Микроскоп регулировка освещения

Оригинальную конструкцию нагревательного столика-микрорефрактометра предложили в 1933 г. Н. Веденеева и Н. Меланхолик (см. Определение показателя преломления под микроскопом, Госгеолиздат, М., 1941, стр. 59—68). Сконструированный специально для иммерсионного метода двойной вариации, он представляет собой нагревательный столик с автоматической регулировкой температуры, внутри которого помещен небольшой призменный рефрактометр типа рефрактометра Аббе. Он состоит из двух призм,, соприкасающихся между собой под острым углом (около 60°). Верхняя призма служит измерительной призмой рефрактометра. Измеряемая жидкость помещается между призмами в результате полного внутреннего отражения на границе жидкость — призма часть ноля зрения будет совершенно темной, часть — освещенной преломленными лучами. Положение этой границы можно наблюдать в микроскоп, превратив его введением линзы Бертрана в зрительную трубу. Отечет положения границы производится при помощи окуляр-микрометра, который должен быть заранее градуирован по стеклянной призме или но жидкостям с определенным светопреломлением. (Прим. ред.)- [c.290]

Для юстировки микроскопа поступают следующим образом. Перед микроскопом помещают осветитель и регулируют вогнутое зеркало, отражающее свет через отверстие в столике на фронтальную линзу объектива. Диафрагму конденсора открывают как можно шире. При работе с естественным светом поступают так же, предварительно определив, какая сторона зеркала (вогнутая или плоская) дает более сильное освещение. Затем на предметный столик помещают чистое предметное стекло так, чтобы одна из длинных сторон его проходила. по центру отверстия в столике. Медленно смотря сбоку на объектив, опускают тубус примерно до половины рабочего расстояния объектива. Затем начинают медленно поднимать тубус, наблюдая через окуляр появление резкого изображения края стекла. Если рабочее расстояние было неверным или предметное стекло помещено неправильно, изображения видно не будет и фокусировку следует повторить. После этого производят окончательную регулировку освещения поворотом плоской и вогнутой поверхностей зеркала до получения наибольшей освещенности. Если свет слишком ярок, то перед конденсорной линзой осветителя помещают матовое стекло или кусок белой бумаги. При наличии у микроскопа конденсора и диафрагмы наиболее яркое освещение получают, перемещая конденсор вверх и вниз. Интенсивность освещения окончательно регулируют, уменьшая размер диафрагмы. Если резкого изображения края предметного стекла получить не удается, можно сделать заключение, что на линзах микроскопа имеется грязь или что освещение неправильное. Последнее легко устраняется соответствующей регулировкой расстояния от источника света до микроскопа. [c.32]

Предварительная регулировка освещения. Перед микроскопом ставят осветитель и регулируют вогнутое зеркало оно должно отражать свет через отверстие в столике на фронтальную линзу объектива. Если" под столиком имеется диафрагма, то ее надо открыть возможно шире. В случае отсутствия осветителя для микроскопа, можно использовать любой источник света, предпочтительно солнечный свет, отраженный от белых облаков или белых стен, но при этом придется определить, какая сторона зеркала, вогнутая или плоская, дает более сильное освещение. [c.31]

Окончательная регулировка освещения. Зеркало регулируют, пробуя повертывать и плоскую и вогнутую поверхности до тех пор, пока не получат наиболее сильное и равномерное освещение всего поля. Если освещение слишком сильно, то перед конденсорной линзой осветителя помещают матовое стекло или кусок бумаги, или отодвигают осветитель дальше от микроскопа. [c.32]

Микроскоп является оптическим многолинзовым устройством для наблюдения элементов, не видимых невооруженным глазом, имеющим регулировки оптических свойств. Он дает возможность получить качественное увеличенное изображение, причем увеличение может достигать 2000 раз, а линейное разрешение — 0,5 мкм. Для целей неразрушающего контроля качества довольно широко применяют микроскопы серийные [1, 2] (универсальные, измерительные, металлографические и др.) и специализированные для решения конкретных контрольно-измерительных задач [1]. Микроскопы позволяют производить визуально-оптический контроль при различных режимах освещения и увеличения, а также по разным методикам. Линзовые системы являются апланатическими, т. е. для них выполняется условие синусов [c.240]

Показатель преломления и резкость изображений. На столик микроскопа помещают иредметное стекло и фокусируют миллиметровую шкалу ири общем увеличении в 50—80 раз и освещении светом от зеркала под столиком. Фокусировка и регулировка освещения были описаны в опыте 4, пункты 5 и 6. Выбор между плоским и вогнутым зеркалами определяется главным образом размером поля зрения и требуемой интенсивностью света (рис. 17). При рассматривании через окуляр можно четко видеть структуру матированной поверхности стекла, которая сильно ме- [c.34]

Чистое предметное стекло кладут на рай столика микроскопа. В центре его помещают следы твердого вещества с по.мощью микрошпатсля, суспензию — стеклянной палочкой (пипетка требует очень осторожного обращения). Поворотом установочного винта подымают объектив и передвигают предметное стекло так, чтобы оно оказалось непосредственно под объективом. Затем опускают объектив, чтобы расстояние от него до предметного стекла равнялось примерно 2. мм (касаться объективом предметного стекла нельзя ). Смотрят через окуляр, устанавливают зеркало, чтобы было хорошее освещение, и медленно двигают объектив до тех пор, пока вещество не окажется в фокусе. Фокусировку заканчивают тонкой регулировкой микравинтом. [c.469]

Источник света, либо смонтированный внутри микроскопа и имеющий ограниченную регулировку, либо (что предпочтительнее) внешний и перемещаемый. В последнем случае под конденсором монтируется зеркало (плоское с одной стороны и вогнутое с другой), положение которого можно менять свет направляется вверх по оптической оси микроскопа за счет наклонного положения зеркала. Из множества различных ламп для большинства работ подходит круглая матовая лампа, над которой располагается линза типа бычий глаз . Однако при исследовании окрашенных препаратов, особенно при освещении по Кёлеру (разд. 1.3.1), изображение значительно улучшается, если использовать лампу, которая дает четкое изображение источника света, снабжена держателем для светофильтра и ирисовой полевой диафрагмой. Проекционные лампы со спиральной нитью (дающие неравномерное изображение) нужно фокусировать на матовое стекло, служащее рассеивающей перегородкой и расположенное в держателе для светофильтра лампы затем путем регулировки отражателя, находящегося в корпусе лампы, следует сместить одно из двух изображений нити так, чтобы витки одного приходились на промежутки между витками другого, и путем небольшой расфокусировки добиться возможно более однородного и яркого освещения поверхности, служащей источником света. [c.19]

Яркость освещения следует регулировать только изменением накала лампы осветителя или применением светофильтров. Положение зеркала, конденсора и диафрагмы осветителя больше не изменять Никогда не следует поднимать и опускать конденсор или необоснованно использовать его ирисовую диафрагму для регулировки яркости поля зрения, так как это снижает разрешающую способность микроскопа, ухудшает изображение, может даже исказить его. Диафрагмой конденсора пользуются только для изменения контрастности изображения. Необходимость использования диафрагмы конденсора отпадает, если заранее привести в соответствие апертуру конденсора с апертурой используемого объектива. Как указывалось, апертура неиммергированного конденсора близка к 1, а числовая апертура объектива 40Х составляет [c.87]

Вероятно, наибольшее число недоразумений при работе с микроскопом вызывает регулировка конденсора. Конденсор используют для получения либо критического освеш,ения, либо освещения Кёлера (рис. 2-8, А). В критическом освещении свет источника фокусируется конденсором так, чтобы объект освещался конусом света. На практике это означает, что положение конденсора относительно объекта регулируется таким образом, что пятно освещающего света должно быть по возможности наименьшим, если смотреть невооруженным глазом, и возможно более ярким, если смотреть через окуляр и объектив, сфокусированный на объекте. Критическое освещение используют очень широко оно требует наличия перед источником рассеивающего экрана, чтобы избежать получения на объекте изображения нити накаливания источника света. Этот метод иногда приводит к излишним затратам света, однако он очень прост. Линзы конденсора выбираются таким образом, чтобы их значение МА было не меньше, чем у объектива, для того, чтобы заполнить апертуру объектива. [c.37]

Для подготовки микроскопа к работе необходимо провести следующую регулировку I) источник света и все его компоненты должны быть отцентрированы по оптической оси прибора 2) объектив необходимо сфокусировать и 3) требуется отрегулировать освещение. В большинстве обычных (стандартных) микроскопов конденсор, объектив и окуляр коаксиальны, поэтому центрировать требуется только источник света. Это достигается путем фокусировки на микроскопном стекле, удаления окуляра и перемещения источника света с помощью регулировочного винта до тех пор, пока свет (при наблюдении в тубус) не будет находиться в центре объектива. Если регулируется и установка по центру конденсора, то конденсор вначале вынимают, источник света центрируют, как описано выше, затем конденсор ставят на место и с помощью регулировочного винта центрируют по источнику света. Затем конденсор фокусируют на объекте для критического освещения или, как обсуждалось выше, для освещения Кёлера. Промежуточная диафрагма (рис. 2-8, Б) должна быть постоянно отрегулирована таким образом, чтобы ЫА линзы была заполнена это можно установить, если из тубуса вынуть окуляр и посмотреть, полностью ли освещен объектив. Для того чтобы избежать влияния рассеянного и отраженного света, полевую диафрагму следует уменьшить так, чтобы освещен был только объект. Если интенсивность освещения мешает удобному наблюдению, то ее можно уменьшить. Для уменьшения интенсивности ни в коем случае нельзя изменять апертуры, для этого либо вводят перед источником света нейтральные плотные фильтры, либо уменьшают напряжение, подаваемое на источник. [c.39]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология