Вторичные электроны состава объекта

Электронный пучок, определяемый параметрами й, з и а, входит в камеру объекта и попадает на определенное место образца. Внутри области взаимодействия происходит как упругое, так и неупругое рассеяние, как описывалось в гл. 3, в результате чего в детекторах возникают сигналы за счет упругих, вторичных и поглош енных электронов, характеристического и непрерывного рентгеновского излучения, катодолюминесцентного излучения. Измеряя величину этих сигналов с помощью соответствующих детекторов, можно определить в месте падения электронного пучка некоторые свойства объектов, например локальную топографию, состав и т. д. Чтобы исследовать объект не только в одной точке, пучок нужно перемещать от одной точки к другой с помощью системы сканирования, как показано на рис. 4.1. Сканирование обычно осуществляется с помощью электромагнитных отклоняющих катушек, объединенных в две пары, каждая из которых служит для отклонения соответствен- [c.99]

Прибор АКН-1 (рис. 139) состоит из двух блоков датчика и вторичного прибора — автоматического электронного потенциометра. В датчике эталоном элемента служит стекло ЖЗС-10, толщину которого выбирают в зависимости от характера исследуемого продукта, либо эталонная кювета 9. Световой поток от лампы накаливания 12 направлен на фотоумножитель 7 по двум каналам измерительному и эталонному. Каждый из этих каналов состоит из оптической системы, кюветы и обтюратора. В состав оптической системы, -формирующей световой пучок, входят конденсатор 13, диафрагма 14, светофильтр 1, призма 2 и объектив 3. На пути световых потоков между оптическими системами и кюветами — эталонной 9 и измерительной 6 — установлен обтюратор И. Он представляет собой диск с расположенными по окружности прорезями. В обоих оптических каналах обтюратора установлены постоянные диафрагмы 10 я 4, а ъ измери- [c.206]

Быстро развивается и показывает хорошие результаты рентгенофлуоресцентный метод, основанный на том, что падающее первичное излучение создает при взаимодействии с материалом покрытия характеристические электромагнитные волны [25], имеющие кванты определенных длин волн и интенсивности. Спектральный состав излучения зависит от того, какие элементы имеются в материалах контролируемого объекта, а интенсивность — от массы данного элемента. Подбирая фильтры, выделяющие необходимую спектральную линию, характерную для материала покрытия, анализируя интенсивность и энергию квантов вторичного излучения с помощью различных электронных дискриминаторов, можно определить толщину одного или нескольких не очень толстых покрытий. Используемые при рентгенофлуоресцентном методе эффекты более сложны в приборной реализации, поэтому аппаратура на базе этого метода пока не выпускается крупными сериями. Вместе с тем имеются примеры успешного внедрения таких приборов в практику неразрушающего контроля толщин покрытий при разных сочетаниях материалов хром, олово, цинк, алюминий, титан или серебро на стали, медь на алюминии, хром на цинке, кадмий на титане и др. Решающим фактором применимости рентгенофлуоресцентного метода является наличие достаточной интенсивности вторичного излучения в диапазоне, где его регистрация эффективна. Также его ценным качеством является возможность из гpeний толщины многослойных покрытий, причем, когда их толщины соизмеримы, можно проводить в ряде случаев раздельный контроль. Успешно производится измерение толщины серебра на фотобумаге и ферролаковом покрытии. [c.352]

Минералогия представляет широкое поле деятельности для применения рентгеноспектрального микроанализа. Как правило, образцы пород очень сложны по своей структуре и составу, содержат большое число минералов в ограниченном объеме. Химический анализ дает лишь общий состав, а механическое выделение микроскопических зерен минералов не всегда возможно и не гарантирует от внесения загрязнений. Кроме количественной диагностики состава мельчайших минералов представляет большой интерес выяснение распределения элементов между различными компонентами горной породы, выявление формы нахождения элементов являются ли они замещениями главного компонента или выделяются во вторичных фазах. Именно решению этих основных вопросов посвящены первые работы по микроанализу природных объектов. Кроме количественных результатов по составу на микроанализаторе можно получить дополнительную качественную информацию — диагносцировать минералы по цвету катодо-люми-несценции, возникающей под влиянием электронной бомбардировки. [c.69]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология