Предел разрешения геометрический

Как было указано выше, теоретическая разрешающая способность прибора с р-кратной дисперсией при отсутствии виньетирования в р раз больше, чем при одном прохождении света через оптическую систему. Такое разрешение на практике может быть реализовано лишь тогда, когда аберрации оптической системы не оказывают влияния на распределение энергии в дифракционном изображении щели, т. е. когда аберрационное уширение изображения Ьа, вычисляемое на основании законов геометрической оптики, не превышает нормальной ширины щели Ь . Величина 6о = остается одной и той же независимо от числа прохождений, если при этом не меняется ширина а диспергируемых пучков. Но аберрации во всех схемах многократной дисперсии приблизительно в р раз больше, чем при одном прохождении. Поэтому, чтобы при р прохождениях обеспечить разрешение, близкое к теоретическому пределу, аберрационное уширение Ьа при одном прохождении не должно превышать Ь /р, т. е. [c.182]

Увеличение разрешающей способности приборов позволяет работать со все более сложными спектрами. Где же лежит предел повышения разрешающей способности приборов Практически она обычно ограничена их размерами и стоимостью. Теоретический предел разрешения дает ширина спектральных линий, определяемая источником света и собственной шириной линии, которую до сих пор не учитывали, считая, что она значительно меньше геометрической и дифракционной ширины. Если разность длин волн двух линий, излучаемых источником света, меньше, чем ширина каждой из них, то добиться разрешения нельзя ни при каких параметрах спектрального аппарата. [c.107]

Предел разрешения таких систем определяется размерами фокусного пятна излучателя, масштабом проекционного увеличения, геометрическими характеристиками веерного пучка и детекторов. [c.99]

Влияние объемного заряда [1713] сказывается в изменении положения, при котором ионный луч попадает в фокус первого порядка. Это влияние должно быть учтено при получении наиболее высокого разрешения. Демпстер считал, что геометрический предел разрешения может быть выражен как [c.21]

Соотношение моделей, строящихся на основе описания отношения сигнала к шуму, является альтернативным. Сопоставлять приборы можно [63] с позиций выигрыша в отношении сигнала к шуму, во времени измерения и достижимого предела разрешения. Поскольку в модели входят спектральная плотность яркости излучения источника и геометрический фактор, можно говорить о соотношении энергетических пределов фотометрической точности, быстродействия и различимости спектральных компонент соответственно. [c.148]

Структурное описание химических волокон включает не только рассмотрение структуры, лежаш ей на пределе микроскопического разрешения, но и изучение макроскопических особенностей, относящихся к внешней геометрической форме нити, в том числе формы поперечного среза, [c.274]

Ранее нами было показано, что в аморфном нерегулярном сополимере, полученном обычной реакцией сополимеризации диэтилового эфира винил-фосфиповой кислоты с акриловой кислотой, самопроизвольно без каких-либо внешних направленных воздействий, при выделении веществ из растворов, имеющих pH 1,1, возникают совершенно необычные для аморфных полимеров крупные (сотни микрон) геометрически правильные структуры [1]. Эти образования аморфны в обычном смысле слова, т. е. они не обнаруживают характерных для кристаллических тел дифракционных явлений ни в пучке электронов, ни в рентгеновских лучах. Оптически они изотропны и не обнаруживают двойного лучепреломления в пределах разрешения обычного поляризационного микроскопа [2]. [c.191]

Предел разрешения бЯ, обусловленный волновой природой света и физическими свойствами диспергирующего элемента, мы назовем теоретическим пределом разрешения. Наряду с ним необходимо ввести реальный предел разрешения АХ помимо величины ЬХ определяемый полушириной аберрационного пятна рассеяния ДЯдб, полушириной пятна рассеяния АХд ф, вызванного дефектами изготовления и различными деюстировками прибора, геометрической шириной АХ еам ВХОДНОЙ И ВЫХОДНОЙ диафрагм и уширением вызванным инерционностью приемно-реги- [c.20]

Термины разделение и разрешающая сила весьма часто встречались выше. Принято считать, что дублет разрешается , когда его составляющие разделены , и что трудность разделения, или разрешающая сила, необходимая для разделения двух соседних пиков, определяется величиной М/АМ. В гл. 1 было показано, что Демпстер вывел геометрический предел разрешения в приборе с простой фокусировкой М/ДМ = Rl Si+ S . Он принял, что совершенное изображение входной щели шириной Si просматривается через выходную щель шириной и что идеальное разрешение пиков будет иметь место в том случае, когда они будут полностью разрешены так, что регистрируемая интенсивность между пиками мгновенно понижается до нуля. Несовершенная форма пика делает такое определение непригодным, поскольку различные аберрации приводят к увеличению ширины пика, рассеяние на молекулах газа вызывает образование хвостов с каждой стороны пика (интенсивность ионного пучка асимптотически приближается к нулю с каждой стороны массового пика). Вследствие этого необходимо видоизменить приведенное выше выражение, что может быть сделано различными способами. Один из предельных случаев формулируется следующим образом два равных пика высотой Н могут считаться разрешенными, когда высота фона ДЯ между пиками меньше 0,00Ш (см. рис. 19). В других случаях пики считаются разрешенными при ДЯ менее 0,01Я, 0,1Я или 0,5Я. Трудность выбора критерия обусловлена тем, что в масс-спектрометре нельзя определить разрешающую силу по аналогии с физической оптикой, где она основывается на разнице интенсивности света, ощущаемой человеческим глазом. Поэтому, говоря об оптических изображениях, можнЬ сказать, что они разрешены, когда они оба присутствуют раздельно. Соответствующие конструкции усилителей с фотоэлементами, присоединенных к регистрирующему устройству, позволяют обнаружить даже небольшую разницу в интенсивности в этом случае оптическая проблема становится аналогичной масс-спектрометрической. [c.64]

Теория физической оптики объясняет получение изображения и пределы разрешения важность последнего будет обсуждаться в разделе, посвященном фазово-контрастной микроскопии. В ос-liOBe физической оптики лежит представление о свете не как о лучах, движущихся по прямой линии, а как об электромагнитных волнах, которые подвергаются дифракции на отверстии и на кромке и могут интерферировать с усилением или гашением. Так как линза в принципе является отверстием, свет, проходящий через нее, будет подвергаться дифракции. Это приводит к тому, что освещенная точка на объекте будет появляться в плоскости изображения в виде кружка, который к тому же окружен серией широких концентрических колец, являющихся результатом усиливающей интерференции. В микроскопии эти кольца носят название дисков Айри (рис. 2-4, Л). Установлено, что радиус первого темного кольца вокруг центрального диска равен 0,61 %1п sin U, где X — длина волны света, п — показатель преломления линзы на стороне, обращенной к объекту, аЧ/ — угол между осью линзы и линией, проведенной из точки пересечения плоскости объекта с осью линзы до кромки отверстия (рис. 2-4, ). Это приводит к тому, что две точки на объекте, расположенные близко друг от друга, будут выглядеть на изображении как два тонких диска, поэтому разрешение этих точек (т. е. способность однозначно определить, что это действительно две точки) зависит не только от разделения этих точек на изображении в соответствии с принципами геометрической оптики, но и от размеров получающихся тонких дисков. Положение, при котором разрешение пропадает, точно определить невозможно (рис. 2-4, В). В связи с этим с давних пор было принято, что предел разрешения равен [c.31]

На первом этапе проектирования из анализа типичной пространственной структуры подлежащих контролю промышленных изделий, размеров и расположения характерных дефектов и предъявляемых требований к точности определения геометрической структуры изделия и дефектов необходимо задаться пределом пространственного разрешения ПРВТ, который всегда ограничен снизу линейным интервалом дискретизации проекций при их цифровой обработке Дг. [c.117]

Разрешение индивидуальных металлических атомов как в виде отдельных атомов, так и их кластеров находится на грани чувствительности просвечивающей электронной микроскопии (или даже за ее пределами). Теоретический анализ, проведенный Хашнмото и др. [23—25], показал, что для последовательности из нескольких атомов разрешение метода наклонного темного поля лучше, чем метода светлого поля. Конечно, для очень небольших агрегатов из нескольких атомов возникновение контрастности изображения полностью обусловлено эффектом фазового контраста, в то время как для больших частиц наблюдается дифракционный контраст. Флин и др. [26] рассмотрели, насколько фазовый контраст от таких атомных агрегатов определяется условиями фокусировки. В частности, оказалось, что связь между геометрическим расположением атомов-в агрегате и характером расчетного изображения существенно зависит от условий фокусировки и даже качественное соответствие между ними не обязательно. Очевидно, что интерпретацик> изображения, которое на первый взгляд показывает наличие кластера из нескольких атомов, следует принимать с большой осмотрительностью. Прежде всего необходимо детально исследовать изображение в зависимости от дефокусировки. Данное рассмотрение также показывает, что, поскольку речь идет об измерении размера частиц, зависящих от условий фокусировки, связь между истинным и кажущимся размером частиц при их [c.409]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология