Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Анализ дефектов по уширению линий

    Особый тип неупорядоченности вносят в кристалл примеси. Эти примеси обычно не существенны, когда спектроскопия комбинационного рассеяния (аналогично инфракрасная) используется для качественного анализа. Однако при фундаментальных исследованиях кристаллов присутствие примесей может вызывать не только появление новых полос в спектре. В некоторых случаях очень незначительные количества примесей могут приводить к существенным структурным изменениям. Например, если НС1, содержащий следы воздуха, быстро конденсировать прн низкой температуре, то это приводит к тому, что в ИК-спектре кроме предсказываемого дублета валентного колебания НС1 появляется сильная полоса при 2778 см [69, 108] (см. рис. 8). В том же случае, когда образец тщательно очищается, эта полоса, отнесенная к метастабильной фазе НС1, исчезает. Влияние примесей на спектр кристаллов редко бывает столь сильным, но нет сомнений, что оно существует. Примеси эквивалентны дефектам в кристаллах и служат барьером к распространению возбуждения. Так же как дефекты решетки и неупорядоченность, примеси вызывают уширение линий. Примеси могут способствовать появлению запрещенных правилами отбора полос, а также значительно изменять соотношения интенсивностей полос спектра в области колебаний решетки. [c.397]


    Известно [112], что реальная кристаллическая структура гексагонального нитрида бора зачастую имеет дефекты упаковки, образующиеся смещением слоев в произвольные положения путем их сдвига или поворота в плоскости базиса. Дефекты такого вида называют турбостратными. Концентрация турбо-стратных дефектов ут связана со степенью трехмерной упорядоченности (р) формулой р = / — 7т. Методика определения заключающаяся в анализе уширения линий на рентгеновской дифрактограмме, изложена в работах И2, ИЗ]. [c.267]

    Анализ дефектов по уширению линий [c.351]

    Если уширение линий обусловлено также деформациями или дефектами упаковки, провести анализ сложнее. Такое усложнение может наблюдаться при исследовании образцов дисперсных металлов без носителя, особенно когда их подвергают механическому воздействию. Простейший прием состоит в использовании зависимости уширения, вызванного деформациями, бдеф [c.372]


Смотреть страницы где упоминается термин Анализ дефектов по уширению линий: [c.23]    [c.507]   
Смотреть главы в:

Кристаллография рентгенография и электронная микроскопия -> Анализ дефектов по уширению линий




ПОИСК





Смотрите так же термины и статьи:

Линии анализе

Уширение линии



© 2025 chem21.info Реклама на сайте