Дифракция рентгеновских лучей, исследования образцах

Рентгеновский анализ позволяет про вести ряд важных исследований кристаллической структуры пленок, устанснить тип решетки и основные параметры решетки путем рентгеноструктурного исследования, т. е. определения дифракции рентгеновских лучей после прохождения через кристаллическую структуру пленки. Так как рентгеновские лучи обладают большой жесткостью — глубоко проникают в образец, то обычно предпочитают исследовать снятый материал пленки. [c.38]

Идентификация дисперсного материала методом электронной дифракции во многих отношениях сходна с исследованием при помощи метода Дебая-Шеррера дифракции рентгеновских лучей на порошке. В основе его лежит измерение диаметров дифракционных колец на пленке, преобразование этих данных в величины межплоскостных расстояний с1 (в ангстремах) и оценка относительной интенсивности линий. Полученные данные сравнивают с табличными значениями для различных минералов с целью найти соответствия. Эта идеальная ситуация редко встречается при дифракции электронов, поскольку образец имеет, как правило, преимущественную ориентацию, а малое количество гранул не позволяет получить достаточно полную картину. [c.242]

В твердом ПБГ может сохраняться также и нематическая сверхструктура. Такая одноосная структура образуется при ориентации жидкого кристалла в магнитном поле (большем, чем Не) и последующем медленном испарении растворителя в присутствии поля. В результате получается высокоориентированный одноосный образец ПБГ, молекулы которого параллельны первоначальному направлению поля. Одноосная структура показана на снимке скола образца (рис. 16,6). На снимке видна фибриллярная структура, в которой фибриллы параллельны направлению действовавшего магнитного поля (вертикально на снимке). Исследования упорядоченных в магнитном поле пленок методом дифракции рентгеновских лучей показали, что упорядоченность в них сравнима с той,, которую получают при механической деформации волокон [50]. [c.204]

Электроны рассеиваются гораздо сильнее, чем рентгеновские лучи в этом случае достаточны экспозиции меньше секунды, тогда как эксперименты с дифракцией рентгеновских лучей занимают обычно несколько часов. С другой стороны, это означает, что проникающая способность электронов значительно меньше, чем рентгеновских лучей, так что в опытах по исследованию дифракции электронов источник электронов, исследуемый образец и фотографическая пластинка должны находиться в сосуде, эвакуированном примерно до 10" мм (рис. 101). По той же причине нельзя исследовать толстые образцы. Поэтому дифракция электронов использовалась главным образом для изучения тонких поверхностных слоев, например на металлах, и для определения строения молекул газооб- [c.318]

Исследование методом дифракции рентгеновских лучей показало, что содержание кристаллических областей в отлитом образце с плотностью 0,96 г/см (см. рис. 12) приближалось к 90%, а в отожженном образце с плотностью 0,98 г/см — к 95%. Третий образец был получен кристаллизацией из 0,3%-ного раствора в [c.381]

Мы обсудили исследование электрохимического окисления окисла Ni(IR в электродах миниатюрных батарей, выполненное Туоми [151] методом дифракции рентгеновских лучей. Активные материалы исследовались методом дифракции рентгеновских лучей в порошках на различных стадиях анодного процесса. Поскольку электроды после электрохимической обработки извлекались из электролита, этот метод нельзя было отнести к методам in situ. Однако исследованию подвергался достаточно массивный образец, и за время проведения рентгеновской дифрактометрии эффекты саморазряда были относительно малы. Степень электрохимического окисления определяли путем оценки количества активного кислорода по реакции с избытком окиси мышьяка(Ш) с последующим титрованием водным раствором КМпО , а также путем нахождения Ni с помощью диметилглиоксима. [c.465]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология