Обратное изображение

В полярографии при работе с ртутным электродом принято обратное изображение этих параметров на системе координат. [c.14]

Формы кривых ( ) и ( ) на рис. 19 должны иметь обратное изображение, если э.д.с. гальванического элемента в процессе титрования не увеличивается, а уменьшается. [c.139]

Резисты, которые становятся растворимы под действием света, дают обратное изображение. Соединение А нерастворимо в водном растворе щелочи, но под действием света превращается в соединение Б, содержащее карбоксильную группу [c.138]

Если э.д. с. гальванического элемента в процессе титрования не увеличивается, а уменьшается, то формы кривых (а) и (в) должны иметь обратное изображение. [c.117]

Естественно ожидать, что формы кривых айв должны иметь обратное изображение, если изменение э. д. с. гальванического элемента в процессе титрования имеет обратным ход. [c.49]

Гальванопластика позволяет получать точные копии изделий. Для этой цели с изделия снимают оттиск — обратное изображение, получившее название матрицы. Матрицы могут быть металлическими и неметаллическими, например из воска, В последнем случае поверхности матрицы сообщается электропроводность путем нанесения на нее металлического порошка. Металлические матрицы могут изготавливаться прессованием из свинца, путем отливки из легкоплавких сплавов, а также методом гальванопластики, В последнем случае поверхность изделия обрабатывается, как уже было указано ранее, для обезжиривания и удаления окислов. Металлические матрицы выполняются в основном из меди с применением электролита из раствора медного купороса, подкисленного серной кислотой, такого рода оттиски легко отделяются от изделия, особенно когда послед-на предварительно протирают скипидаром. [c.347]

Можно использовать также номограмму, обратную изображенной на рис. 3.9. На ее прямоугольных осях откладывают концентрации компонентов, а на вспомогательных линиях — оптические плотности смесей., [c.68]

Объектив дает действительное увеличенное и обратное изображение предмета. [c.6]

При анализе негативного (обратного) изображения сигнал с выхода сумматора СМ1 передается к сумматору СМ через инвертор И (положение 2 переключателя ПР), который изменяет знак выходного сигнала сумматора СМу на противоположный. [c.203]

Микроскоп дает обратное изображение, поэтому при действительном смещении вниз наблюдатель видит смещение вверх. [c.72]

Для расшифровки неизвестного спектра на предметный столик кладут спектрограмму, а на экран спектропроектора накладывается соответствующий планшет атласа дугового или искрового спектра железа так, чтобы линии железа в изображении спектра совпали с линиями атласа. Отметки в виде штрихов на планшете атласа укажут место, где должны быть чувствительные линии различных элементов. Против соответствующих штрихов в исследуемом спектре должна находиться спектральная линия того или иного элемента. Необходимо иметь в виду, что спектропроектор дает обратное изображение на экране. Поэтому спектрограмму кладут на предметный столик эмульсией кверху и коротковолновой частью спектра влево. Предметный столик 3 (рис. 12), на который кладется спектрограмма, передвигается с помощью двух ручек управления в двух взаимно перпендикулярных направлениях. [c.41]

Микроскоп 3 дает обратное изображение при увеличении в 15 или 8 раз. Поле зрения достаточно велико (16 и 19 мм) и обеспечивает одновременное наблюдение участков нескольких спектров. Оптическая система не позволяет наблюдать сразу спектр по всей его длине (24 см), поэтому он просматривается частями при помощи механизма 4 поперечного перемещения микроскопа. [c.97]

Определение понятия обратного изображения [c.307]

Обратное изображение определяется как совокупность точек ( узлов ), расположенных на нормалях к сериям сеток и находящихся на [c.309]

Точки обратного изображения, отмеченные как символы отражений, будем называть узлами обратного изображения. Им естественно приписать те же индексы пк, пк, п1, что и соответствующим отражениям. [c.309]

Векторы, проведенные из начала координат в узлы обратного изображения (векторы обратного изображения), будем обозначать буквой Яро, или Нп(кЫ) Обратное изображение можно коротко определить как совокупность векторов по индексам всех присутствующих [c.309]

Обозначения параметров, относящихся к этой координатной системе обратного изображения, будем снабжать звездочками линейные параметры обозначим через а, Ь , с, угловые — через а , р, V - [c.309]

Следовательно, осевыми векторами обратного изображения являются векторы [c.309]

Как и обычно, радиус-вектор любой точки обратного изображения может быть выражен через свои составляющие с помощью осевых векторов [c.309]

Осевые векторы обратного изображения можно связать непосредственно с осевыми векторами решетки кристалла. На рис. 185 изображена триклинная ячейка прямой решетки. Объем можно всегда выразить как произведение оснований на высоту. Беря в качестве основания поочередно три координатные грани параллелепипеда, получаем три формулы [c.310]

Обратное изображение и обратная решетка [c.310]

Векторы раг проведенные узлы обратного изображения, имеют целочисленные координаты р = пН, д = пк, г = п1. Если решетка примитивная, а плоскости скользящего отражения и винтовые оси отсутствуют, то к,к,1 — взаимно простые числа, ап — любое, т. е. р, д, г — все возможные целые числа обратное изображение является решеткой. [c.311]

Последнее соотношение, между прочим, показывает, что приписав узлам обратного изображения индексы соответствующих отражений, мы поступили рационально точно такие же индексы им следовало бы приписать, если бы за основу была взята обратная решетка (узел, отстоящий на р единиц вдоль X, q единиц —вдоль У, г единиц —вдоль Z, должен иметь индексы р, q, г). [c.312]

Если решетка кристалла сложная, а в пространственную группу входят элементы симметрии, содержащие переносы, то часть узлов обратного -изображения исчезает. [c.312]

Изображения, обратные примитивной, базоцентрированной, объемноцентрированной и гранецентрированной решеткам, показаны на рис. 187, а, б, в, г справа. Обратное изображение базоцентрированной решетки также имеет мотив базоцентрированной решетки изображение, обратное объемноцентрированной, —мотив гранецентрированной решетки изображение, обратное гранецентрированной, — мотив объемноцентрированной решетки. Вообще во всех случаях сложных решеток благодаря тому, что погасания относятся к общему типу отражений pqr, и носят систематический характер, обратной изображение также имеет характер сложной решетки. Однако следует помнить, что такая решетка получена не за счет лишних узлов внутри или на гранях ячеек, а за счет исчезновения определенной части узлов. [c.312]

Сказанное можно дополнить еще следующим. Обратное изображение обладает определенной совокупностью элементов симметрии. В отсутствие у кристалла плоскостей скользящего отражения и винтовых осей эта совокупность, как и у всякой решетки, является некоторой пространственной группой. При наличии плоскости скользящего отражения обратное изображение имеет особую плоскость , т. е. плоскость, не переходящую в другие ни при каких симметрических операциях (на рис. 188 плоскость X Y ). Обратное изображение обладает в этом случае симметрией некоторой плоской группы. В присутствии винтовых осей в симметрии кристалла обратное изображение имеет особую прямую и обладает, следовательно, симметрией определенной линейной группы. Если, наконец, кристалл имеет и плоскости скользящего отражения, и перпендикулярные им винтовые оси, то обратное изображение имеет лишь одну точку, не переходящую в другие ни при каких симметрических преобразованиях (а именно начало координат) совокупность элементов симметрии [c.312]

Рис. 187. Обратные изображения а — примитивной решетки б — базоцентрированной решетки в — объемноцентрированной решетки г — гранецентрированной решетки

Рис. 188. Обратные изображения а — при наличии плоскостей скользящего отражения б — при наличии винтовых

До сих пор предполагалось, что все узлы обратной решетки (все присутствующие узлы обратного изображения) равноценны между собой. Представление об обратной решетке или обратном изображении можно расширить, введя понятие о весе каждого узла. Поскольку каждый узел соответствует определенному отражению кЫ то в качестве весовой функции естественно взять величину, связанную со второй еще неучтенной характеристикой отражения —его интенсивностью [c.314]

Отсутствующим отражениям будут соответствовать узлы с нулевым весом разница между обратной решеткой и обратным изображением тем самым уничтожается (но само название. решетка становится условным). [c.314]

Триклинной ячейке прямой решетки соответствует, естественно, триклинная же ячейка обратной решетки, причем углы прямой и обратной ячеек совершенно различны. Из самого принципа построения обратного изображения следует, что координатные плоскости обратной ячейки всегда перпендикулярны соответствующим осям прямой решетки Х У перпендикулярна Z, F Z — X, X Z — Y. Очевидно, ни одна из осей обратной решетки не совпадает ни с одной из осей прямой решетки. То же относится и к любому другому узловому ряду. [c.317]

Все приведенные формулы справедливы при условии, что обратное изображение определяется соотношением Яш= . Как было уже отмечено, часто за основу берется более общее равенство [c.321]

Рисунок 3.10 более наглядно иллюстрирует, что такое хвосты. На этом рисунке изображена зависимость температуры, но на этот раз не от общей объемной доли испаривщей-ся нефти, а от объемной доли нефти, испаривщейся именно при этой температуре (для тех, кто знаком с математическим анализом, можно сказать, что это первая производная функции, обратной изображенной на рисунке 3.9). [c.36]

Обратное изображение представляет собой лространственную совокупность точек, жестко связанную с решеткой кристалла. Для описания расположения этих точек удобно выбрать новую координатную систему, отличную от системы, в которой описывается обычная прямая решетка кристалла. [c.309]

За координатные оси X, , 2 обратного изображения выбираются направления перпендикуляров к плоскостям (100), (010) и (001) иначе говоря, эти оси направлены по векторам Нроо, Яодо> Нтг-В качестве осевых единиц выбираются расстояния от начала координат до ближайших узлов на этих направлениях [c.309]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология