Шейблинга

Схема диффузиометра Шейблинга [14] приведена на рис. 134. Два луча, разделенные зеркалом Жамена 5 (ср. гл. II), проходят через кювету 5 и собираются вторым зеркалом. Картина интерференции наблюдается в плоскости О. Если разность концентраций в обоих отсеках кюветы непрерывно меняется, меняется [c.282]

Принцип Шейблинга применим, однако, лишь для неподвижной и симметричной границы (заметим, что при суперпозиции нескольких таких диффузионных границ метод позволяет определить несколько средних коэффициентов диффузии и таким образом количественно оценить полидисперсность — ср. [15]) и не дает кривой градиента, как рефрактометрические методы. [c.284]

Регистрируя расстояния интерференционных максимумов или минимумов от центрального изображения щели (рис. 136), можно по формуле (XIII, 10) найти распределение показателя преломления в кювете и рассчитать О. Впрочем, по аналогии с методом Шейблинга, для расчета О достаточно фиксировать изменение во времени разности показателей преломления в двух определенных слоях кюветы или, что эквивалентно, измерять смещение, с течением времени, одной определенной полосы. Расстояние /-Й полосы от центрального изображения в момент I равно [c.286]

Чувствительность описанных выще методов убывает, есте-ствеппо, по мере разбавлекия растворов, и существенные трудности возникают, когда разность показателей преломления в различных слоях кюветы оказывается настолько мала, что вызываемая ею разность хода меньше одного порядка (предел чувствительности диффузиометра Шейблинга — половина длины волны). С другой стороны, наиболее интересные процессы происходят именно при максимальных разбавлениях, когда гидродинамическим взаимодействием диффундирующих частиц можно пренебречь. В равной мере при измерениях дифференциальных коэффициентов диффузии желательно свести к минимуму разность исходных концентраций раствора в обоих отсеках кюветы. Указанные трудности удается преодолеть методами поляризационной интерферометрии существенной их особенностью является искусственное создание дополнительной разности хода лучей до их прохождения через диффузионную кювету. Как мы покажем ниже, таким образом удается получить (внешне это напоминает искривление рэлеевских полос, рассмотренное в предыдущем параграфе) искривленные интерференционные полосы, описывающие распределение показателя преломления в кювете. [c.289]

Применение интерферометра Жамена Диффузиометр Шейблинга [c.372]

Диффузометр Шейблинга. В схеме диффузометра [302] в качестве регистрирующей системы используется интерферометр Жамена. Два луча, разделенные зеркалом Жамена, проходят через кювету симметрично относительно границы раздела раствор—растворитель на расстоянии а один от другого. Фотоэлектрическое устройство измеряет разность концентраций — вернее, изменение во времени разности показателей преломления — в двух фиксированных точках кюветы, расположенных симметрично по отношению к первоначальной границе. Эта разность выражается непосредственно в количестве интерференционных полос. Если расстояние между выбранными точками равно а, то из закона Фика следует, что [c.162]

Чувствительность описанных выше методов убывает, естественно, по мере разбавления растворов, и существенные трудности возникают, когда разность показателей прело ллеиия в различных слоях кюветы оказывается настолько мала, что вызываемая ею разность хода меньше одного порядка (предел чувствительности диффузометра Шейблинга —половина длины волны). Указанные трудности удается преодолеть методами поляризационной интерферометрии. [c.163]

В схеме диффузометра Шейблинга [21] два луча, разделенные зеркалом Жамена, проходят через кювету симметрично относительно границы раздела раствор — растворитель на расстоянии а один от другого. Если разность концентраций в местах прохождения пучков непрерывно меняется, то меняется картина интерференции на экране, так как единственной причиной разности оптического пути разделенных лучей явится эта переменная разность концентраций, и лучи будут достигать плоскости экрана, находясь попеременно то в фазе, то в противофазе. Соответственно, если расположить в плоскости экрана фотоэлемент с умножителем и регистрировать гальванометром-самописцем силу фототока, то он выпишет синусоиду переменного периода, расстояния между максимумами которой (и вообще точками в одинаковой фазе) будут соответствовать времени изменения разности концентраций на одну интерференционную полосу. [c.297]

Лринцип Шейблинга применим, однако, лишь для неподвижной и симметричной границы (заметим, что при суперпозиции нескольких таких диффузионных границ метод позволяет определить несколько средних коэффициентов диффузии и таким образом количественно оценить полидисперсность — ср. [22]) и не дает кривой градиента Vn, как рефрактометрические методы, или кривой п(х). Чтобы получить кривую Vn, необходимо перемещать интерферометр вдоль кюветы. Применительно к микроэлектрофорезу соответствующий метод описан в работах [23, 24]. [c.298]

Чувствительность описанных выше методов убывает, естественно, по мере разбавления растворов, и существенные трудности возникают, когда разность показателей преломления в различных слоях кюветы оказывается настолько мала, что вызываемая ею разность хода меньше одного порядка (предел чувствительности диффузометра Шейблинга — половина длины волны). С другой стороны, наиболее интересные процессы происходят именно при максимальных разбавлениях, когда гидродинамическим взаимодействием диффундирующих частиц можно пренебречь. В равной мере при измерениях дифференциальных коэффициентов диффузии желательно свести к минимуму разность исходных концентраций раствора в обоих отсеках кюветы. Указанные трудности удается преодолеть методами поляризационной интерферометрии. [c.303]

Принцип Шейблинга применим однако лишь для неподвижной и симметричной границы (заметим, что при суперпозиции нескольких диффузионных гауссовых кривых метод позволяет определить несколько средних и таким образом оценить полидисперсность. [2]) и не дает распределения Уп как рефрактометрические методы, или кривой п х). Чтобы получить кривую Ул, необходимо перемещать интерферометр вдоль кюветы. [c.285]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология