Почернение вторичное

Для анализа используют спектрограф ИСП-30 (рис. 1.7). Полихроматическое излучение плазмы, проходя через шель 1, попадает на зеркальный коллиматорный объектив 2, который поворачивает лучи и обеспечивает равномерное освещение призмы 3. Разложенный по длинам волн свет собирается камерным объективом 4 в его фокальной плоскости, отражается зеркалом 5 и попадает на фотографическую пластинку 6. Одинаковое почернение спектральной линии по высоте является необходимым условием количественных измерений и получается только при равномерном освещении щели спектрографа источником излучения. Наиболее совершенна в этом случае трехлинзовая осветительная система (рис. 1.8). Линза 2 дает несколько увеличенное изображение источника света 1 на проме/куточной диафрагме 3, которая позволяет вырезать различные зоны свечения источника эмиссии, а также экранировать раскаленные концы электродов и менять интенсивность светового потока. Конденсор 4, расположенный за диафрагмой 3, проецирует изображение линзы 2 на щель спектрографа в виде равномерно освещенного круга. Линза 5 дает увеличенное изображение выреза диафрагмы 3 на объективе 7 коллиматора. Таким образом, конденсоры 2, 4 и 5 играют роль вторичных полихроматических источников света. [c.26]

Давно известно, что при длительных экспозициях вблизи главных линий основы наблюдается вторичное почернение в виде плотного фона или гало. [c.130]

Установление причин вторичного почернения представляет собой большое достижение, но, к сожалению, до сих пор не найдено средств для его устранения при использовании промышленных пластин. Маэ (1966, 1968) детально изучил влияние распределения поверхностного потенциала на форму и размеры зачерненной области. Он сравнил пластины правильной геометрии со специальными, на которых эмульсия в области расположения линий основы была заменена проводящими и непроводящими мишенями. Маэ пришел к заключению, что устройство такого типа дает в лучшем случае частичное уменьшение фона, поскольку при [c.132]

ЭТОМ не устраняются отраженные ионы. Однако позднее (Маэ, 1965, 1966, 1968) было показано, что можно (хотя, с точки зрения автора, это не практично) существенно уменьшить вторичное почернение с помощью следующего приема ионно-чувствительная пластина разрезается на куски и заряжается в кассету так, что одно-, двух- и трехзарядные ионы основы минуют пластину, а также кассету, обратная сторона которой была изменена соответствующим образом. Эти ионы не могут дать вторичных и отраженных частиц и попадают на стенку камеры магнитного анализатора, что позволяет улучшить чувствительность определения всех элементов по крайней мере на порядок величины. [c.133]

Способы снижения эффекта вторичного почернения, основанные на усовершенствовании процесса проявления, будут обсуждены в разделе, посвященном проявлению пластин. [c.133]

См. Общие правила дополнительной обработки , стр. 146. Негатив обработать этим раствором до сплошного осветления почернений. Отбеленный негатив промыть до исчезновения синей окраски и затем обработать в особо мелкозернистом проявителе, разбавленном вдвое, до тех пор, пока процесс проявления дойдет до глубины фотослоя. Наблюдение за наступлением этого момента производится по оборотной стороне негатива. Обычно для такого вторичного проявления достаточно от 3 до 5 минут (в неразбавленном проявителе около [c.155]

После экспонирования на сенситометре ЦС-2 слои обрабатывались в фенидон-гидрохиноновом проявителе, содержащем 2 г роданистого калия в литре (25° С), фиксировались (вариант 1), либо отбеливались в хромовом отбеливателе, вторично экспонировались люминисцентной лампой, снова проявлялись в том же проявителе и фиксировались (вариант 2). В первом варианте получалось негативное изображение, во втором — позитивное (обращенное). Время первого проявления варьировалось для получения кинетической картины, время второго оставалось неизменным, достаточным для полного проявления обращенного изображения. Полученные почернения промерялись на фотоэлектрическом денситометре. [c.180]

Повышенное почернение фона вокруг интенсивных линий называется гало. Оно вызвано вторичной эмиссией, обусловленной первичными ионами, попадающими на поверхность пластинки. Экспозиции в пределах 10" кулона могут быть на половину обусловлены этим фоном, значительно понижающим чувствительность. Подавить гало удалось Мею [124]. Оп предотвратил взаимодействие между интенсивным ионным лучом основы и эмульсией, вырезая нерабочие части фотопластинки. Предел обнаружения примесей в алюминии был увеличен таким путем на один порядок. [c.358]

Эта реакция используется для качественного определения вторичных спиртов (почернение ацетата свинца при действии выделяющегося сероводорода). [c.177]

При нанесении капли раствора фосфолипидов на отверстие в перегородке наблюдается так называемое первичное почернение мембраны — ее толщина значительно превышает длину волны видимого света. Затем мембрана истончается и дает интерференционную картину, так как толщина ее становится соизмеримой с длиной волны видимого света. Терминальная стадия процесса образования бислоя— вторичное почернение — наблюдается в результате уменьшения толщины мембраны до 5—6 нм. Истончение пленки обусловлено выталкиванием воды из густого внутреннего слоя мембраны в электролит и перемещением фосфолипидных молекул к краям отверстия. В результате этих процессов на отверстии в гидрофобном материале формируется двойной фосфолипидный слой, причем полярные группы монослоев обращены в раствор, омывающий мембрану, а неполярные ориентированы внутрь структуры. Мембрана стабилизируется электростатическими взаимодействиями между ионами электролита и заряженными группами фосфолипидов, а также силами сцепления Лондона и Ван-дер-Ваальса, которые действуют между гидрофобными участками фосфолипидных молекул. [c.133]

Если построить характеристическую кривую в виде зависимости плотности почернения от времени экспозиции t при постоянной освещенности, то можно видеть, что кривые D = fi t) при Е = onst ж D = (Е) при t = = onst не совпадут друг с другом. Отсюда следует, что по своему фотографическому действию изменение времени экспозиции неравносильно такому же изменению освещенности. Между тем для первичного фотохимического процесса имеет место закон Бунзена — Роско, согласно которому общее количество продуктов фотохимической реакции определяется только поглощенной световой энергией. Для случая фотографирования она зависит только от величины экспозиции Н = Et. Вследствие равноправности величин Е я t закон Бунзена — Роско называют обычно законом взаимозаместимости. При воздействии света на фотографическую эмульсию протекает много вторичных процессов, кроме того, идет химическое взаимодействие слоя с проявителем и фиксажем. Поэтому для фотографических эмульсий наблюдаются отклонения от закона взаимозаместимости, иногда очень значительные. Для учета этих взаимодействий в конце 19-го века Шварцшильд предложил эмпирическое уравнение [c.294]

Основные факторы, влияю-ющие на процентуальную чувствительность плотность почернения в ответственных частях рентгенограммы (оптимум для глаза 1,2—2,0) жесткость примененного излучения (влияет на ц— х ) величина фокуса рентгеновской трубки фокусное расстояние действие вторичного (преимущественно рассеянного) излучения, возникающего при просвечивании в объекте. [c.152]

Большой динамический диапазон регистрации и хорошая контрастность — еще один пример взаимно исключающих условий оба параметра зависят от распределения зерен по размерам, однако их можно регулировать так, чтобы обеспечить разумный компромисс. Достаточная поверхностная проводимость играет большую роль для снижения или устранения не только ушире-ния линий, но также и вторичного почернения, которое часто ограничивает чувствительность определения, особенно по соседству с передержанными линиями основы. [c.108]

На основании этих работ механизм вторичного почернения можно представить следующим образом. Плотность почернения зависит главным образом от первичного заряда ионов, плотности ионного тока и сопротивления пластины. При бомбардировке ионно-чувствительного слоя первичными ионами образуются отраженные первичные и различные вторичные частицы электроны, положительные и отрицательные ионы и нейтральные частицы, причем две последние категории характерны в основном для желатинного покрытия и зерен AgBr. В случае высокой плотности первичного тока на поверхности образуется положительный потенциал в несколько тысяч вольт, который затем служит источником вторичных ионов. Поле магнитного анализатора вынуждает ионы двигаться по полукруговой траектории (рис. 4.8) и образует спектр вторичных ионов, сдвинутый в направлении больших масс относительно первичных линий. Расшифровав вторичную линию по соседству с такой линией основы, как Н+, можно установить поверхностный потенциал первичной линии и рассчитать массы других вторичных ионов. Для получения подробного вторичного спектра желатины, который включает 9 [c.131]

Наконец, следует упомянуть метод (Частагнер, 1969), в котором используется уширение линии на пластине Q2 для анализа микрообразцов методом единичных экспозиций. Ширина линий, экстраполированная к уровню фона и эмульсии, а также пропускание, ограниченное вершинами, крыльями пиков и уровнем эмульсионного фона, являются линейной функцией lgQ+ в пределах 50. Поэтому можно использовать единичные экспозиции микрограммовых образцов для анализа примесей в динамическом диапазоне 10 —1 с относительным стандартным отклонением 16%. Опираясь на эти результаты, Частагнер предположил также, что для обычных анализов необходима система учета фона на уровне почернения эмульсий, а не на уровне вторичного почернения. Это предположение требует дальнейшего исследования. [c.135]

Поскольку процесс обработки и фиксации пластин подробно описан (Оуэнс, 1966, Мак-Кри, 19666, 1967), здесь будут обсуждены лишь несколько работ. Влияние проявителей различного типа и условий проявления на форму кривой чувствительности детально изучено Франценом и др. (1966). Кенникот (1966) усовершенствовал способ снижения вторичного почернения вблизи линий основы, вызванного вторичными ионами и третичными электронами. Поскольку эти частицы с низкими энергиями способны сенсибилизировать лишь поверхностные слои, процесс отбеливания проявителем эффективно снижает уровень фона, не влияя серьезно на чувствительность пластины к первичным ионам. Этот метод изучался также Кавардом (1968), который применил его к различным проявителям и увеличил чувствительность втрое (подробнее см. Кавард, 1969). После обработки фотопластины информацию можно получить либо визуально, либо — при количественных анализах — на микрофотометре, с которого ее можно передать на ЭВМ (гл. 6 и 7). [c.136]

Было также установлено, что зерна, находящиеся за пределами внедрения ионов, могут оказаться проявленными. Процессы, обеспечивающие их проявление, вызываются вторичным механизмом образования почернения, обусловленным люминесценцией желатины в момент столкновения ион—желатина [15]. Таким образом, зерна, расположенные очень близко к поверхностп, могут проявляться от удара одного иона. Зерна, находящиеся в глубине эмульсии в пределах внедрения ионов, становятся проявляемыми от нескольких ударов ионов, а частицы, лежащие за пределами области внедрения ионов, могут [c.74]

Во время экспозиции первичный и вторичный механизмы действуют одновременно. Па средних экспозициях преобладает первичный механизм почернения. С увеличением экспозиции все зерна AgBr в пределах внедрения ионов становятся пора-укенными и внешний слой эмульсии насыщается. Люминесценция поражает более глубокие слои эмульсии, и их насыщение может наступить прн более продолжительной бомбардировке ионами. [c.75]

Кроме удаления желатины существуют другие методы повышения чувствительности эмульсий, в том числе введение в них веществ, имеющих достаточно хорошие люминесцентные свойства, что приводит к усилению вторичного механизма почернения [12] добавление серы во время изготовления эмульсии для образования групп AgS введение Agi в кристаллы бромистого серебра для у.меньшения величины запретной зоны и увеличения плотности дислокаций, создающих центры чувствительности [11]. Для безжелатинных фотопластинок, как показали опыты [24], указанные методы не приводят к заметному росту чувствптельностп. [c.80]

Фотографический метод. При воздействии излучения на фотографическую пленку или пластинку в результате ионизации в эмульсии происходят фотохимические процессы. В случае тяжелых заряженных частиц или нейтронов выявляются следы (трэки), соответствующие прохождению частиц (вторичных для нейтронов). По числу трэков можно судить о потоке излучения, а по длине — об энергии. Доза рентгеновского или у-излучения измеряется по суммарному почернению. Переход к рентгенам или радам осуществляется с помощью специально определенного переходного коэффициента. Фотографический метод широко используется для индивидуальной дозиметрии, когда необходимо определить поглощенную дозу, полученную отдельным работником за какой-то значительный промежуток времени. [c.98]

Таким об1разом, можно принять, что действие десенсибилизатора, адсорбированного на центрах светочувствительности, является результатом наложения двух противоположных эффектов 1) основного десенсибилизирующего эффекта путем восстановления красителя 2) вторичного сенсибилизирующего эффекта путем передачи электронов от восстановленного красителя на некоторые центры светочувствительности. Исходя из такой схемы, можно предложить следующий механизм десенсибилизации. В случае высокочувствительных микрокристаллов основную роль играет первый эффект. Это объясняется тем, что на этих микрокристаллах имеются сравнительно крупные центры светочувствительности, адсорбирующие большое число молекул красителя. Поэтому для восстановления красителя требуется большое число фотоэлектронов, и второй эффект окажет свое влияние только после значительной экспозиции, например в 100 раз большей, чем экспозиция, соответствующая порогу почернения эмульсии (V). В результате будет наблюдаться значительная десенсибилизация высокочувствительных микрокристаллов. В случае микрокристаллов средней чувствительности на центрах светочувствительности адсорбируется меньшее число молекул красителя восстановление красителя заканчивается раньше, чем в первом случае, и начинается второй, сенсибилизирующий процесс образования скрытого изображения на центрах светочувствительности. Обычно эти микрокристаллы все еще менее [c.395]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология