Шмида фактор

Кристаллографическая ориентация растягавающей силы Фактор Шмида М Система скольжения [c.160]

Большее значение Щ для ориентации <111> связано, по видимому, с тем обстоятельством, что при одинаковом значении фактора Шмида (см. табл. 3.11) скольжение реализуется по плоскостям с меньщей плотностью упаковки- [c.160]

Оценка значимости различия активационных параметров процесса накопления деформации ползучести для различных кристаллографических ориентаций по формулам (3.7) показала, что величины Оо, g и 1п значимо отличны для каждой из ориентаций <001>, <011>, <111> при заданном допуске на деформацию ползучести е = 0,2 0,5 и 1 %. Исключением является незначимое различие (с вероятностью р > 0,9) величины 0о для ориентаций <011> и <111>, т.е. при малых значениях деформаций ползучести возможно скольжение по одним и тем же плоскостям - с учетом фактора Шмида (см. табл. 3.11) это могут быть плоскости 001 . С накоплением более высоких значений деформации ползучести (т.е. с увеличением времени деформирования) превалирующий вклад вносят термически активированные процессы перемещения дислокаций. В этом случае могут быть реализованы и другие системы скольжения [c.168]

Шмид использовал величину фактора разделения пары и(IV)—и(VI) для определения коэффициентов распределения U(VI) между ТБФ и растворами HNO3. Значения удерживаемых объемов хроматографической колонки позволяют получать этот фактор разделения с большей правильностью и воспроизводимостью, чем метод обычной экстракции. Коэффициенты распределения урана (IV) достигают максимальных значений (>10 ) при концентрации HNO3 8—9 моль/л. [c.267]

Из соотношения (3.8) следует, что чем больше фактор Шмида для данной системы скольжения, тем больше Tj2. Значения фактора ЦГмида и соответствующие им системы скольжения в ГЦК-решетке приведены в табл. 3.11. Если для ориентаций <001> и <011> реализуются только системь Скольжения 011 <011> и 001 <001> с фактором Шмида М = 0,5, то можно предположить, что энергаи активации их будут близки, так как плотность упаковки (атомной) плоскостей 011 и 001 [c.159]

Шмид и Шварц [S28], работая с коллоидными мембранами, имеющими низкую концентрацию фиксированного йона (X 10" Л/) в растворах КС1, применили уравнение (2.67) для определения концентрации фиксированного иона графическим методом. Они также использовали измерения электропроводности для определения пространственного фактора мембраны, принимая, что при очень высоких внешних концентрациях жидкость внутри мембраны имеет ту же концентрацию, что и во внешнем растворе. Это предположение, вероятно, оправданно, если иметь в виду очень низкую концентрацию фиксированного иона в мембранах, использованных в их экспериментах. [c.91]

ПС широко используется для фундаментальных исследований разрушения под действием ультразвукового облучения. Многие авторы (Шмид, Джеллинек, Овенолл, Губерман, Мостафа, Берлин и их сотрудники) разрабатывали математические модели кинетики разрушения полимеров под действием ультразвука, используя в качестве модели ПС. Получено теоретическое описание изменения ММР при разрушении. Экспериментальные результаты изложены в разделе 8.4 (см. табл. 8.5). Исследована также роль некоторых других параметров растворяюш,ей способности растворителя [671, 724, 725] и концентрации раствора [65, 96, 275, 276, 469, 618, 619, 671, 675, 724, 725], значений [65, 275, 276, 510—513 619, с. 667 675, 768] и температуры [357, 667, 671 ]. Разрушающими факторами являлись частота и давление. Последнее играет важную роль в процессе кавитации и, следовательно, в механизме разрыва цепей. [c.247]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология