Уодсворта установка

Рис. 5.15. Стигматическая установка Уодсворта для спектрографа с вогнутой решеткой

Рис. 5.16. Большой спектрограф с решеткой, снабженный установкой Уодсворта. (Источник возбуждения и фотокамера находятся на противоположных концах.)

Рис. 8.16. Установка призмы по схеме Фукса—Уодсворта

Фукс предложил 60° призму ставить вместе с плоским зеркалом (эта установка была названа именем Уодсворта). Луч, прошедший в минимуме отклонения и отраженный зеркалом, не изменяет своего направления при сканировании спектра, осуществляе- [c.69]

Рис. 8.17. Варианты установки Фукса—Уодсворта

Основное преимущество установки Уодсворта — стигматич-ность изображения спектральных линий, что имеет особое значение при фотометрических работах со ступенчатым ослаблением, а также при совместной работе решетки с эталоном Фабри—Перо. [c.93]

Один из первых зарубежных спектрографов высокой разрешающей силы со скрещенной дисперсией [19.3] был изготовлен с внутренней установкой вспомогательного диспергирующего элемента, которым служила вогнутая дифракционная решетка 600 штрих/мм, 150x100 мм, с радиусом кривизны 6400 мм. Решетка была установлена по схеме Уодсворта, поэтому фокусное расстояние спектрографа составляло 3200 мм. [c.173]

Указанный недостаток отсутствует в установке Уодсворта для вогнутой решетки установка (рис. 103) включает сферическое зеркало, которое собирает лучи от источника, прошедшие через щель 2, в параллельный пучок. В этих условиях вогнутая решетка фокусирует как перпендикулярные, так и параллельные составляющие луча в одной и той же точке. Решетка 4 и камера 5 в спектрографе Уодсворта монтируются на негнущемся штативе, который может вращаться вокруг точки опоры, расположенной ниже центра решетки. Когда штатив вращается, камера должна передвигаться вместе с ним, поддерживая спектр на фокусном расстоянии. Внешний вид спектрографа Уодсворта изображен на рис. 104. [c.137]

Рис. 104. Спектрограф с решеткой, снабженный установкой Уодсворта.

Рассеянное излучение анализируется при помощи либо спектрографа (фотографическая регистрация), либо сканирующего спектрометра (фотоэлектрическая регистрация). При работе со сканирующим спектрометром возникают трудности при измерении частот, особенно в протяженном спектре (см., например, обсуждение этой проблемы в случае ИК-спектроскопии высокого разрешения в работе [78]), поэтому в структурных исследованиях преимущественно применяют фотографические приборы. С другой стороны, при исследовании относительной интенсивности полос в спектрах КР с большим успехом используют сканирующие спектрометры [79]. Дифракционные приборы с высокой дисперсией и высоким разрешением пригодны для большинства исследований в области спектроскопии КР. Причем используются как стандартные приборы с вогнутой решеткой в установке Уодсворта или Игля [80, 91], так и специально созданные приборы с плоской дифракционной решеткой [82—85]. Для уменьшения требуемых экспозиций весьма эффективно перед фотопластинкой помещать цилиндрическую линзу [86], дающую изображение объектива камеры на фотоэмульсии. Типичными фотоматериалами, используемыми в спектроскопии КР, служат пластинки Кодак ЮЗа-О, ЮЗа-Р, Па-0 (выдержанные перед экспонированием при температуре 61 °С в течение 24 ч) и 1а-Е, IIIa-J (выдержанные при температуре 50 °С в течение 20 ч). [c.187]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология