Разрешающая способность микроскопа

Для качественного определения степени однородности таких систем пользуются микроскопическим методом, сущность которого заключается в непосредственном определении размеров частиц с помощью обычного микроскопа. Можно провести и количественный микроскопический анализ дисперсных систем, размеры частиц которых больше разрешающей способности микроскопа, т. е. больше 0,2 мк. Однако количественное определение микроскопическим методом затруднительно, так как для полной характеристики дисперсности системы необходимо определить размеры очень большого числа частиц, Тем [c.6]

Разрешающая способность микроскопа ограничена волновой природой использующегося света. Минимальное расстояние й), на котором еще могут быть различимы две точки объекта при применении хорошего микроскопа, составляет порядка длины волны облучения й выражается как [c.100]

Пример — расчет разрешающей способности микроскопов Если увеличение объектива 1/=40Х, Л=0,65, то [c.13]

Темнопольная микроскопия осуществляется, в темном поле микроскопа при косом освещении — эти приемы позволяют увеличить контраст изображения вследствие образования видимой тени (свет от излучателя падает на плоскость объекта под таким углом, что его зеркальное отражение не попадает в объектив и поле зрения выглядит темным). В темпом поле можно качественно отметить неровности (сту/тени, сколы и т. д.) на поверхности объекта высотой до 1 —1,5 нм. В темном поле повышается и разрешающая способность микроскопа. [c.122]

Электронная микроскопия. В электронном микроскопе вместо световых лучей используется пучок быстрых электронов, что резко увеличивает разрешающую способность микроскопа и дает возможность непосредственно видеть или фотографировать коллоидные частицы. Возможность применения в этом случае потока электронов обусловлена тем, что электроны обладают одновременно как квантовой, так и волновой природой. Длина волны потока электронов составляет всего 0,02—0,05 А, т, е. меньше размеров [c.48]

Меняя напряжение, оказывается возможным менять длину волны и, соответственно, разрешающую способность микроскопов. Если применяются достаточно большие напряжения, необходимо учитывать релятивистские поправки. Таким образом, длины волн лежат в пределах 0,001<А,-<0,10 нм [148]. Различные модификации электронных микроскопов позволяют разрешать детали объектов до 0,1 нм. Прн изучении размеров частиц в дисперсионных средах такое высокое разрешение не требуется, поэтому используются обычно небольшие напряжения. Исследование малых частиц позволяет получить информацию об их внешней форме и структуре. Изображение фотографируется и по нему определяется угол рассеяния электронов 0, связанный с размером чистицы г простым соотношением д = к г. [c.102]

Ультразвуковой микроскоп. В ультразвуковом микроскопе в качестве излучения используются ультразвуковые волны. Это позволяет наблюдать мельчайшие предметы и неоднородности в любой упругой среде, проницаемой для ультразвуковых волн (прозрачной и непрозрачной для света). Разрешающая способность микроскопа определяется длиной волны ультразвука и равна 10— 15 мкм. Принципиальная схема ультразвукового микроскопа приведена на рис. 57. [c.126]

При растворении в воде кристаллов сахара и хлорида натрия образуются соответственно молекулярные и ионные растворы. Таким образом, одно и то же вещество может находиться в различной степени раздробленности макроскопически видимые частицы (>0,2—0,1 мм, разрешающая способность глаза), микроскопически видимые частицы (от 0,2—0,1 мм до 400—300 нм, разрешающая способность микроскопа при освещении белым светом) и отдельные молекулы (или ионы). [c.289]

Существует три основных метода световая оптическая микроскопия, трансмиссионная электронная микроскопия (ТЭМ), растровая (или сканирующая) электронная микроскопия (РЭМ или СЭМ). Методы различаются сферами применения, определяемыми разрешением микроскопа. Разрешающая способность микроскопов определяется длиной волны излучения А, показателем преломления среды между образцом и линзой п р и углом приема линзы 6 [c.353]

Теория показывает, что разрешающая способность микроскопа, т. е. то наименьшее расстояние, при котором две точки можно еще видеть отдельно друг от друга, составляет около половины длины световой волны. Таким образом, при использовании обычного света (длина волны 400—700 нм) в наилучший микроскоп видимы частицы, размер которых составляет не менее 0,2 мкм. При использовании ультрафиолетового света с помощью фотосъемки можно получить изображение более мелких частиц, но с диаметром все же не меньшим 0,1 мкм. Таким образом, коллоидные частицы лежат за пределами видимости в обычном микроскопе. [c.44]

Одна из важных характеристик объективов — их разрешающая способность, определяющая в конечном итоге разрешающую способность микроскопа в целом.. [c.9]

Частицы коллоидной степени дисперсности не могут быть видимы в поле оптического микроскопа. Разрешающая способность микроскопа 5 определяется наименьшим расстоянием между двумя несамосветящимися точками, которые раздельно может воспринимать наш глаз. Она равна Я = 0,51 Х/А, где к длина световой волны, А — так называемая численная апертура объектива, равная [c.392]

Разрешающая способность, естественно, является важнейшей характеристикой электронного микроскопа и зависит главным образом от его конструкции. В зависимости от разрешающей способности микроскопы делят на три класса. Микроскопы, дающие разрешение выше 5 А, относят к приборам I класса микроскопы, дающие разрешение в пределах 8—10 А, причисляют к приборам II класса электронные микроскопы с разрешением ниже 15—20 А относят к приборам III класса. В табл. VI.1 приведены основные характеристики некоторых современных отечественных и зарубежных просвечивающих электронных микроскопов. [c.170]

Разрешающая способность микроскопа. Эта характеристика микроскопа особенно важна при исследовании микрообъектов и их структур. [c.13]

Реплики, полученные одноступенчатым способом, обеспечивают более высокую разрешающую способность микроскопа и по.этому их применение рекомендуется всюду, где это возможно. Однако в процессе отделения отпечатка механическим способом может произойти некоторое искажение реплики, а также частичное разрушение исходного образца или его поверхностного слоя. В настоящее время разработано большое число двухступенчатых способов, которые позволяют устранить эти недостатки и сохранить поверхность образца для повторного исследования намеченного участка в электронном микроскопе. [c.183]

Аналогией может служить логическая трудность в определении длины участка береговой липни. Очевидно, что она больше прямой, соединяющей две крайних точки и отражает реальный путь вдоль изрезанного берега однако с увеличением масштаба она возрастает, поскольку придется учитывать не только заливы и мысы, но и малые бухты, отдельные камни, песчинки и, наконец, периметры молекул и отдельных атомов, доводя понятие до абсурда. Поэтому условились, что учитывать следует лишь те изгибы, характерная длина которых превышает некий произвольно заданный размер. Так и в оценке удельной поверхности учитывают лишь неоднородности, большие, чем разрешающая способность микроскопа или размер зонда — молекулы адсорбата. [c.128]

Оценим возможности настоящего метода. Для экспериментальной регистрации радиусов колец Ньютона необходимо, чтобы разница между ними превышала разрешающую способность микроскопа. Пусть радиус второго максимума равен — Аг, тогда [c.81]

Поскольку при фотографировании линзочки разрешающая способность микроскопа составляет Аг 1 мк, то, подставляя в (П1.15) Аг = 1 мк, п = 1,4, Х = 5780 получаем 0 6 . [c.81]

А. Это резко увеличивает разрешающую способность микроскопа и дает возможность непосредственно видеть или фотографировать коллоидные частицы. Разрешающее расстояние с помощью электронного микроскопа может быть доведено до 5-10 А. [c.96]

Для дисперсионного аналнза дисперсных систем в коллоидной химии широко используется электронная микроскопия. Ее теоретические основы во многом сходны с теорией световой микроскопии. Как показывает уравнение (V. 1), увеличение разрешающей способности микроскопа можно обеспечить уменьшением длины волны лучей, освещаюы1,их образец. Для достижения наибольшей разрешающей способности вместо световых лучен в электронном микроскопе используют поток электронов. Длина волны движущейся частицы по де Бройлю составляет [c.250]

При определении разрешающей способности микроскопа следует различать два случая освещение прямое (лучи падают параллельно оптической оси микроскопа) и косое. При косом освещении с1 в 2 раза меньше, чем при прямом [c.9]

Основной характеристикой любого микроскопа, в том числе электронного, является разрешающая с пособность, т. е. способность давать раздельное изображение точек объекта, расположенных близко друг к другу. Теоретический предел разрешающей способности микроскопов и других оптических приборов определяется дифракцией световых лучей. Светящаяся точка в результате дифракции видна в микроскопе в виде светлого кружка, окруженного темными и светлыми кольцами. При уменьшении рас- стояния между двумя точками дифракционные кольца сближаются, яркость пространства между ними постепенно увеличивается и, наконец, при некотором расстоянии они сливаются в одно. Наименьшее расстояние при котором две точки еще наблюдаются в микроскопе раздельно (разрешаемое расстояние), определяется соотношением [c.167]

Разрешающая способность микроскопа тем лучше, чем меньше ее абсолютная величина. / [c.13]

Метод наблюдения в темном поле, разработанный австрийским ученым Зигмонди, дает возможность повысить разрешающую способность микроскопа в 10 раз. В основе метода лежит явление Тиндаля — освещение объекта косыми лучами света. Эти лучи, не попадая в объектив, остаются невидимыми для глаза, поэтому по- [c.16]

Электронномикроскопический метод [315—317] позволил впервые обнаружить и изучить структуру переходных пор активированного угля, заполняющихся в результате капиллярной конденсации при сорбции паров. Особенно эффективным этот метод оказался для исследования структуры силикагелей с крупными порами. При его помощи можно измерять поры с радиусом 75—100 А и выше, а также строить кривые распределения объема пор по их размерам. Этот метод имеет определенные ограничения, связанные с разрешающей способностью микроскопа, качеством и способом подготовки объекта. [c.146]

Из-за малых размеров коллоидные частицы нельзя наблюдать даже с помощью наиболее совершенных обычных микроскопов. Как уже упоминалось, размеры их меньше разрешающей способности микроскопа, которая не превышает 100 нм (0,1 мкм). Поэтому Зидентопф и Зигмонди в 1903 г. Микроскоп сконструировали ультрамикроскоп (рис. 1), в котором использован эффект Тиндаля. Коллоидный раствор освещают сбоку, и [c.22]

Качество изображения может быть улучшено за счет спектрального изменения светового потока в микроскопе, достигаемого применением светофильтров. Контрастные фильтры позволяют повышать контрастность окрашенных объектов кристаллы, имеющие одинаковую с фильтром окраску, будут иметь светлый оттенок, а кристаллы, окрашенные в цвет, дополнительный к цвету фильтра, — в темный тон. При использовании контрастных светофильтров целесообразно применение панхроматических фотоматериалов. Для уменьшения силы светового потока (яркости изображения) в соответствии с чувствительностью фотоматериала применяют различные компенсационные фильтры светоослабляющие, фильтры дневного света, теплозащитные и специальные желто-зеленые фильтры. Все эти фильтры обладают небольшим собственным поглощением света, поэтому при цветной микрофотографии их следует применять с учетом этого обстоятельства. Для выделения из видимой части спектра нужного излучения применяют избирательные фильтры — синий, зелеьый, желтый, оранжевый и красный. Эти фильтры используют в специальной флюоресцентной микроскопии. Зеленые фильтры, устраняющие остаточную аберрацию ахроматических объективов, называются корригирующими фильтрами и применяются для повышения контрастности изображения. Синие фильтры повышают разрешающую способность микроскопов. [c.117]

Камебакс (Франция). Растровый электронный микроскоп и микроанализатор фирмы Сатеса . Разрешающая способность микроскопа 7—10 нм, увеличение — от 30 до 240 ОООХ. [c.154]

Микрогальванокоррозия. Большей частью называется просто микрокоррозией. В основе процесса коррозии в этом случае лежат микрогальванические элементы, один (большей частью катод) или оба электрода которых имеют микроскопически малые размеры (могут быть обнаружены лишь при помощи микроскопа). Различают также и субмикрокоррозию. Тогда электроды коррозионного элемента имеют величину, лежащую за пределами разрешающей способности микроскопа. [c.359]

Оба метода (прямой и косвенный) имеют преимущества п недо-счатки, и выбор метода зависит прежде всего от целей исследования. При исследованиях по методу реплик изменения препарата под деймвием электронов минимальные и изображения получаются с хорошим контрастом, однако при этом методе несколько снижается разрешающая способность микроскопа (по отношению к первоначальному объекту). Основное преимущество прямых методов исследования заключается в том, что они обеспечивают максимальное разрешение. Кроме этого, с помощью специальных приспособлений прямые методы позволяют наблюдать поведение объекта при различных воздействиях на него непосредственно в колонне электронного микроскопа (деформация, на1 ревание, охлаждение и др.) и микродифракцию. Однако контрастность изображения при прямых методах исследования, как правило, незначительна, а изменение объекта при облучении электронами не всегда возможно предотвратить. [c.175]

Повышение разрешающей способности микроскопов достигается гл.обр. совершенствованием электронной оптики и применением новых видов электронных пушек. Замена традиционных вольфрамовых термокатодов на ориентир, катоды из LaBe позволила повысить электронную яркость пушек в 5-7 раз, а переход к пушкам на полевой эмиссии (автовмиссии) с холодными катодами из монокристаллич. W - в 50-100 раз, что дало возможность уменьшить диаметр электронного зовда и довести. разрешение РЭМ до 1 нм, существенно снизив при атом лучевую нафузку на образец. [c.441]

Разрешающая способность микроскопа, т. е. наименьшее расстояние, при котором две точки еще можно видета раздельно, составляет около половины длины световой волны. Таким образом, при использовании обычного света (длина волны 400-700 нм ) даже в наилучший микроскоп видимы частицы, размеры которых не менее 2 10г см, т. е. коллоидные частицы лежат за пределами видимости в обычном микроскопе. [c.94]

Как указывалось выше (см. 2.2), структурированный скелет клеточной стенки построен из целлюлозных фибрилл. Они присутствуют во всех клеточных стенках, содержащих целлюлозу, в том числе в бактериях, водорослях, семенных волосках, лубяных волокнах. Животный туницин также организован в виде фибрилл [128, 211]. Фибриллы представляют собой агрегаты молекул целлюлозы и содержат упорядоченные и менее упорядоченные участки. Из-за малого диаметра фибрилл подробные исследования их структуры стали возможными лишь с помощью электронной микроскопии. Увеличение разрешающей способности микроскопов и усо- [c.78]

Полезное увеличение микроскопов связано с разрешагошей способностью глаза и прибора. Разрешающая способность определяется предельным разрешаемым расстоянием, т. е. наименьшим расстоянием между малыми частицами, на котором можно видеть их раздольное изображение. Для глаза это расстояние к равно 0.1—0,3 мм Разрешающая способность микроскопа (расстояние <з ) и разрешающая способность глаза (расстояние к) связаны соотношением йМ=Ь, 1яе Л1 —полезное .вслнчение микроскопа. [c.117]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология