Анализаторы микрозондовые

Локальный микроанализ с ионным зондом используют в случае природных объектов [41, 576, 857, 931]. Сконструирован простой малогабаритный микрозондовый анализатор, способный регистрировать присутствие миллионных долей элементов [931]. В качестве зонда используют сфокусированный пучок ионов аргона диаметром 0,25 мм, угол падения которого на мишень составляет 45°. Ток пучка на мишени равен 10 а, ускоряющее напряжение 5 кв. Для анализа масс вторичных ионов используется масс-спектрометр с двойной фокусировкой. Предел обнаружения хрома в железе 0,0001%. Метод применяют для изучения распределения никеля и хрома в железных метеоритах. [c.120]

Ключевое значение для этого стремительного роста имела компьютеризация аналитических приборов. Здесь возник замкнутый круг взаимной выгоды. Развитие современной вычислительной техники опирается на достижения твердотельной технологии. А эти достижения в свою очередь теснейшим образом связаны с нашей способностью количественно определять следовые концентрации примесей в кремнии — основном материале, применяемом в производстве современных микросхем. Сейчас микрозондовые анализаторы, в которых используются методы компьютерной томографии, дают возможность решить эту ключевую проблему. В результате размеры микросхем можно еще сильнее уменьшить, а, стало быть, сделать компьютеры более быстрыми, более надежными и более дешевыми. [c.193]

Лаборатории по проверке камней откликаются на эти достижения, и в лаборатории Геммологического института США сейчас имеется, например, сканирующий электронный микроскоп с микрозондовым анализатором. Этот прибор может изучать камни при увеличении в 150 000 раз и способен определять химический состав материала или включений, если они выходят на поверхность [7]. Кроме того, автоматический регистрирующий спектрофотометр измеряет поглощение или отражение света камнем в зависимости от длины волны. Этот прибор можно использовать в сочетании с микроскопом для определения цветовых эффектов на небольших участках. Данные можно хранить в ЭВМ и таким образом создать банк легкодоступной информации. Такой подход крайне желателен, чтобы сообщество ювелиров было уверено в способности своих аналитических лабораторий обеспечивать точную идентификацию камней. [c.151]

Характер процессов, развивающихся при взаимодействии лазерного пучка с поверхностью вещества в твердой фазе [9, 11, 25, 27, 47], определяется плотностью потока излучения д, которую можно изменять в широких пределах (от 10 до Вт см ). При плотности потока лазерного излучения выше порогового значения поглощенная веществом энергия превышает энергию связи атомов и энергию ионизации, в результате чего слой облучаемого вещества превращается в плазму [9, 27]. Сильно ионизированная плазма экрашфует поверхность, поглощает поступающее лазерное излучение, что приводит к ее значительному разогреву. Из-за большого градиента давления вещество выбрасывается с облученной поверхности, и происходит газодинамическое расширение плазменного сгустка. Одним из важных параметров лазерной плазмы является электронная температура Ге, которая пропорциональна плотности лазерного излучения 7 с = [63]. Так, абсолютное значение электронной температуры в лазерной плазме в диапазоне плотности потока излучения 10 -10" Вт см изменяется от 10 эВ до 100 эВ. При этом электронная плотность лазерной плазмы составляет = Ю сма плотность нейтральных атомов = 10 см . Этот метод ионизации — неселективный, и он не зависит от длины волны лазерного излучения [27]. Используются в основном два варианта этого метода а) лазерный микрозондовый анализ и б) облучение пробы несфокусированным лазерным пучком (около 1 мм ). В втором случае плотность энергии излучения составляет 10 -10 Вт см при длительности 5-50 НС., что дает возможность применять для анализа ионов времяпролетный масс-анализатор. [c.851]

Состав конденсатов оценивали по отношению интенсавностей линий рентгеновского спектра, полученных ва микрозондовом анализаторе М-46. Эталоном служила исходная керамика используемых соединений, спектральные соотношения для которых приведены в табл. I. Структуру пленок исследовали рентгеновским методом непосредстван-но на подложке, микроструктуру наблюдали в растровом электронном микроскопе 35М-2. Измерения диэлектрической проницаемости и потерь проводили мостовым методом на частоте I кгц в полях не выше 10 в/см. [c.22]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология