Установка для фотоэлектрической регистрации контуров спектральных линий

УСТАНОВКА ДЛЯ ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ РЕГИСТРАЦИИ КОНТУРОВ СПЕКТРАЛЬНЫХ ЛИНИЙ [c.180]

Установка для фотоэлектрической регистрации контуров спектральных линий [c.181]

Основной недостаток атомного пучка — относительно слабая яркость свечения. Однако современные конструкции позволяют проводить уверенную фотоэлектрическую регистрацию контуров узких спектральных линий. Одна из конструкций установки с атомным пучком представлена на рис. 10.27 [10.25]. [c.271]

При определении интенсивности линий комбинационного рассеяния большое значение имеет их ширина, которая у различных линий варьирует в довольно широких пределах. В связи с этим встает вопрос, какая именно измеряемая величина должна быть выбрана для характеристики интенсивности линий. Для этой цели могут служить интенсивность в максимуме линии /о и интегральная интенсивность /о , мерой которой является площадь, ограниченная контуром линии. В зависимости от условий опыта можно при измерениях получить либо одну, либо другую величину. Наконец, можно получить некоторую промежуточную величину между /о и / , которая не имеет простого физического смысла и не может служить для однозначной характеристики линии, но которая тем не менее может быть использована практически при анализах. Проблема усложняется тем, что измеряемая величина интенсивности зависит от параметров спектральной установки и возбуждающего источника света, причем эта зависимость имеет разный характер при различной ширине линий. Все сказанное имеет силу как при фотографической, так и при фотоэлектрической регистрации спектров. [c.302]