Характеристики кристаллов-анализаторов

Основные характеристики кристаллов-анализаторов, используемых в современных рентгеновских спектрометрах, приведены в приложении. [c.14]

Характеристики кристаллов-анализаторов [c.168]

ТАБЛИЦА 3. ВЕЛИЧИНА МЕЖПЛОСКОСТНЫХ РАССТОЯНИИ О. в ЗАВИСИМОСТИ от ХАРАКТЕРИСТИК КРИСТАЛЛ-АНАЛИЗАТОРОВ из ФТОРИСТОГО лития [c.58]

Кристаллы-анализаторы [9—11, 15, 17, 37]. Правильный выбор кристалла-анализатора в кристалл-дифракционном рентгенофлуоресцентном анализе в значительной степени определяет разрешающую способность метода и порог чувствительности. Основными характеристиками кристаллов-анализаторов являются межплоскостное расстояние d, определяющее рабочий [c.44]

ХАРАКТЕРИСТИКА КРИСТАЛЛОВ-АНАЛИЗАТОРОВ [c.300]

Определение показателей преломления кристаллических веществ ведут чаще всего иммерсионным методом — путем сравнения оптических характеристик кристаллов и жидкости, в которую их погружают. Для измерений используют поляризационный микроскоп (рис. 34), который снабжен поляризатором и анализатором, расположенными до и после объекта наблюдения в оптической системе микроскопа. Расположение поляризатора и анализатора должно быть на первом этапе измерений взаимно перпендикулярным (оси РР и АА на рис. 35, а). Луч света проходит от осветителя через поляризатор, который пропускает поляризованный свет с колебаниями в плоскости РР] войдя в кристалл исследуемого вещества, луч света разлагается на два с колебаниями, отвечающими направлениям осей эллипса сечения индикатрисы хх и уу. По пути к окуляру эти лучи проходят еще через анализатор, пропускающий только свет с колебаниями в плоскости АА. Колебания Хр и ур, совпадающие с осью РР, перпендикулярной АА, гасятся анализатором, а колебания ха и у а проходят через анализатор и наблюдаются в окуляре. В этом положении кристалл будет выглядеть светлым и окра- [c.108]

Кристаллы-анализаторы, применяемые в рентгеновской спектроскопии, должны удовлетворять ряду требований. Наиболее важными характеристиками кристаллов являются расстояние между плоскостями, коэффициент отражения для отражений первого порядка, коэффициент отражения для [c.221]

Брэгг отождествил обнаруженные им линии с -серией Баркла, измерив для них Аа1 Д доказав, что эта характеристика не зависит от кристалла-анализатора. [c.39]

Из сопоставления характеристик рентгеновских приборов (рис. 52) можно видеть, что прибор XRD-5D/S может быть легко превращен в спектрофотомепр для целей абсорбциометрии в монохроматическом излучении (гл. 5). Для этого в принципе необходимо только поместить в спектрометр образец, для которого производятся измерения коэффициента поглощения, между кристаллом-анализатором к счетчиком. Практически удобно образцы материалов, дающих характеристическое излучение с удобным набором длин волн, устанавливать в держателе образцов спектрометра. В лаборатории авторов прибор XRD-5D/S используется как спектрофотометр для определения хлора в органических материалах, а также для изучения тонкой структуры края поглощения (см. 1.23). [c.263]

Ядерио-физические характеристики оставшихся в водной фазе элементов (Re, Pt, Ir, Zn, d) позволяют провести их идентификацию без дальнейшего разделения по суммарным сиектрам, снятым при различных усилениях иа анализаторе АИ-100 с кристаллом NaJ(Tl). Химический выход рения составляет 54%. Чувствительность определения 6-10 г Re (или < 6-10 %), воспроизводимость 15—20%. Время, необходимое для разделения примесей ио разработанной схеме, не превышает 2—3 час. [c.263]

Основные типы приборов, используемых для обнаружения и измерения излучений радиоактивных веществ, рассматривались в гл. V. В данной главе обсуждаются отдельные методы, применяемые в исследованиях такого рода. Выбор метода работы и измерительной аппаратуры в большой степени определяется характером требуемой информации. Если речь идет просто о методе радиоактивных индикаторов, когда работу ведут с одним радиоактивным изотопом, характер излучения, количество и степень чистоты которого удовлетворяют поставленной задаче, часто бывает достаточно одного измерительного прибора (пропорционального или сцинтилляционного счетчика, или счетчика Гейгера — Мюллера). Техника измерений в таком случае не представляет трудностей. Иногда, напротив, приходится силами целой лаборатории ядерной химии изучать характеристики излучения ряда радиоактивных изотопов, идентифицировать новые излучатели и количественно исследовать ядерные процессы, протекающие при облучении в реакторе или при бомбардировке ускоренными частицами. В этом случае необходимо использовать множество разнообразных приборов, в том числе очень специализированных осуществление ряда методик и отдельных операций требует большого мастерства и изобретательности. Большинство радиохимических лабораторий занимает в этом смысле промежуточное положение. Даже в том случае, когда проводятся только исследования с помощью радиоактивных индикаторов, применяют, как правило, несколько различных изотопов и соответственно несколько методов детектирования и разные способы приготовления образцов. Во многих случаях необходимо выделить один из радиоактивных изотопов, идентифицировать его, проконтролировать отсутствие примесей. Анализ -излучателей в большинстве лабораторий проводят с помощью пропорциональных или гейгеровских счетчиков с тонким окном для регистрации у-лучей используют сцинтилляционные счетчики с кристаллами. Для анализа а-излучателей или изотопов, испускающих -частицы малой энергии, применяют полупроводниковые детекторы и проточные пропорциональные счетчики (в последнем случае необходимо введение радиоактивного вещества внутрь счетчика). Наряду с этими приборами приходится использовать также усилители и пересчетные устройства при исследованиях часто применяют различные одно- или многоканальные амплитудные анализаторы, схемы совпадений и другие приборы. [c.382]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология