Микроскопы измерительные

Рис. 130. Измерительный микроскоп МИР-12 (а) и спектр в его поле зрения (б)

Может быть применен также микроскопический метод для определения дисперсности эмульсии. При помощи микроскопа можно определить размеры отдельных частиц, применяя специальные измерительные приспособления, например окулярный микрометр (рис. 12, 13). Однако по этому методу нельзя получить точных результатов, так как практически измерению подвергается лишь незначительная часть имеющихся в эмульсии частиц. Кроме того, при микроскопическом анализе эмульсий нельзя избежать ошибок, получаемых вследствие испарения жидкости в тонком слое, а также деформации частиц покровным стеклом. Поэтому микроскопический дисперсный анализ менее надежен и его можно применять, главным образом, для качественной характеристики эмульсий. [c.28]

При определении размеров частиц с помощью микроскопа применяют окулярный микрометр, представляющий собой окуляр микроскопа со вставленной в него измерительной щкалой (рис. 1,а). Цена деления окулярной шкалы зависит от соотношения увеличений окуляра и объектива микроскопа и должна быть определена предвари-, тельно. Для этого на пред- метный столик микроскопа помещают предметный [c.7]

Для прямых измерений применяют измерительные средства, имеющие штриховые (линейные или угловые) шкалы, с которыми сравнивают измеряемую (линейную или угловую) величину. К ним относятся линейки, штангенинструменты, угломеры и различного рода оптические приборы — измерительные микроскопы, длиномеры и др. Повышение точности отсчета, связанное с оценкой доли деления шкалы, производится при помощи специальных устройств — нониусов. [c.472]

ДРУГИЕ ТИПЫ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫХ МИКРОСКОПОВ Измерительный микроскоп МИ-1 [c.270]

Визирные сетки микроскопа измерительных приборов служат для наводки либо на измеряемый объект, либо на измерительные шкалы. Наклонные перекрещивающиеся штрихи позволяют точно наводить на край измеряемого объекта. Сетка с двойными штрихами наводится на деление шкалы точнее, чем сетка с одиночным штрихом. [c.94]

Метод, основан на получении эмиссионных спектров анализируемого вещества на фотографической пластинке, помещенной в фокальной плоскости камерного объектива спектрального прибора (спектрографы различных типов). Спектральные линии элементов (качественный анализ) в полученном спектре идентифицируют относительно спектра известного элемента (обычно железа), фотографируемого рядом со спектром анализируемого вещества. В специальных атласах спектральных линий приведены фотографии спектров л<елеза, где относительно спектральных линий железа указано положение спектральных линий всех элементов с их длинами волн. Для проведения качественного анализа используют спектропроекторы или измерительные микроскопы. Количественный анализ проводят по результатам измерения относительных почернений спектральных линий гомологической пары и их сравнением с соответствующими величинами стандартных образцов. Почернения спектральных линий измеряют при помощи микрофотометров фотоэлектрическим способом. [c.25]

Непосредственный обмер отобранных порций частиц измерительным инструментом применим для частиц 3 мм и выше [64]. Более редко используют седиментацию в жидкости — до 200 мкм и отдувку или седиментацию в газе — до 200 мкм. Для часТиц размером более 100 мкм очень удобно по нашему опыту ие-пользовать инструментальные микроскопы, которые позволяют определять не только средний диаметр, но и другие геометрические размеры отдельных зерен, необходимые для оценки их коэффициентов формы. Для определения дисперсного состава доменного кокса применяют сита большого размера с квадрат- [c.52]

Изменение веса шарика в процессе выгорания кокса регистрировалось по сдвигу в поле зрения измерительного микроскопа репера, прикрепленного к нити. Общее количество. выгоревшего кокса дополнительно контролировалось при помощи измерительного микроскопа по углу закручивания шлифа, образующемуся при его вращении по окончании регенерации до возвращения репера в начальное положение. [c.45]

Наша промышленность выпускает серийную аппаратуру для получения спектров комбинационного рассеяния. Спектрограф ИСП-51 выпускается с комплектами для эмиссионного анализа и для анализа по спектрам комбинационного рассеяния. В его комплект входят осветитель с ртутно-кварцевыми лампами и системой охлаждения, набор кювет, светофильтры и другие приспособления. Для получения спектров используются светосильные короткофокусные камеры (/ , = 120 мм и 2= 270 мм). Для качественного и количественного анализа по спектрам комбинационного рассеяния необходимо также иметь измерительный микроскоп МИР-12 или лучше компаратор ИЗА-2, кроме того, нужен микрофотометр, причем более удобен регистрирующий микрофотометр МФ-4. [c.341]

Для определения среднего размера частиц используют окуляр с измерительной шкалой. На предметное стекло наносят каплю золя и дают ей подсохнуть на воздухе при этом на поверхности стекла образуются участки, плотно прикрытые частицами. Полученный препарат накрывают покровным стеклом и с помощью микроскопа подсчитывают число частнц, имеющихся на отрезке между двумя соседними делениями шкалы окуляра. Такие измерения проводят 10 раз в разны.ч участках препарата. По известному значению цены деления измерительной шкалы рассчитывают средний радиус частиц. [c.81]

Принцип работы прибора сводится к следующему с помощью отсчетного микроскопа определяют глубину погружения иглы под нагрузкой 0,5 или 1 кг за время 30 или 60 с при определенном температурном режиме. С помощью измерительной балки на потенциометре получают кривую "деформация-время". [c.65]

Приборы и реактивы. 1. Микрокамера для измерения электрофореза (рис. 54). 2. Измерительный микроскоп. 3. Секундомер. 4. Аккумуляторная батарея на 100 в. 5. Микроамперметр. 6. Водяная суспензия плавленного корунда (алунда). [c.177]

ЭКК на ртути в растворе электролита измеряют на установке (рис. 44,а), состоящей из капиллярного электрометра, измерительной схемы и горизонтального микроскопа (катетометра). [c.71]

На этих же образцах изучают структуру. Для этого выбирают участок, отдаленный от места изгиба или излома. Поверхность тш ательно шлифуют с помощью мелких корундовых кругов и полируют на сукне. Затем для травления на нее наносят на 25—30 мип каплю водного раствора фенола. По истечении этого времени образец промывают струей воды для удаления растворенной части полимера. Фильтровальной бумагой снимают оставшуюся влагу и на микроскопе определяют морфологический тип структуры. Размер структур оценивают с помощью помещенной в окуляр измерительной сетки с известной ценой деления. При этом выбирают участок образца, имеющий преимущественную картину, и из трех измерений определяют среднее значение. Так же изучают структуру отожженных образцов. [c.199]

Работа с катетометром. Катетометр состоит из вертикального штатива на треножнике, измерительной каретки, зрительной трубы и отсчетного микроскопа (рис. 177). [c.422]

Измерительная каретка /, несуш,ая зрительную трубу 3 и отсчетный микроскоп 2, перемещается по колонке на роликах. Грубое перемещение измерительной каретки по вертикали осуществляется от руки при открепленном винте 6. [c.422]

При качественном анализе необходимо определить, к излучению какого элемента относится та или иная линия в спектре анализируемой пробы. Для этого нужно найти длину волны линии по ее положению в спектре, а затем с помощью таблиц определить ее принадлежность тому или иному элементу. Для рассмотрения увеличенного изображения спектра на фотографической пластинке и определения длины волны служат измерительные микроскопы, спектропроекторы и другие вспомогательные приборы. [c.8]

Между указанными выше цилиндриками и капилляром был оставлен небольшой зазор для заполнения капилляра жидкостью и пропуска тонких потенциальных проводов. При соответствующем подборе размеров цилиндриков рассматриваемая конструкция измерительной трубки позволяет получить хорошую центровку платиновой проволоки. Для ее натяжения при нагревании установлена вольфрамовая пружинка. Соосность проволоки и трубки проверялась в семи точках по длине капилляра и в двух взаимно перпендикулярных плоскостях при помощи универсального измерительного микроскопа типа УИМ-21 с ценой деления шкалы 1 мк. Это. позволило точно определить величину эксцентрицитета и внести поправку а эксцентричность. Поправка составила для первой трубки 1%, н 1,8% для второй трубки. [c.76]

Еще большая точность может быть достигнута при применении другого измерительного прибора — горизонтального компаратора ИЗА-2 (рис. 131). Он позволяет измерять расстояния между спектральными линиями с ошибкой около 0,001 мм. В компараторе имеется два жестко закрепленных микроскопа, относительно которых перемещают предметный столик, со спектрограммой. На столике жестко крепится точная миллиметровая шкала. Измеряемые спектральные линии последовательно выводят в центр поля зрения [c.209]

Определите длину волны линии в спектре анализируемой пробы, если в спектре нормали выбраны линии Я.1 = 4282,6 А и Аз = 4289,3 А и при измерении получены следующие отсчеты по шкале измерительного микроскопа ах = 1,37 мм, = 2,04 мм, Ог = 2,12 мм. [c.211]

Для прямых измерений применяют измерительные средства, имеющие штриховые меры (линейные или угловые шкалы), с которыми сравнивают измеряемую линейную или угловую величины. К ним относятся штриховые линейки, штангенинстру-менты, угломеры и различного рода оптические приборы — измерительные микроскопы, длиномеры и др. К простейшим инструментам относятся измерительные линейки, рулетки, кронциркули и нутромеры, которые применяют для измерений наружных и-внутренних размеров деталей невысокой точности. Повышение точности отсчета, связанное с оценкой доли деления шкалы, гфоизводят с помощью специальных устройств — нониусов. [c.185]

Прн определении размеров и формы частиц (от 5 до 500 им) получают ряд фотографий, регистрирующих несколько сотен частиц. С помощью измерительного оптического микроскопа по этим фотографиям определяют размеры частиц. Затем строят гистограммы и, используя методы математической статистики, определяют тип и основные параметры распределения частиц по размерам. Существуют различные автоматические и полуаитоматические присиособления, позволяющие измерять размеры частиц на фотографии и сразу получать информацию о гистограмме на печатающем устройстве. Применение ЭВМ совместно с устройством, определяющим разд еры часГиц, дает возможность получить сведения непосредственно о типе распределения и его числовые характеристики. [c.251]

Рассматривая спектрограммы с помощью спектропроектора, измерительного микроскопа или лупы, очень легко установить равенство почернений ступеней аналитической пары. Если значения оптической плотности неослабленных ступеней аналитической пары не равны, то 5] Ф 82. Но всегда можно установить равенство оптических плотностей линий аналитической пары, если ослабить их в а раз, наприме > [c.688]

Длина измерительного участка, а также наружный диаметр капилляра определялись при помощи микроскопа УИМ-21, на нем же производилась проверка прямолинейности. Внутренний диаметр капилляра определялся путем заполнения его ртутью. Равномерность внутреннего диаметра по длине проверялась перемещением столбика ртути. [c.76]

Толщину толстых пленок (более 5000 А) можно определить методами, применяемыми для измерения пленок средней толщины, а также с помощью металлографического микроскопа, микрометром и другими измерительными инструментами. [c.13]

Установка для исследования прочностных п деформационных свойств материалов в агрессивных средах при постоянной нагрузке с электрической регистрационно-измерительной системой показана на рис. 19. Для наблюдения кинетики роста трещин и распределения напряжений в образце на установке монтируют поляризационный микроскоп, для чего металлические стаканы для жидкой среды заменяют специальными кюветами из оптического ненапряженного стекла. Плоские образцы из стеклопластика испытывают при одностороннем воздействии жидкой среды на установке, показанной на рис. 20. [c.56]

Рабочую часть образца длн испытания подготавливают в виде шлифа длн металлографических исследований. Статическое или циклическое нагружение образца осуществляется на испытательных установках, снабженных длиннофокусным оптическим микроскопом, позволяющим помещать деформируемый образец в ванну с коррозионной средой, а между объективом микроскопа и исследуемой поверхностью устанавливать измерительный микрокапилляр. [c.43]

Измерение скорости электрофореза выполняли в специально сконструированной кювете, схема которой дана на рис. 12.1. Рабочую стеклянную кювету 1 в виде прямоугольного парал-лепипеда с открытыми торцами длиной 20 мм и поперечным сечением 20x0,8 мм помещали между двумя сосудами 2 также прямоугольного сечения, изготовленными из оргстекда. Толщина стенок измерительной ячейки составляла 0,2 мм, что обеспечивало надежную визуализацию микрообъектов при работе с темнопольным микроскопом. Боковые емкости 2 в месте их сочленения с кюветой имели ряд отверстий диаметром 0,5 мм эти емкости прочно закреплялись на основании 3, в котором было высверлено отверстие для вхождения темнопольного объектива 4. Б нижнюю часть емкостей 2 помещали гель агар-агара 5, приготовленный на 1 н. растворе КС1 сверху заливали 0,1 и. раствор USO4 (б) и помещали медные электроды 7. Такая установка удобна в обращении в ней обеспечена герметичность сочленения боковых емкостей с измерительной камерой и возможность тщательной очистки последней после проведения исследований. На основании данных о подвижности частиц дисперсной фазы вычисляли -потенциал по формуле Гельмгольца — Смолуховского без учета поправки на поверхностную проводимость [59]. [c.202]

Измерительная лупа со шка лой (цена делення — 0,1 мм) по ГОСТ 25706—83 или инструментальный микроскоп типа И. 150X50 Б нли ИМЦ 150Х Х50 Б по ГОСТ 8074 82 Нониусный уг.юмер типа УН с ц но 1 ЛСЛС1ШЯ 2 град по ГОСТ 5378-88 [c.48]

Наиболее распространенным прибором для определения адсорбции газов статическим методом является прибор, получивший название весов Мак-Бэна. Схема прибора изображена на рис. 34. В стеклянной гильзе 2 на кварцевой пружине 3 подвешивают чашечку 4, в которую помещают предварительно взвешенное количество испытуемого адсорбента. Эту часть гильзы помещают в термостат, который не должен препятствовать наблюдению за поведением пружины. При впуске посредством кранов 5 и 6 газа или пара в гильзу масса адсорбента увеличивается пропорционально количеству поглощенного газа, вследствие чего кварцевая пружинка растягивается. Если пружинка предварительно прокалибрована по разновесам, то по ее удлинению, измеряемому катетометром или измерительным микроскопом, можно судить о привесе адсорбента и, следовательно, рассчитать удельную адсорбцию газа. Равновесное давление газа, если оно составляет доли миллиметра ртутного столба, измеряют манометром Мак-Леода (на рисунке не изображен) или же [c.112]

Для измерения применяют статический компенсационный метод давление диссоциации в закрытой системе, состоящей из диссоциирующего вещества и газов, уравновешивают внешним давлением воздуха, определяемым в измерительной части прибора. Состояние уравновешенности определяют с помощью нуль-инструмента, которым служит /-образная капиллярная трубка, заполненная ртутью. Нуль-инструмент служит одновременно гидравлическим затвором для реактора. Основные части измерительной установки (рис. V. 2) реактор с нуль-инструментом и отводом для заполнения нуль-инструмента ртутью закрытый ртутный манометр с зеркальной шкалой и не показанные на рис. V. 2 катетометр или зрительная труба (микроскоп МИР-10). [c.71]

Более удобным прибором являются измерительные микроскопы. Промышленность выпускает микроскоп МИР-12, показанный на рис. 130. Пластинка со спектром помещается на предметный столик эмульсией вверх, в сторону объектива. Ее освещают от внешнего источника, например от лампы дневного света. В поле зрения окуляра видны горизонтальные и вертикальные uJтpиxи. Горизонтальные штрихи служат для контроля правильности перемещения предметного столика вдоль спектра. Спектр должен двигаться вдоль горизонтальных штрихов, не смещаясь вверх или вниз. Если смещение имеет место, необходимо изменять установочным винтом или от руки положение спектрограммы. Перемещением окуляра находят положение, при котором хорошо видны штрихи, а затем фокусируют спектр объективом. [c.208]

При градуировке прибора установлена зависимость между перемещением измерительного стержня, соединенного с коромыслом весов, и отклонением пера самописца при данных параметрах электрической схемы. Градуировку производим на холостом ходу, без испытуемого материала, путем наложения нагрузок 10, 20, 30 мг и т. д. Зная зависимость между нагрузкой и перемещением коромысла, в этих условиях можно всегда произвести градуировку шкалы потенциометра при изменении параметров измерительной схемы. Перемещение рифленного стержня в вертикальной плоскости при градуировке определяли при помощи микроскопа с окулярной шкалой и с фокусным расстоянием 60 мм (микроскоп МПС). [c.49]

В качестве исследуемых объектов использовались образцы прямоугольного сечения из стали 17Г1С с концентратором напряжения в виде V-образного надреза глубиной 1 мм (РД 50-345-82). Для наблюдения за кинетикой развития трещины торцевые поверхности образцов полировались. Наблюдение за ростом трещин осуществлялось с помощью измерительного устройства на базе стереоскопического микроскопа МБС-9. [c.105]

Определение толш ины покрытия. Методы определения толщины покрытия можно разделить на две группы разрушающие и неразрушающие покрытие. К наиболее известным способам определения толщины гальванического покрытия, связанным с разрушением изделия, относится исследование шлифов (определение с помощью микроскопа). Изделие разрезают в нескольких местах, плоскость разреза шлифуют и полируют толщину покрытия измеряют с помощью микроскопа, снабженного окуляром с измерительными делениями или винтовым микрометром. К, разрушарэщим методам относятся также химические методы, которые заключаются в растворении всего слоя, покрытия или небольшого участка капельным нли струйно-объемным методом. [c.337]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология