Полуширина инструментального контура

Таким же образом характеризуется и полуширина инструментального контура. Обычно она выражается в единицах длин волн или волновых чисел (в ангстремах или обратных сантиметрах). [c.19]

В случае, когда полуширина линии очень мала по сравнению с полушириной инструментального контура, ширина и форма свертки этих двух контуров практически совпадает с инструментальным. Действительно, если ф (ж — х ) отлична от нуля только внутри малого интервала Аж, то свертка (29) может [c.19]

На рис. 3.15, а представлена зависимость полуширины инструментального контура и Ки/К еор от ширины щели спектрального прибора. В соответствии с изложенными выше качественными рассуждениями ширина инструментального контура растет вначале очень медленно вплоть до щели нормальной ширины. Б соответствии с этим медленно падает разрешающая способность. Для щелей, ширина которых более чем вдвое превышает нормальную, контур расширяется пропорционально ширине щели и полуширина линии становится приблизительно равной ширине геометрического изображения щели. [c.79]

Здесь АЯи — уменьшенная в 2 ]/ 1п 2 раз полуширина инструментального контура. Условия нормировки (формула (И), стр. 15) для функции (13.21) дают [c.339]

Так как Р (х) мало меняется внутри интервала Ах, можно считать, что и х) V Р (х), т. е. в этом случае суммарный контур действительно практически совпадает с инструментальным. Таким образом, мы вправе считать исследуемое излучение монохроматическим, если полуширина соответ-ствуюш его ему спектрального распределения (спектральной линии) мала по сравнению с полушириной инструментального контура прибора. Наоборот, для непосредственного получения контура линии ширина инструментального контура должна быть мала по сравнению с шириной линии. [c.20]

Обычно полуширина инструментального контура выражается в единицах длин волн или волновых числах (в ангстремах или обратных сантиметрах). Однако в некоторых случаях удобно выражать ее в линейных единицах, соответствующих расстоянию, которое изображение монохроматической спектральной линии занимает на фокальной поверхности прибора. Если недостаточная определенность в способе измерения полуширины может привести к недоразумениям, различают понятия спектральная полуширина и полуширина . [c.20]

На рис. 3.16 представлена зависимость полуширины инструментального контура и / п/- теор от ширины ш ели спектрального прибора. В соответствии с изложенными выше качественными рассуждениями ширина инструментального контура растет вначале очень медленно вплоть до щели нормальной ширины. В соответствии с этим медленно падает разрешающая [c.77]

В качестве примера применения формул (7.12) рассмотрим случай сканирования линии полушириной = 0,06 А с помощью монохроматора, имеющего полуширину инструментального контура 5 = 0,08 А. Скорость сканирования 1 к/сек, т = 10" сек. Как следует из (7.6), полуширина линии на [c.197]

Полуширина спектральных линий. При рассмотрении инструментального контура спектрального прибора мы полагали, что его щель освещена монохроматическим излучением. В действительности всякая линия занимает некоторый более или менее широкий интервал длин волн. Спектральное распределение энергии в пределах этого интервала задается функцией [c.18]

Здесь X — длина волны, отсчитываемая от центра линии, а — глубина центра линии, (1 — а) — остаточная интенсивность центра линии, АХ — полуширина линии, уменьшенная в 2]/ 1п2 = 1,66 раза. Линии поглощения обладают таким контуром, если основным процессом уширения является эффект Доплера, а глубина линии не очень велика. Пусть инструментальный контур прибора будет тоже гауссовским [c.339]

КО условно понятие полуширины. В первом случае контур распространен далеко по обе стороны от максимума и полуширина является малой долей от общей протяженности контура. Во втором — полуширина контура равна его полной протяженности. Однако для всех практических приложений полуширина контура оказывается очень удобной характеристикой. Если инструментальный контур является сверткой образующих его отдельных контуров, то в случае немонохроматической линии ее реально наблюдаемый контур также будет сверткой контура самой спектральной линии и общего инструментального контура, вне зависимости от того, в результате каких эффектов инструментального уширения последний образован. [c.19]

I 10. Дисперсия монохроматора равна 7,5 а1мм при 2000 А, 100 А1мм при 4000 А, 650 А/мм при 8000 А и 1000 А/мм при 12 ООО А. Полуширина инструментального контура в видимой области не более 10—20 А- Рабочая область спектра, определяемая чувствительностью фотоэлементов,— от 2200 до [c.127]

Примером прибора первого типа служит спектрофотометр СФ-4А. Его диспергирующая система состоит из автоколлимационной 30°-ной кварцевой призмы. Объектив зеркальный с F = 500 мм. Относительное отверстие 1 10. Дисперсия монохроматора равна 7,5 А/мм при 2000 А, 100 к/мм при 4000 А, 650 А/ллпри 8000 А и 1000 к/мм при 12 ООО А. Полуширина инструментального контура в видимой области не более 10—20 к. Рабочая область спектра, определяемая чувствительностью фотоэлементов,— от 2200 до И ООО А. [c.126]

Пусть, нанример, линия поглощения имеет полуширину 10 А и глубину в центре 0,5. Если разрешающая способность прибора 10, то для видимой области спектра это соответствует ширине инструментального контура 0,5 А. Контур линии поглощения, полученный на таком приборе, полностью определяется инструментальным уширением, а глубина линии составляет всего 1%. Обнаруншть такую линию практически невозмон но, во [c.339]

А. Однако выбор удобных для такой оценки мультипле-тов не всегда возможен. Разрешающую способность больших приборов с величиной 50 ООО и больше удобно измерять, пользуясь явлением Зеемана, которое дает возможность непрерывно менять расстояние между компонентами расщепленной в магнитном поле линии. Возможно также оценивать разрешающую способность, измеряя полуширину контура одиночной линии, обладающей собственной шириной, значительно меньшей, чем ширина инструментального контура исследуемого прибора. [c.111]

Численное определение абсолютных значений наблюдаемых спектральных показателей поглощения было выполнено рядом авторов [5—8]. В частности, максимальные значения наблюдаемых показателей поглощения и ширина спектральных линий с дисиерсионным или допплеровским контуром были рассчитаны [8] как функции отношения аппаратной ширины щели к полуширине линии и максимального значения истинного показателя поглощения. Аппаратная функция предполагалась гауссовой или дисперсиоппой формы. В дополнение к искажению контуров линий рассматривались также малые (5% и менее) абсолютные ошибки П1)и измерениях интегральных показателей поглощения [8]. Хотя ошибки при оценках интегральной интенсивности понятны только применительно к расчетам, включающим онределенный допуск для инструментальных потерь, следует помнить, что для гауссовой или дисперсионной аппаратной функции и реальных показателей поглощения интервал сканироваиия, требуемый для удовлетворения условий, установленных в разд. 5.1, бесконечно широк. [c.75]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология