Измерение длин волн спектральных линий при качественном анализе микроскопом МИР

Работа 13. Измерение длин волн спектральных линий при качественном анализе микроскопом МИР-12 [10, 17] [c.185]

Метод, основан на получении эмиссионных спектров анализируемого вещества на фотографической пластинке, помещенной в фокальной плоскости камерного объектива спектрального прибора (спектрографы различных типов). Спектральные линии элементов (качественный анализ) в полученном спектре идентифицируют относительно спектра известного элемента (обычно железа), фотографируемого рядом со спектром анализируемого вещества. В специальных атласах спектральных линий приведены фотографии спектров л<елеза, где относительно спектральных линий железа указано положение спектральных линий всех элементов с их длинами волн. Для проведения качественного анализа используют спектропроекторы или измерительные микроскопы. Количественный анализ проводят по результатам измерения относительных почернений спектральных линий гомологической пары и их сравнением с соответствующими величинами стандартных образцов. Почернения спектральных линий измеряют при помощи микрофотометров фотоэлектрическим способом. [c.25]

Измерительный микроскоп МИР-12 предназначен для просмотра спектрограмм и измерения расстояний между линиями в спектре на фотопластинке. Он используется для определения длин волн при отождествлении спектральных линий в качественном спектральном анализе. [c.42]