Воздействие различных условий на положение равновесия

Правило фаз — универсальное соотношение, применимое к любым равновесным системам — позволяет установить, возможно ли производить в рассматриваемых системах какие-либо изменения (посредством варьирования различных условий) без нарушения их природы. С помощью соотношения (П.72) определим возможные ресурсы изменения (или же их отсутствие, когда / = 0), чтобы затем установить, в каком направлении будет смещаться равновесие. Воспользуемся принципом Ле Шателье (принцип подвижного равновесия) если на систему, находяш,уюся в состоянии истинного равновесия, оказывается внешнее воздействие, то в ней усиливается то направление процесса, течение которого ослабляет влияние этого воздействия в результате положение равновесия смещается в этом же направлении. [c.131]

ВОЗДЕЙСТВИЕ РАЗЛИЧНЫХ УСЛОВИЙ НА ПОЛОЖЕНИЕ РАВНОВЕСИЯ [c.246]

В 1884 г. французский физикохимик А. Ле-Шателье и независимо от него в 1887 г. немецкий физик Ф. Браун, обобщив огромный опыт изучения различных равновесий, пришли к важнейшему для всех естественных наук принципу. Если на систему, находящуюся в равновесии, воздействуют извне, изменяя какое-нибудь из условий, определяющих положение равновесия (на современном языке — один из параметров состояния), то в системе усилится то из направлений процесса, протекание которого ослабляет влияние произведенного воздействия. [c.422]

Мы рассмотрели влияние различных условий опыта на параметры хроматографа, но колебания их отражаются также и на качестве нулевой линии прибора, снабженного детектором но теплопроводностп. Изменения этих параметров, воздействуя одинаково на плечи измерительной схемы моста детектора, в принципе ие должны нарушать его равновесия п не менять положение нулевой линии, записываемой регистратором. Одпако практически этого не бывает вследствие того, что очень трудно подобрать все сопротивления и характеристики плечевых элементов схемы совершенно одинаковыми. Даже в том случае, когда создана надежная симметрия электрической схемы моста Уитстона, небольшие колебания системы электропитания и температуры могут вызвать случайные сигналы детектора, появляющиеся в результате временных различий плечевых элементов схемы. Возникающие в этом случае на нулевой линии шики обычно трудно спутать с пиками компонентов пробы, по они, ухудшая нулевую линию, дополнительно увеличивают порог чув- твительности прибора. [c.79]

В силу того что кристаллическое вещество, в отличие от других, некристаллических, веществ, имеет упорядоченную атомную структуру и анизотропно, методы кристаллографии резко отличаются от методов других наук. Симметрия проявляется во внешней форме кристаллов, в их структуре, в физических явлениях, протеканэщих в кристаллах, во взаимодействии кристалла с окружающей средой, в изменениях, претерпеваемых кристаллом под влиянием внешних воздействий. Поэтому особенностью метода кристаллографии является последовательное применение принципа симметрии во всех случаях. Благодаря этому весьма специфическому методу кристаллография является самостоятельной наукой, связанной с другими частичным совпадением задач и предмета исследования в конкретных случаях. Нельзя изучать кристаллическое вещество вне процесса его образования, вне связи с жидкой и газообразной фазой. Эти процессы изучает физическая химия, так как лю бой процесс или положение равновесия зависит от физико-химических условий среды. Относительное расположение атомов и молекул в кристаллическом веществе зависит от качества самих атомов, от их химической природы. Отсюда тесная связь с химией, особенно со стереохимией. Атомы и молекулы в кристаллах образуют геометрически правильные комплексы. Совокупность их определяет форму кристаллов в виде многогранников. Многогранники же изучаются математикой и, в первую очередь, геометрией. Очевидна, конечно, связь кристаллографии с физикой, особенно с теми ее разделами, которые занимаются изучением различных свойств твердых тел. В последние годы интенсивно развивается промышленность, использующая монокристаллы с различными свойств ами оптическими, электрическими, механическими и т. п. Связь кристаллографии с химией, физической химией и физикой настолько тесная, что не позволяет провести даже условных границ между этими науками. [c.10]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология