Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Дифрактометры рентгеновские

Рис. 28.15. Схема устройства (а) и геометрия (б) рентгеновского дифрактометра. / — рентгеновская трубка 2 —щели Соллера 3 —щель коллиматора 4 —образец 5 —щель коллиматора приемная щель 7 —счетчик в —фокальная поверхность 9 —счетчик. Рис. 28.15. <a href="/info/329541">Схема устройства</a> (а) и геометрия (б) рентгеновского дифрактометра. / — <a href="/info/16960">рентгеновская трубка</a> 2 —щели Соллера 3 —щель коллиматора 4 —образец 5 —щель коллиматора приемная щель 7 —счетчик в —<a href="/info/449757">фокальная поверхность</a> 9 —счетчик.

Рис. 3. Изменение межслоевого расстояния коксов в процессе термообработки в вакууме в камере высокотемпературной установки УВД-2000, соединенной с рентгеновским дифрактометром ДРОН-2,0 Коксы 1 - игольчатый, 2 - рядовой, 3 - сернистый (8=2,8%) Рис. 3. Изменение <a href="/info/511982">межслоевого расстояния</a> коксов в <a href="/info/1475244">процессе термообработки</a> в вакууме в <a href="/info/1358344">камере высокотемпературной</a> установки УВД-2000, соединенной с рентгеновским дифрактометром <a href="/info/1166045">ДРОН</a>-2,0 Коксы 1 - игольчатый, 2 - рядовой, 3 - сернистый (8=2,8%)
    Дифрактометр рентгеновский для исследования фазового состава поли-кристаллических материалов [c.244]

    Аппарат ДРОН-2. Рентгеновский дифрактометр общего назначения более высокого класса, чем ДРОН-1 и ДРОН-1,5. Обладает рядом преимуществ, в том числе возможностью записи дифракционной картины на перфоленте, которая может быть введена в ЭВМ для последующей обработки, возможностью использования одновременно с дифрактометрической фотографической регистрации излучения, более высокой производительностью, большей стабильностью напряжения и анодного тока и т. д. Максимальное напряжение на трубке 50 кВ, максимальный ток 60 мА. [c.76]

Рис. З.бй" Зоны взятия проб в печной трубе Структура образцов, вырезанных на расстояниях 300-500 мм (см. рис. 3.66) от места разрушения, отличается от исходной структуры наличием сферических выделений преимущественно по фаницам аустенитных зерен второй фазы (рис. 3.67), которая с помощью рентгеновского дифрактометра была идентифицирована как а-фаза. По мере приближения к зоне разрушения количество и размеры отдельных частиц ст-фазы возрастают (рис. 3.68), одновременно изменяется ее химический состав за счет Рис. З.бй" Зоны <a href="/info/147855">взятия проб</a> в <a href="/info/923058">печной трубе</a> <a href="/info/501799">Структура образцов</a>, вырезанных на расстояниях 300-500 мм (см. рис. 3.66) от <a href="/info/977159">места разрушения</a>, отличается от исходной структуры <a href="/info/1793053">наличием сферических</a> выделений преимущественно по фаницам аустенитных зерен <a href="/info/66785">второй фазы</a> (рис. 3.67), которая с <a href="/info/739369">помощью рентгеновского</a> дифрактометра <a href="/info/1330306">была</a> идентифицирована как а-фаза. По <a href="/info/1843681">мере приближения</a> к <a href="/info/521681">зоне разрушения</a> количество и <a href="/info/142539">размеры отдельных</a> частиц ст-<a href="/info/1572111">фазы возрастают</a> (рис. 3.68), одновременно изменяется ее <a href="/info/2736">химический состав</a> за счет
    В другом методе может быть использован счетчик, чувствительный к рентгеновскому излучению. Этот прибор сконструирован так, как показано на рис. 17.19. Счетчик движется по дуге, регистрируя изменения в интенсивности рассеянных рентгеновских лучей. Этот метод проще и быстрее, а также характеризуется значительно лучшим разрешением, чем можно достичь с помощью пленки поэтому в дальнейшем мы будем обсуждать использование дифрактометра, предназначенного для исследования порошкообразных образцов. [c.386]


    Фазовый состав получаемого углеродного материала изучался методом рентгеноструктурного анализа на рентгеновском дифрактометре ДРОН-3.0 с использованием программы X-RAY. Исследовались как неочищенные образцы углеродных материалов, так и прошедшие стадии обработки соляной кислотой и частичного окисления. [c.93]

    Дифрактометр рентгеновский пяти канальный для массового количественного фазового анализа состава многокомпонентных поликристаллических материалов [c.245]

    Рентгеновское излучение проходит коллиматор, щель, монохроматор, разрядную камеру. В кожух камеры вмонтированы прозрачные к рентгеновскому излучению окна. За выходным окном находится сцин-тилляционный детектор. Линейный усилитель и одноканальный анализатор обрабатывают выходной сигнал до его выхода в интенсиметр. При этих измерениях определяется доля проходящего рентгеновского излучения. Для детального анализа продуктов разложения UFe в РЧ-плазме использовались следующие приборы профилометр — для измерения толщины поверхностных отложений, эрозии и коррозии стенок кварцевой разрядной камеры инфракрасный спектрофотометр — для идентификации соединений, возникающих в плазме и обнаруженных в налете на стенках разрядной камеры сканирующий электронный микроскоп для изучения полученных в плазме РЧ-разряда в UFe отложений на стенках дифрактометр рентгеновского излучения — для идентификации химических соединений в отложениях на стенках разрядной камеры электронный микроскоп для определения относительной кристалличности отложений ионный спектрометр в комбинации с масс-спектрометром — для идентификации химических элементов и их соединений в отложениях на стенках камеры. [c.509]

    Ионизационные рентгенограммы получают с помощью установок для рентгеновского анализа, например УРС-50ИМ, ДРОН-3,0. Основные узлы рентгеновского дифрактометра — рентгеновская трубка, генераторное устройство, питающее рентгеновскую трубку, детектор рентгеновского излучения с измерительным устройством [c.154]

    При изучении структурных превращений в процессе термообработки коксы прокаливались в силитовых печах при стандартных условиях (1300°С, 5 часов), в печи Таммана с изотермической выдержкой в течение 2 ч и в среде вакуума в камере высокотемпературной рентгеновской установки УВД-2000. Съемка дифрактограмм проводилась на дифрактометрах ДРОН-2,0, ДРОН-3,0 с СиКаИзлучением рентгеновской трубки и малоугповой рентгеновской установке КРМ-1. Ряд исследований проводился с использованием метода радиального распределения атомной плотности (р.р.а.). [c.117]

    Эффективность использования комплекса физических методов, включавшего рентгеновскую дифрактометрию, рентгеновский микроанализ, сканирующую электронную микроскопию, оптическую микроскопию, а также определение микротвердости последовательно снимаемых слоев металлической поверхности (табл. 1), для изучения механизма действия противозадирных присадок была показана в работе [4] на примере различных дисульфидов и диалкилдитиофосфатов цинка. [c.16]

    Прочие сведения имеются источники Со , 200 кюри дифрактометры рентгеновских лучей, 35 квт аппарат диффузии света приборы для измерения электроэрозии осциллограф большой разрешающей способности. [c.338]

    Рентгенографические исследования при высоких температурах используются для изучения высокотемпературных фазовых переходов, определения параметров решетки высокотемпературных полиморфных форм веществ в области их стабильного существования, качественного и количественного рентгенофазового анализа при высоких температурах, нахождения величины коэффициента термического расширения и т. д. Для исследования веществ при высоких температурах применяются специальные высокотемпературные камеры и приставки к дифрактометрам, причем для изучения испаряющихся или окисляющихся в обычной атмосфере веществ применяются вакуумные или заполненные инертным газом камеры и приставки. Основные требования к подобного рода устройствам нагрев до достаточно высокой температуры, малый температурный градиент в нагреваемом объеме, постоянство и точное измерение температуры образца. Нагрев исследуемого образца может, например, производиться за счет его контакта с плоским нагревательным элементом значительно лучшие результаты в отношении градиента температур получаются, если образец помещается внутри нагревателя цилиндрической или сферической формы с окнами для падающего и дифрагированного рентгеновских пучков. При необходимости съемки в вакууме или любой нужной атмосфере эти окна закрываются бериллием, пропускающим рентгеновское излучение. [c.103]

    Такой прибор называют автоматическим рентгеновским дифрактометром.— Прим. перев. [c.396]


    Более 20 коксов из разного сырья было изучено при термообработке в условиях вакуума в камере высокотемпературной установки УВД-2000, соединенной с рентгеновским дифрактометром ДРОН- [c.118]

    Рентгеновский дифрактометр с нагревом Термометрический титрометр [c.5]

    Методы и схемы съемки с дифрактометрической регистрацией. В отличие от методов с фотографической регистрацией с помощью камеры в дифрактометрах регистрация дифракционной картины осуществляется последовательно во времени. Пленку в дифрактометре заменяет щель счетчика, двигающегося по окружности вдоль дифрагированного пучка рентгеновских лучей, т. е. дифракционная картина получается постепенно, линия за линией по мере поворота счетчика. [c.81]

    Определение производилось на дифрактометре УРС-50И с фиксацией рентгеновского излучения счетчиком Гейгера — Мюллера и использованием фокусирующего кристалла — монохроматора (кварц). В качестве аналитических линий были выбраны для СзА — его самая интенсивная линия с = 2,70 А, для С АР — линия с = 2,63 А для СзЗ — линия с интенсивностью 7 по десятибалльной шкале с = 3,02 А. Большинство интенсивных линий Р-СаЗ накладывается на [c.91]

    Дифрактометр рентгеновский общего назначения для широкого круга рентгеноструктурных исследований дифрактоме-трическим методом и фотометодом ТУ 25-05-1565-74 [c.242]

    Рентгеновский дифрактометр ДРОН-2.0 обеспечивает автоматичес-ктп работу в двух режимах непрерывном и дискретном. При непрерывном режиме работы осуществляется измерение интенсивности в процессе перемещения детектора в заданном угловом интервале, а при дискретном осуществляется шаговое сканирование с измерением и регистрацией интенсивности после отработки каждого шага [ II ].  [c.106]

    В основу классификации экспериментальных методов рентгенографии можно положить либо способ регистрации дифракционного спектра (фотографический или ионизационный), либо агрегатное состояние исследуемого объекта (поли- или монокристалл, аморфное вещество, жидкость или газ). Несмотря на существование единого физического подхода к проблеме дифракции рентгеновских лучей (см. Введение и гл. I), различия в методических особенностях экспериментальных исследований различных объектов весьма существенны и приводят к появлению специальных областей рентгеноструктурного анализа. Например, значительная информация о белках, полимерах и ряде других объектов сосредоточена в области малых углов рассеяния от нескольких угловых минут до 3—5 градусов. С позиций физики рассеяния рентгеновских лучей между этой и всей остальной частью дифракционного спектра нет никакой принципиальной разницы, однако, специфические экспериментальные трудности, в первую очередь — малая интенсивность рассеянного излучения, привели к созданию специального рентгеновского оборудования — малоугловых рентгеновских камер и дифрактометров [1]. [c.111]

    Получение количественной информации о рассеянии ориентации кристаллитов рентгеновским методом можно осуществить регистрированием дифрагированша лучей счетчиком кв ов рентгеновского излучения. С поющью рентгеновских дифрактометров можно подучить [c.104]

    Конструкция дифрактометра. Дифрактометр рентгеновский общего назначения ДРОН-3 (рис. 9.33) может работать в комплекте с ЭВМ, используемой и для обра-бotки экспериментальных данных. [c.248]

    Дифрактометр рентгеновский многок1 1нальный для фазового анализа ДРМк-2,0. Дифрактометр предназначен для массового фазового анализа многокомпонентных поликристаллических материалов. Наличие пяти каналов позволяет сократить в 5 раз по сравнению с одноканальным прибором время измерения при заданной статистической ошибке. Прибор состоит из высоковольтного источника питания, рентгеновской трубки, оперативного стола и счетно-регистрирующего устройства. Оперативный стол включает в себя гониометрическое устройство с рентгеновской трубкой и малогабаритными сцинтилляционными детекторами, самопишущий потенциометр ЭПП-0,9, пульт управления гониометром и высоковольтный делитель для питания детекторов. [c.10]

    Ц тем небольших изменений схемы блока управления серийно выпус-каеиого устройства ПР-14м рентгеновского дифрактометре ДРШ-2,0 (ркс.З) вам тхвлойъ осуществить совместное получение кривой ин- [c.107]

    Модернизация рентгеновского дифрактометра ДРОН-2.О для исследования текстуры нефтяных кокоов. Новоселов В.Ф. В кн.,Исследование состава и структуры нефтепродуктов.Сб.научн.трудов.М.. ЦНИИТЭнефтехим.1986,с.104-113. [c.165]

    Влияние способа очистки и измельчения на кристаллическую структуру графитов определяли методом рентгеновской дифракции. С исследуемых проб получены рентгенограммы иа аппарате УРС-60, а отдельные отражения зарегистрированы на дифрактометре ДРОН-1 с использоваиием монохро1матизиро ванного Си Ка -из-луче ия. [c.150]

    Изучение тонкой структуры коксов цроводилось на рентгеновском дифрактометре ДРОН-3,0 с использованием щелей Соллера и Си излучения,отфильтрованного никелевым фильт ром. Для съемки использовался кокс с размером частиц менее 0,1 мм.Расчет цроводился по известным формулам. Оцределение количества графити-рованной фазы проводилось по методу добавок,который часто используется в аналитической практике. [c.106]

    IV. Установление параметров решетки кристаллов любой спнгонии по Дебаю. Аппаратура-, камера большого диаметра — рентгеновская камера универсальная (РКУ-114) дифрактометр фильтры для устранения р-рефлексов. [c.376]

    Аппарат ДР0Н-1(ДР0И-1,5). Рентгеновский дифрактометр общего назначения. Употребляется для проведения широкого круга структурных и фазовых ис- [c.75]

    Аппарат УРС-50ИМ. Рентгеновский дифрактометр для структурного, фазового и других видов анализа, позволяющий исследовать поликристаллические (в том числе, крупнозернистые) образцы, монокристаллы, определять преимущественную ориентировку кристаллов (текстуру) и т. д. В аппарате используется рентгеновская трубка БСВ-б с линейным фокусом. Максимальное напряжение 50 кВ, максимальный ток 12—14 мА. [c.76]

    Аппарат ДРМк-2,0. Специализированный многоканальный рентгеновский дифрактометр, предназначенный для массового фазового анализа многокомпонентных поликристаллических материалов. Наличие 5 каналов позволяет по сравнению с одноканальным прибором в 5 раз сократить время анализа другой тип подобного аппарата (автоматический дифрактометр типа ДАРП-2,0) — проводить одновременный фазовый анализ в поликристаллических материалах до 10 фаз. [c.76]

    Аппарат ДРД-4. Рентгеновский дифрактометр с дистационным управлением применяется для анализа радиоактивных препаратов активностью до 3,7-10"с (до 10 Ки) по СО и позволяет регистрировать дифракционную картину при наличии а-, р- и унзлучения образца. [c.76]

    Аппарат ДАРМ-2,0. Автоматический рентгеновский дифрактометр используется для исследования монокристаллов всех сингоний размером 0,01—0,1 мм по программе, рассчитанной на ЭВМ. Результаты анализа выдаются в форме, пригодной для непосредственного введения в ЭВМ. Другой аппарат подобного типа ДАР-УМБ, оснащенный гониометром с блоком строенных детекторов, можно непосредственно стыковать с ЭВМ. [c.76]

    Аппарат УРС-60. Рентгеновская установка для рентгенографического анализа, позволяющая использовать как фотографический, так и дифрактометри-ческий методы регистрации излучения. Возможна одновременная работа на двух рентгеновских трубках БСВ-2, БСВ-4 и БСВ-6 в любом сочетании. Максимальное напряжение 60 кВ, максимальный ток 30 мА. Сейчас вместо УРС-60 выпускается аппарат УРС-2,0 с близкими параметрами. [c.76]

    Рентгеновская высокотемпературная приставка УРВТ-1500 используется для исследования фазовых переходов, определения параметров кристаллической решетки, коэффициента термического расширения и т. д. различных материалов на дифрактометрах УРС-50-ИМ и ДРОН-1 при температурах до 1500°С в вакууме и до 1200°С в воздухе или атмосфере инертного газа. Нагрев образца осуществляется электрической печью сопротивления. Приставка снабжена системой автоматического поддерживания температуры и ее измерения (точность поддерживания температуры 3°С, точность измерения 5°С). [c.104]


Смотреть страницы где упоминается термин Дифрактометры рентгеновские: [c.817]    [c.396]    [c.404]    [c.121]    [c.81]    [c.215]    [c.76]    [c.104]    [c.253]    [c.75]    [c.82]   
Методы измерения в электрохимии Том2 (1977) -- [ c.227 ]




ПОИСК





Смотрите так же термины и статьи:

АППАРАТУРА ДЛЯ РЕНТГЕНОСТРУКТУРНОГО АНАЛИЗА И ТЕХНИКА ЭКСПЕРИМЕНТА Рентгеновские дифрактометры

Метод рентгеновской дифрактометрии

Рентгеновская дифрактометрия

Рентгеновский дифрактометр превращение в рентгеновский

Рентгеновский дифрактометр спектрограф



© 2025 chem21.info Реклама на сайте