Микроскоп юстировка

Погрешность увеличения объектива вносит погрешность в цену деления шкалы (биссектора и т. д.) окулярной части. Требуемая величина увеличения объектива и согласование этого увеличения с окулярной частью достигается специальной юстировкой объектива, заключающейся в совокупном изменении воздушного промежутка между компонентами объектива (юстировка увеличения) и изменением положения вдоль оси всего объектива относительно окуляра (юстировка положения), либо совокупным изменением положения объектива относительно окуляра, т. е. изменением оптического интервала микроскопа (юстировка увеличения) и перемещением всего микроскопа относительно основной шкалы (юстировка положения). Примерная длина микроскопа может быть определена по формуле [c.100]

Яркость, а также разрешение существенно зависят от юстировки оптической системы микроскопа. Юстировку (или проверку юстировки) проводят каждый раз после смены катода или после разборки и чистки микроскопа. [c.268]

Необходимо проверить центрировку и юстировку прибора (см. инструкцию к ПМТ-3). Центрировка прибора заключается в установлении точного совмещения при повороте предметного столика на 180° оптической оси микроскопа прибора с осью механизма нагружения. [c.51]

Во всех случаях применение метода прямого изображения решетки кристаллов требует очень тщательной юстировки и чистки микроскопа практически перед каждым экспериментом. Сложность в подготовке объекта связана не только с необходимостью получения достаточно тонкого образца, но и с необходимостью получения заданной ориентировки, поскольку применение гониометрического столика не может обеспечить сохранения высокого разрешения. [c.543]

В некоторых отсчетных микроскопах важно, чтобы величина V была строго согласована с отсчетной шкалой. Заранее обеспечить полную согласованность трудно, поэтому производят юстировку. Величина I не поддается юстировке (основная шкала изготовлена заранее). Единственным параметром для юстировки является, таким образом, увеличение объектива N [c.101]

При изменении увеличения, согласно формуле (92), должно меняться Если компоненты объектива жестко связаны между собой, что чаще всего встречается в измерительных приборах, то величину /об изменить нельзя. Тогда при юстировке изменяют величину К (за счет изменения величины Ь). В некоторых конструкциях отсчетных микроскопов (например, построенных по принципу двойного изображения или сведенных изображений) предусмотрена возможность изменения расстояния а между главными плоскостями двух компонентов объектива при этом меняется /, . Изменение величины а ведет к изменению оптической силы, а следовательно, и / всего объектива, согласно формуле (22). [c.101]

В некоторых случаях необходимо совпадение нулевых штрихов отсчетной шкалы и основной шкалы в исходном положении измерительных частей (например, в оптическом угломере, в штриховой головке инструментального микроскопа и др.). Для этого предусмотрено перемещение сетки по направлению своей шкалы, осуществляемое во время юстировки специальными винтами. [c.104]

Основными параметрами юстировки отсчетного микроскопа являются совпадение плоскости изображения штрихов лимба с плоскостью минутной шкалы сетки 9 и совпадение изображения градусного интервала лимба с длиной этой шкалы. [c.119]

Часто проверяют разрешающую способность проекционного объектива фотографированием специальной испытательной таблицы (миры), на которой нанесены штрихи разной определенной толщины. Однако при этом способе может быть не учтено влияние свойств фотографической эмульсии. Правильнее рассматривать в лупу или микроскоп изображение миры, даваемое проекционным объективом. Могут быть проконтролированы и другие оптические узлы проекционной системы. Однако контроль отдельных узлов проекционной системы недостаточен. Необходим контроль всей проекционной системы, так как качество сборки и юстировки оптической системы существенно влияет на величину разрешающей способности прибора. Разрешающую способность следует определять в условиях, близких к условиям эксплуатации прибора. Наблюдения производятся невооруженным глазом с расстояния наилучшего видения. Проверка производится для каждого увеличения (если имеется сменное увеличение). Экран должен быть заслонен от попадания на него постороннего света. [c.221]

Осмотр, чистка и юстировка микроскопа. При перенесении микроскопа из футляра на рабочий стол правой рукой держат тубусодержатель, а левой придерживают основание штатива. Прежде чем приступить к работе с микроскопом, тщательно осматривают все металлические части и, если нужно, протирают рыхлой бумагой. [c.32]

Для юстировки микроскопа поступают следующим образом. Перед микроскопом помещают осветитель и регулируют вогнутое зеркало, отражающее свет через отверстие в столике на фронтальную линзу объектива. Диафрагму конденсора открывают как можно шире. При работе с естественным светом поступают так же, предварительно определив, какая сторона зеркала (вогнутая или плоская) дает более сильное освещение. Затем на предметный столик помещают чистое предметное стекло так, чтобы одна из длинных сторон его проходила. по центру отверстия в столике. Медленно смотря сбоку на объектив, опускают тубус примерно до половины рабочего расстояния объектива. Затем начинают медленно поднимать тубус, наблюдая через окуляр появление резкого изображения края стекла. Если рабочее расстояние было неверным или предметное стекло помещено неправильно, изображения видно не будет и фокусировку следует повторить. После этого производят окончательную регулировку освещения поворотом плоской и вогнутой поверхностей зеркала до получения наибольшей освещенности. Если свет слишком ярок, то перед конденсорной линзой осветителя помещают матовое стекло или кусок белой бумаги. При наличии у микроскопа конденсора и диафрагмы наиболее яркое освещение получают, перемещая конденсор вверх и вниз. Интенсивность освещения окончательно регулируют, уменьшая размер диафрагмы. Если резкого изображения края предметного стекла получить не удается, можно сделать заключение, что на линзах микроскопа имеется грязь или что освещение неправильное. Последнее легко устраняется соответствующей регулировкой расстояния от источника света до микроскопа. [c.32]

Принцип работы такого прибора легко понять из рис. 2.2, на котором схематически изображен аналогичный прибор. Основными его частями являются лазер с модулятором добротности, микроскоп для юстировки образца и фокусировки излучения на его поверхности, а также система электродов для вспомогательного поперечного искрового возбуждения. Источники питания лазера и искрового разрядника не показаны. Приборы такого типа первоначально были разработаны для эмиссионной спектроскопии, в которой лазерное излучение служило источником тепла для испарения и возбуждения паров исследуемого образца при проведении локального анализа и микроанализа. В данном случае последний тип анализа сводится к локальному анализу, поскольку микропробу можно проанализировать только тогда, когда она либо уже сконцентрирована, либо ее можно сконцентрировать локально. [c.63]

ОСМОТР, ЧИСТКА И ЮСТИРОВКА МИКРОСКОПА [c.31]

Все операции по включению и юстировке микроскопа следует начинать только под руководством специалиста. [c.244]

Юстировка микроскопа. После проверки электронной с.хе-мы включают накал катода тумблером 8 и напряжение на катоде электронной пушки (40 кв) тумблером 9. Напряжение на катоде повышают затем до 60, 80 и 100 кв переключателем 10. После включения конденсорной линзы реостатом 11 производят регулировку накала нити катода. При нормальном накале нити катода на флюоресцирующем экране микроскопа наблюдается яркое крупное пятно. [c.245]

Сталлами. Однако это ограничение редко встречается в работе с полимерными материалами. Система двух диафрагм имеет одно существенное преимущество перед методом центрального освещения. Оно состоит в том, что в первом методе соответствие между образцом и иммерсионной жидкостью устанавливается при резкой наводке на образец, тогда как во втором случае для наблюдения линии Бекке микроскоп приходится выводить из фокуса. Это не только увеличивает чувствительность сравнения, но и позволяет проводить тонкие исследования локальных изменений показателя преломления в образце. Благодаря этому метод двойного диафрагмирования дает возможность различать отдельные детали образца на основании небольших изменений показателя преломления. В этом методе микроскоп работает по принципу фазово-контрастного микроскопа, который улучшает видимость частиц, немного отличающихся от окружающей их среды только показателем преломления или толщиной. Для некоторых исследований метод двойной диафрагмы может превосходить метод фазового контраста. Промышленные фазово-контрастные микроскопы дают чрезвычайно контрастные изображения с ярким ореолом вокруг частиц, отличающихся от окружающей их среды. Ореол и крайняя степень контрастности изображения уменьшают число наблюдаемых деталей, тогда как метод косого освещения с двойной диафрагмой дает более мягкое изображение с большим числом деталей. Последний метод особенно удобен для исследования волокон или стержневидных образцов, которые легко расположить под определенным углом к щели между диафрагмами. Метод двух диафрагм осуществляли как с петрографическим, так и со сложным светлопольным микроскопом. Точная юстировка диафрагм возможна почти для всех сложных микроскопов. [c.264]

Следует подчеркнуть, что исследование клеток и макрочастиц на осветленных мембранных фильтрах при большом увеличении требует большего внимания к юстировке микроскопа, чем исследование тех же объектов на обычных предметных стеклах, так как материал самой мембраны вызывает некоторое ухудшение изображения. Чтобы получать воспроизводимые количественные результаты, необходимо приобрести значительный опыт. При меньших увеличениях, которые используются для анализа частиц в фармацевтической промышленности и при контроле загрязнения воздуха, требования к микроскопии не столь высоки, но необходимо весьма тщательное приготовление пробы, чтобы избежать загрязнения мембраны. [c.236]

Юстировку проводят на монокристаллических образцах Na l, алюминия или олова. Механизм нагружения устанавливают на такую высоту, чтобы в рабочем состоянии острие алмазной пирамидки слегка касалось поверхности испытуемого шлифа. Если при нагрузке 0,5 г можно получить отпечаток в виде точки (под микроскопом), а без нагрузки отпечатка не получается, то юстировку прибора считают правильной. [c.51]

Так при установке образца в плоскости фокусировки оптического микроскопа ручками регулировки положения столика образца происходит его установка в фокус рентгеновского спектрометра. Направление малой оси эллипсоида является наиболее критичным. Для приборов с малыми углами выхода рентгеновского излучения это направление почти параллельно оси Z, и установка образца по оси Z является самой критичной юстировкой. При больших углах выхода за счет наклона области фокуса Z-компонента увеличивается в l/ os0 раз, что в свою очередь немного уменьшает чувствительность к изменению положения образца по высоте. Другим подходом к решению проблемы -является поворот плоскости круга фокусировки вокруг направления выхода рентгеновского излучения. Такой принцип лежит в основе конструкции горизонтального спектрометра. В этом спектрометре большая ось эллипсоида почти параллельна направлению оси Z, и положение образца по вертикали наименее критично. Вместо этого более вероятной становится расфокусировка в плоскости X —Y. Следует отметить, что в РЭМ, снабженном кристалл-дифракционным спектрометром, отсутствие оптического микроскопа с малой глубиной фокуса для нахождения фокуса спектрометра может вызвать серьезные проблемы при проведении количественного анализа. В этом случае большая глубина фокуса РЭМ является помехой, поскольку трудно наблюдать изменение рабочего расстояния на несколько микрометров, которые критичны для рентгеновских измерений. [c.195]

Перед щелью спектрографа ставится измерительный микроскоп 4 (рис. 49), в который можно увидеть щель и ее автоколлима-ционное изображение. Щель должна находиться в фокусе колли-маторного зеркала 1. При этом щель и ее изображение будут видны в микроскоп одинаково резко. Если этого нет, то, отпустив винты, крепящие тубус щели, следует перемещать щель вдоль оптической оси до тех пор, пока она и ее изображение не окажутся резкими одновременно. Естественно, микроскоп при каждом перемещении щели должен быть сфокусирован на ее плоскость, а изображение щели, отраженное коллиматорным зеркалом, не должно полностью закрывать ее, чтобы можно было отчетливо видеть край изображения щели, как показано на рис. 49. Таким образом, вторая операция предварительной юстировки даст возможность приближенно выставить угол 2° 17 и точно поставить щель в фокусе объектива коллиматора. [c.85]

Первая операция юстировки заключается в установке входной щели 5 в фокальной плоскости объектива 0 . Предполагается, что щель в коллиматоре УФ-61 не установлена. Эту операцию следует делать для нескольких длин волн, так как объектив не является ахроматическим. Для этого в оправу решетки вместо дифрационной решетки вставляется плоское зеркало под углом 90° к оптической оси коллиматора, а на щель надевается насадка с автоколлимационной нризмочкой. Перед щелью устанавливается измерительный микроскоп, сфокусированный на плоскость щели (рис. 57, а). [c.91]

Новый источник излучения — лазер (разд. 2.11.3 в [20а]) особенно удобен для использования в локальном микроспектраль-ном анализе. Важное преимущество лазера заключается в том, что с его помошью можно испарить контролируемое количество материала (от 0,1 до 1,0 мкг) точно с того места исследуемого образца, которое выбрано под микроскопом. Лучшая локальность анализа достигается с помощью неконтролируемого лазера с энергией, не превьплающей 1 Вт-с (мощностью не более 1 кВт), в сочетании со вспомогательной искрой. При кратере диаметром и глубиной 0,03—0,05 мм на фотопластинках с чувствительной эмульсией можно получить спектры, дающие информацию о главных компонентах. Так, например, можно прямым путем определять включения такого размера в относительно больших дендритных кристаллах и областях обогащения или изучать диффузионные процессы. Если это возможно, то практически целесообразно работать с лазером большой энергии накачки и с кратерами порядка 0,1—0,2 мм. Параметры вспомогательной искры среднего напряжения, которая создает микроплазму из облака паров, должны выбираться в соответствии со свойствами исследуемой пробы. На интенсивность спектра оказывают значительное влияние форма и юстировка графитовых игольчатых электродов вспомогательной искры. Чтобы обеспечить благоприятные условия для образования микроплазмы, необходимо эмпирически подбирать межэлектродный промежуток и высоту вспомогательных электродов над пробой. Загрязнение материалом, осевшим на концах вспомогательных электродов, можно исключить только применением новых электродов при каждой регистрации спектра. Желательно до регистрации спектра пробы несколькими разрядами [c.114]

Прибор фирмы Mullard в основном дает такие же результаты его отличие состоит в том, что оптическая часть сконструирована для развертки 35-милли-метрового снимка осадка (негативного или позитивного, полученного фотографическим, микрофотографическим или электронномикроскопическим способом). Это существенно упростило оптическую систему и первоначальную юстировку прибора, однако возможность непосредственного рассматривания частиц под микроскопом при этом исключается. В статье Делла, Хоббса и Ричардса описывается история разработки этого прибора и подробно освещаются вопросы. [c.257]

Конструкция шкалового микроскопа должна предусматривать возможность удобной и надежной юстировки его. Основные требования, предъявляемые к прибору после юстировки, следующие. [c.104]

Юстировка микроскоп-микрометра производится аналогично юстировке шкалового микроскопа, описанного выше. [c.111]

Фотокамера. Фотокамера V (см, рис. 151,6) имеет три смотровых окна и бинокулярный микроскоп, дающий дополнительное шестикратное увеличение. При фотографировании окна закрываются, В нижней части тубуса имеется окно, под которым в специальном магазине размещены кассеты с фотопластинками и флюоресцирующий экран, позволяющий наблюдать изображение объекта через окно тубуса, С передней стороны фотокамеры находится люк, предназначенный для смены фотомагазина. Для смены магазина имеется шлюзовое устройство, позволяющее напускать воздух в фотокамеру (и снова ее откачивать) без нарушения вакуума в основной части колонны микроскопа, Люк открывают только после наполнения фотокамеры воздухом, В фотомагазине находятся 24 пластинки размером 6,5X9 мл1. В тубусе фотокамеры дополнительно имеется флюоресцирующий экран с понижет ой светоотдачей, который используют при юстировке прибора. [c.271]

Эти же операции повторяют затем при включенных объективной и проекционной линзах. В случае правильной юстировки всей оптической системы микроскопа незначительное изменение фокуса при изменении тока объективной линзы вызывает вращение электронно-микроскопического изображения объекта относительно центра экрана. Если центр вращения смещен, он может быть возвращен в центр экрана ручками 14, регулирующими наклон конден-сорнг.й лпнзы. [c.245]

Операции по юстировке микроскопа заканчивают постановкой аппертурной диафрагмы по оптической оси микроскопа. Все необходимые при этом операции выполняют с точным соблюдением указаний в инструкции к микроскопу. [c.245]

Основным преимуществом камеры является возможность проводить прицельную съемку любого места образца. Для этого в камеру вмонтирован микроскоп с увеличением до Х115 и подсветкой, который позволяет, не нарушая расположения элементов рентгенооптической схемы, точно вывести исследуемое место образца под пучок рентгеновских лучей. Дергкатель образца имеет два взаимно перпендикулярных поступательных перемещения с микрометрической подачей и вращательное движение вокруг главной оси камеры. Облучаемая площадь образца может изменяться благодаря набору сменных коллиматоров. Все фотокассеты камеры — съемные. Фотокассета для съемки по методу Ланга имеет экран, закрывающий первичный пучок, и вращение вокруг вертикальной оси. Камера снабжена счетчиком, поворачивающимся вокруг главной оси камеры для нахождения отражающего полон ения монокристаллов. Благодаря наличию счетчика и возможности юстировочных движений выведение узкого пучка рентгеновских лучей через коллимационную систему и юстировка камеры значительно упрощены. [c.27]

Описываемое ниже сварочное устройство (рис. 11.17) отвечает указанным требованиям. Устройство включает сварочный агрегат, юстировочные приспособления и контрольные приборы.. Возможны два режима работы — автоматизированный процесс юстировки и сварки (рис. 11.18) ручная юстировка с пьезоэлектронным манипулятором. Весь процесс автоматизированного сращивания волокон занимает всего лишь 1 мин. К микроскопу можно подключить телевизионную камеру и наблюдать на экране за ходом сварки. [c.236]

Для создания оптически гомогенной среды на верхнюю линзу темиополь-ного конденсора нанести каплю дистиллированной воды или иммерсионного масла. Поднять конденсор до соприкосновения капли воды или масла с предметным стеклом. 3. Установить достаточно сильный и стабильный источник света (например, осветитель ОИ-7) и провести точную юстировку осветительной системы микроскопа. [c.19]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология