Метод Лауэ симметрия пятен

В соответствии с этим применяются три различных способа рентгеновского структурного анализа. В одном из них — методе Лауэ пучок рентгеновских лучей всевозможных длин волн проходит через диафрагму и падает на поверхность кристалла под некоторым определенным углом (рис. 13). В потоке лучей всегда найдутся такие, длины которых удовлетворяют условию (а), при этом в результате отражения на фотографической пластинке, наряду с центральным пятном от непреломившегося луча, получаются симметрично расположенные вокруг него пятна, каждое из которых соответствует каким-нибудь кий. Лауэграмма (рис. 14) дает возможность определить симметрию кристалла и его ориентировку. Расшифровка лауэграмм — достаточно сложная задача. [c.57]

Во втором случае используются монохроматические рентгеновские лучи, ио кристалл медленно и равномерно вращается вокруг оси, совпадающей с каким-либо кри1сталл0гра1фическим направлением метод вращающегося кристалла). Тогда при каких-то особых положениях, при особых углах, удовлетворяющих сразу трем уравнениям (4), возникает кратковременная вспышка — дифрагированный луч, оставляющий на рентгенограмме след в виде темного пятна. Этот метод не имеет того Недостатка, которым обладает метод Лауэ. Поэтому он используется в рентгеноструктурном анализе гораздо шире. Метод Лауэ обычно иопользуется только для определения симметрии кристалла или для ориентировки неограненного кристаллического осколка. [c.124]

В методе Лауэ монокристаллический образец устанавливается в рентгеновской кал1ере неподвижно, каждая система отражающих плоскостей ориентирована под постоянным углом к немонохроматическому пучку рентгеновских лучей. Таким образом, в этом методе угол скольжения 0 имеет ряд постоянных значений (для различных плоскостей), а длина волны Я (в полихроматическом пучке) переменна. Из этого пучка дифрагируют те лучи, длины волн которых подчиняются условию Вульфа-Брегга. Дифракционные пятна на лауэграмме располагаются по эллипсам, гиперболам, прямым, проходящим через пятно от первичного пучка симметрия расположения пятен отражает симметрию кр исталла. [c.67]

Когда падающий пучок рентгеновских лучей параллелен одной из основных осей кристалла, получающаяся фотографическая модель обнаруживает симметрию вокруг оси. Применяя метод гномониче-ской проекции, описанный X. В. Г. Викофом [8], каждому пятну можно приписать индексы. Затем для полного анализа кристаллической структуры необходимо иметь длину волны излучения, образующего каждое пятно, а ее нельзя определить, не зная размера ячейки, который может быть грубо вычислен из модели Лауэ, но более удобно и точно определяется другими способами дифракции рентгеновских лучей. [c.239]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология