Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Чувствительность анализа наложений и загрязнения

    В количественном анализе первостепенное значение имеет правильный способ измерения высоты пиков. Способ измерения высоты зависит от формы измеряемого шика и полярографической кривой в целом, особенно в присутствии других деполяризаторов, при частичном перекрывании пиков, при наложении пика на крутую ветвь полярограммы и др. Простейшим способом является измерение тока в максимуме пика относительно тока холостого опыта при том же потенциале. Этот метод используют в автоматических анализаторах, вычитающих из полярограммы анализируемого вещества полярограмму холостого опыта, которая хранится в памяти прибора, и из скорректированной таким образом кривой вычисляют высоту отдельных пиков. Недостатком этого подхода является то, что, особенно при высокой чувствительности, ход полярографической кривой существенно обусловлен составом раствора образца, присутствием случайных загрязнений, следов поверхностно-активных веществ и др., так что значение остаточного тока в холостом опыте может быть отлично от его значения дри анализе образца. Поэтому, как правило, значение тока определяют в максимуме пика относительно значения остаточного тока, определяемого интерполяцией полярографической кривой образца. [c.186]


    Чтобы обойти трудности, обусловленные наложением линий в спектральном анализе, применяют другие аналитические линии, свободные от помех (если это возможно). Такой прием, однако, приводит к снижению чувствительности вследствие необходимости использования менее интенсивной линии или полосы. Наиболее эффективный метод улучшения избирательности — химическое разделение пробы перед началом измерений или, когда возможно, применение маскирующих реакций. Однако такой прием обычно увеличивает продолжительность анализа, возрастает вероятность потери определяемых элементов или загрязнения пробы. [c.22]


Смотреть страницы где упоминается термин Чувствительность анализа наложений и загрязнения: [c.656]    [c.656]   
Эмиссионный спектральный анализ атомных материалов (1960) -- [ c.0 ]




ПОИСК





Смотрите так же термины и статьи:

Анализ чувствительности

Наложение



© 2025 chem21.info Реклама на сайте