Удельная рефракция по Гладстону—Дэйлу

Для удельной рефракции (г) Гладстон и Дэйл предложили формулу [c.31]

Однако принципиальные выводы, которые можно было получить как по эмпирической формуле Гладстона — Дэйла, так и по формуле Лорентца — Лоренца — одни и те же. Еще в 1856 г. Бертло [56, стр. 343] предложил умножить удельную рефракцию на молекулярный вес и называть произведение гМ =R молекулярной рефракцией. Он предложил также понятие об атомных (точнее — эквивалентных) рефракциях. В 1864 г. Ландольт [57, стр. 599] ввел в употребление формулу [c.195]

Так как функция Лорентца—Лоренца несколько возрастает с повышением температуры , а удельная рефракция, вычисленная по формуле Гладстона—Дэйла, уменьшается с повышением температуры, Эйкман [207] предложил эмпирическую формулу [c.187]

II—удельная рефракция по Гладстону—Дэйлу, [c.191]

III—Rqo—удельная рефракция по Гладстону—Дэйлу [c.192]

Такие групповые рефракции можно применять к вычислению удельной рефракции еще не синтезированных молекул. Ван-Вурст [213] вычислил на основании литературных данных групповые рефракции метиленовой группы и нашел значение удельной рефракции Гладстона—Дэйла для СНг-групиы =7,825 ( 0,000)— 0,00032( 0,00002) и значение удельной рефракции Лорентца— [c.190]

Удельная рефракция представляет собой величину, связывающую показатель преломления с плотностью. Она может быть Bbipaviiena при полющи формулы Гладстона и Дэйля (А) пли фо])-мул ,1 Лорентца и Лоренца (Б) [c.130]

В 1946 г. Б. В. Иоффе для определения ароматических углеводородов предложил использовать также относительную дисперсию. Относительной дисперсией называется отношение разности удельных рефракций (вычисленных ио формуле Гладстона и Дэйля) для двух лучей различной [c.81]

Флугтер не первый, применил данные о лучепреломлении для характеристики масляных фракций. Константу преломления Беара [19], которой пользовались Гладстон и Дэйл [20], применяли и другие авторы в качестве приближенного критерия при очистке минеральных масел. Однако эти исследователи не были в состоянии установить количественную зависимость между лучепреломлением и составом, и лишь после того как Флугтер выдвинул линейную зависимость между содержанием водорода и удельной рефракцией, Киропулос [22] и Гроссе [23] обратили внимание на влияние строения на эти факторы (см. стр. 378). [c.300]

Если бы было возможно в кольцевом анализе по Ватерману заменить определение анилиновой точки определением показателя преломления п, или плотности d, или комбинацией /г и с , то удалось бы избежать основных возражений. После нескольких попыток применить удельную рефракцию по Гладстону—Дэйлу наряду с рефракцией по Лорентцу—Лоренцу и с молекулярным весом М Лендертсе разработал метод, основанный на использовании d совместно с молекулярным весом М. Метод этот получил название метода плотности . В отношении самой методики этот метод в основных чертах аналогичен кольцевому анализу по Ватерману. [c.308]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология