Линии спектральные почернения

В этом случае для измерения интенсивности спектральных линий спектр исследуемого вещества снимают на фотографическую пластинку. На пластинке видны линии, степень почернения которых зависит от интенсивности соответствующих спектраль- [c.263]

Плотность почернения. Для измерения относительной интенсивности линий аналитической пары спектр исследуемой пробы фотографируют на пластинку. На пластинке получается ряд линий, степень почернения которых зависит от интенсивности снятых спектральных линий. Коли- [c.227]

Интенсивность линий зависит также от режима работы источника возбуждения, скорости испарения пробы, освещения щели спектрального прибора и других причин. При случайных изменениях этих условий меняется интенсивность линий, в связи с чем количественный анализ, основанный на измерении абсолютной интенсивности, недостаточно точен. Для получения количественных определений с меньшей ошибкой пользуются отношением интенсивности линий определяемого элемента и элемента сравнения (внутреннего стандарта), вводимого специально в анализируемую пробу в определенном количестве. Пару линий, используемую в количественном спектральном анализе, — линию определяемого элемента и линию элемента сравнения — называют гомологической или аналитической парой. Для измерения относительной интенсивности линий аналитической пары спектр исследуемой пробы фотографируют на пластинку. При этом получают ряд линий, степень почернения которых на фотопластинке зависит от их интенсивности. Количественно почернение фотопластинки принято измерять величиной плотности почернения (5), которую вычисляют по, формуле [c.324]

На пластинке видны линии, степень почернения которых зависит от интенсивности снятых спектральных линий, которая в свою очередь пропорциональна концентрации определяемого элемента. Количественно почернение фотопластинки (плотность почернения) измеряют при помощи специальных оптических приборов микрофотометров. [c.344]

Следовательно, если необходимо сравнить два излучения (две спектральные линии) разной интенсивности, достаточно так изменить интенсивность одной линии, чтобы почернения обоих сравниваемых излучений были равны. Пусть имеются две линии [c.221]

Характеристическая кривая. Теперь можно перейти к установлению связи между интенсивностью спектральных линий и почернением их изображения на фотографической пластинке. Число фотонов, которые попали на данное место пластинки, зависит ог ее освещенности и от выдержки. Произведение освещенности на время дает количество освещения Н. В Jex случаях, [c.176]

Переходя от относительных интенсивностей спектральных линий к почернениям из (9) и (11), получим [c.15]

С изменением условий возбуждения меняется характер спектра, т. е. число спектральных линий, их почернение и ширина. Из того, что аналитические линии свободны от мешающих влияний со стороны атомного спектра, не следует, что они не будут совпадать с ионными линиями других элементов, входящих в состав анализируемого материала. Поэтому при дуговом и искровом возбуждении аналитические линии, свободные от мешающих влияний, необязательно являются одними и теми же линиями. [c.19]

Калибровка фотоэмульсий (фотопластинок) необходима для установления корреляции между интенсивностью спектральных линий и почернением или пропусканием их фотографических изображений. Фотографические способы измерения интенсивности (разд. 5.2 в [1]), характеристическая кривая и методы ее построения (разд. 5.3 в [1]), а также различные методы преобразования почернений (разд. 5.7 в [1]) были уже подробно обсуждены. Исходя из этого, рассмотрим теперь основные принципы практических способов калибровки фотоэмульсий, которые, по нашему мнению, наиболее удобны. [c.108]

Измеряют почернение 5(+ы на месте спектральной линии и почернение фона 8и. [c.120]

Установка индикатора на ос производится специальным рычагом с левой стороны экрана микрофотометра и обычно не вызывает затруднений. Установка индикатора на О практически не всегда возможна, так как встречаются такие случаи, когда лампа находится на пределе своего накала, а щель микрофотометра должна быть очень узкой, уже изображения изучаемой спектральной линии на фотопластинке. Таким образом, количество света, падающего на фотоэлемент, недостаточно для того, чтобы индикатор был установлен на нуль. Индикатор нельзя установить на нуль и тогда, когда фотоэлемент был длительное время в работе, т. е. старый, или когда стекла линз, через которые проходит свет, помутнели (загрязнены). В таких случаях измерения почернений спектральных линий производятся следующим образом. Нужно установить произвольное деление 5о (фиктивный нуль) по шкале почернений, при котором свет проходит через прозрачную часть изучаемой фотопластинки, и держать его постоянным для всего ряда измерений на данной фотопластинке. Затем определить почернение 8 изучаемой линии. Истинное почернение 5 изучаемой линии в таком случае будет [c.54]

Визуальные методы чаще всего используются для экспрессного анализа проб при полуколичественных определениях. Для экспресс-анализов в последние годы стали использоваться также и фотоэлектрические методы. Вследствие своей универсальности наиболее распространенными в настоящее время являются фотографические методы. В этих методах интенсивность спектральных линий измеряется почернением, которое они вызывают на спектрограмме. Почернение (5) фотопластинки тем больше, чем больше интенсивность падающего из нее света (г) и чем больше время действия света (О, т. е. [c.130]

Сущность работы. По методу трех эталонов интенсивность спектральных линий, пропорциональная почернению фотопластинки, измеряется с помощью микрофотометра. Для построения градуировочной кривой берут величину разности почернений (А5) определенных линий анализируемого элемента и основы сплава как функцию логарифма концентрации определяемого элемента. Градуировочную кривую строят обычно по измерениям трех эталонов, откуда происходит и само название метода. [c.184]

Фотографический эмиссионный спектральный метод — метод измерения относительной интенсивности линий путем фотографирования спектров. На фотопластинке после проявления получают ряд линий, степень почернения которых измеряют при помощи микрофотометра. Последняя пропорциональна интенсивности излучения, значит и концентрации соответствующего элемента [41,42]. [c.14]

В этом случае для измерения интенсивности спектральных линий спектр исследуемого вещества снимают на фотографическую пластинку. На пластинке видны линии, степень почернения которых зависит от интенсивности соответствующих спектральных линий. Интенсивность почернения в свою очередь пропорциональна концентрации определяемого элемента. Количественно почернение линий на фотопластинке (плотность почернения) измеряют при помощи специальных оптических приборов микрофотометров. [c.255]

Как указано выше (стр. 167), фотографический метод заключается в фотографировании спектра и оценке интенсивностей спектральных линий по почернению их изображений на фото- [c.219]

Построение градуировочных графиков. Фотографируют на фотопластинку спектры эталонов, получив для всех аналитических спектральных линий удовлетворительные почернения. Фотометрируют аналитические линии и с помощью характеристической кривой фотопластинки преобразуют разности почернений в отношение интенсивностей. Затем строят градуировочный график в координатах концентрации добавок — относительные интенсивности аналитических пар линий. На рис. 4 показано построение градуировочного графика по эталонам—добавкам для родия и определение остаточной концентрации родия в платине, взятой в качестве основы для эталонов. На произвольной точке оси абсцисс откладывают концентрацию первого эталона X, затем эталонов А +15, Х+ЗО, А +бО и АГ-Ы20-10" %. Через точки с координатами А, А + 15, X + 30, А + 60, + 120 и соответствующими им относительными [c.307]

Метод, основан на получении эмиссионных спектров анализируемого вещества на фотографической пластинке, помещенной в фокальной плоскости камерного объектива спектрального прибора (спектрографы различных типов). Спектральные линии элементов (качественный анализ) в полученном спектре идентифицируют относительно спектра известного элемента (обычно железа), фотографируемого рядом со спектром анализируемого вещества. В специальных атласах спектральных линий приведены фотографии спектров л<елеза, где относительно спектральных линий железа указано положение спектральных линий всех элементов с их длинами волн. Для проведения качественного анализа используют спектропроекторы или измерительные микроскопы. Количественный анализ проводят по результатам измерения относительных почернений спектральных линий гомологической пары и их сравнением с соответствующими величинами стандартных образцов. Почернения спектральных линий измеряют при помощи микрофотометров фотоэлектрическим способом. [c.25]

На том же принципе, что и использование клина при определении сравнительной интенсивности линий, основано применение ступенчатого ослабителя. Число ступеней ослабителя должно быть достаточно велико. Для количественного сопоставления интенсивности двух близко расположенных на спектрограмме линий ослабитель помещается на пути рентгеновских лучей от кристалла к фотокассете прибора. При этом каждая из линий разбивается на ряд ступеней убывающей интенсивности. Для того чтобы определить относительную интенсивность спектральных линий, сравнивают почернение одной из ступенек на линии исследуемого элемента с ближайшими к нему [c.88]

В этом случае для измерения интенсивности спектральных линий спектр исследуемого вещества сни> ают на фотографическую пластинку. На пластинке видны линии, степень почернения которых зависит от интенсивности соответствующих спектральных линий. Интенсивность почернения в свою очередь пропорциональна концентрации определяемого элемента. Количественно почернение [c.259]

Точное перемещение вдоль спектра производится микрометрическим винтом 8, ири помощи которого можно измерять расстояние между максимумами почернения спектральных линий (точность измерения [c.55]

Сместить микрометрическим винтом спектрограмму так, чтобы на входную щель проектировался незасвеченный участок спектрограммы вблизи спектральной линии. 4. Открыть затвор и установить маховичком И О по логарифмической шкале (см. рис. 35). 5. Измерить почернения, перемещая столик микрофотометра со спектрограммой микрометрическим винтом через каждые 0,01 мм. 6. Вычертить кривую зависимости почернения фотопластинки от смещения спектра (в миллиметрах). Выбрать правильный масштаб по осям координат. [c.448]

Для анализа используют спектрограф ИСП-30 (рис. 1.7). Полихроматическое излучение плазмы, проходя через шель 1, попадает на зеркальный коллиматорный объектив 2, который поворачивает лучи и обеспечивает равномерное освещение призмы 3. Разложенный по длинам волн свет собирается камерным объективом 4 в его фокальной плоскости, отражается зеркалом 5 и попадает на фотографическую пластинку 6. Одинаковое почернение спектральной линии по высоте является необходимым условием количественных измерений и получается только при равномерном освещении щели спектрографа источником излучения. Наиболее совершенна в этом случае трехлинзовая осветительная система (рис. 1.8). Линза 2 дает несколько увеличенное изображение источника света 1 на проме/куточной диафрагме 3, которая позволяет вырезать различные зоны свечения источника эмиссии, а также экранировать раскаленные концы электродов и менять интенсивность светового потока. Конденсор 4, расположенный за диафрагмой 3, проецирует изображение линзы 2 на щель спектрографа в виде равномерно освещенного круга. Линза 5 дает увеличенное изображение выреза диафрагмы 3 на объективе 7 коллиматора. Таким образом, конденсоры 2, 4 и 5 играют роль вторичных полихроматических источников света. [c.26]

Фотопластинку со спектрограммой помещают на столик микрофотометра и фотометрируют спектральные линии железа разной интенсивности, полученные через 9-ступенчатый ослабитель по всем ступеням, записывают величины почернений и соответствующие им логарифмы пропусканий ступенек ослабителя (lg Г) и строят на миллиметровой бумаге зависимости 5 = — яля каждой спектральной линии в одинаковом масштабе величин почернений и логарифмов пропускания. Получают несколько параллельных кривых. Путем горизонтального переноса точек на одну из кривых получают полную характеристическую кривую фотопластинки для всего диапазона почернений 0,05—2,00. [c.34]

Фотометрируют аналитические пары спектральных линий всех стандартных образцов и проб не менее трех раз каждую и находят средние значения почернений. [c.34]

И. По характеристической кривой фотопластинки определяют логарифмы интенсивностей, соответствующие почернениям каждой спектральной линии. [c.34]

Чувствительность спектрального анализа определяется в первом приближении отношением почернения аналитической линии к почернению фона. Буферное соединение на различных участках спектра не одинаково влияет на интенсивность фона. Это хорошо видно на примере двух линий хрома 3014,76 и 4254,33 А (рис. 48). С увеличением концентрации фтористого лития суммарное почернение ли-ни й Сг 3014,76 А и фона растет вплоть до 75%. Почернение фона возле лйнии также растет, сначала медленно, а- при содержани-и буфе- [c.99]

Спектры эталонов фотографируются через 9-ступенчатый ослабитель (см. Ступенчатый ослабитель с. 33). Тогда спектральные линии на спектрограмме окажутся разбитыми на 9 ступенек различной плотности почернений. Можно использовать и 3-ступенчатый ослабитель, но небольшое число ступеней значительно затруднит условия фотометрирования и понизит точность анализа. С изменением концентрации примеси изменяются почернения ступенек линий примеси. Почернения линии внутреннего стандарта для разных этало- нов и соответствующих ступенек остаются постоянными. Это дает возможность измерять относительную интенсив-ность спектральных дней. [c.17]

Плотность почернения. Для измерения относительной интенсивности линий аналитической шары. апектр исследуемой шробы снимают на фотографическую пластинку. На пластинке получается ряд линий, степень почер нения которых зависит от интенсивности снятых спектральных линий. Количественно почернение. фотопластинки принято измерять величиной плотности почернения (S), жоторую вычисляют (пю урав нению [c.462]

Зависимость между почернением фотопластинки и интенсивностью излучения. Чтобы определить интенсивность спектральной линии, зная почернение фотографии этой линии, необходимо знать зависимость между почернением 5 фотопластинки и интенсивностью / излучеяия, вызывавшего это почернение. Зависимость между 5 и 1д/ выражают кривой (рис. 101), которая (НОСИТ название кривой почернения или характеристической кривой фотопластинки. На прямолинейном участке сё этой 1кр иаой зависимость 5 от gI выражают уравнением [c.463]

Таким образом, при помощи полученной серии кривых довольно легко производить пересчет ширины линий на половине ее интенсивности на истинную, при использовании легко поддающихся опытному определению величин. Индекс асимметрии не подвергается сколько-нибудь заметному искажению и может просто измеряться на микрофотограммах. Кроме того, по данным теории, подтвержденным специальными опытами (рис. 16), полуширина йд и пндекс асимметрии спектральных линий (после пересчета линий от почернений на интенсивности) не зависят от величины максимума. [c.61]

Количественный фотографический спектральный анализ основан на измерении относительных почернений спектральных линий гомологической пары и нахождении неизвестной концентрации по градуировочному графику, построенному в координатах glafl p — g по образцам сравнения (минимум три). В образцах сравнения концентрация определяемого элемента изменяется, а концентрация элемента сравнения остается постоянной. Спектральные линии должны быть гомологичными. Переход от почернений к интенсивностям осуществляется при помощи характеристической кривой фотопластинки (см. рис. 1,10), Для прямолинейного участка характеристической кривой [c.32]

ГИИ ПО почернению фотографической эмульсии носит название фотографической фотометрии. Законы фотографической фотометрии лежат в основе фотографических методов спектрального анализа, использующих фотографическую эмульсию для регистрации спектров. Мерой интенсивности спектральных линий служит почернение изображений этих линий в фотографической эмульсии. Почернения фотографического изображения измеряют приборами, носящими название денситометров (денсис—плотность) и микрофотометров. [c.168]

Относительные содержания элементов определяют по величине относительной интенсивиости их линий. Пересчет почернений спектральных линий к интенсивностям осуществляют по характеристической кривой эмульсии. Абсолютные содержания элементов устанавливают либо расчетным путем, если известна сумма р. з. э. в пробе, либо непосредственно методом доме-нишания элемента сравнения из отдельной навески 1 . [c.143]

Интенсивность и ширина спектральных линий. Спектральная линия представляет собой, грубо говоря, изображепие щели в лучах данной длины волны. На фотографии спектра лиипя комбппационного рассеяния представляет собой узкую полоску, почерпенпе которой спадает к краям. Легко заметить, что в спектре имеются линии, различающиеся почернением, а также такие, которые имеют приблизительно равные почернения, но различную ширину, т. е. различную протяженное гь но спектру. [c.147]

Интенсивность спектральной линии измеряется по степени почернения фотографической пластинки в месте спектральной линии. Степень почернения зависит от глубины фотореакции, прошедшей в эмульсии фотографической пластинки. Глубина же реакции зависит прежде всего от количества фотонов света, попавших на данное место пластинки. Определение степени почернения производится по следующей схеме измеряется интенсивность света, прошедшего от некоторого источника света через незасвеченное место фотопластинки /ц и через засвеченное спектральной линией место J [c.63]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология