Искажение изображения

Освещенность помещения должна создавать условия благоприятные для зрения, при этом размещение светильников должно обеспечивать равномерную направленность светового потока, аналогичную естественной, а также отсутствие резких световых контрастов и глубоких теней. Наибольшая освещенность может быть получена при матовой белой отделке, обеспечивающей наиболее равномерное отражение световых лучей. Поверхность с блестящей фактурой не рекомендуется, так как она неравномерно отражает световые лучи, действует как несовершенные зеркала и создает искаженное изображение и блики. Система освещения должна быть общей. [c.156]

Применение параболического зеркала в качестве объектива позволяет получить в его фокусе свободное от сферической аберрации изображение, но небольшой наклон зеркала или расфокусировка влечет за собой значительные искажения изображения (астигматизм и т. п.). [c.40]

В зависимости от положения плоскости фокусировки tш— происходит искажение изображения , т. е. смещение Ау, Ау") точки объекта Рт Р , "т соответствующее данному измерительному лучу. Точки изображения Р. и Р". смещены на Ау. и Ау". независимо от соответствующего масштаба изображения. [c.115]

Изображение повторяет точную форму объекта, так как синхронные развертки на образце и экране ЭЛТ устанавливают геометрическую связь между любым произвольно выбранным набором точек на образце и на экране ЭЛТ. Причина изменения интенсивности на изображении, приводящая к появлению градаций яркости, будет обсуждаться позднее., На рис. 4.5 показано, что треугольник на образце остается треугольником той же формы на экране ЭЛТ. (Отметим, что погрешности в развертках могут вызвать искажение изображения.) Относительный размер объектов различается за счет увеличения. [c.103]

Преимуществом электронно-оптических преобразователей является оперативное получение яркого видимого изображения, что позволяет работать при пониженных интенсивностях излучения. Недостатки этих приборов малая разрешающая способность и появление искажений изображения (особенно на краях экрана), что усиливается при увеличении числа каскадов. [c.306]

Важное достоинство когерентных методов визуализации заключается также в том, что существенно снижаются требования к акустическому контакту. Его ухудшение приводит к большей зашумленности изображения, но не к смещениям и искажениям изображения дефекта. Предварительное логарифмирование пространственных спектров сигналов, содержащих информацию как о дефекте, так и [c.267]

Тепловое излучение сцен является сложной функцией мишеней и фонов, источников тепловой энергии и атмосферных условий. Собственное или отраженное излучение проходит от объекта к ИК системе через атмосферу, где испытывает поглощение и рассеяние. Турбулентность атмосферы может вызывать рефракцию лучей и, как следствие, искажение изображения объекта в плоскости приемника излучения. Если военная ИК система создает изображение цели, то оператор принимает решение о ее наличии, координатах и характеристиках. Набор данных, относящихся к излучению цели, называется ее сигнатурой. Восприятие и оценка распределения испускаемого излучения по поверхности объекта составляет основу выявления и расшифровки ИК сигнатур. [c.355]

Искажения изображения - так называемые артефакты - могут вызываться рассеянным излучением, неточной коллимацией излучения, направляемого на детекторы, нестабильностью радиационного выхода, конечным количеством измерений, а также особенностями математической профаммы расчета изображения, в которой, в частности, не всегда с идеальной точностью могут быть учтены изменения жесткости излучения по мере прохождения излучения через исследуемый слой. [c.190]

Важное достоинство когерентных методов визуализации - существенное снижение требований к акустическому контакту. Его ухудшение приводит к большей зашумленности изображения, но не к смещениям и искажениям изображения дефекта. Системы визуализации позволяют следить за развитием дефектов с большими объективностью и достоверностью, чем обычная ультразвуковая дефектоскопия. [c.299]

Для изучения движения жидкости, перемешиваемой той же жидкостью, использовали открытый цилиндр из плексигласа диаметром 50 и высотой ПО см, вставленный в прямоугольный резервуар из органического стекла с размерами 50 X 50 X см. Такая сложная система применялась для того, чтобы избежать искажений изображения картины движения жидкости в цилиндре. [c.158]

Здесь по сравнению с выражением (133) появился дополнительный член, который и приводит к искажению изображения. Необходимо ввести для него некоторое ограничение. [c.119]

Назовем идеальным спектральным прибором такой прибор, в котором искажения изображения определяются исключительно волновой природой света. Для такого прибора Рэлей предложил считать, что две спектральные линии одинаковой интенсивности находятся на пределе разрешения в том случае, когда главный максимум дифракционного изображения одной совпадает с первым минимумом другой при этом суммарная освещенность посредине между линиями равна приблизительно 80% освещенности в главных максимумах. Глаз вполне может заметить провал освещенности в 20%. Критерий Рэлея очень удобен для различного рода расчетов, когда разрешающая сила прибора определяется дифракцией. В настоящее время приборы способны зарегистрировать провал освещенности меньше 5% поэтому имеет смысл ввести новое понятие — предел разрешения по Спэрроу [2.1], определяя его как расстояние между линиями, при котором провал суммарной освещенности стремится к нулю при сближении дифракционных изображений двух линий одинаковой интенсивности. Чем больше отношение рэлеевского предела разрешения к пределу разрешения Спэрроу, тем больше возможность повысить реаль- [c.21]

Разрешающая сила и дисперсия призмы. Определим разрешающую силу призмы при наличии одних только дифракционных искажений изображения спектральной линии. Ход лучей через призму показан на рис. 8.3. Здесь означает длину пути в призме крайнего луча в том случае, когда второй крайний луч проходит через вершину призмы в общем же случае t — разность длин путей в призме двух крайних лучей пучка. Через и обозначены длины путей, проходимых вторым крайним лучом пучка в воздухе за время, в течение которого первый луч в призме проходит путь t. [c.56]

В заключение упомянем еще один дефект дифракционной решетки. Иногда концы штрихов при нарезке получаются слегка деформированными. Это приводит к асимметричному искажению изображения спектральной линии. Этот дефект легко устраняется экранированием концов штрихов. [c.83]

Но теперь ширина Ь нарезанной части решетки ограничивается искажениями изображения спектральной линии, величина которых возрастает вместе с увеличением ширины решетки. Причина этих искажений кроется в следующем. До сих пор мы считали, что решетка находится на круге Роуланда. Однако это справедливо только для ее средней части, поскольку она нарезана на сфере вдвое большего радиуса, чем круг Роуланда. Согласно критерию [c.85]

Дисторсия свойственна изображениям объектов, находящихся в стороне от оптической оси прибора. Она вызывает нарушение подобия между объектом и его изображением, несмотря на то, что каждая точка объекта изображается в виде идеальной точки. Причиной такого искажения изображения является неодинаковость линейного увеличения прибора в пределах всего поля зрения. Для большинства спектральных приборов дисторсия не имеет практического значения, поскольку она может привести лишь к некоторому изменению дисперсии по полю зрения, которая и без того неравномерна. [c.120]

Размер многощелевой диафрагмы ограничен в основном кривизной спектральных линий и угловым увеличением диспергирующего элемента, приводящими к искажению изображения растра и рассогласованию этого изображения с выходным растром. Аберрации оптической системы можно сделать достаточно малыми по сравнению с этими искажениями. Рассогласование изображения и растра приводит к снижению амплитуды модуляции. Зависимость дисперсии от длины волны приводит только к нелинейному изменению частоты модуляции при изменении длины волны, что нетрудно учесть градуировкой. [c.379]

Астигматизм вогнутой решетки, свойственный всем рассмотренным выше схемам со значительными углами падения и дифракции, в ряде случаев можно компенсировать дополнительным элементом, изменяющим ход лучей в сагиттальной (вертикальной) плоскости. Таким элементом может служить положительная цилиндрическая линза с горизонтальной образующей [4]. Введение линзы ограничивает рабочий диапазон спектра она обладает хроматизмом и другими аберрациями. Помещенная внутри прибора, она изменяет форму фокальной поверхности спектрографа, нарушает условия фокусировки в монохроматоре, и астигматизм устраняется ценой увеличения других искажений изображения. [c.108]

Интерференционное уравнение вкладывает новое, более глубокое содержание в понятие обратной решетки. Теперь каждый узел ее однозначно связан с определенным дифракционным лучом pqr и может рассматриваться как некое условное изображение этого луча И наоборот, рентгенограмму, полученную методом вращения или одним из рентгеигониометрических методов, можно считать искаженным изображением (проекцией) определенной части обратной решетки. Способ искажения зависит от кинематической схемы каждого из рентгенгониомет-рических методов. Но коль скоро она известна, переход от рентгенограммы к обратной решетке и обратно не представляет труда. А поскольку порядок обозначения узлов в решетке известен, такой переход дает наиболее простую и удобную основу для определения дифракционных индексов (индицирования) рентгенограмм. [c.61]

Для нестационарных процессов описанный метод неприменим. В этом случае можно сделать усовершенствование, установив перед исследуемой шлирой решетку, состоящую из параллельных щелей. Тогда на одной фотографии получится искаженное изображение этой решетки. Однако вследствие дифракции на каждой щели решетка должна иметь большой шаг во избежание наложения максимумов от соседних щелей. Такой метод дает ограниченную информацию, особенно в случае тонкого пограничного слоя. [c.56]

Пусть одна вертикальная стенка рабочей камеры слегка подогревается или другая охлаждается в соответствии с направлением теплового потока д на фиг. 28. Тогда вследствие естественной конвекции образуются толстые пограничные слои, которые действуют как шлирные линзы . Параллельные пучки света У и 2 отклоняются в сторону более плотной среды, причем пограничный слой на нагретой стенке действует как слабая собирательная линза. Ход лучей в этом случае показан на фиг. 28 сплошными линиями. Изображение щелевого источника света в фокальной плоскости липзы несколько искажается и становится трехмерной поверхностью. Часть лучей от нагретой стенки 1) собирается в точке 1, расположенной сбоку от оптической оси перед краем ножа, а часть лучей от холодной стенки (2) собирается в точке 2, расположенной за краем ножа, находящегося в фокальной плоскости. Оптическая сила шлирных линз суммируется с оптической силой существующей линзы. Тепловой пограничный слой на нагретой стенке (1) представляет собой положительную линзу , поэтому он уменьшает эффективное фокусное расстояние, а на холодной стенке пограничный слой 2) является отрицательной линзой , увеличивающей эффективное фокусное расстояние. Местное отклонение в тепловом пограничном слое и, следовательно, эффективная оптическая сила изменяются от точки к точке, причем последняя изменяется от нуля до своего максимального значения на стенке. Искаженное изображение источника света в фокальной плоскости располагается между точками / и 2 на криволинейной пространст-веииой поверхкости. Неотклонившиеся лучи, прошедшие через центральный участок рабочей камеры, собираются иа краю ножа. [c.66]

Совсем необязательно, чтобы временное окно имело в точности форму (2 4 1). Любое разумно выбранное окно w () даст спектральное окно W[f), сосредоточенное около нулевой частоты / = 0, но с боковыми лепестками, или малыми всплесками, которые затухают при удалении f от нуля. Для небольших Т преобразование St(/) может дать очень искаженное изображение S f), так как окно W(f—g) будет широким, а, следовательно, значения S(g), отстоящие далеко от = /, будут давать вклад в Srif) согласно формуле (2 4 3). По мере того как Т увеличивается, эти искажения будут уменьшаться Наконец, когда Т устремляется к бесконечности, со- [c.68]

Искажение изображений может происходить в процессе испьгганий как вследствие геометрии контроля, так и в силу факторов электронного происхождения. Кроме того, из-за значительной площади объектов НК в авиакосмической промышленности, контроль вьшолняют от зоны к зоне с последующим составлением мозаичных изображений, что также требует использования специфических компьютерных программ. В работе [76] приводятся УЗ (единичное), радиографическое (3 подобласти) и ширографическое (32 подобласти) изображение сотовой панели самолета. В УЗ-изображении хорошо наблюдаются участки различной толщины, слабо проявляются отслоения внешней обшивки от сот, но не видна ячеистая структура сот. Радиографическое изображение обладает высоким пространственным разрешением, отчетливо показывает структуру сот, но практически нечувствительно к расслоениям. Ширографическое изображение отчетливо обнаруживает [c.167]

Больщое различие в длинах звуковых волн, используемых для съёмки голограммы, и электромагнитных волн, используемых для восстановления (их отношение примерно равно 10 ),. ведет к сильному искажению оптически восстановленной картины размеры по глубине увеличиваются пропорционально этому соотношению длин волн. Однако такого искажения изображения можно избежать соответствующим уменьшением оптической голограммы (в соотношении длин звуковых и электромагнитных волн). Впрочем, в таком случае неискаженное оптическое изображение получится настолько мелким, что для получения приемлемых изображений его придется оптически увеличить, что снова повлечет за собой искажения по глубине. Такое принципиальное ограничение акустической голографии ведег к практически полной потере трехмерности осевая разрешающая способность метода невелика. Каждое изображение практически содержит иифермацию только об одной плоскости. Однако при параллельном смещении плоскости изображения трехмерное волновое поле объекта можно реконструировать по крайней мере последовательно. [c.319]

При оценке качества системы должна быть учтена гамма достаточно тонких эффектов. Так, в вычислительной томографии резкие края элементов изображения являются причиной формирования в изображении ложных полос, которые могут скрыть реальные элементы в объекте контроля. В этих же системах увеличение жесткости фотонов в п> чке приводит к искажению изображений. Поэтому проверка качества таких систем должна проводиться на образцах, имеющих различные размеры и выполненных из материала с различным химическим составом. Изготовитель, например, компьютерных томо-фафических систем часто оптимизирует систему по образцу с фиксированными размерами и химическим составом. [c.101]

Без наличия достаточно детальной априорной информации о свойствах объекта контроля и используемого излучения не удается выделить в искаженном изображении томограммы (65) полезную информацию о точной структуре и абсолютной величине ЛКО реального контролируемого изделия (54). Такое сложное воздействие нелинейных погрешностей экспериментальных оценок проекций на результаты контроля специфично для ПРВТ и принципиально отличается от случая традиционной рентгенографии, где нелинейности преобразования и процесса регистрации менее опасны и при необходимости могут быть легко учтены, [c.128]

Погрешности визуализации и документирования результатов контроля в основном обусловлены недостаточным числом фадаций и геометрическими (масштабными и нелинейными) искажениями изображений томофамм. [c.150]

Хашимото, Танака и Иода [47] в качестве объектов исследования применили тонкие нити из вольфрама, молибдена, железа и меди, накаливаемые непосредственно пропускаемым через них электрическим током. Температура нити может быть повышена до точки, находящейся вблизи температуры плавления металла, например, в случае вольфрама до 3000°. Так как проволока берется очень тонкой и общее количество выделяющегося тепла невелико, то можно достигнуть высокой температуры без повреждения окружающей аппаратуры. Применявшееся авторами устройство схематически показано на рис. 9. Образец в виде тонкой нити 7 посредством медного наконечника 2 соединен с проводом 3, подводящим ток для нагревания. Электронный пучок может проходить через отверстие 4 в центральной части держателя объекта. Объект окружен медным защитным экраном 6. Держатель объекта 5 можно перемещать извне в двух направлениях перпендикулярно траектории пучка посредством сильфона 7 и уплотнения 8. В держателе имеется канал 9 для впуска газа в камеру объекта для действия на образец. Для накаливания нити применяется иостоянный ток 0,3—1 а. При применении, например, вольфрамовой проволоки, диаметром 0,08 для ее нагревания в интервале температур от 700 до 3000° требовалось 0,6—6 вт. Перед помещением в микроскоп нить калибровали и на основании установленной зависимости температура нити — сила тока можно было определить температуру нити во время исследования в электронном микроскопе. Искажение изображения, вызванное магнитным полем нагревающего тока, было незначительным и легко устранил1ьга. [c.41]

С трудом [8], В предельном случае при равных коэффициентах преломления зёрна ионита становятся невидимыми. Отмеченные трудности возрастают экспоненциально по мере увеличения изображения [9], поэтому при изучении процесса набухания ионита небольшое увеличение позволяет получить оптимальные результаты. При наблюдении за зернами ионита па воздухе трудно осуществить фокусировку и изображение искажается из-за особых оптических условий, в которых находятся линзы объектива. Искажения изображения в последнем случае можно избежать [9], если изменить длину тубуса микроскопа или применить специальную корректирующую шайбу, но это влечет за собой изменение степени увеличения. Поэтому образец обычно приходится помещать в какую-либо подходящую среду. Например, дегидратированные зерна ионита измеряют не в воздухе, а в безводном октане, причем такая среда имеет и другие преимущества по сравнению с водной, затрудняющей измерения. Ненабухающие зерна сополимера можно измерять в водной среде. [c.337]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология