Микроскоп злектронный

Характеристика некоторых злектронных микроскопов просвечивающего типа. [c.147]

На рис. 14.7 приведена микрофотография одного из этих шаровидных микроорганизмов, полученная с помощью просвечивающей электронной микроскопии. Видно большое количество ворсинок на его внешней поверхности, а также около 1500 участков, отличающихся высокой злектронной плотностью и образующих небольшие агрегаты, параллельные цепочки или регулярные плоские структуры. Эти участки выглядят очень четко, они имеют правильную, хотя и различную форму, а их размеры колеблются от 400 до 800 А (что укладывается в [c.41]

Исследование структуры полимеров с помощью злектронных микроскопов можно проводить непосредственно а образцах полимера, приготовленных в виде ультрато,нких срезов, или на специально изготовленных образцах для растровых микроскопов (прямые методы), либо на слепках-репликах с поверхности полимера (косвенные методы). Применение косвенных методов вызвано разрушением полимера в электронном луче, что искажает картину структурного рельефа, роме того, применение косвенного метода позволяет получить высокое разрешение (до 0,3 нм). В то же время косвенные методы трудоемки и требуют специальной подготовки поверхности полимера. [c.111]

Показано, что при лолимеризации МА по второму методу ни число частиц, ни их распределение по диаметру не зависит от скорости введения мономера. Число частиц определялось с помощью злектронного микроскопа лосле их радиационного отверл<-дения нолучевные значения совпадали с данными определения размера частиц методом светорассеяния под разными углами. [c.211]

Примеиение. В люминесцентной и злектронной микроскопии в качестве флуорохрома для изучения конформации тРНК, для денатурации нуклеиновых кислот, для оценки доли двутяжевых участков на них и для других исследований нуклеиновых кислот [1—3]. [c.457]

Максимальное увеличение злектронного микроскопа доеп Гс ет 600 ООО раз, а светового — только 1500 раз. [c.317]

На рис. 5.22 представлены злектронно-микроскопи-ческие фотографии поперечных срезов полиэтилена низкого давления, растянутого при атмосферном давлении и при давлении 500 кгс/см . Подобный характер имеют и структуры продольных срезов. Как следует из фотографий, в случае одноосного растяжения полиэтилена низкого давления образуется рыхлая дефектная структура с размерами зерен порядка 1000 А. Рассеивающие границы такого размера видимый свет чувствует , и поэтому рабочая-часть растянутых образцов белого цвета, непрозрачная (см. рис. 4.9). В образцах полиэтилена низкого давления, растянутых при гидростатическом давлении, структур такого вида не наблюдается, т. е. отсутствуют границы, рассеивающие свет и соответственно образцы прозрачны. [c.135]

Универсальный злектронный микроскоп УЭМ-100. Микроскоп УЗМ-100, как и микроскоп УЭМВ-100 (рис. 95), предназначен для всестороннего исследования объектов. Он позволяет получать светопольные и темнопольные снимки, а также стереоснимки на просвет в широком диапазоне увеличений без нарушения вакуума. [c.240]

Рис. 4-1. Ргвмеры клеток и клеточных компонентов, атакже рабочие диапгвоны светового и злектронного микроскопа, изображенные в

Справочник химика 21

Химия и химическая технология