Спектрометры сопоставление характеристик

СОПОСТАВЛЕНИЕ ХАРАКТЕРИСТИК СПЕКТРОМЕТРОВ [c.53]

Вследствие этого для характеристики структуры углеродного скелета используют соответствующие корреляционные уравнения между вероятностным содержанием атомов углерода и водорода в различных типах структурных групп. Наиболее объективной информацией о распределении атомов водорода по структурным группам являются данные ПМР-спектрометрии. В целом, сопоставление данных ЯМР С с результатами ПМР-спектрометрии дает возможность получить достаточно полное представление о структурной организации вероятностных типов фрагментов молекул. [c.43]

П. Конн при оценке и сравнении фурье-спектрометров, обеспечивающих в достаточной для сопоставления приборов мере постоянство о, ввел свой параметр качества Q [12, 55], оперируя характеристиками, определенными пз спектрограммы, который можно рассматривать как пример определения действительного значения показателя С [c.139]

Сопоставление параметров и характеристик различного типа масс-спектрометров приведено в табл. 2-8. [c.154]

Это преимущество решеток может быть использовано различными путями для улучшения характеристик спектрометра. В химическом анализе не всегда бывает нужным высокое разрешение, и поэтому можно работать с широкими щелями. Обычно можно работать со щелевыми программами, обеспечивающими вдвое большее отношение сигнала к шуму по сравнению с призмой, располагая при этом еще и большим (в 3—6 раз) разрешением. Решетки благодаря их лучшей дисперсии могут быть использованы и при точных измерениях длин волн в спектрах. Калибровка решетки менее чувствительна к изменениям температуры в число раз, примерно равное утроенному отношению дисперсий решетки и призмы. Множитель 3 берется из сопоставления линейного и объемного коэффициентов теплового расши- [c.20]

Важнейшими характеристиками спектрометра являются 1) разрешающая способность, т. е. способность выделять близко расположенные спектральные компоненты, Я=Х1(1Х=к1(1к ( — длина волны, к — частота) и 2) светосила, или световой поток, пропущенный прибором от источника с единичной мощностью на единицу поверхности для единичного спектрального интервала. Очевидно, что второй параметр зависит от разрешающей способности, поэтому сопоставление светосилы спектральных приборов следует производить только при их одинаковой разрешающей способности. [c.53]

И глава посвящена описанию принципов построения спектрометров на более строгой количественной основе, сопоставлению важнейших характеристик существующих типов спектрометров и формулированию требований к приборам, конструируемым для химических исследований. В конце главы приведено описание конструкции и методики работы на серийном спектрометре, выпускаемом промышленностью на основе прибора ЭПР-2, сконструированного в ИХФ под руководством одного из авторов. Необходимо отметить, что практически все результаты авторов, рассмотренные в последующих главах, получены на приборах такого типа. [c.3]

ДЛЯ калибровки спектрометров и схем совпадений. Энергия у-квантов определенная с высокой точностью с помощью кристаллического спектрометра и при исследовании электронов конверсии на магнитном спектрометре, составляет 0,411775 0,000007 Мэв. При анализе на магнитном спектрометре коэффициенты внутренней конверсии рассчитывали путем сопоставления площади под кривыми пиков внутренней конверсии с площадью под всей кривой -спектра. Наиболее надежным значением коэффициента внутренней конверсии на A -оболочке считают 0,028, отношение K/L принимают равным 2,9 и отношение Ь 1Ь ц/Ьш — 2,272,4/1,0. Из этих данных следует, что переход с энергией 0,412 Мэв является электрическим квадрупольным переходом Е2). Поскольку основное состояние четно-четного Hg имеет, по-видимому, характеристику О-Ь, то в соответствии с общим правилом для первых возбужденных состояний четно-четных ядер уровень с энергией 412 кэв имеет конфигурацию 2-j-. Форма спектра -частиц, испускаемых при дезактивации возбужденного состояния с энергией 0,962 Мэв, соответствует разрешенному переходу или переходу первого порядка запрещенности. По этой причине изменение спина должно составлять О или 1. Значение lg ft из уравнения (25) гл. VIH оказывается равным 7,7, что указывает, по всей вероятности, на переход первого порядка запрещенности и, следовательно, на отрицательную четность (—) Аи . Конфигурация (1—) для Аи , по-видимому, исключается, поскольку в этом случае -переходы в основное и возбужденное на 412 кэв состояния Hgi имели бы одинаковый порядок запрещения. Однако переход в основное состояние не является преобладающим и, следовательно, должен иметь большее значение lg ft, чем наблюдаемый -переход с энергией 962 кэв. Вероятные значения спина и четности для Ап составляют, таким образом, 2— или 3—. [c.428]

Из сопоставления характеристик рентгеновских приборов (рис. 52) можно видеть, что прибор XRD-5D/S может быть легко превращен в спектрофотомепр для целей абсорбциометрии в монохроматическом излучении (гл. 5). Для этого в принципе необходимо только поместить в спектрометр образец, для которого производятся измерения коэффициента поглощения, между кристаллом-анализатором к счетчиком. Практически удобно образцы материалов, дающих характеристическое излучение с удобным набором длин волн, устанавливать в держателе образцов спектрометра. В лаборатории авторов прибор XRD-5D/S используется как спектрофотометр для определения хлора в органических материалах, а также для изучения тонкой структуры края поглощения (см. 1.23). [c.263]

Двойные спектрометры типа Брэгг — Лауэ и Лауэ-Лауэ. Брогрен и Эделл [108] в своих исследованиях кривых отражения кальцита, кварца, а затем Ge и Si использовали двойные спектрометры по схемам Брэгг—Лауэ и Лауэ—Лауэ (рис. 69). В спектрометре Брэгг — Лауэ (рис. 69, а) используется в кристалле 1 симметричное отражение по Брэггу и в исследуемом кристалле 2 — симметричное отражение с теми же индексами по Лауэ. Для сопоставления с экспериментальными кривыми отражения эти авторы использовали формулы (9.25) — (9.28), в которых значения функций Со (ос) и Сп (а) от кристалла I и Со (ос — Р) и С (а — Р) от кристалла 2 соответствовали коэффициентам отражения и прохождения в зависимости от выбранной схемы прибора. Так, в случае схемы Брэгг — Лауэ для кристалла 1 использовались коэффициенты отражения по Брэггу и для кристалла 2 — коэффициенты отражения или прохождения по Лауэ. Хотя использование указанных формул в схемах Брэгг—Лауэ и Лауэ—Лауэ пе было обосновано специальным анализом, правомерность такого расчета была подтверждена хорошим совпадением теоретических (т. е. вычисленных указанным путем) и экспериментальных кривых отражения в широкой области спектра. (Вместе с тем следует отметить, что все еще остается неясной теоретическая оценка таких основных характеристик кривых отражения, получаемых в схеме Брэгг — Лауэ, как наличие или отсутствие паразитной симмет- [c.252]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология