Относительные интенсивности линии

Межплоскостные расстояния и относительные интенсивности линий некоторых поликристаллических веществ [c.476]

При индицировании рентгенограмм порошка политипных модификаций полезно иметь в виду, что индексы дополнительных линий относятся к тому же типу, что и индексы основных линий, ближайших к дополнительным. Например, в случае 2п5 дополнительные узлы обратной решетки возникают вблизи узлов типа 10 /. На рентгенограмме порошка - в первую очередь вблизи линий 100 и 101 гексагональной модификации и 101 и 102 кубической (индексы даны в гексагональной ячейке). Положение и относительная интенсивность линий / / /не изменяются. [c.122]

Число и относительные интенсивности линий в мультиплете зависят от сочетания спинов во взаимодействующих группах. Сверхтонкая структура спектров не зависит от резонансной частоты. Действительно, поскольку расщепление отдельной линии вызывается локальными магнитными полями, не зависящими от резонансной частоты и внешнего магнитного поля, то и сама сверхтонкая структура спектра остается неизменной. [c.260]

Учет изменения содержания элемента сравнения. Как уже указано ранее, общепринятым в атомно-эмиссионном методе является измерение интенсивности аналитической линии относительно интенсивности линии сравнения. Поэтому непосредственным результатом анализа является значение относительного содержания С, т. е. измеренное по отношению к содержанию элемента сравнения Сер. Найденное таким образом значение С совпадает с действительным содержанием Сх только в случае, когда содержание элемента сравнения и в пробах, и в образцах сравнения постоянно и одинаково. [c.88]

Основное достоинство метода фотометрического интерполирования заключается в том, что получаемый с его помощью градуировочный график должен быть прямолинеен, а его параметры не должны зависеть от свойств применяемой фотоэмульсии. Это обстоятельство позволяет при работе пользоваться постоянным градуировочным графиком, что существенно ускоряет анализ, особенно, если учесть, что все оценки относительной интенсивности линий выполняются визуально, при просмотре спектрограмм на экране спектропроектора. Возможно также применение метода в варианте, предусматривающем измерение почернений на микрофотометре. Производительность метода при этом, естественно, снижается, однако точность результатов возрастает. [c.120]

Гетерохромная фотометрия. Для правильной оценки относительных интенсивностей линий в общем случае необходимо учитывать как изменение спектральной чувствительности и коэффициента контрастности фотоэмульсии с длиной волны, так и изменение светосилы и дисперсии спектрального прибора на данном спектральном интервале. Задача калибровки фотоэмульсии в этом случае решается с помощью стандартного спектра, т. е. спектра с известным распределением энергии. В качестве источника такого спектра, как правило, применяют ленточную лампу накаливания с известной цветовой температурой Тц. Распределение энергии в спектре ленточной лампы накаливания достаточно хорошо описывается формулой Планка [c.128]

Работа состоит из двух частей сначала выполняют измерение относительной интенсивности линий, расположенных в области одинаковой чувствительности фотопластинки, затем в областях разной чувствительности. [c.129]

Измеряют плотности почернений этих линий, соответствующих им участков в спектре ленточной лампы, а также линий в спектре железа, снятом через ступенчатый ослабитель. Построив характеристические кривые для всех исследуемых линий, определяют отношение их интенсивностей к интенсивности соответствующих участков сплошного спектра и по формуле (а) — см. выше — рассчитывают относительную интенсивность линий внутри триплета цинка и дублета бария. [c.130]

Однако интенсивность спектральных линий зависит не только от содержания элемента в пробе, но и от условий возбуждения и парообразования (температуры источника, скорости испарения, величины испаряющейся поверхности, нестабильности горения и Т.Д.). Количественные определения проводят по относительной интенсивности линии, которая практически не зависит от условий возбуждения. Под относительной интенсивно- [c.189]

Относительные интенсивности линий в сериях характеристического рентгеновского спектра определяются соответствующими правилами отбора, т. е. вероятностями квантовых переходов, а Зависимость выходов, флуоресценции (1) и оже-электро-частоты, как уже было сказано J,pJ, вакансии в /(-оболочке (см. равенство VI.5), дают раз- от атомного номера 2 элемента ности энергии квантовых уровней электронов. [c.139]

Гц. В табл. 4.1 приведены частоты и относительные интенсивности линий в спектре эфира и в теоретическом спектре АВг при отношении А дв/Ав = = 2,5. [c.2]

Если рассмотреть все факторы угловой зависимости, включая и, 4, то видно (рис. 30), что при сильном поглощении относительная интенсивность линий почти не изменяется с увеличением в, а при съемке на дифрактометре резко уменьшается при росте 0 от О до 45°. [c.179]

Уменьшение относительной интенсивности линий при появлении дефектов упаковки зависит от индексов линий и появляется в основном у линий с Поэтому можно [c.238]

Смещение атомов из равновесных положений вызывает уменьшение относительной интенсивности линий, особенно [c.238]

Плотность почернения. Для измерения относительной интенсивности линий аналитической пары спектр исследуемой пробы фотографируют на пластинку. На пластинке получается ряд линий, степень почернения которых зависит от интенсивности снятых спектральных линий. Коли- [c.227]

Для данного вещества среднеквадратичные значения смещений атомов за счет тепловых колебаний зависят только от температуры. Поэтому, сравнивая относительные интенсивности линий исследуемого препарата с таковыми для эталона из вещества такого же состава и структуры, можно опреде-. лить среднеквадратичное значение смещения атомов из идеальных положений. При одной и той же интенсивности первичного пучка и одинаковой скорости записи в случае съемки эталона и исследуемого вещества [c.239]

Таблица 6.24. Ориентации спинов, значения Нр , и относительная интенсивность линии СТС

Для перехода от относительной интенсивности линий аналитической пары к концентрации определяемого элемента можно пользоваться уравнением (1). [c.227]

Уравнение (2а) показывает, что мел<ду логарифмом относительной интенсивности линий аналитической пары и логарифмом концентрации определяемого вещества существует линейная зависимость. Чтобы пользоваться уравнением (2а) для нахождения концентрации определяемого [c.227]

Пример 2. При облучении жидкого этана потоком электронов был получен его спектр ЭПР (регистрировалась вторая производная) (рис. 5.30) [91]. На приведенном спектре видно четыре равноудаленных триплета (1 2 1) с относительными интенсивностями линий 1 3 3 1. Расщепление триплета может вызываться двумя эквивалентными протонами, в то время как расщепление квартета на четыре триплета, очевидно, вызывается тремя эквивалентными протонами. Таким образом, спектр можно объяснить, [c.272]

Две спектральные линии двух металлов имеют одинаковые потенциалы возбуждения, но потенциалы ионизации этих элементов различны. Как будет изменяться относительная интенсивность линий при повышении температуры источника света [c.56]

При количественном эмиссионном анализе ширину щели выбирают так, чтобы потеря разрешения была небольшой и в то же время относительная интенсивность линий мало зависела от ширины щели. Это достигается при щели в 2—3 раза более широкой, чем нормальная. [c.110]

Подобный анализ спектров возможен только тогда, когда химический сдвиг по величине гораздо больше константы взаимодействия. Если разность химических сдвигов для двух групп ядер представляет собой величину одного порядка с константой сппн спино-вого взаимодействия, то число и относительные интенсивности линий в спектре уже ие подчиняются этим простым правилам. [c.262]

Масс-спектры состоят из линий, соответствующих осколкам молекул с определенным отношением их массы к заряду. Эти осколки образуются в ионизационной камере масс-спектрометра в результате действия электронного удара. Затем ионизированные осколки и ионы ускоряются в. магнитном поле, причем угол отклонения пучка ионов зависит от отношения массы осколка или иона М к его заряду е. Ионные токи, обусловленные каждым пучком ионов, пос- ле усиления регистрируются самописцем. Положение линий на шкале масс и их относительная интенсивность являются важными характеристиками масс-спектра данного соединения. Масс-спектры изомеров различаются по относительной интенсивности линий. Относительный спектр масс хорошо воспроизводится. Все это обуслов- ливает успешное применение масс-спектров для однозначной идентификации соединений, в том числе и изомеров. [c.196]

Таким образом, если выбранные линии имеют близкие потенциалы возбуждения, а соответствующие им элементы обладают близкими потенциалами ионизации и прочими физикохимическими характеристиками, относительная интенсивность линий становится малочувствительной к изменению j(флyктya-циям) условий возбуждения, [c.55]

Для другого образца сравнения (с другим значением Сх) равенство почернений будет достигаться уже длл другой комбинации ступенек и соответственно получим другое значение ц(1х11г). Определив таким образам относительную интенсивность линий аналитической пары по спектрам нескольких образцов сравнения, можно построить постоянный градуировочный график (/ //,) = С.г) для каждого элемента и с его помощью далее определять неизвестные концентрации элемента в анализируемых пробах. [c.120]

Измеряют плотности почернений заданных линий, а также -линии в спектре железа, снятом через ступенчатый ослабитель. По линии железа строят характеристическую кривую и определяют с ее помощью относительную интенсивность группы линий марганца. По почернениям линий алюминия, снятых через ступенчатый ослабитель, строят две характеристические кривые и по ним определяют относительную интенсивность линий. Полученные результаты сравнивают с теоретическимк отношениями интенсивностей, [c.129]

Сущность качественного рентгенофазового анализа саодится к сопоставлению экспериментально определенных значений межплоскостных расстояний (й) и относительных интенсивностей (/) линий с эталонными рентгенограммами. Если на полученной при исследовании образца рентгенограмме присутствуют дифракционные максимумы со значениями а и /, характерны.ми для определяемого соединения, то это значит, что оно присутствует в исследуемом материале. Анализ, естественно, облегчается, если известен хотя бы приблизительно химический состав исследуемого материала пли предполагаемый минеральный состав. В этом случае круг веществ, рентгенографические характеристики которых необходимо сравнить с полученной рентгенограммой, значительно сужается. [c.86]

Особенно близки между собой рентгенограммы Сар2 и Si (у qF2 и Si нет линий, соответствующих второй, пятой и восьмой линиям UO2 иУцР). Однако при сопоставлении относительных интенсивностей линий в обоих случаях можно заметить разницу 2-я и 3-я, 8-я и 9-я линии U О2 примерно равной интенсивности, в то время как у аР 2-я и 8-я линии значительно слабее 3-й и 9-й, у СцГ и Si значительно различаются интенсивности первых двух линий. Определение параметров решетки (с точностью хотя бы до 0,002 X) также дает однозначный ответ на вопрос о том, какое вещество исследуется в данном случае. Расхождения в значениях интенсивностей у разных авторов могут быть вызваны разными условиями съемки. В отличие от различий, обусловленных разницей в расположении атомов в ячейке, они более или менее плавно зависят от угла отражения и длины волны применяемого излучения. Это связано в основном с различием во влиянии абсорбционного фактора на рент- [c.42]

На приведенном примере видны основные трудности индицирования с использованием изоструктурного соединения трудность подбора такого соединения, наложение линий с разными индексами, изменение взаимного расположения линий при сравнительно небольшом изменении отношения параметров и, наконец, изменение относительной интенсивности линий вследствие разной рассеивающей способности атомов в обоих соединениях разница в координатах практически не скажется на интенсивностях первых линий. Однако несмотря на все трудности, проведенное достаточно тщател .-но индицирование по дебаеграмме изоструктурного соединения дает надежные результаты. [c.93]

В таблице 27 приведены значения Q 1о / ураната (У) литий. Первые линии - Qf ) можно объединипь в группы, учитывая относительные интенсивности линий внут1)и группы как весовые множители [c.112]

Индицирование линий, соответствующих субъячейке (в тябл-41 они отмечены звездочками) в случае К2Ц7 22 несколько затруднено тем, что относительная интенсивность линий в группах, образующихся при гексагональном искажении, не соответствует соотношениям факторов повторяемости. Впоследствии это нашло объяснение, но при индицировании вызывало недоумение несоответствие факторам повторяемости 1 200 110 201 111 вместо [c.193]

Число линий в спектре соответствует числу различных суммарных спинов /1, относительная интенсивность линий определяется числом возможных способов реализации и. Напряженность поля, при которой проявляются резонансные линии (Нрез), определяется величиной Нэфф- Если //эфф>//, то Ярез меньше Н на ту же величину. [c.289]

Измеряя относительные интенсивности линий, можно оценить число ядер, находя щихся в различных химических группировках или соединениях. Поскольку ширины линий могут отличаться, лучше определять площади сигналов, что в современных спектрометрах ЯМР производится путем интегральной записи интенсивности — площадь 1аписывается как высота прямоугольного участка интегральной кривой, соответствующей данному сигналу (рис. 6.42). [c.296]

Таким образом, число комплексов определяется по числу линий, последовательность их появления при увеличении концентрации лиганда дает сведения о составе комплексов, а относительная интенсивность линий —об их концентрации. Зная концентрации комплек- [c.301]

По относительным интенсивностям линий определяется доля каждого /-Г0 парамагнитного комплекса (а,) в яависимости от от- [c.302]

Устройство и оптическая схема стилометра СТ-7. Стилометр СТ-7 предназначен для качестсенного н полуколичественного анализа легированных сталей по спектральным линиям видимой области спектра. Количественная оценка содержания отдельных компонентов производится по измерению относительных интенсивностей линий с [c.183]

Так как линии рентгеновской флуоресценции возникают вследствие переходов электронов в наиболее глубоких внутренних электронных слоях, энергия химической связи в общем слишком мала для того, чтобы изменить состояние электронов этих слоев. Напротив, в случае легких элементов в образовании связи участвуют электроны ЛI-oбoлoчки. В этом случае могут проявляться заметные смещения длин волн, например, для элемента и его окисла. Для А1/Ср-линий это различие составляет ДЯ = 0,02 А. Наряду с изменением длины волны изменяется и относительная интенсивность линий. Длины волн линий алюминия изменяются также в зависимости от его координационного числа по отношению к кислороду. Этим способом можно было бы. например, определить координационные числа алюминия в полевых шпатах и других алюмосиликатах. [c.217]

Контролировать только электрические параметры разряда, как правило, недостаточно. Поэтому при выборе режима и периодически при последующей работе проверяют температуру разряда. Достаточно убедиться в ее постоянстве, измеряя относительную интенсивность линий фикспары. [c.78]