Симметрия в расположении пятен

При съемке на просвет симметрия расположения пятен относительно центра рентгенограммы соответствует симметрии кристалла относительно оси или плоскости, совпадающей с направлением рентгеновского луча. Если, например, при съемке кристалла кубической сингонии рентгенограмма имеет симметрию оси четвертого порядка, то, очевидно, рентгеновский луч был параллелен оси куба [100] симметрия оси третьего порядка указывает на параллельность луча оси октаэдра [111]. В общем случае ориентировка кристалла может быть случайной и пятна не будут давать симметричной картины. Но во всех случаях при прямой съемке они располагаются по эллипсам, проходящим через центр лауэграммы (рис. 105, а). [c.195]

Другое существенное отличие рентгенограммы качания заключается в ее симметрии. Четыре симметрично расположенных пятна рентгенограммы полного вращения являются следствием отражения от одного и того же семейства плоскостей, проходящего последовательно через четыре отражающих положения. Ясно, что при качании в небольшом интервале углов данное семейство плоскостей может, в лучшем случае, дать одно из четырех пятен. Таким образом, рентгенограмма качания не обладает в общем случае теми двумя взаимно перпендикулярными линиями симметрии, которые присущи рентгенограмме полного вращения. [c.206]

Пусть кристалл обладает осью симметрии четного порядка, перпендикулярной оси вращения, и расположен так, что в среднем положении в угле качания эта ось направлена по первичному пучку. В этом случае мы получим рентгенограмму с центром симметрии любое пятно с координатами ху сопровождается пятном равной интенсивности, имеющим координаты ху (рис. 129, г). [c.207]

Кроме того, при развертке нулевой слоевой линии нижняя половина рентгенограммы идентична верхней. Рентгенограмма обладает горизонтальной плоскостью симметрии (с косым отражением). И здесь симметрично расположенные пятна имеют противоположные индексы (рис. 220). [c.354]

Задачи, решаемые методом рентгеноструктурного анализа, можно разбить на две категории 1) задачи, решаемые измерением расстояния между пятнами рентгенограммы 2) задачи, требующие для своего решения оценки интенсивности рассеянных лучей. Задачи первой категории могут быть решены за несколько дней, вторые — могут потребовать нескольких месяцев. Измеряя расстояния между пятнами рентгенограммы, можно определить массу молекулы, ее симметрию, сделать вероятные предсказания в отношении формы молекулы и, таким образом, принять или опровергнуть возможные, по химическим сведениям, соображения о химическом строении. Измерив интенсивность пятен, можно определить взаимное расположение атомов. [c.732]

Юстировка осуществляется легко и с большой точностью, если кристалл обладает плоскостью симметрии, перпендикулярной устанавливаемому направлению (или, в соответствии с законом Фриделя, если само это направление является осью симметрии четного порядка). В этом случае верхняя и нижняя части рентгенограммы должны быть симметричны. Выберем два пятна, связанных горизонтальной линией симметрии и расположенных вблизи средней вертикальной линии, проведенной через центральное пятно. Различие в расстоянии этих пятен от линии симметрии определяется продольным отклонением е ц юстируемого направления от оси вращения. На рис. 274 верхнее пятно Л 1 является отражением от плоскости 1—1, образующей угол йо с плоскостью симметрии кристалла и угол 1= 0 о—е ц с первичным пучком. Нижнее пятно N2 является отражением от симметрично расположенной плоскости 2—2, образующей тот же угол б о с плоскостью симметрии и угол 2= о+Е 1 с первичным пучком. Следовательно, [c.420]

По симметрии изображений и угловому расстоянию между различными гранями можно с полной однозначностью приписывать наблюдаемым пятнам на изображении определенные кристаллографические индексы. Следует отметить, что изображения всегда кажутся слегка сжатыми по сравнению с идеальными,, которые представлены на рис. 5, так как острие представляет собой полусферу, поддерживаемую цилиндрическим или коническим стержнем. Поскольку силовые линии испытывают взаимное отталкивание, такое расположение эмитирующего острия вызывает сжатие изображения, определяемое коэффициентом Р 1,5, и уменьшение напряженности поля (в случае полной сферы F — v/r). По одной лишь симметрии изображения всегда [c.111]

В этом случае верхняя и нижняя части рентгенограммы должны быть симметричны. Если выбрать два пятна, связанных горизонтальной линией симметрии и расположенных вблизи средней вертикальной [c.208]

Мы уже указывали, что аминокислотные цепи могут образовывать высокоупорядоченные локальные структуры со спиральной симметрией. Эти структуры важны по многим причинам. Спираль ввиду ее симметрии легко распознать и описать. На рис. 2.22 изображен один из участков карты электронной плотности миоглобина, построенной методом рентгеноструктурного анализа. Для непривычного глаза большая часть карты покажется совершенно хаотичной. Однако спирали сразу же бросаются в глаза как темные круги (вид с торца) или как периодически расположенные темные пятна (вид сбоку) (эти [c.87]

В методе Лауэ монокристаллический образец устанавливается в рентгеновской кал1ере неподвижно, каждая система отражающих плоскостей ориентирована под постоянным углом к немонохроматическому пучку рентгеновских лучей. Таким образом, в этом методе угол скольжения 0 имеет ряд постоянных значений (для различных плоскостей), а длина волны Я (в полихроматическом пучке) переменна. Из этого пучка дифрагируют те лучи, длины волн которых подчиняются условию Вульфа-Брегга. Дифракционные пятна на лауэграмме располагаются по эллипсам, гиперболам, прямым, проходящим через пятно от первичного пучка симметрия расположения пятен отражает симметрию кр исталла. [c.67]

В соответствии с этим применяются три различных способа рентгеновского структурного анализа. В одном из них — методе Лауэ пучок рентгеновских лучей всевозможных длин волн проходит через диафрагму и падает на поверхность кристалла под некоторым определенным углом (рис. 13). В потоке лучей всегда найдутся такие, длины которых удовлетворяют условию (а), при этом в результате отражения на фотографической пластинке, наряду с центральным пятном от непреломившегося луча, получаются симметрично расположенные вокруг него пятна, каждое из которых соответствует каким-нибудь кий. Лауэграмма (рис. 14) дает возможность определить симметрию кристалла и его ориентировку. Расшифровка лауэграмм — достаточно сложная задача. [c.57]

Лауэ, направляя белое рентгеновское излучение на кристалл цинковой обманки ZnS перпендикулярно к грани куба, т. е. в направлении оси симметрии четвертого порядка, получил на фотографической пластинке, помещенной позади кристалла, интерференционное изображение, приведенное на рис. 39. Это изображение отражает симметрию крйсталла каждому темному пятну на плоскости соответствует плоскость в кристал-, ле с особенно плотным расположением атомов. Этими плоскостями часто являются грани, ограничивающие кристаллы данного вида. [c.231]

При помощи обратной решетки легко пояснить и особенности симметрии рентгенограмм вращения. Узел обратной решетки pqr, связанный с началом координат радиусом-вектором iHpg,-, при вращении описывает окружность и пересекает сферу отражения в двух точках D и D", расположенных симметрично относительно вертикальной плоскости, проходящей через первичный пучок и ось вращения (рис. 197). Поскольку обратная решетка всегда обладает центром инверсии, узм р <7 г определяется радиусом-вектором— %Нрдг, равным по величине и обратным по направлению радиусу-вектору %Нpgr. При вращении оп пересечет сферу отражения в точках Е я Е", лежащих точно под точками D и D", причем точки D я Е будут находиться на равных расстояниях от горизонтальной плоскости, рассекающей пополам сферу отражения. Четыре дифракционных луча GD, GD", GE, GE" попадут на пленку в точках, расположенных симметрично относительно ее вертикальной и горизонтальной прямых, проведенных через центральное пятно. [c.327]

Пятна, расположенные на верхней и нижней ветвях одной зигзагообразной кривой на равных расстояниях от средней линии, имеют одинаковые индексы. Зигзагообразная кривая эквивалентна, следовательно, ломаной линии рентгенограммы нулевой слоевой линии, на которой располагались пятна с одинаковыми индексами. Однако плоскости симметрии, эквивалентной горизонтальной плоскости симметрии рентгенограммы нулевой слоевой линии, связывающей пятна hkO и Л/гО, на р ентгенограм-ме и-ного слоя в общем случае не имеется. Пятна с индексами hkn и hkn находятся на ветвях двух различных крив.,ьгх и не обязаны обладать одинаковой интенсивностью . [c.357]

Выбрав два связанных симметрией пятна N1 и N2, расположенные по обе сто роны от центрального пятна вблизи оси У, и пользуясь соотношениями (80) и (81) или (82, III), определяем наклон 8 ц. Выбрав аналогичным образом два пятна Л з и N вблизи оси X, определяем наклон 8гор (рис. 283). [c.429]

Геометрия расположения пятен на серии разверток слоевых линий дает возможность определить симметрию трехмерной решетки — пространственную группу. Интенсивность каждого отражения определяется по плотности почернения соответствующего ему пятна на рентгенограмме. Набор интенсивностей отражений / / с указанием индекса отражающей плоскости (М/)—основной экспериментальный материал, позволяющий, как мы уже смогли убедиться, выявить расположение атомов в решетке. Число всех возможных отражений, полученных с разверток слоевых линий, снятых вдоль трех основных направлений для кристалла со средними размерами элементарной ячейки (1000 А ), может достигать от нескольких сотея до нескольки.х тысяч. Для кристаллов с большими элементарными ячейками, такими, как у природных белков (20000 А ), число отражений [c.92]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология