Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Изображение источника света на щели

    Для анализа используют спектрограф ИСП-30 (рис. 1.7). Полихроматическое излучение плазмы, проходя через шель 1, попадает на зеркальный коллиматорный объектив 2, который поворачивает лучи и обеспечивает равномерное освещение призмы 3. Разложенный по длинам волн свет собирается камерным объективом 4 в его фокальной плоскости, отражается зеркалом 5 и попадает на фотографическую пластинку 6. Одинаковое почернение спектральной линии по высоте является необходимым условием количественных измерений и получается только при равномерном освещении щели спектрографа источником излучения. Наиболее совершенна в этом случае трехлинзовая осветительная система (рис. 1.8). Линза 2 дает несколько увеличенное изображение источника света 1 на проме/куточной диафрагме 3, которая позволяет вырезать различные зоны свечения источника эмиссии, а также экранировать раскаленные концы электродов и менять интенсивность светового потока. Конденсор 4, расположенный за диафрагмой 3, проецирует изображение линзы 2 на щель спектрографа в виде равномерно освещенного круга. Линза 5 дает увеличенное изображение выреза диафрагмы 3 на объективе 7 коллиматора. Таким образом, конденсоры 2, 4 и 5 играют роль вторичных полихроматических источников света. [c.26]


    Конденсор обычно устанавливают так, чтобы получить на щели изображение источника света (рис. 81, а), при этом каждая точка источника освещает только одну точку щели. Это позволяет осветить щель определенным участком источника. Так, например, при качественном анализе с использованием дуги постоянного тока на щель часто проектируют прикатодный участок разряда. В этом случае освещение [c.114]

    В комплекте кварцевого спектрографа (фокусное расстояние объектива коллиматора 703 мм) имеется трехлинзовая система с фокусными расстояниями конденсоров (считая от источника света) 75, 150 и 275 мм. Определите I) расстояние от первых двух конденсоров и источника света до щели, 2) с каким увеличением изображение источника света проектируется на объектив коллиматора. [c.117]

    В приборе применена растровая система освещения щели, которая значительно уменьшает влияние смещения светового облака дуги или искры в процессе горения на воспроизводимость измерений. Она состоит из растров, линз с наклеенными на них тридцатью маленькими линзочками. Каждая линзочка первого растра дает промежуточное изображение источника света на соответствующие линзочки второго растра, а линза-насадка точно проецирует всю систему промежуточных изображений на щель спектрального прибора и дифракционную решетку. [c.692]

    Для приготовления образца каучука, нерастворимого, но хорошо набухающего в том или ином растворителе, можно применить метод расплющивания набухшего образца между пластинками, прозрачными в ИК области. Растворитель, в котором производится набухание, либо полностью испаряется, либо его поглощение компенсируется поглощением растворителя в кювете сравнения. Набуханию подвергают либо мелкую крошку каучука, либо тонкий срез, полученный на микротоме. В последнем случае кусочек каучука замораживают, поливая его жидким азотом. Размер полученного среза должен быть не меньше размера изображения источника света на образце в спектрометре. Если не удается получить срез достаточно большой площади, удобно применить микроскоп-приставку - совокупность двух оптических систем, смонтированных в одном корпусе. Каждая система (одна - для образца, другая - для сравнения) состоит из двух объективов, расположенных один под другим и способных к независимому перемещению для фокусировки. Один из объективов дает уменьшенное изображение источника света, одновременно фокусируя его на образец. После прохождения образца изображение увеличивается до первоначальной величины и направляется на входную щель. [c.218]

    Зеркальный конденсор. Если источник света мал и свет его не заслоняется со стороны, противоположной спектральному прибору, то вместо линзового можно употреблять зеркальный конденсор. Алюминированное сферическое зеркало имеет коэффициент отражения около 80% и с его помощью можно получить увеличенное изображение источника на щели (рис. 5.10, б). Расчет расстояний I, и 1 ,, фокусного расстояния и диаметра зеркала аналогичен расчету для линзового конденсора. Зеркало приводит к несколько большим потерям энергии по сравнению с линзой. Существенное его преимущество — полное отсутствие хроматической аберрации. Сочетание зеркального и линзового конденсоров позволяет почти вдвое увеличивать количество света, поступающего в прибор. Источник при этом располагается в центре кривизны зеркала (см. рис. 5.2). Следует иметь в виду, что при таком расположении в результате дополнительного прохождения света, отраженного от зеркала, через источник света могут увеличиться искажения, вызываемые самопоглощением линий в источнике. [c.139]


    Для освещения щели следует использовать трехлинзовую осветительную систему, изображенную на рис. 30. Линзы осветительной системы, укрепленные в рейтерах, устанавливаются на рельсе таким образом, как это показано на рис. 30. Линза дает резкое изображение источника света на линзе 2, а линза а изображает 54 [c.54]

    Далее отодвигают штатив на свое место и проверяют положение источника света на оптической оси прибора. Для этого снимают кассету спектрографа и при широко открытой входной щели и горящем разряде между электродами убеждаются в том, что изображение источника света расположено в центре действующего отверстия спектрографа (в данном случае чуть правее центра объектива [c.55]

    Первую линзу 1 , которая должна находиться ближе к источнику света, передвигают по направлению к щели до получения уменьшенного изображения источника света на крышке щели. Это изображение приводят к центру перекрестия с помощью винтов, имеющихся в оправе. Линзу перемещают в горизонтальном направлении перпендикулярно рельсу и в вертикальном направлении путем изменения положения штыря с линзой в рейтере. Затем линзу удаляют от щели до получения увеличенного изображения. Изображение источника снова приводится в центр перекрестия, но теперь уже с помощью механизмов штатива для электродов 2. Линзу Ьх опять передвигают в положение уменьшенного изображения, и перемещением линзы в рейтере и оправе снова устанавливают изображение по центру перекрестия. Наконец, линзу следует установить на-расчетное расстояние от щели. [c.311]

    Если после всех проведенных операций юстировка осветительной системы правильна, то на второй линзе будет иметь место четкое и симметричное изображение источника света, на зеркале будет наблюдаться симметричное овальное пятно, щель при этом окажется равномерно освещенной. [c.314]

    При эмиссионном анализе по атомным спектрам источником света слул ит сама анализируемая проба. Осветитель при этом выполняет только одну функцию — направить световой поток во входную щель прибора, заполнив ее по площади и по апертуре. Чтобы ярче осветить щель, на нее проектируют изображение источника света (обычно с помощью эллиптического зеркала), помещая Б его фокусах щель и источник. При исследовании протяженных объектов (факелы, пламя, плазма) осветитель проектирует на вход- [c.196]

    Оптическая схема прибора представлена на рис. 28.2. Изображение источника света Г, установленного в фокусе эллиптического зеркала 2, после поворота светового пучка плоским зеркалом 3, пройдя через линзу 4, проектируется на входную щель 5 монохроматора, установленную во втором фокусе эллиптического зеркала. Параллельный пучок лучей, отраженный от сферического зеркала 6 [ = 500 мм, 1 10), падает на 30-градусную кварцевую призму 7, разлагается ею в спектр и, отразившись от ее задней алюминированной грани, идет назад, фокусируясь зеркалом 6 на выходной щели 8, расположенной над входной щелью 5. Пройдя щель 8, световой пучок попадает в кюветное [c.234]

    Оптическая схема прибора представлена на рис. 33.3. Свет от источника 1 гиперболическими зеркалами 2 и 5(9 и сферическими зеркалами 3 я 29 направляется в каналы осветителя. Увеличенное вдвое изображение источника локализовано в плоскостях установки компенсирующего и фотометрического клиньев 5 и 26. В канале исследуемого образца свет плоскими зеркалами 6 я 7 направляется на торическое зеркало 8, которое создает второе изображение источника в плоскости зеркального модулятора 9. В канале эталонного образца свет, отразившись от плоского зеркала 25, направляется на торическое зеркало 23, которое дает изображение источника света также в плоскости зеркального модулятора. Попеременно пропускаемые модулятором пучки из обоих каналов фокусируются торическим зеркалом 22 и плоским зеркалом 21 на входной щели И монохроматора. [c.268]

    ИСТОЧНИК света 2 — сферическое зеркало 3 — блок с четырьмя селективно отражающими фильтрами, смонтированными на поворотном столике 4 — кристаллический модулятор, на котором зеркалом 2 создается изображение источника света 5 — матированное зеркало 6 — дифракционная решетка — фильтр 7 — сферическое зеркало 8 — кювета 9 — входная щель 10 — сферическое зеркало коллиматора И — плоское зеркало с отверстием [c.282]

    Наиболее простым конденсором может служить сферическая положительная линза. Ее относительное отверстие (отношение диаметра линзы к ее фокусному расстоянию) должно быть выбрано так, чтобы оно соответствовало полному заполнению коллиматора светом (см. рис. 39), т, е. чтобы угол со ы. Расчет увеличения конденсора и его положения относительно щели можно производить по формуле тонкой линзы. Не следует пользоваться уменьшенным изображением источника на щели прибора, так как это ведет к резкой неравномерности освещения щели. Как правило, источник проектируется на щель прибора с увеличением 1 1. (В этом случае расстояние между источником и щелью прибора равно 4/, [c.98]

    Кроме спектрального прибора и условий, описанных выше, для определения лантана в металлических образцах можно пользоваться кварцевым спектрографом средней дисперсии (ширина щели 0,01 мм, изображение источника света проектируется на щель с помощью сферической линзы, имеющей фокусное расстояние 75 мм.). Ток в генераторе ДГ-1 (ДГ-2) —6—8 а. Для анализа металлических образцов можно применять также генератор низковольтных (120 в) импульсов (С = 2000 мкф, Ь = = 60 мгн, медный подставной электрод диаметром 2—3 мм, заточенный на острие под углом 45° при вершине, съемка — 3 импульса), без предварительного обжига. [c.108]


    Конденсор обычно устанавливают так, чтобы получить на щели изображение источника света [c.125]

    Прибор снабжен штативом для электродов специальной конструкции и трехлинзовой системой освещения щели. В осветительную систему введено поворотное устройство. Благодаря этому на первой грани призмы получается горизонтальное изображение источника света. При блуждании разряда между электродами его изображение смещается не от основания призмы к вершине, или наоборот, а перемещается параллельно преломляющему ребру. При этом путь, который проходит свет в призмах, и потери на поглощение остаются постоянными, поэтому не изменяется относительная интенсивность спектраль- [c.163]

    Осветительная система спектрофотометра направляет сплошное излучение источника на кювету с, анализируемым веществом. Свет через кювету должен проходить параллельным пучком, поэтому источник устанавливают в фокусе первого конденсора, диаметр которого несколько меньше, чем диаметр кюветы (рис. 171). Второй конденсор, расположенный после кюветы, собирает параллельный пучок и строит изображение источника на щели. [c.334]

    После установки источника света на оптическую ось, на рельс монтируют вспомогательные линзы, фокусируют изображение источника на щель в случае однолинзового освещения щели и добиваются равномерного освещения щели в случае трехлинзового освещения. После этого осветительные линзы закрепляют на рельсе, и в дальнейшем они служат контрольными приборами освещения щели источником излучения при смене электродов. [c.143]

    Спектры снимали на спектрографе ИСП-28, причем изображение источника света проектировалось на щель трехлинзовой оптической системой с промежуточной диафрагмой. [c.377]

    Изображение источника света на щели спектрографа [c.20]

    Но проектирование изображения источника света на щели имеет для всех анализов количественного характера определенные неудобства здесь как раз безусловно необходимо, чтобы щель была совершенно равномерно и со всех сторон освещена источником света на всем ее протяжении так, чтобы спектральная линия имела совершенно равномерную интенсивность на [c.22]

    Чтобы получить гарантированное равномерное освещение щели при большой интенсивности света, необходимо между источником света и щелью поместить чечевицу так, чтобы на чечевице коллиматора получилось изображение источника света. [c.23]

    Линза / создает увеличенное изображение источника света в плоскости линзы 3. Револьверная диафрагма 2 вырезает из этого изображения необходимый участок, экранируя концы раскаленных электродов, что значительно снижает интенсивность мешающего сплошного спектра. На щели 5 получается равномерно освещенный круг — изображение линзы 1. Линза 4, располагающаяся в непосредственной близости от входной щели, служит для устранения виньетирования. При наличии виньетирования освещенность в плоскости объектива коллиматора получается неравномерной максимальная освещенность соответствует центральным зонам источника света, а к краям источника освещенность падает. Антивиньетирующую линзу подбирают таким образом, чтобы на коллиматорном объективе получить увеличенное изображение источника, не превышающее, однако, размеров коллиматорного объектива. Линзы 1 и 3 для удобства работы должны быть ахроматическими. Иначе для разных областей спектра необходимо при работе изменять расстояния между источником и линзами ], 3 а 4. [c.73]

    Линза 2 дает немного увеличенное изображение источника света 1 на диафрагме 3, вырезающей из этого, изображения среднюю зону. В диафрагме 3 имеется набор отверстий разной высоты, которые позволяют регулировать интенсивность светового пучка. За диафрагмой расположена линза 4, проецирующая линзу 2 на щель 5 спектрального прибора. При этом на щели 5 получается равномерно освещенный круг за счет излучения части источника, приходящейся на отверстие диафрагмы 3. Линза 6 дает увеличенное изображение щели диафрагмы 3 на объектов коллиматора 7. В стидоскопах резкое иэображ йе сточнирг  [c.232]

    НОГО промежутка был на оптической оси коллиматора. Для этого при помощи проекционного устройства, которым снабжен штатив ШТ-9, получают изображение электродов на вспомогательном экране. Закладывают (в темной комнате) фотографическую пластинку в кассету при этом эмульсия пластинки должна быть обращена к окуляру спектрографа ИСП-22 или ИСП-28. Вставляют кассету в рамку спектрографа. При помощи микроБинта подбирают ширину щели, которая варьируется в пределах 0,007—0,05 мм. Для правильного освещения источником света щели спектрографа применяют трехлинзовую осветительную систему (см. рис. 86) или другие способы освещения щели. [c.237]

    Часто используют такую осветительную систему, когда на щель при помощи линзы проектируется изображение источника света. При этом должно, очевидно, выполняться условие ВЦ— = С1 , где О —диаметр объектива коллиматора 0 , а С —диаметр лиизы Ь (рис. 2.8). [c.29]

    Изображение источника света 1 проектируется иа щель 9 монохроматора. Лучи, пройдя через щель, попадают на коллиматорное параболическое зеркало 10 отраженные параллельные лучи проходят призму 11, попадая на зеркало 12. Плоское зеркало 12 отражает дисперсные пучки по обратному путо на зеркало 10, после которого они собираются в фокусе зеркала, где помещена щель 14. При помощи зеркал 15 и 16, расположенных за выходной щелью, лучи проектируются на один из слоев термоэлемента 17. Поворачивая [c.9]

    К онденсорные системы бывают, как правило, однолинзовые или трехлинзовые. При однолинзовом конденсоре изображение источника света проектируется на входную щель коллиматора, которая при этом освещается наиболее ярко. Недостаток способа — неравномерность освещенности щели по высоте в том случае, когда источник света имеет неравномерную яркость это препятствует установке на щели калиброванного нейтрального фильтра, обладающего различным светопропусканием вдоль щели (ступенчатый ослабитель). Поэтому более широкое распространение получила трехлинзовая конденсорная система (рис. 16.1), первая [c.139]

    Поскольку спектрографы большой дисперсии, как правило, характеризуются меньшей светосилой по сравнению с приборами средней дисперсии, то переход к этим приборам может привести к уменьшению ожидаемого снижения пределов обнаружения (см. 3.1). Это связано с тем, что при фотографировании спектра на приборе большой дисперсии при неизменности всех остальных условий анализа почернение фона станет ниже оптимального. Однако и в этой ситуации в ряде случаев, как уже указывалось, сни-ясение относительных пределов обнаружения может быть достигнуто путем соответствующего увеличения времени экспозиции и расходуемой навески образца. Можно также рекомендовать с целью уменьшения потерь света использовать для освещения щели спектрографа однолинзовый конденсор, проектирующий изображение источника на щель спектрографа. Это позволяет в несколько раз увеличить освещенность на фотопластинке и соответственно повысить почернение фона. Дополнительный выигрыш, по-види-мому, может быть получен и при использовании сферического зеркала, в фокусе которого располагается источник света [240, 144, 1313] (см. 13.5). Рекомендованные в работе [265] безлинзовое освещение при очень близком расположении источника от щели прибора или помещение цилиндрической линзы перед фотоэмульсией, вероятно, не всегда являются рациональными. В этих случаях по- [c.80]

    Соотношение Манжена позволяет просто решать постоянно возникающий при использовании спектральных приборов вопрос, в каких случаях следует применять конденсорную линзу для получения изображения источника света на щели спектрального прибора, иными словами, в каких случаях можно с помощью копденсорной линзы увеличить освещенность изображения спектра. [c.85]

    На рис. 2 представлена стандартная схема визуального наблюдения двойного лучепреломления в потоке. Источником света S служит ртутная лампа. Изображение кратера лампы фокусируется на поворотную призму R , а затем объективом О на полутене-вую пластинку N. Тонкая линза L проектирует изображение кратера (вырезанное в виде щели) и полутеневой пластинки внутрь прибора D, куда фокусируется и телескоп Т. Такое устройство позволяет видеть одновременно четкое изображение источника света и полутеневой пластинки и способствует уменьшению ошибок, связанных с отражением света от стенок прибора. [c.10]

    Осветительная система квантометра обеспечивает равномерное освещение входной щели всеми зонами дуги или искры. Для освещения входной щели квантометра используют растровые конденсоры (рис. 103). Растр представляет собой плосковыпуклую линзу, на плоской стороне которой наклеены маленькие линзы (до нескольких десятков). В системе освещения квантометра два растровых конденсора и линза-насадка на щели. Каждая линза первого растра строит уменьшенное изображение источника света на соответствующей линзе второго растра. Второй растр проеци- [c.157]

    Если по каким нибудь определенным соображениям источник света должен находиться на большом расстоянии от спектрографа или, если по какой либо особой причине желательно получить изображение источника света, т. е. необходимо стигматическое исследование его, то приходится подбирать чечевицу, оптическая сила которой вдвое больше, чем она обычно бывает у коллиматора. Если исгочник света отображается на щели спектрографа в натуральную величину, получается (пренебрегая преломлением) ход лучей, изображенный на рис.14. [c.21]


Смотреть страницы где упоминается термин Изображение источника света на щели: [c.116]    [c.68]    [c.140]    [c.258]    [c.294]    [c.142]    [c.358]    [c.258]    [c.358]    [c.116]    [c.22]    [c.284]   
Спектрохимический эммисионный анализ (1936) -- [ c.0 ]




ПОИСК





Смотрите так же термины и статьи:

Источники света



© 2025 chem21.info Реклама на сайте