Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Спектральная линия искажения контура

Рис. 5.2. Искажение контура спектральной линии, вызванное конечной шириной щелей монохроматора Рис. 5.2. Искажение контура спектральной линии, вызванное <a href="/info/1868406">конечной шириной</a> щелей монохроматора

    Приведение наблюдаемого контура к истинному. Поставим вопрос может ли переход от наблюдаемого контура к истинному (посредством преобразований Фурье) привести к выигрышу в точности При прохождении излучения через монохроматор контуры спектральных линий и полос искажаются в силу существования аппаратной функции монохроматора это является источником систематических ошибок. Случайными ошибками здесь в большинстве случаев можно пренебречь они в основном связаны с шумами фотоприемника. В регистрирующей системе появляются дополнительные систематические искажения, связанные с ее инерционностью. Существенно то, что систематические искажения из-за аппаратной функции монохроматора возникают до появления шумов, а инерционные искажения — после. Это приводит к тому, что применение фурье-преобразований к аппаратной функции монохроматора и к аппаратной функции приемно-регистрирующей системы приводит к различным результатам, поскольку такая математическая операция уменьшает систематические ошибки и одновременно увеличивает случайные. [c.215]

    Максимально допустимая скорость сканирования спектра. Спектроскопистов интересуют не только предельные возможности прибора (которые часто могут быть реализованы при очень медленных скоростях сканирования спектра), но и максимальная скорость получения информации при заданных допустимых искажениях контура спектральной линии. При этом могут быть поставлены требования сохранения заданного отношения сигнала к шуму. В связи с этим выясним от чего зависит максимально допустимая скорость регистрации спектра. [c.218]

    При измерении эквивалентной ширины спектральных линий поглощения требования к разрешающей способности значительно менее строги. Как будет показано ниже, измеренное значение обычно не зависит от инструментального контура спектрального прибора. Действительно, пусть имеется схема измерения (рис. 13.1), с помощью которой экспериментально определяется спектральное распределение светового потока от источника сплошного спектра. Измерения ведутся до того, как создан поглощающий столб паров Фо (,), и после того, как в кювету введены поглощающие пары (Ф )- Предположим, что такие измерения проводятся дважды — первый раз на приборе с бесконечно большой разрешающей способностью (бесконечно узким инструментальным контуром) и второй раз на спектральной аппаратуре, инструментальный контур которой имеет конечную ширину и задан функцией Ф ( v). Тогда первый прибор дает истинные спектральные распределения Фох, и Фа, второй — искаженные Фох и Фгх. Эквивалентная ширина линии, вычисленная но данным, полученным на первом приборе, будет [c.341]


    Прогрессивная ошибка. Величина Д плавно изменяется по сечению решетки. Эта ошибка при монотонном изменении приблизительно по квадратичному закону не влияет на разрешающую способность, а вызывает возрастающее с порядком спектра изменение фокуса в сечении, перпендикулярном штрихам, что приводит к появлению астигматизма у плоских решеток. Изменение А по более сложному закону вызывает искажение контура спектральных линий и снижение разрешающей способности. Во избежание этого ошибка фронта дифрагированной волны согласно критерию Рэлея не должна превышать Я/4. [c.52]

Рис. 82. Искажение контура спектральной линии при самообращении. Рис. 82. Искажение контура спектральной линии при самообращении.
    При такой схеме давление в барокамере будет экспоненциально зависеть от времени, что, вообще говоря, вызывает искажения в картине с.т.с. Для учета этих искажений установка была снабжена контактным манометром, дающим отметки давления на ленте самописца. Однако исследование показало, что если работать в пределах первых 5—б порядков, то нанесение отметок давления в процессе работы не обязательно, так как нелинейность изменения давления в этом случае практически не сказывается на форме контура спектральной линии, а следовательно, и не может внести ошибок в анализ. [c.568]

    Практическое решение этого вопроса может быть более сложно, так как экспериментатору всегда известен лишь контур линии, представляющий собой результат фотометрирования спектрограммы и построенный поэтому на основании данных о почернении различных точек контура. Для перехода от величии почернения различных точек контура спектральной линии на спектрограмме к величинам относительных интенсивностей соответствующих точек на неискаженном контуре линии (в шкале интенсивностей) следует воспользоваться некоторой особенностью закона преобразования одной кривой в другую, которая с очевидностью вытекает, например, из рассмотрения рис. 36. Так как две симметричные точки нижнего контура отвечают одному и тому же значению интенсивности, то обе они при переходе к контуру почернения при любом конкретном виде зависимости О = (1) в результате искажения формы линии подвергнутся одинаковому изменению. Расстояние между ними на нижней и верхней кривых рис. 36 останется строго неизменным. Эго означает, что если известно значение величины ] , отвечающее полуширине истинного профиля спектральной линии (нижняя кривая рис. 36), то, измеряя на верхнем контуре ширины линии в различных ее сечениях при различных значениях почернения и пользуясь уравнением (19), можно сопоставить произвольно выбранному ряду почернений ряд соответствующих ему величин [c.48]

    При практическом использовании описываемого метода построения характеристической кривой эмульсии надо знать величину Г, характеризующую полуширину неискаженного профиля спектральной линии. Для этого необходимо определить эту величину, относящуюся к линии, вычерченной в шкале интенсивностей, на основании измерений, выполненных на искаженном контуре линии в шкале почернения. [c.49]

    Однако любой спектральный прибор неточно передает контур спектральной линии, внося в него искажения, связанные с устройством прибора и способом регистрации. Вызванные прибором искажения, как правило, приводят к кажущемуся уширению спектральных линий, которое называется инструментальным. [c.28]

    Измерение интенсивностей компонентов спектральных линий, записанных с помощью установок такого типа, проводится обычно путем измерения высот максимумов на регистрограммах. При точных измерениях приходится также учитывать наложение сплошного спектра и рассеянного света, искажения формы контура в результате конечной скорости записи и переложения компонентов и т. п. Отдельные примеры измерений будут приведены в гл. XI. [c.98]

    Существенно отметить, что площадь зарегистрированного контура линии при любом характере спектрально-временных искажений пропорциональна полной интенсивности липии и должна сохранять постоянное значение. [c.197]

    Все эти факторы приводят к уширению контура линии комбинационного рассеяния. При выборе спектральной аппаратуры и метода измерения стараются по возможности уменьшить всевозможные причины искажений. [c.308]

    Фотографический метод с использованием спектрографов большой дисперсии. Этот метод менее трудоемкий по сравнению с предыдущим и по экспериментальному выполнению и по технике обработки полученных спектрограмм. У спектрографов дисперсия слабо изменяется на ротяжении ширины спектральной линии. Поэтому контур линии получается симметричным и мало искаженным. [c.307]

    Рассмотрим теперь экспериментальные ошибки, связанные с отсутствием бесконечно большой экспериментальной чувствительности. Ошибки практически обязательно появляются, так как даже с наилучшими спектральными приборами невозможно различить слабые сигналы, связанные с крыльями спектральных линий, и сигналы, связанные со случайными шумами. Хотя никешого общего критерия для инструментальных потерь установлено быть пе может, тем не менее интересно определить хотя бы качественно для отдельного случая природу ошибок, создаваемых искажениями контура линии в совокупности с недостатком экспериментальной чувствительности. [c.74]


    Численное определение абсолютных значений наблюдаемых спектральных показателей поглощения было выполнено рядом авторов [5—8]. В частности, максимальные значения наблюдаемых показателей поглощения и ширина спектральных линий с дисиерсионным или допплеровским контуром были рассчитаны [8] как функции отношения аппаратной ширины щели к полуширине линии и максимального значения истинного показателя поглощения. Аппаратная функция предполагалась гауссовой или дисперсиоппой формы. В дополнение к искажению контуров линий рассматривались также малые (5% и менее) абсолютные ошибки П1)и измерениях интегральных показателей поглощения [8]. Хотя ошибки при оценках интегральной интенсивности понятны только применительно к расчетам, включающим онределенный допуск для инструментальных потерь, следует помнить, что для гауссовой или дисперсионной аппаратной функции и реальных показателей поглощения интервал сканироваиия, требуемый для удовлетворения условий, установленных в разд. 5.1, бесконечно широк. [c.75]

    Проведенное исследование позволяет сделать следующие выводы. Лазер в режиме модулированной добротности является эффективным атомизатором. При давлении окружающей атмосферы ниже 400 Па факел представляет собой пространственно однородное, лишь незначительно искаженное на краях, облако поглощаюгцих паров. Контур линии поглощения можно считать чисто доплеровским, так как ло-ренцовские уширение и сдвиг при пониженном давлении незначительны. Высокая температура поглощающих паров ведет к значительному увеличению монохроматичности излучения спектральной лампы. Таким образом, в лазерном факеле при пониженном давлении реализуются все условия атомно-абсорбционных измерений по методу Уолша. [c.73]

    Для примесных ионов, использующихся в лазерных кристаллах, эта величина лежит в пределах 10 — 10 м . Уширение, связанное с дефектностью кристалла, получило название неоднородного уширения. Как правило, ширина таких линий отличается слабой температурной зависимостью. Форма их удов.иетворительно описывается гауссовым контуром. Последнее является отражением того факта, что отклонение частот отдельных линий от среднего значения является случайным и определяется случайным характером искажения BnyTpnKpn Tafljrn40 Koro поля. Результаты экспериментального исследования температурного поведения контура спектральных лнний активаторных ионов, использующихся в простых лазерных кристаллах, показывают, что при 150°К и более высоких температурах вкладом неоднородного уширения можно пренебречь и считать форму линий лорен-цевой. [c.25]


Смотреть страницы где упоминается термин Спектральная линия искажения контура: [c.110]    [c.52]    [c.538]    [c.74]    [c.300]    [c.110]    [c.14]   
Количественная молекулярная спектроскопия и излучательная способность газов (1963) -- [ c.70 ]




ПОИСК





Смотрите так же термины и статьи:

Искажения

Контур



© 2025 chem21.info Реклама на сайте