Определение понятия обратного изображения

Определение понятия обратного изображения [c.307]

До сих пор предполагалось, что все узлы обратной решетки (все присутствующие узлы обратного изображения) равноценны между собой. Представление об обратной решетке или обратном изображении можно расширить, введя понятие о весе каждого узла. Поскольку каждый узел соответствует определенному отражению кЫ то в качестве весовой функции естественно взять величину, связанную со второй еще неучтенной характеристикой отражения —его интенсивностью [c.314]

При съемках с определенной выдержкой можно было по проекции следа частицы AZ рассчитать средние значения ее скорости (точнее ее проекции на плоскость изображения) v = Al/At. Однако, как показывают результаты более детального анализа, такой метод неоднозначен, а само понятие средней скорости и траектории частицы нуждается в существенном уточнении. Действительно, если выбрать интервалы времени наблюдения Ai достаточно большими по сравнению со средним временем циркуляции частицы через весь кипящий слой Тс, то среднее расстояние AI между положениями частицы в начале и в конце каждого интервала At будет всегда составлять приблизительно половину размеров слоя L/2 независимо от величины А t. Расчетная величина скорости v = Al/Ai L/2At /At будет тогда обратно пропорциональной интервалу времени. [c.89]

Обычно полуширина инструментального контура выражается в единицах длин волн или волновых числах (в ангстремах или обратных сантиметрах). Однако в некоторых случаях удобно выражать ее в линейных единицах, соответствующих расстоянию, которое изображение монохроматической спектральной линии занимает на фокальной поверхности прибора. Если недостаточная определенность в способе измерения полуширины может привести к недоразумениям, различают понятия спектральная полуширина и полуширина . [c.20]

Интерференционное уравнение вкладывает новое, более глубокое содержание в понятие обратной решетки. Теперь каждый узел ее однозначно связан с определенным дифракционным лучом pqr и может рассматриваться как некое условное изображение этого луча И наоборот, рентгенограмму, полученную методом вращения или одним из рентгеигониометрических методов, можно считать искаженным изображением (проекцией) определенной части обратной решетки. Способ искажения зависит от кинематической схемы каждого из рентгенгониомет-рических методов. Но коль скоро она известна, переход от рентгенограммы к обратной решетке и обратно не представляет труда. А поскольку порядок обозначения узлов в решетке известен, такой переход дает наиболее простую и удобную основу для определения дифракционных индексов (индицирования) рентгенограмм. [c.61]

Предложен новый сенситометрический способ определения светочувствительности, в соответствии с чем уточнено понятие единицы светочувствительности. Единицей светочувствительности ГОСТ обращаемых материалов называется величина, обратная экспозиции в 1 люкссекунду, достаточная для получения обращенного изображения интегральной оптической плотности — 0,2, но не большей, чем 2,8. [c.223]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология