнего среднего значения. Аналитические затруднения такого рода существенно возрастают, если химическое состояние элемента в неизвестных пробах не определено или если таких состояний несколько. Исследования [37] влияния химических связей на положение /Са-линии серы показали, какие изменения можно при этом ожидать (см. 1.24). Хотя обычный аналитический спектрограф и не будет разрещать эти химические смещения, можно показать, что изменение в распределении интенсивности аналитической линии при измерении угла установки гониометра заметно, если такие смещения имеются. [c.235]

При фотографической регистрации спектра и использовании данных об относительной интенсивности спектральных линий, небольшие колебания в силе тока, проходящего через рентге1ювскую трубку, не должны оказывать существенного влияния на результаты количественного определения элементов. Р1наче обстоит дело нри применении ионизационных методов регистрации спектров. В этом случае для достижения надлежащей точности анализа необходимы либо прямая стабилизации интенсивности излучения рентгеновских трубок, либо использование специальных приемов измерения интенсивности линий [85]. [c.107]

Количественные определения содержания урана и тория проводят обычно по линиям -серии этих элементов. Эти линии расположены в удобной области рентгеновского спектра, требуют для своего возбуждения относительно небольшого напряжения. Для урана, например, длина волны наиболее интенсивной линии -серии, которая чаще других используется для анализа элемента, равна 908,7 X, а потенциал возбуждения 21,7 кв. Поэтому анализ образцов, содержащих уран или торий, осуществляется обычно с помощью одной из моделей коротковолнового (невакуумного) спектрографа при рабочем напряжении на трубке порядка 50 кв. Наложение линий других элементов на аналитические линии урана и тория при работе в двух первых порядках отражения приведено в табл. 24. Видно, что наиболее интенсивные линии этих элементов практически свободны от наложений. Несмотря на то, что при определении небольших содержаний урана и тория иногда приходится считаться с мешающим влиянием некоторых линий платины, иттрия или редких земель, это никогда не создает непреодолимых для проведения анализа затруднений. В качестве элемента сравнения чаще других используется стронций, К - и /С глинии которого расположены неподалеку от аналитических линий урана и тория. Можно проводить определение тория также сопоставлением интенсивности его Р -линии с интенсивностью одноименных линий вольфрама или урана. При этом предполагается, конечно, что в испытуемой пробе уран первоначально отсутствует. [c.200]

Относительные интенсивности линии в пределах одной спектральной серии были предметом многочисленных исследований. Сравнительно легко получить надежные результаты по относительной интенсивности двух линий, мало отличающихся по длине волны, например для Каи а или 2-Гораздо труднее вычислить поправки для отпошепия интенсивностей линий, значительно различающихся по длине во,лны. Так, особенно трудно получить сравнительные данн1.1е по К- и -спектру одного элемента. Необходимо учитывать такие факторы, как напряжение, эффективность приемника излучения, поглощение излучения и т. д. Найдено, что отношение интенсивностей KaJKrxi всегда близко к /2, в то время как отношение интенсивностей Д.ИЯ других линий серий меняется систематически по мере изменения атомного номера. Для основных рентгеновских линий, применяемых в аналитической практике, имеют место следуюпдие приблизительные соотношения [c.207]

При определении величины относительной интенсивности линий учитывают закономерное изменение интенсивностей спектральных линий элементов по спектру. Закономерное ослабление интенсивности длинноволновых рентгеновских спектральных линий гю сравнению с коротковолновыми характеризуют величиной поправочного коэффициента К [3]. Этот коэффициент находят экспериментально при помопщ эталонных смесей, содержащих равные и известные количества р. з. э. [c.144]

Сравнительно недавно [27] были получены спектры РФС газообразных веществ, ранее исследуемых методом УФС. Полученные интересные результаты основаны на относительных поперечных сечениях фотоионизащ1и валентных электронов в зависимости от энергии источника. Например, для рентгеновского излучения с больщей энергией электроны на молекулярной орбитали, составленной главным образом из атомных 5-орбиталей, имеют более высокое относительное поперечное сечение (и, следовательно, большую интенсивность спектральной линии), чем электроны на молекулярной орбитали, составленной в основном из атомных 2р-орбиталей. Сопоставление спектров РФС и УФС указывает на различные относительные интенсивности соответствующих пиков. Пик, обусловленный электронами на молекулярных орбиталях, составленных главным образом из атомных орбиталей 5-типа, имеет большую относительную интенсивность в спектре РФС, чем в спектре УФС. [c.340]

Количественцый фазовый анализ базируется на том экспериментальном факте, что интенсивности дифракционных спектров отдельных фаз зависят от их процентного содержания в исследуемом образце. Однако эта зависимость достаточно сложна и не выражается в виде удобных для расчета математических формул. Поэтому для количественного фазового анализа используют полу-эмпирические методы, заключающиеся в сравнении относительных интенсивностей дифракционных линий каждой из присутствующих в образце фаз с интенсивностями дифракционных линий для смесей тех же фаз с известным соотношением. Существуют различные способы таких сравнений, с их достоинствами и недостатками можно подробно ознакомиться по работам [4, 5). Там же детально описаны экспериментальные приемы рентгеновского количественного фазового анализа. [c.149]

Как уже отмечалось, при некоторых условиях помимо триплета появляются дополнительные компоненты, расположенные симметрично относительно триплета. Так, при у-облучении твердого азота [10, 54, 58], а также смесей N3 с Нд, Хе и Ке [1, 5] при 4,2° К наблюдал спектр ЭПР из семи линий (рис. П1.3, а) . В спектре азота в аргоне при 4,2° К был получен лишь интенсивный триплет с широкими компонентами. Однако если смесь N2 с Аг облучать при 20° К, а регистрацию спектров ЭПР проводить при 4,2° К, то в спектре наблюдаются девять линий (три триплета) [6]. Девять хорошо разрешенных линий наблюдали в спектре облученных рентгеновскими лучами ВаКз, КаКз и KNз [60—63]. [c.120]

Нелинейный характер связи величины оптической плотности почернения (О) и логарифма иитенсивности рентгеновской радиации и зависимость параметров характеристической кривой эмульсии от типа используемых фотоматериалов и условий их проявления—причина большого числа затруднений, которые возникают при использоваиии фотографического метода регистрации спектров. При проведении количественного анализа необходимо соблюдать сугубую осторожность при использовании в качестве характеристики интенсивности радиации почернение, которое она вызывает в эмульсии. При сопоставлении двух спектральных линий, почернения которых сильно отличаются, приходится специально строить и использовать для построеиия градуировочных графиков характеристические кривые эмульсии. В то же время отсутствие прямой пропорциональности между величинами оптической плотности почернения линий и логарифмом их иитенсивности удлиняет и усложняет процесс получения необходимых характеристических кривых, построение которых в противном случае могло бы быть осуществлено по трем точкам. Эти же причины затрудняют учет индивидуальных свойств используемой фотоэмульсии, так как необходимо считаться не только с относительно просто поддающимся учету изменением величины коэффициента контрастности характеристической кривой для различных фотоматериалов, но и с изменениями в ходе этой кривой в пределах области недодержек, где зависимость В от g I сложная и не может быть апрокснмирована простым аналитическим выражением. [c.58]