Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Рентгеновская дифракция температурный фактор

    Молекулы в кристаллической решетке постоянно испьггывают поступательное, вращательное и в общем случае (но в существенно меньшей степени) внутреннее колебательное движение. Интенсивность этих движений при увеличении температуры возрастает, что приводит к увеличению эффективных размеров атомов это можно наблюдать при помощи метода рентгеновской дифракции, использующем в среднем 10 элементарных ячеек типичного монокристалла. Результирующее размазьшание электронной плотности учитьтает-ся в уравнении 11.2-2 в температурном факторе В (фактор Дебая—Уоллера), который связан со среднеквадратичной амплитудой атомного движения (и ), обозначаемой как U  [c.397]


    Этот метод используется и для описания процесса распространения электромагнитных волн, и в частности рентгеновских лучей. В предыдущих главах комплексные функции не вводились, для того чтобы не затушевывать формальными математическими соотношениями физическую сущность дифракции рентгеновских лучей. В настоящей главе вопросы атомного рассеяния, рассеяния конечной совокупностью атомов и дифракции рентгеновских лучей кристаллом будут рассмотрены с новой, в математическом отношении, точки зрения, что позво-I лит вывести некоторые формулы, которые были приняты ранее без I доказательства (в частности, формулы интерференционного фактора, i температурного фактора и фактора интегральности), и ввести понятие I структурной амплитуды — одно из центральных понятий теории I рентгеноструктурного анализа. [c.81]

    Можно использовать практически любые источники 5102 и АЬОз, хотя качество получаемого продукта зависит от чистоты сырья. Наиболее распространенными исходными материалами являются Ыа2510з, силикагель, НаАЮг, сульфат алюминия и различные глины. Присутствующие в сырье катионы оказывают большое влияние на структуру цеолита. Различные типы цеолитов могут быть получены из одних и тех же исходных материалов простой заменой катионов. Нанример, из одной и той же смеси можно. - получить цеолиты типа V или Ь в зависимости от того, какие в ней присутствуют катионы Ма+или К+- Для получения разнообразных цеолитов типа 2 применяют органические катионы ([44—47]. Степень кристаллизации продукта определяют путем Сравне1шя со стандартным образцом специально приготовленного цеолита с использованием дифракции рентгеновских лучей, вычисления удельной поверхности и ионообменной способности, а также электронной микроскопии. Рост кристаллов сильно зависит от отношения ЗЮг/АЬОз и от таких факторов, как создание центров кристаллизации (затравка), температурный режим и чистота реагентов [48—49]. Обычно кристаллизацию продолжают до полного исчезновения алюминия в смеси. [c.37]


Аналитическая химия Том 2 (2004) -- [ c.2 , c.397 ]




ПОИСК





Смотрите так же термины и статьи:

Дифракция

Рентгеновская дифракция



© 2024 chem21.info Реклама на сайте