Фокусировка геометрический предел разрешени

Термины разделение и разрешающая сила весьма часто встречались выше. Принято считать, что дублет разрешается , когда его составляющие разделены , и что трудность разделения, или разрешающая сила, необходимая для разделения двух соседних пиков, определяется величиной М/АМ. В гл. 1 было показано, что Демпстер вывел геометрический предел разрешения в приборе с простой фокусировкой М/ДМ = Rl Si+ S . Он принял, что совершенное изображение входной щели шириной Si просматривается через выходную щель шириной и что идеальное разрешение пиков будет иметь место в том случае, когда они будут полностью разрешены так, что регистрируемая интенсивность между пиками мгновенно понижается до нуля. Несовершенная форма пика делает такое определение непригодным, поскольку различные аберрации приводят к увеличению ширины пика, рассеяние на молекулах газа вызывает образование хвостов с каждой стороны пика (интенсивность ионного пучка асимптотически приближается к нулю с каждой стороны массового пика). Вследствие этого необходимо видоизменить приведенное выше выражение, что может быть сделано различными способами. Один из предельных случаев формулируется следующим образом два равных пика высотой Н могут считаться разрешенными, когда высота фона ДЯ между пиками меньше 0,00Ш (см. рис. 19). В других случаях пики считаются разрешенными при ДЯ менее 0,01Я, 0,1Я или 0,5Я. Трудность выбора критерия обусловлена тем, что в масс-спектрометре нельзя определить разрешающую силу по аналогии с физической оптикой, где она основывается на разнице интенсивности света, ощущаемой человеческим глазом. Поэтому, говоря об оптических изображениях, можнЬ сказать, что они разрешены, когда они оба присутствуют раздельно. Соответствующие конструкции усилителей с фотоэлементами, присоединенных к регистрирующему устройству, позволяют обнаружить даже небольшую разницу в интенсивности в этом случае оптическая проблема становится аналогичной масс-спектрометрической. [c.64]

Разрешение индивидуальных металлических атомов как в виде отдельных атомов, так и их кластеров находится на грани чувствительности просвечивающей электронной микроскопии (или даже за ее пределами). Теоретический анализ, проведенный Хашнмото и др. [23—25], показал, что для последовательности из нескольких атомов разрешение метода наклонного темного поля лучше, чем метода светлого поля. Конечно, для очень небольших агрегатов из нескольких атомов возникновение контрастности изображения полностью обусловлено эффектом фазового контраста, в то время как для больших частиц наблюдается дифракционный контраст. Флин и др. [26] рассмотрели, насколько фазовый контраст от таких атомных агрегатов определяется условиями фокусировки. В частности, оказалось, что связь между геометрическим расположением атомов-в агрегате и характером расчетного изображения существенно зависит от условий фокусировки и даже качественное соответствие между ними не обязательно. Очевидно, что интерпретацик> изображения, которое на первый взгляд показывает наличие кластера из нескольких атомов, следует принимать с большой осмотрительностью. Прежде всего необходимо детально исследовать изображение в зависимости от дефокусировки. Данное рассмотрение также показывает, что, поскольку речь идет об измерении размера частиц, зависящих от условий фокусировки, связь между истинным и кажущимся размером частиц при их [c.409]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология