Визирные сетки

Отметим, что при больших пробах также наблюдаются отклонения от указанных выше линейных зависимостей, и времена удерживания изменяются. Эти отклонения должны проявляться во всех случаях, когда отношение объема анализируемой пробы к ширине пика (в объемных единицах), измеренной при исчезающе малой величине пробы, становится больше 0,4 [58]. При использовании ручных методов для повышения точности ширину пика следует измерять с помощью увеличительной измерительной лупы (ГОСТ 8309—57) с визирной сеткой с ценой деления 0,1 мм [59]. [c.41]

Визирные сетки применяются в коллиматорах, зрительных трубах, визирных микроскопах. При выборе толщины штриха нужно учитывать следующие обстоятельства. [c.92]

Визирные сетки микроскопа измерительных приборов служат для наводки либо на измеряемый объект, либо на измерительные шкалы. Наклонные перекрещивающиеся штрихи позволяют точно наводить на край измеряемого объекта. Сетка с двойными штрихами наводится на деление шкалы точнее, чем сетка с одиночным штрихом. [c.94]

Визирные сетки из.мерительных приборов более сложной конфигурации будут описаны при рассмотрении приборов, в которых они применяются. [c.94]

На фиг. 48, б показана визирная сетка, применяемая в головках предназначенных для работы с инструментальным микроскопом большой модели и с универсальным измерительным микроскопом. Дополнительные штрихи на сетке служат для измерения методом осевого сечения с применением специальных измерительных ножей. Расстояния t = 0,9 мм, а I = 2,7 мм в плоскости сетки. [c.117]

При угловых измерениях штриховая сетка ориентируется по контурам измеряемого объекта. Углы определяются по разностям отсчетов, снятых по отсчетному микроскопу, поскольку поворот лимба равен повороту штриховой (визирной) сетки. [c.119]

Оптический метод заключается в следующем. Пучок света, посылаемый трубой 5 вдоль проверяемой плоскости, попадает в объектив телескопа 6, который перемещается вдоль поверхности. В фокусной части телескопа помещена визирная сетка 4, которая рассматривается в окуляр. Если оптическая труба по отношению к оптической оси телескопа имеет угол а, то световые лучи собираются в точке А сетки телескопа, смещенной по отношению к оптической оси телескопа. По величине смещения изображения определяют непараллельность плоскостей. Перпендикулярность проверяют рамным уровнем, угольником и оптическими методами. [c.131]

I — заслонка-зеркало измерительной призмы 2 — измерительная призма 3 — осветительная призма 4 — поворотное зеркало 5 — шкала показателей преломления 6 — призмы компенсатора 7 — объектив зрительной трубы 8 — визирная сетка . 9— окуляр 10 — отражательная [c.155]

Более точно перпендикулярность при установке царг проверяют оптическим методом. При этом методе (фиг. 146) отклонение от перпендикулярности наблюдают через телескоп и оптическую призму по положению коллиматора. Коллиматор представляет собой прибор, из которого вдоль плоскости основания направляются на призму лучи света. При неперпен-дикулярности световые лучи входят в линзу телескопа под углом, что отмечается соответствующим смещением изображения луча на визирной сетке. По величине смещения судят о величине неперпендикулярности. [c.227]

Значения для 2ст можно измерить при 0,607/t, для Зст — при 0,324/г и для 4а — при 0,134Л. Подставляя в уравнение величины стандартного отклонения, получают площади, хорошо совпадающие с измеренными. Для большей точности ширину пика следует измерять с помощью увеличительной лупы с визирной сеткой (фирмы Baus h and Lomb , модель 81-34-97-20). Для неразделенных пиков значения ст линейно растут с увеличением времени удерживания (или удерживаемого объема) вследствие продольной диффузии веществ в подвижной фазе (фиг. 31). Следовательно, их можно получить посредством интерполяции из графиков зависимости ст от /д для данной колонки при тех же условиях, когда пики недостаточно разделены для проведения точных измерений. Эти значения подставляют в уравнение (38) для вычисления площадей под пиками. Однако непосредственно измеренные высоты h часто являются завышенными из-за влияния соседнего пика. Величину для поправки h можно получить из графика зависимости поправки в процентах от расстояния, разделяющего каждый из двух пиков, в единицах стандартного отклонения (фиг. 32). Когда расстояние, разделяющее два пика, превышает 4ст, поправкой обычно пренебрегают, даже если впадина [c.117]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология