Дифракция Брэгга

Рентгеновские спектрометры с волновой дисперсией основаны на принципе дифракции Брэгга. [c.72]

Рис. 8.3-9. Принцип дифракции Брэгга, используемой в спектрометре с волновой дисперсией.

Таким образо. т, получены выражения. чля величин к и, следовательно, Е, для которых выполняется условие дифракции Брэгга в любой кристаллической структуре. [c.69]

Получение изображения на основе дифракции Брэгга. . . [c.7]

ПОЛУЧЕНИЕ ИЗОБРАЖЕНИЯ НА ОСНОВЕ ДИФРАКЦИИ БРЭГГА [c.296]

Подставим (11.67) в (11.65). При этом мы получаем интегральное уравнение поля дифрагированной волны для каждого значения толщины Так как нас в случае дифракции Брэгга интересует поле отраженной волны на входной поверхности кристалла, то, полагая = О и учитывая явный вид функций и [(11.62), (11.63)], получаем искомое интегральное уравнение [c.313]

Легко проверить, что, подставляя (11.75) в (11.74) и выполняя интегрирование сначала по 2 и затем по а, мы получим результат, который в точности соответствует результату классической динамической теории для дифракции Брэгга. [c.314]

Таким образом, формулы (11.72) — (11.74) полностью решают поставленную задачу определения поля отраженной волны на входной поверхности кристалла при произвольном распределении падающей волны в случае дифракции Брэгга. [c.314]

Рассмотрим дифракцию Брэгга в случае однородного изгиба толстого кристалла много больше длины обычного поглощения, т. е. [c.319]

Закон дифракции Брэгга-Вульфа 43 [c.43]

Закон дифракции Брэгга-Вульфа [c.43]

Для кубического кристалла показать, что из условий Лауэ следует закон дифракции Брэгга-Вульфа. [c.57]

ЗАКОН ДИФРАКЦИИ БРЭГГА [c.344]

Запишите уравнение дифракции Брэггов и объясните значение каждого входящего в него члена. Почему расстояние между соседними атомными слоями в кристалле обратно пропорционально синусу угла дифракции [c.184]

Рентгеновские лучи рассеиваются в кристаллах электронами, поэтому их можно считать источником рентгеновских лучей при дифракции. Брэгг ввел предположение, согласно которому рентгеновские лучи отражаются от набора плоскостей в кристалле. Для данного набора плоскостей hkl) отражение пучка монохроматического излучения происходит только под определенным углом, который определяется длиной волны рентгеновских лучей и расстоянием между плоскостями в кристалле. Эти переменные связаны уравнением Брэгга, которое можно вывести, воспользовавшись рис. 19.7, где горизонтальные линии представляют собой набор плоскостей в кристалле, разделенных расстоянием d. Плоскость AB перпендикулярна пучку падающих параллельно монохроматических рентгеновских лучей, а плоскость LMN — отраженным лучам. По мере изменения угла падения 0 отражение будет наблюдаться только тогда, когда волны находятся в фазе у плоскости LMN, т. е. когда разность расстояний между плоскостями AB и LAIN, измеренная вдоль лучей, отраженных от различных плоскостей, есть целое число, кратное длине волны. Это происходит, когда [c.572]

Рентгеновский спектрометр с волновой дисперсией (ВД) [8.3-7 основан на принципе дифракции Брэгга. На рис. 8.3-9 изображен параллельный пучок рентгеновского излучения в длиной волны Л, падающий на кристалл под углом в. Рентгеновская волна упруго рассеивается в первой плоскости кристалла (а). Образующаяся дифракционная волна имеет ту же длину волны и отражается под углом в. То же происходит на второй и последующих плоскостях кристалла. Однако излучение, отраженное от второй плоскости (6), пройдет расстояние на xyz = 2d sin в больше, чем взаимодействующее с первой плоскостью. Таким образом, рентгеновские волны, которые совпадали по фазе перед отражением, могут не совпадать по фазе после отражения и тогда интенсивность дифрагировахпюго пучка будет близка к нулю. Интенсивность дифраги-рова1нюго пучка отличается от нуля только в том случае, если разность хода составляет целое число длин волн (конструктивная интерференция, как пока-за Ю на рис. 8.3-9). Это приводит к условию для дифракции Брэгга [c.72]

После выделения с помощью дифракции Брэгга рентгеновского излучения со специфической длиной волны, нам необходимо детектировать это излучение, т. е. определить интенсивность путем счета фотонов в течение определенного периода времени. Это может быть сделано с помощью пропорционального проточного счетчика или с помощью сцинтилляциониого счетчика. [c.74]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология