Дифракционная симметрия

Определение ориентировки и дифракционной симметрии кристалла [c.85]

Таким образом, любая структура в принципе может быть определена по данным о размерах и форме элементарной ячейки, дифракционной симметрии и набору значений Однако привлечение других сведений (химический состав, число формульных единиц в элементарной ячейке и некоторые другие) облегчает структурный анализ. [c.290]

Симметрию, определенную на основании этих двух признаков, и будем называть дифракционной симметрией. [c.250]

Может показаться, что введение этого термина является излишним дифракционная симметрия должна совпадать с точечной группой симметрии кристалла. Однако это не совсем так. Дело в следующем. Символы (Нк1) и (кк1), примененные в отношении внешних граней крис- [c.250]

Вид получаемой дифракционной картины зависит от ориентации кристалла относительно электронного пучка. В частном случае, когда направление пучка совпадает с направлением в кристалле с целыми индексами Миллера к, к, I (в просвечивающих электронных микроскопах предусматривается возможность ориентации образца путем вращения его по двум перпендикулярным осям на угол, как правило, порядка 30°), микродифрактограмма будет иметь вид центросимметричной сетки дифракционных пятен. В принципе, имея набор таких сечений обратной решетки кристалла, можно установить класс его дифракционной симметрии. Однако чаще исследователь имеет альтернативные модели структур изучаемого кристалла между которыми необходимо сделать выбор, т.е. подобрать модель, отвечающую экспериментальной ЭЛ ектронограмме. [c.258]

Дифракционная симметрия кристалла выше, чем его точечная группа симметрии. Она отвечает точечной группе плюс центр инверсии и плюс равнодействующие элементы симметрии. [c.252]

Таким образом, возможно всего И различных случаев дифракционной симметрии( классы дифракционной симметрии). Распределение точечных групп по дифракционным классам указано в табл. 11. [c.253]

Распределение точечных групп симметрии по классам дифракционной симметрии [c.254]

Определение класса дифракционной симметрии по закономерностям расположения пятен на рентгенограммах [c.255]

Метод качания. Вторым методом, весьма удобным для выявления симметрии, является метод качания. Здесь дифракционная симметрия обнаруживает себя почти столь же непосредственно. Правда, при съемке по методу качания различные плоскости кристалла оказываются в отражающем положении в различные моменты времени. Но если рассматривать лишь суммарный эффект, не учитывая фактора времени, то и здесь дифракционная симметрия находит непосредственное геометрическое выражение. Рентгенограмма фиксирует этот суммарный эффект. Другое отличие картины, полученной методом качания, обусловливается тем, что качание происходит вокруг одной определенной оси. Симметрия рентгенограммы определяется не одним, а двумя направлениями оси вращения и первичного пучка. Это сокращает число типов симметрии до пяти Си Сг, С , Са , С г, (рис. 129). [c.256]

Под симметрией кристалла здесь подразумевается симметрия его относительно явления дифракции, т, е. класс дифракционной симметрии. [c.256]

Исследование симметрии кристалла начинают с определения его дифракционного класса с помощью анализа симметрии лауэграмм. Дифракционная симметрия удовлетворяет следующим условиям 1) свя- [c.214]

Картина дифракции гексагонального типа, наблюдаемая в мезоморфном состоянии, предположительно может являться следствием либо статистического, либо динамического беспорядка. Примерами первого является фаза 1 поливинилиденфторида [37] и по-ливинилфторид [38], в которых статическая псевдогексагональная фаза стабильна (или по крайней мере метастабильна) при комнатной температуре. В этих системах упаковка боковых, групп приблизительно сферической формы является основным фактором, определяющим решетку. По-видимому, конформация основной цени может немного отличаться от плоского гранс-расположения для удовлетворения требований упаковки боковых цепей. Отсутствие сильного вращения основной цепи подтверждается как уши-рением линии ЯМР, что соответствует модели жесткой решетки,, так и отклонением от истинной гексагональной дифракционной симметрии для вращающегося образца [37]. Подобная структура возникает в облученном полиэтилене [39, 40], но в этом случае и в. случае поливинилфторида статическая природа структуры не подтверждена. [c.332]

Итак, дифракционная симметрия — это та симметрия, которая выявляется по совпадению брегговских углов и интенсивности отраженных лучей. [c.250]

Из закона центросимметричности следует, что по дифракционной симметрии нельзя сделать заключение о наличии или отсутствии у кристалла центра инверсии. Нельзя, скажем, различить, какой симметрией обладает кристалл, принадлежащий к моноклинной сингонии, — симметрией 2, т, или 2/т. Прибавление центра инверсии к группам 2 или т превращает их в группу 2/т. Дифракционная симметрия будет во всех случаях одинакова. Точно так же нельзя различить точечные группы 4, 4 и 4/т добавление центра инверсии к группам 4 или 4 переводит их в 4/т. Аналогично, добавление центра инверсии к группам 4mm, 422, 42m сводит их к группе 4/ттт. [c.253]

Симметрия расположения пятен на рентгенограмме полного вращения всегда одинакова. То же относится к расположению линий на рентгенограмме порошка. По виду рентгенограмм вращения и дебаеграмм нельзя определять дифракционную симметрию. Наоборот, симметрия рентгенограмм, снятых полихроматическим методом или по методу качания, существенно зависит от симметрии кристалла. Кроме того, дифракционная симметрия может быть определена по рентгенограммам, дающим развертки слоевых линий. В методе Вейсенберга дифракционная симметрия сказывается в некоторой определенной закономерности расположения пятен в методе Де-Ионга — Бумена (фотографирования обратной решетки) и в прецессионном методе, так же, как в полихроматическом методе и методе качания, эта закономерность носит характер симметрии. [c.255]

Полихроматический метод. Самым простым и удобным, с точки зрения определения дифракционной симметрии, является полихроматический метод. Здесь дифракционная симметрия проявляет себя наиболее непосредственно. Все семейства плоскосгей отражают лучи одновременно если какой-либо элемент симметрии параллелен первичному пучку, то не только семейства плоскостей кристалла, но и направления отраженных лучей оказываются связанными этим элементом симметрии. [c.255]

Благодаря непосредственности, с которой дифракционная симметрия обнаруживается на лауэграммах, ее часто называют лауэвской симметрией, а классы дифракционной симметрии — к л а с с а м и Лауэ. [c.256]

Дифракционная симметрия кристалла выше, чем его точечная группа, Для кристаллов в области выполнения закона центросимметричности (закона Фриделя ) дифракционная группа равна точечной группе плюс центр инверсии и равнодействующие элементы симметрии, В приложении 47 показано распределение точечных групп по дифракционным классам. [c.215]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология