спектр разрушение рентгеновскими лучам

В последнее время все большее внимание при изучении углеродных материалов уделяется спектроскопии комбинационного рассеяния (КР-спектроскопия) [37—39]. На рис. 10 представлены типичные спектры КР для различных углеродных материалов. Природный графит характеризуется одной резкой полосой в спектре при 1580 см . Она соответствует дважды вырожденным деформационным колебаниям шестичленного кольца в Егя электронной конфигурации /)вл кристаллической симметрии. В случае не полностью упорядоченных переходных форм углерода (измельченный графит, пирографит, уголь, сажа) появляется вторая полоса при 1360 см Ч Она отвечает вибрационным состояниям разрушенной гексагональной решетки вблизи границы кристалла. Отношение интенсивностей этих полос характеризует поэтому степень кристалличности или усредненный диаметр микрокристалла, аналогичный тому, который рассчитывается из данных по дифракции рентгеновских,лучей. [c.33]

Кристаллы, облученные V- или рентгеновскими лучами высокой энергии, подвергаются разрушению, которое затрагивает ионы или молекулы, входящие в состав кристалла. Очень часто осколки от разрушения, обладающие неспаренными, или лишними, электронами, задерживаются в кристалле и могут быть обнаружены по спектру электронного парамагнитного резонанса (ЭПР) [1]. В опытах по спектрам ЭПР облученные образцы помещаются в однородное магнитное поле, которое расщепляет энергетические уровни неспаренного электрона Н8 зеемановские компоненты. Обычно напряженность магнитного поля составляет несколько тысяч гаусс. В этом случае переходы между зеемановскими уровнями могут быть индуцированы соответствующим поляризованным микроволновым излучением. В соответствии с больцмановским распределением спинов между двумя зеемановскими уровнями будет происходить чистое поглощение микроволнового излучения. Это поглощение и есть проявление электронного парамагнитного резонанса. [c.329]

Специальные области применения. Применяя специальные рентгеновские трубки, можно получать узкие пучки лучей диаметром. 100 мкм. В связи с этим в сплавах и рудах можно качественно и количественно анализировать отдельные фазы и включения без разрушения образцов. В случае когда необходимо измерить очень малую интенсивность линий флуоресценции, можно даже отказаться от разложения излучения в спектр кристалл-анализа-тором и определять элементы по энергии соответствующих квантов при помощи амплитудного анализатора. [c.217]