Метод широкой щели

Второй упрощенный метод определения эквивалентной ширины линии, так называемый метод широкой щели [13.3], не требует интегрирования контуров линий поглощения. В этом случае используется независимость измеренной величины. 4 от разрешающей способности прибора. Операция интегрирования световых потоков по контуру линии проводится широкой выходной щелью монохроматора, через которую на фотоэлектрический приемник попадает участок сплошного спектра с линией поглощения в середине. [c.343]

Рис, 13.7. Схема установки для измерения эквивалентной ширины спектральной линии по методу широкой щели . [c.344]

Рис. 13.8. Регистрограмма, полученная при измерениях по методу широкой щели а — до введения паров 6 — при нагревании печи.

Для метода широкой щели формула учета крыльев линии имеет вид [c.349]

Для производства более толстых пленок был разработан так называемый метод широкой щели в мундштуке машины. Этим способом изготовляются плоские листы из термопластов, обладающих различной вязкостью расплава. [c.121]

Производство пленок как иу-гем выдувания, так и методом широкой щели , выдувание полых изделий, а также экструзия труб- [c.123]

Несложная электрическая схема может дать возможность записывать одновременно сигнал 1 и разностный сигнал 1 — 1 . Таким образом, разностный сигнал будет растянут на всю шкалу прибора и точность его измерения существенно возрастет. Описанная схема измерений по методу широкой щели — одна из возможных. В некоторых случаях для исследования спектра поглощения со многими линиями более удобным может оказаться метод сканирования спектра одной широкой щелью. [c.336]

В [425, с. 480/504] методом лазерного детектирования наблюдали поле наклонного преобразователя на боковой поверхности, вблизи которой расположен преобразователь, и дифракцию УЗ-волн на препятствии - узкой щели, имитирующей трещину (рис. 2.105). Результаты подобны мультипликативной съемке. Справа представлена картина дифракции на широкой щели, непрозрачной для УЗ-волн, слева -дифракция на узкой щели, прозрачной для УЗ-волн. [c.290]

Следует отметить, что очень узкие щели не могут быть точно измерены вышеописанным методом, так как число минимумов уменьшается. Крайний случай измерения соответствует г = 1 (рис. 37) этому соответствует наименьшая, еще возможная для измерения ширина щели. При слишком широких щелях счет количества минимумов затруднителен, так как их число становится большим и поэтому легко ошибиться в счете. [c.69]

Другой метод состоит в измерении двух напряжений, из которых каждое соответствует примерно 50% интенсивности ионного тока данного пика искомое напряжение получается суммированием двух величин. Даже в том случае, когда выходная щель равна по ширине входной, установить точное положение максимума затруднительно, поскольку наклон в этой области мал. Было показано [184], что распределение интенсивности ионов по входной щели (имеющей ширину около 0,25 мм) неоднородно в масс-спектрометрах с простой фокусировкой и при использовании источников с электронной бомбардировкой возникает уменьшенное изображение области ионизации вблизи входной щели. Это вызывает резкий пик (выброс) в распределении интенсивности по ширине входной щели и приводит к эффекту более узкой виртуальной щели. Дополнительное уменьшение выходной щели обеспечивает получение резко очерченного пика, облегчает установление положения максимума и позволяет увеличить разрешающую способность секторного прибора с радиусом 150 мм примерно в 1000 раз. Более удовлетворительный метод установления положения максимума состоит в графическом изображении производной пика этот метод широко применяется в нашей лаборатории. Так как скорость изменения кривизны больше в максимуме (если выходная щель не шире входной), то положение последнего легче определить, особенно когда величина произвол- [c.55]

В абсорбционном методе при использовании спектрофотометров такие помехи встречаются редко. Можно, например, указать, что при определении меди по линии 327,4 ммк, при наличии в медном полом катоде примеси серебра и при широкой щели монохроматора, не отделяющей линию меди от линии серебра 328,1 ммк, прибор будет давать отсчеты и при введении в пламя раствора соли серебра з. Для устранения таких помех применяют более узкие щели, [c.187]

Определяли также содержание Си, Ре, Сг в желатине. Образцы весом 10 г растворяли в 10 мл концентрированной НС1 и разбав-ля.ли до объема 100 мл водой. В этом случае использовали метод добавок, а горелка с широкой щелью позволила предотвратить засорение. [c.172]

Прецизионный метод определения периодов решетки применительно к весьма совершенным кристаллам был развит В. Бондом (1960 г.). Метод основан на точном (до 5-10 град) измерении угла поворота кристалла вокруг оси гониометра из отражающего положения по одну сторону падающего пучка лучей к отражающему положению по другую сторону пучка (угол 2-0 ). В этом случае счетчик с широкой щелью используют только для детектирования момента достижения максимума интенсивности при повороте образца. Точность измерения пе- [c.274]

Для расчета АФ спектральных приборов применяются численные методы [6]. При широких щелях (но крайней мере, в несколько раз шире нормальной) они базируются на представлениях геометрической оптики и связаны с расчетом достаточно большого количества лучей с помощью ЭВМ. [c.101]

С. б. п.-шкалу, удовлетворяющую специфическим требованиям, можно получить, если сфотографировать на одной фотопластинке при одинаковых экспериментальных условиях один под другим два спектра железа. Один из этих спектров фотографируют с узкой щелью и используют для метода равных почернений. Другой спектр регистрируют с широкой щелью, что позволяет фотометрировать почернения линий. В спектре, сфотографированном с широкой щелью, отыскивают такие спектральные линии, для которых преобразованные почернения , измеренные на фотометре, точно соответствуют указанным выше значениям Р. Для изготовления с. б. п.-шкалы с помощью спектропроектора проектируют спектр железа, полученный с узкой щелью. Затем выбранные спектральные ли- [c.54]

Плотность чистого аргона, полученного искровым методом Кавендиша и методом Рамзая с магнием, была равна 19,7 и 19,9 соответственно. Для выявления степени удаления азота наиболее надежным было показание спектроскопа отсутствие даже в случае широкой щели характерной желтой линии азота принималось как решающее доказательство. [c.27]

Для практического применения описываемого метода построения характеристической кривой нет необходимости полного воспроизведения контура исследуемой спектральной линии. При использовании микрофотометра (например, типа МФ-2) необходимые для построения кривой экспериментальные данные могут быть получены гораздо проще и точнее, если придерживаться следующей методики измерения. После проверки параллельности линии на рассматриваемой спектрограмме и щели фотометра измеряют величину Г, характеризующую ее неискаженный профиль в шкале интенсивности. Для этого можно воспользоваться, например, линией спин-дублета (или одним из других, изложенных выше методов) и найти ширину /С 1-линии как разность двух показаний нониуса микро метрического винта, осуществляющего перемещение каретки фотометра, несущей спектрограммы. Измерение ширины линии проводится на том уровне почернения, который соответствует почернению пика /(аг-линии. При работе с приборами обычной дисперсии эта величина оказывается порядка 0,1—0,2 мм и может быть измерена на фотометре с точностью 2—3%, Как показывает опыт, изменение ширины прецизионной щели фотометра в пределах 0,2—0,5 мм не приводит к заметным изменениям результатов измерения. Поэтому имеет смысл пользоваться более широкими щелями, использование которых делает результаты фотометрирования мало зависящими от неравномерности распределения зерен фотоэмульсии. В наших опытах применялась щель шириной 0,4 мм при увеличении р двадцать раз. [c.53]

Основное различие между формованием нитей и пленок заключается в разной конструкции фильер. При производстве пленок применяются фильеры со сплошной широкой щелью, через которую вытекает раствор или расплавленная масса. В отличие от волокна, пле ки, получаемые из растворов, как правило, содержат определенное количество пластификаторов (15—20% от веса пленки). Пластификатор повышает эластичность пленки, благодаря чему улучшаются ее эксплуатационные свойства. Без пластификатора в большинстве случаев не удается получить эластичные пленки, выдерживающие многократные деформации. Однако при получении пленки из расплава применение пластификатора излишне ввиду высокой эластичности полимеров, используемых при этом методе формования. [c.675]

Измерение интенсивностей линий комбинационного рассеяния практически упрощается в значительной степени благодаря тому, что нас всегда интересует лишь отношение интенсивностей линий вследствие этого множители, общие для всех линий, не играют никакой роли. Это наиболее аффективно могло бы быть использовано при измерении интегральных интенсивностей линий. Действительно, можно легко показать, что отношение интегральных интенсивностей спектральных линий не зависит от параметров спектральной установки. Вместе с тем отношение интегральных интенсивностей линий комбинационного рассеяния не зависит от параметров возбуждающего источника света (ширины и формы возбуждающей линии). Использование интегральных интенсивностей могло бы, следовательно, значительно упростить задачу достижения воспроизводимости данных, получаемых в разных условиях опыта. Однако при использовании интегральных интенсивностей мы сталкиваемся с той трудностью, что для измерения этих величин необходимо работать с довольно широкой щелью спектрографа (в фотографическом методе) или [c.13]

ВЫХОДНОГО коллиматора монохроматора (в фотоэлектрическом методе). В том и другом случае для измерения интегральных интенсивностей линий с собственной шириной 5—6 см приходится применять щель, ширина изображения которой на спектре должна составлять около 30 см . При этом значительно понижается разрешающая способность, достигаемая с данным прибором, что соответственно затрудняет возможность молекулярного анализа. Кроме того, применение широкой щели увеличивает опасность перекрытия линий даже при изучении индивидуальных веществ и, следовательно, затрудняет определение /инт многих линий. [c.14]

В качестве примера опишем установку для измерений эквивалентной ширины по методу широкой щелй 113.3]. Схема ее показана на рис. 13.7. [c.343]

Выделим три способа регистрации 1) фотографирование и последующее фотометрировапие линии с помощью микрофотометра с узкой щелью, 2) фотоэлектрическое сканирование контура и 3) метод широкой щели . Будем считать, что случаю 1) соответствует прямоугольный аппаратный контур с шириной, равной спектральной ширине ЬК входной щели спектрографа. Поправку к измеренной эквивалентной ширине А вычисляют по формуле [c.349]

Выделим три способа регистрации 1) фотографирование и последующее фотометрироваиие линии с помощью микрофотометра с узкой щелью, 2) фотоэлектрическое сканирование контура и 3) метод широкой щели . [c.341]

Существует нескол1.ко общеизвестных методов, позволяющих повысить соотношение сигнал/шум. Самое доступное средство при использовании обычной заводск()й аппаратуры — работа при широких щелях. Раскрытие щели увеличивает полезный сигнал, в то время как шумы приемного устройства осгаются неизменными. Оптимальное увеличение ширины щели определяется степенью разрешения прибора. [c.250]

Иногда для уплотнения щелей и зазоров применяется свинец. Этот метод широко используется при строительстве метрополитена, где зазоры между отдельными сегментами чугунных тюбингов зачекани-ваются свинцом. Защита получается отличной. [c.259]

Многие компании, производящие синтетические волокна, используют метод атомной абсорбции для определения содержания элементов в волокнах. Часто данные этих анализов являются секретом фирм, и их публикуют очень неохотно. Однако некоторая информация по этому вопросу опубликована Славиным [350]. Было указано, что следы металлов можно определять в волокнах после кипячения 1 г образца в 0 мл концентрированной Н2804. Разбавление полученной вытяжки до 50 мл и применение метода добавок позволяет, по-видимому, получить надельные результаты. Во избежание засорения горелки рекомендуется использовать трехщелевую горелку или горелку с широкой щелью. [c.190]

Исследование спектров в обычной кювете постоянной толщины носит нолуколичественный характер, для количественного анализа следует применять специальные методики. Они были подробно описаны в статье [1]. Метод растяжки шкалы интенсивностей дополнительно увеличивает возможности спектрального прибора. Увеличение чувствительности прибора часто бывает необходимым при работе с микрокюветами. При исследовании некоторых образцов используются фильтры, диафрагмы, широкие щели и интенсивные источники. Их достоинства и недостатки описаны в гл. 1. [c.142]

Более правильным был бы другой способ определения Идея его состоит в том, чтобы по возможности полностью исключить влияние факторов, искажающих истинный контур линий КРС. Именно, следует выбрать возбуждающую линию и аппаратную функцию такими, чтобы их ширины были намного меньше ширины истинного контура линии КРС. Тогда видимый ее контур бу- дет почти совпадать с истинным, его высота в макси- муме (в шкале интенсивностей) будет соответствовать а площадь, ограниченная контуром линии,— / . Метод измерения в [10] был основан на описанном принципе насыщения при широких щелях. Измерения ыли выполнены нри следующих условиях ширина линии ртути (лалшы низкого давления) около 1 см , спектральная ширина входной щели примерно 5 см фотоэлектрическая регистрация для каждой линии КРС выходную щель монохроматора раскрывали до прекращения роста показаний прибора (горизонтальный участок) это максимальное показание и соответствовало I [c.17]

Формование пленок из полимерных матерваяов может осуществляться двумя методами рукавным — выдавливание расплава через кольцевой зазор — или плоскощелевым — выдавливание расплава через широкую щель формующей головки. Последний метод используется также при формовании листа. [c.30]

Для измерепия интегральных интенсивностей, как указано выше (в главе III), наиболее быстрым и. удобным является фотоэлектрический метод. Этот метод, в принципе, мог бы быть применен и для измерения величин /о, однако в настоящее время подобные измерения практически невыполнимы, так как при узкой выходной щели монохроматора, которую нужно применять в этих измерениях, чувствительность фотоэлектрического метода оказывается недостаточной. Поэтому для измерения интенсивностей в максимуме линий оказывается необходимым применять фотографический метод. В соответствии с этим мы в последующем брали для /о значения, полученные фотографическим методом, и для /инт — значения, полученные фотоэлектрическим методом. Конечно, можно также определять фотографически, применяя достаточно широкую щель спектрографа (ширина изображения щели должна составлять около 30 см" на спектре). Мы предпочитаем фотоэлектрический метод определения /ивт, поскольку он дает большую экономию времени при съемке и обработке спектрограмм лаборатории, не располагающие фотоэлектрической аппаратурой, могут вести указанные измерения с обычным спектрографом ИСП-51. [c.72]

Проверка прямолинейности и плоскостности деталей линейками производится методом световой щели (на просвет), методом линейных отклонений (проверяют шупо.ч зазоры между плоскостью и линейкой, установленной на точные подкладки) и методом пятен или на краску (для этого используют линейки с широкой рабочей поверхностью). [c.107]

При измерении углов отражения дифрактометрическим методом необходимо знать положение нуля счетчика, так как, в отличие от метода поликристалла с фотографической регистрацией, в дифрактометре регистрируется только одна половина дифракционного спектра. В хорошо отъюстированном дифрактометре плоскость образца совпадает с осью гониометрического устройства и с прямой линией, проходящей через центры коллимирующих щелей, формирующих первичный пучок, фокус трубки и центр приемной щели счетчика. Существует несколько методов калибровки дифрактометра по эталонам, по максимуму пучка, проходящего через узкую щель, установленную на оси гониометра, и т. д. [10]. Применение для калибровки эталонных веществ не обеспечивает наилучшей точности. В настоящее время широкое распространение получил метод калибровки, предложенный Турна-рп. Использование метода Турнари дает возмонгность определить положение нуля счетчика с точностью не хуже, чем 0,01°. [c.121]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология