Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Спектроскопия ионной нейтрализации (СИН)

    Спектроскопия ультрафиолетовых фотоэлектронов дифракция медленных электронов спектроскопия Оже-электро-нов спектроскопия ионной нейтрализации спектроскопия начального потенциала ионного источника [c.151]

    При взаимодействии атомов металлоидов, например Н, О, 8 и Ы, с поверхностью характер связывания различается. Для атомов Н, 5 и N связывание, несомненно, имеет существенно ковалентный характер. Кислород же в определенных условиях, как установлено, заряжается отрицательно. Почти всегда задача осложняется недостаточным знанием объемной конфигурации системы адсорбат—адсорбент. Тем не менее хорошо известно, что изменение работы выхода металла при такой адсорбции никогда не превышает 2 эВ. Поэтому, если только адатом не расположен очень близко к плоскости поверхностных атомов металла, так что эффективная длина связи поверхностного диполя в направлении, перпендикулярном поверхности, очень мала, изменение работы выхода не согласуется с предположением об образовании адсорбированных ионов. Однако, по крайней мере в одном случае, а именно при адсорбции кислорода на грани (100) никеля, близкое к ионному состояние весьма вероятно. Перегруппировка поверхностных атомов никеля способствует тому, что адатом располагается почти в одной плоскости с поверхностными атомами металла, и данные метода спектроскопии ионной нейтрализации, или СИП (относительно орбитальной энергии кислорода), показывают наличие у кисло-рода значительного отрицательного заряда [21]. [c.24]


    Спектроскопия ионной нейтрализации (СИН) [c.168]

    Метод спектроскопии ионной нейтрализации, разработанный Хагструмом [12], является ветвью оже-спектроскопии. В СИН исследуемое вещество бомбардируют вместо электронов или фотонов моно-энергетическими ионами благородных газов. Ионы нейтрализуются, захватывая электроны с поверхностного слоя, а высвобождаемая при этом энергия оказывается достаточной для выброса оже-электрона. Спектроскопию ионной нейтрализации, по-видимому, можно считать истинно поверхностным методом исследования [7, 15]. Она использовалась для очистки металлических поверхностей с целью изучения зонной структуры [13] и поведения молекулярных орбиталей в процессе хемосорбции [14, 15]. [c.168]


Смотреть страницы где упоминается термин Спектроскопия ионной нейтрализации (СИН): [c.148]    [c.149]    [c.160]   
Смотреть главы в:

Фотоэлектронная спектроскопия -> Спектроскопия ионной нейтрализации (СИН)




ПОИСК





Смотрите так же термины и статьи:

Нейтрализация



© 2025 chem21.info Реклама на сайте