Аберрация искривление поля

Другая аберрация, которая наблюдается при использовании простых линз — искривление поля изображения. Изображение, образованное простой линзой, не лежит строго в плоскости, поэтому чтобы получить на плоскости резкое изображение, необходимо скорректировать кривизну поля изображения. [c.227]

Небольшую аберрацию, называющуюся искривлением поля (длинные прямые линии становятся искривленными), обычно не корректируют, так как на практике чаще всего приходится работать с небольшими участками. Однако искривление поля может быть серьезной помехой при микрофотографировании, поскольку здесь обычно работают с большими поверхностями. В таких случаях используют объективы плоской поверхности, однако они дороги и их стоит применять только в тех случаях, когда приходится часто иметь дело с микрофотографированием. [c.35]

Используется искривленная граница магнитного поля, позволяющая исключить угловые аберрации второго порядка в области больших масс. Расчеты выполнены Робинсоном 0957) и Халлом (1964). Прибор можно использовать с узкими щелями для исследования органических веществ или с широкими щелями для анализа твердых тел при помощи искрового источника ионов. [c.100]

Абберрацни — это малейшие отклонения световых лучей от идеального направления, в соответствии с правилами геометрической оптики. Они возникают по разным причинам, имеют различные физические принципы и требуют соответствующей коррекции. Одна группа аберраций возникает из-за того, что потоки света различной длины волны фокусируются на различных расстояниях от линзы. Поскольку наличие цветовых оттенков изобра-жепня в производстве фотошаблонов не играет никакой роли, поэтому исключить появление абберраций, обусловленных различием длин волн светового пучка, можно применением монохроматического света. Эмиссионный спектр зеленого цвета паров ртути на длине волны 5460 А имеет достаточно высокую интенсивность и находится в области спектра, где фотографические эмульсионные пластины имеют максимальную чувствительность. Другая группа аберраций возникает из-за того, что лучи проходят на некотором удалении от оптической оси линз и главный фокус отклоняется от идеального центра в плоскости изображения. Оптические линзы высокого качества изготавливаются таким образом, чтобы снизить до минимума возникаюшие аберрации и, в частности, аберрации для определенного диапазона длин волн. Однако даже в очень хорошо откорректированных линзах остается какая-то аберрация, проявляющаяся в виде искривления изображений, астигматизма, искривления поля изображения. И, главным образом, из-за последнего вида аберрации общин вид изображения в значительной степени отклоняется от идеального в фокальном плане. Незначительное смещение вдоль оптической оси и вблизи нее возрастает по мере увеличения расстояния от центра. Площадь вокруг оптической оси в плоскости изображения, в пределах которой сохраняется резкость изображения, зависящая от глубины резкости линз, называется рабочим полем изображения. Так как глубина резкости пропорциональна то из этого следует, что рабочее поле изображения объективов тем больше, чем меньше числовая апертура, т. е. если при этом исключаются самые периферийные потоки лучей. Более того, поскольку числовая апертура объективов обратно пропорциональна фокусному расстоянию, постольку размеры рабочего поля изображения также зависят от фокусного расстояния. Последняя зависимость имеет практическое значение, в частности, для ориентировочных оценок. Ранее было установлено, что размеры рабочего поля изображения для хороших объективов обычно составляет 1/5 их фокусных расстояний [27, 31, 33], а рабочее поле микроскопических объективов и того меньше и обычно составляет менее 1/10 фокусного расстояния [27, 31]. Это и объясняет ранее установленную проблему сочетания высоких коэффициентов уменьшения с большими размерами рабочего поля изображения. [c.575]

Системы с плоской поверхностью изображения. В рассмотренных выше схемах с мениском, афокальным компенсатором и пластинкой Шмидта кривизна поля препятствует применению фотопластинок. Искривление поверхности изображения, как и у линзовых объективов, может быть устранено с помощью полевой линзы, установленной вблизи фокальной плоскости системы. Необходимое фокусное расстояние полевой линзы может быть вычислено по формуле (111.29). Так как у всех перечисленных систем Siv = —1, а вторичный спектр у них практически отсутствует, в (111.29) следует принять A5iy = +1, и тогда = f/n, т. е. линза оказывается собирательной. Эта линза, строго говоря, вносит небольшой хроматизм положения, кому и астигматизм, что должно приниматься во внимание при расчете системы в целом. Кроме того, полевая линза оказывает заметное влияние на аберрации высших порядков наклонных пучков, что особенно сказывается при больших относительных отверстиях (1 1,5 и выше). Поэтому полезное поле зрения систем с полевой линзой меньше, чем без нее (оно не превышает 8—10°). [c.113]

Объективы. Наряду с диспергирующим элементом практическую разрешающую способность прибора определяет конструкция и качество объективов. Требования к объективам спектральных приборов отличаются от требований к большинству объективов других оптических приборов. Так, папример, устранение хроматической аберрации в спектральных приборах не обязательно, как не обязательно добиваться абсолютно плоского поля зрения небольшие искривления фокальной поверхности допустимы, а в спектрографах, рассчитанных для работы с пленкой, кривая фокальная поверхность представляет существенные преимущества при конструировании прибора, так как позволяет удобнее совмещать пленку с фокальной поверхностью. Только в приборах с большим относительным отверстием (1 5 и больше) приходится употреблять сложные мпоголинзовые объективы. В большинстве приборов для спектрального анализа удается обходиться объективами из одной-двух линз, иногда употребляется зеркальная оптика. [c.63]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология