Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Спектральные атласы

    Основы качественного спектрального анализа изложены ранее (см. книга I, гл. III, 9). Интенсивность линий спектра элемента зависит от концентрации этого элемента в исследуемой пробе, поэтому с уменьшением концентрации интенсивность многих линий настолько уменьшается, что их нельзя различить. Для открытия элементов пользуются так называемы.ми аналитическими линиями, или последними линиями- , которые можно обнаружить в спектре исследуемой пробы при предельно малой концентрации открываемого элемента. Например, последней линией в спектре натрия является линия, длина волны (л) которой равна 5890 А. Эта линия исчезает в спектре исследуемой пробы, когда концентрация натрия становится меньше 10 %. Перечень линий всех элементов приведен в спектральных атласах. [c.225]


    Определение железа. Аналитические линии железа (в ультрафиолетовой части спектра) /. = 3020,6 /. = 3581,2 и >. = 3720,0 А. Пластинку вставляют в рамку спектропроектора ПС-18 и совмещают изображение спектра железа со спектром железа на планшете № 15 спектрального атласа (см. стр. 237). Затем, как указано в 13, в спектре эталонов и в спектре образца цинка отыскивают линию железа Х = = 3020,6 А. Несколько левее этой линии расположена линия цинка Я = 3018,4 А. Визуально оценивают интенсивность линии железа I. = = 3020,6 А в спектрах эталонов и в спектре образца цинка. Концентрация железа в исследуемом образце цинка примерно совпадает с концентрацией железа в эталоне, когда интенсивность линии железа % = = 3020,6 А в спектре образца цинка и в спектре эталона примерно одинакова. Таким же образом в спектре исследуемого образца цинка отыскивают линию железа I = 3581,2 А и линию X = 3720,0 А, пользуясь планшетом № 18. Интенсивность этих линий в спектре исследуемого образца цинка сравнивают с интенсивностью тех л е линий в спектре эталонов. [c.240]

    Издаваемые атласы спектров железа не подходят для всех типов спектрографов, а охватываемые ими спектральные области обычно ограниченны. Не существует доступных атласов для призменных и дифракционных приборов высокой разрешающей силы. Этот недостаток можно компенсировать в лабораторной практике приготовлением соответствующих эскизов или фотокопий спектров. Частично эту проблему решают специальные спектральные атласы, упомянутые ниже в связи с методом сравнения спектров. [c.26]

    При качественной оценке спектров наличие или отсутствие элементов, которые нельзя надежно обнаружить простым способом, например с помощью спектральных атласов, можно установить, фотографируя спектры предполагаемых элементов рядом со спектром анализируемой пробы с помощью диафрагмы на щели (разд. 3.3.2 в [4а]) и исследуя те аналитические линии элементов, которые свободны от мешающих влияний (рис. 5.4). В продаже имеются синтетические смеси на основе подходящей матрицы (например, графита), содержащие определенные количества (например, точно 1%) наиболее часто определяемых на практике элементов. Однако их можно приготовить и в лаборатории. Для таких универсальных смесей были также сделаны соответствующие спектральные атласы, включающие и спектр железа [7]. При их использовании после выбора подходящей методики становится излишним последующее сравнение с универсальной смесью. [c.28]

    Имеется немного литературы по визуальным методам спектрального анализа. В несколько книг [1 —10] помимо общих положений включены главным образом таблицы, репродукции спектров и инструкции по анализу сталей [11—20]. При анализе сталей используют обычно специальные спектральные атласы и таблицы. Ряд сообщений посвящен определению основных легирующих компонентов в сталях [21—26], описанию спектроскопов [27—30] и вспомога- [c.302]


    Анализ сталей — самая широкая область применения визуальных методов спектрального анализа. В литературе опубликован ряд инструкций, таблиц гомологических пар линий и спектральных атласов для анализа сталей (разд. 7.6.1). Некоторые спектроскопы поставляются вместе с атласами и цветными рисунками, на которых показаны детали спектров, представляющие особый интерес при анализе сталей. Между величинами гомологических концентраций, приведенных в этих приложениях к спектроскопам и в литературе, часто имеют место меньшие или большие расхождения. Это обусловлено отчасти субъективным характером метода, но главным образом отсутствием информации, касающейся экспериментальных (например, возбуждения) условий, при которых были получены приведенные данные. Обычно мешающими линиями, типографскими ошибками и т. д., которые должны учитываться в практической работе, пренебрегают. Подробное изображение спектров часто представляет собой репродукции спектрограмм, приготовленные путем фотографирования спектров, т. е. спектрографическим способом. Они всегда отклоняются от спектров, наблюдаемых невооруженным глазом. Эти различия проявляются только в тонких деталях, которые играют суи ественную роль в оценке отношения интенсивностей линий аналитических пар. [c.303]

    И аналогичны полученным при нормальных рабочих условиях. Поэтому можно использовать все данные, ранее полученные на этом приборе, а также существующие масс-спектральные атласы. [c.178]

    Каждый химический элемент излучает хорошо известный набор спектральных линий, длины волн которых указаны в таблицах и более полно в спектральных атласах. [c.452]

    При уменьшении содержания элемента в пробе интенсивность линий этого элемента в спектре пробы будет уменьшаться, некоторые линии исчезнут и число линий уменьшится. При какой-то очень малой концентрации останется всего несколько линий, которые исчезают последними (рис. 9). Это и есть последние линии, по которым обычно проводится качественный анализ. Последние линии хорошо изучены, их длины волн и интенсивности можно найти в специальных таблицах и спектральных атласах. Это обычно резонансные линии. В таблицах их часто отмечают индексами 11и 1 1 и т. д., или У, и т. д. [c.19]

    Последовательное изучение спектров целого ряда соединений позволило составить небольшой спектральный атлас, отдельные данные которого были с успехом применены для анализа молекулярных состояний субстрата живых систем (рис. 5). [c.25]

    Число всех электронных переходов и, следовательно, число линий в спектре элемента определяется числом и размещением внешних электронов. Спектры атомов с малым числом внешних электронов (например, щелочные металлы) имеют мало линий. Атомы со сложно построенными внешними оболочками — особенно элементы побочных подгрупп периодической системы — дают спектры с очень большим числом линий. Линии, принадлежащие определенным элементам, указываются в спектральных атласах (см., например, 121). Схемы термов атомов и изоэлектронных ионов (например, N3, Mg , А . ..) построены аналогично закон смещения Косселя), однако относительное положение соответствующих линий не идентично. Для их различия в случае атомных линий рядом с символом элемента приводят римскую цифру I (например, М 1 285,2 нм), для линий однократно ионизированных частиц (например. А ) приводят римскую цифру И (А1II 167,0 нм) и т. п. [c.184]

    Резонансное поглощение. Вследствие пространственного расширения возбужденной плазмы и существующего в ней градиента температур внутри плазмы может происходить обратное поглощение спектральных линий (закон инверсии испускания и поглощения Кирхгофа). Это явление самопогло-щения наблюдается преимущественно для резонансных линий и искажает связь между интенсивностью и числом частиц. Так как во внешних более холодных зонах плазмы допплеровское уширение меньше, чем в более горячей центральной зоне, то поглощаются преимущественно центры линий. В предельном случае интенсивность центра линий становится пренебрежимо малой по сравнению с интенсивностью обоих крыльев линии (самообраш -ние линий). Линии, отличающиеся склонностью к самопоглощению и само-обращению, в спектральных атласах приводят с индексом R (от reversal — обратный ход). Наблюдая резонансное поглощение в сложном спектре, можно найти, какие линии соответствуют переходам на основной уровень. Резонансное поглощение наблюдается также в случае прохождения резонансной линии от внешнего источника излучения через диссоциированный до атомов пар соответствующего простого вещества. Интенсивность первичного светового потока ослабляется при этом соответственно уравнению [c.186]

    Б отсутствие спектральных атласов поиск и идентификацию аналитических линий элементов можно облегчить, если с помощью спектропроектора увеличить фотографии спектров определяемых материалов и сделать с этих увеличенных изображений эскизы. Целесообразно рядом со спектром анализируемого материала фотографировать шкалу длин волн и спектр железа (последний с помощью диафрагмы на щели). Целесообразно также с помощью спектропроектора на картонные листы нанести кроме аналитических линий наиболее характерные сопутствующие линии, характерные группы линий в спектре железа и шкалу длин волн. Очевидно, что неизвестный спектр следует прежде всего полностью просмотреть в областях аналитических линий, идентифицировать аналитические и мешающие лищи путем измерения длин волн (разд. 4.1 [c.26]


    Число всех электронных переходов и, следовательно, число линий в спектре элемента определяется числом и размещением внешних электронов. Спектры атомов с малым числом внешних электронов (например, щелочные металлы) имеют мало линий. Атомы со сложно построенными внешними оболочками — особенно элементы побочных подгрупп периодической системы — дают спектры с очень большим числом линий. Линии, принадлежащие определенным элементам, указываются в спектральных атласах (см., например, [2]). Схемы термов атомов и изоэлектронных ионов (например, Ыа, А . ..) построены аналогично (закон смещения Косселя), однако [c.184]


Смотреть страницы где упоминается термин Спектральные атласы: [c.244]    [c.244]    [c.279]    [c.34]   
Эмиссионный спектральный анализ Том 2 (1982) -- [ c.2 , c.26 ]




ПОИСК







© 2025 chem21.info Реклама на сайте