Магнитное поле секторной форм

Рис. 2. Обозначения для магнитного отклоняющего поля секторной формы.

Анализатор. Ионы, ускоренные в электрическом поле источника, выходят из него через щель в виде сформированного ионного пучка с углом расходимости 2а. Попадая в магнитное поле Н секторной формы, направленное перпендикулярно к плоскости чертежа (рис. 6), ионы различной массы движутся по круговым траекториям различного радиуса, отклоняясь от первоначального направления. При надлежащей форме границ поля, взаимном расположении поля и выходной щели а (объект) ионы одной и той же массы фокусируются [c.21]

Форма магнитного поля имеет большое значение для фокусировки масс-спектральных линий. Этот вопрос был подвергнут детальной теоретической и опытной проработке, в результате чего появилось несколько конструкций, улучшающих фокусировку линий [5, 6]. Была разработана система так называемого секторного магнитного поля, которое представляет собой поперечное однородное поло, ограниченное сектором с некоторым углом раствора. Практически такое по-те можно получить в зазоре между полюсами магнита, если полюсы его имеют призматическую форму с данным углом и если ширина зазора много меньше пути частиц в поле. [c.218]

Для уменьшения влияния магнитного поля на ионы в ионном источнике и коллекторе ионов широко используют масс-спектрометры секторного типа. В этих приборах магнитное поле создается между полюсными башмаками секторной формы, которые могут иметь любой секторный угол. В приборе Демпстера этот угол составляет 180°. На практике часто используется секторный угол, равный 90° (рис. 1.7). Было показано, что если расходящийся пучок ионов входит и выходит из однородного магнитного поля перпендикулярно к его границам, то он фокусируется на прямой, проходящей через выходную щель ионного источника и центр кривизны траекторий ионов, который совпадает с вершиной сектора. На рис. 1.7 показана фокусировка по направлению. Разрешающая способность не зависит от секторного угла. В секторных спектрометрах уменьшены размеры магнита и ионный источник и коллектор вынесены из магнитного поля. Правда, это приводит к увеличению пути ионов, что обусловливает эффекты рассея 1ия иона на этом пути. Масса магнита пропорциональна г . Поэтому с секторным магнитом можно достигнуть значительного разрешения при меньшей массе магнита. [c.31]

К нулю, М/АМ = 1/р и не зависит от радиуса магнитного поля секторной формы. Несмотря на то, что приведенное выше уравнение не исключает все трудности, оно позволяет определить точку, в которой можно достигнуть наилучшего разрешения для данного прибора, независимо от размера щелей. Эффективная ширина щелей источника и коллектора должна быть меньше их действительных размеров [178, 414]. В обычных конструкциях источников с электронной бомбардировкой интенсивность ионного пучка поперек щели источника неравномерна щели ведут себя, как система линз, и вызывают уменьшение возможного объекта по сравнению с размером щели источника. Если В конструкцию коллекторной щели включена задерживающая щель, то она играет роль линз, зеркала и потенциального барьера. При изменении потенциала задерживаюш,ей щели свойства линзы могут быть использованы для регулировки эффективной ширины коллекторной щели в широком диапазоне. При эффективном ограничении щелей коллектора и источника указанным выше способом может быть достигнуто лучшее разделение пары налагающихся пиков, чем это казалось возможным при рассмотрении действительной ширины используемых щелей. [c.65]

Как показано Барбером [301 и Стефеном [311, перефокусировка при углах отклонения 180° является специальным случаем фокусировки любым магнитным полем клиновидной формы. В соответствии с общей теорией секторного поля ионный луч, однородный но массе и энергии, попадает и покидает магнитное поле перпендикулярно к его границам. После прохождения этого поля ионный луч снова фокусируется в точке, находящейся на прямой, соединяющей ионный источник и вершину секторного магнитного поля. Общая теория фокусировки разработана Герцогом [321. Одно секторное магнитное поле часто применяют в масс-спектрометрах с фокусировкой по направлению. Выбор секторных углов определяется рядом факторов [33]. Наряду с анализаторами с секторами в 180° применяют анализаторы с секторами полей в 60 и 90°. [c.330]

При обработке результатов требуется внести еще одну поправку, связанную с самим спектрометром. Обычно в спектрометрах с секторным анализатором найденная экспериментально форма линии определяется отклонениями в электронно-оптической системе и в электростатическом поле, а не шириной щели и, таким образом, основными опытными данными являются площади полос, т. е. числа фотоэлектронов, относящихся к данной колебательной компоненте спектра. В случае когда при записи спектра фиксируется изменение момента (отклонение в магнитном поле под углом 180°, меняется напряженность Я) или кинетической энергии (электростатическое поле с отклонением на 127°, меняется потенциал У) электронов при постоянной ширине щели, ширина спектральной области, проходящей через щель, возрастает с увеличением напряженности фокусирующего поля (т. е. Н или V). Для того чтобы определить величину, пропорциональную истинному потоку электронов в области пика, необходимо разделить величину измеряемого тока на значение Я или V в данной точке. Учет этой поправки изменяет результат в направлении, противоположном действию поправки на непостоянство з 1 (см. выше), так что в небольшом интервале энергии (например, 1 эв в области 10 эв) обе поправки практически компенсируют друг друга, в результате чего фюто-электронные спектры очень близки к графикам для факторов Франка — Кондона. [c.98]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология