Спектроскопия рентгеновская

Главное направление развития М. а.-использование физ. методов (напр., масс-спектрометрии, атомно-эмиссионной спектроскопии, рентгеновского локального анализа, лазерной аналит. спектроскопии). Совр. методы М. а. позволяют Б одной микропробе или на пов-сти твердого тела определять более 50-60 элементов. [c.85]

Для изучения поверхности электродов и явлений адсорбции используют оптические методы. Часть этих методов предназначена для исследования поверхностного слоя электродов, погруженных в раствор электролита и включенных в электрохимическую цепь. Таким образом получается информация о состоянии границы раздела фаз при заданном составе раствора и заданном потенциале электрода. К этим методам относятся эллипсометрический метод, а также методы обычного зеркального и неполного внутреннего отражения. Другая часть оптических методов изучения поверхности электродов требует удаления их из раствора, просушки и последующего исследования в глубоком вакууме. К этим методам относятся дифракция медленных электронов, Оже-спектроскопия, фотоэлектронная спектроскопия (рентгеновский микроанализ), сканирующая электронная микроскопия и некоторые другие методы. Эти методы дают информацию о микроструктуре поверхности твердых электродов, о химическом составе поверхностного слоя, изменение которого могло произойти в результате необратимой адсорбции тех или иных компонентов раствора, о составе и структуре возникших на поверхности окисных пленок. Однако для изучения обратимых адсорбционных явлений на электродах эти методы не подходят. [c.80]

ОСНОВНЫЕ ОПРЕДЕЛЕНИЯ И ОБОЗНАЧЕНИЯ В СПЕКТРОСКОПИИ РЕНТГЕНОВСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ [c.796]

По диапазонам изучаемых длин волн электромагнитного излучения различают гамма-спектроскопию, рентгеновскую, оптическую и радиоспектроскопию. Оптическая спектроскопия в свою очередь подразделяется на спектроскопию видимого излучения, инфракрасную и ультрафиолетовую. [c.170]

Энергия выше примерно шести электронвольт, необходимая для выброса электрона из молекулы, соответствует длине волны фотона в области вакуумного ультрафиолета (ВУФ) по электромагнитной шкале. Зигбан и сотрудники (Швеция) впервые применили в качестве источника для фотоэлектронной спектроскопии рентгеновское /(а-излучение 12], в то время как Тернер и др. [13] в Англии, Теренин и др. [14] в СССР первыми применили БУФ-фотоны. Использование рентгеновского излучения, обладающего более высокой энергией, позволило шведским ученым получать результаты, связанные с эмиссией электронов как с валентных, так и с внутренних оболочек ато- [c.16]

Строение орг. соед. устанавливают с помощью методов анализа орг. соед., включающих помимо элементного анализа такие физ. методы, как ЯМР, масс-спектрометрия, ИК спектроскопия, рентгеновский структурный анализ, электронография и др. развиваются также методы выделения, очистки и разделения орг. в-в, напр. разл. виды хроматографии. [c.396]

Частично из-за потребности в монохроматическом излучении возникли два раздела фотоэлектронной спектроскопии. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, сокращенно обозначаемая как РФС или ЭСХА (электронная спектроскопия для химического анализа), использующая рентгеновские лучи в качестве источника ионизирующего излучения, изучает в основном электроны оболочки (т.е. невалентные электроны). Создание этого метода приписывают Сигбану и сотр. [27]. В ультрафиолетовой фотоэлектронной спектроскопии (УФС) используют ультрафиолетовое излучение, имеющее более низкую энергию, и, таким образом, исследуют энергии связи валентных электронов. Обязанная своим развитием главным образом Тернеру и его сотрудникам [28], УФС предназначалась не только для измерения энергий связывания валентных электронов, но и для наблюдения за возбужденными колебательными состояниями молекулярного иона, образующегося в процессе фотоионизации. [c.331]

В результате возникает третья задача. Надо, чтобы теория валентности удовлетворительно объясняла стереохимию молекул. Теория стереохимии начала развиваться после того, как Вант-Гофф и ле Бель выдвинули важнейший постулат о тетраэдрической структуре атома углерода. Затем вследствие появления многих новых физических методов исследования, таких, как колебательная и вращательная спектроскопия, рентгеновская и электронная дифракция, химики смогли получить более полные сведения о структуре молекул. Например, для многих молекул межатомные расстояния и валентные углы известны теперь с очень высокой точностью. Это привело к предъявлению новых требований к теории валентности. Так, удовлетворительная теория должна объяснить не только, почему в метане все углы НСН тетраэдрические (109°28 ) [c.14]

Буквенные обозначения К, Л1, Л и т. д., а также 5, р, с1, / ведут свое начало от терминов спектроскопии (рентгеновской и оптической). [c.29]

В данной лекции проведен сравнительный анализ ряда физико-химических методов, применяемых для исследования структуры твердых катализаторов. Показано, что оптимальный набор методов определяется но основе анализа свойств, которые должны быть охарактеризованы для изучаемой системы. Для твердых катализаторов этот набор включает методы химического анализа, адсорбцию газов при низкой температуре, просвечивающую электронную микроскопию, селективную адсорбцию газов, рентгеновскую фотоэлектронную спектроскопию, рентгеновскую дифракцию. Обсуждаются физические принципы действия этих методов и тип получаемой информации. На примере исследования ряда монолитных катализаторов очистки выхлопных газов автомобильных двигателей продемонстрированы методические особенности практического применения выбранных методов. [c.9]

Том IV, Москва (1940 г.). Выпуск 1 содержит сведения о строении материи, материалы по физике и физической химии. Выпуск 2 тоже в основном посвящен физике (спектроскопия, рентгеновский анализ, рефракция и др.) и физической химии, а также кристаллографии, минералогии и геохимии. [c.25]

Ориентация. Ориентация последовательностей групп —(СНг) — в полиэтилене исследуется методами инфракрасной спектроскопии, рентгеновской дифракции и т. д. Выводы, получаемые на основании различных методов исследования, не всегда согласуются между собой Тем не менее представляется возможным сделать некоторые общие заключения. Исследование инфракрасного дихроизма (см. стр. 291) дублета при 721—730 см , относимого различными авторами к маятниковым колебаниям группы СНо, показывает, что в образцах, подвергнутых холодной вытяжке, оси цепей (кристаллографические оси с) ориентированы в основном параллельные направлению растяжения (а-поляризация компонент дублета). Однако после отжига при 100°С кристаллографическая ось а ориентируется преимущественно в направлении вытяжки (л-поляризация компоненты дублета при 730 см ). Штейн и Норрис по наблюдениям дихроизма этого же дублета пришл й к выводу о том, что ориентация полимера происходит более полно в аморфных, а не в кристаллических областях. [c.329]

По диапазонам изучаемых волн электромагнитного излучения различают гамма-спектроскопию, рентгеновскую, оптическую и [c.140]

По терминологии, принятой в спектроскопии рентгеновских лучей, Х-излуче-ние, возникающее при переходе с -оболочки на ЛГ-оболочку, называется ЛГ -излуче-нием К у- и 2-излучения соответствуют переходам с подуровней -оболочки. Х-из-лучение, возникающее при переходе электрона с Л/-оболочки на ЛГ-оболочку, называется А р-излучением и т. д. Аналогично существует и т. д. рентгеновское излучение. [c.119]

Рентгеноспектральный микроанализ основан на возбуждении электронным зондом характеристич. рентгеновского излучения исследуемого образца (см. Рентгеновская спектроскопия). Рентгеновские микроанализаторы создают на основе просвечивающих и растровых электронных микроскопов. Они состоят из электронной пушки с системой линз для формирования электронного зонда, рентгеновского спектрометра, к-рый разлагает излучение в спектр и преобразует его в электрич. сигналы, и регистрирующей системы. В приборе поддерживается высокий вакуум. По спектру характеристич. рентгеновского излучения определяют атомные номера элементов, а по интенсивности спектральных линий — их концентрации. Метод примен. для качеств. и количеств, определения всех хим. элементов, начиная с В абсолютные и относит, пределы обнаружения соотв. 10" —10 г и 10 —10 %. Относит, стандартное отклонение при количеств, анализе 0,02—0,05. Объем образца, к-рый можно анализировать данным методом, зависит гл. оор. от энергии первичных электронов [1—50 кэВ, или (0,16—8)-10 Дж], плотности образца, степени поглощения излучения и составляет 0,1—10 мкм . Рентгеноспектральный анализ примеп. для определения состава микровключений, распределения элементов в тонких слоях и фазового анализа твердых в-в, [c.701]

В ряде статей опубликованы результаты сравнительного анализа, проведенного методами фотометрии, флуориметрии, эмиссионной спектрометрии, атомно-абсорбционной спектроскопии, рентгеновского флуоресцентного и нейтронно-активационного анализа, вольтамперометрии и полярографии следующих элементов алюминия, бериллия, брома, хрома, германия, ртути, никеля, селена, олова и др. В табл. 62 приведены полученные для различных материалов усредненные результаты анализа, относительные стандартные ошибки и пределы обнаружения. [c.186]

Рентгеновская спектроскопия. Рентгеновское излучение имеет ту же электромагнитную природу, что и световое излучение, у-излучение и радиоволны. Рентгеновские спектры получают при бомбардировке вещества, находящегося непосредственно на аноде рентгеновской трубки, электронами высокой энергии, испускаемыми катодом (рис. 80). Получаемый ренгеновский спектр называется первичным. Вторичный рентгеновский спектр получается при облу- [c.181]

Информацию о качественном составе исследуемого объекта можно получить также с помощью масс-спектроскопиа, рентгеновской спектроскопии и других методов анализа. [c.14]

К рентгеновским методам спектроскопии электромагнитного излучения относятся рентгеноэмиссионный (РЭА), рентгенофлуоресцентный (РФА) анализ, а к методам электронной спектроскопии — рентгеновская фотоэлектронная (РФЭС) и Оже-электронная (ОЭС) спектроскопия. [c.354]

Диапазон энергий квантов С.и.-от долей эВ до сотен кэВ (т. е. включает область мягкого рентгеновского излучения). С. и. характеризуется непрерывным спектром, высокой степенью поляризации, большой интенсивностью (превосходит на неск. порядков излучение в рентгеновских трубках), чрезвычайно малой расходимостью, малой длительностью импульсов (до 100 пс). Эти св-ва позволяют использовать С. и. в спектроскопии, рентгеновском структурном анализе, для изучения оптич. активности молекул, возбуждения люминесценции, инициирования фотохим. р-ций и др. Так, благодаря большой интенсивности источников С. и. удалось зарегистрировать мол. спектры поглощения с разрешением 0,003 нм. Разрабатываются импульсные методы спектроскопии, использующие С. и. для исследования метастабильных продуктов фотолиза, механизма сверхбыстрых р-ций и т. п. Рентгеновский структурный анализ биол. объектов, в частности монокристаллов белков, использующий С. и., позволяет значительно сократить время регистрации рентгенограмм, уменьшить радиац. нагрузки на образец. С. и. применяют также, напр., для фотолитографии, в произ-ве интегральных схем. [c.357]

СПЕКТРАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ, метод качеств, и количеств, определения состава в-в, основанный на исследовании их спектров испускания, поглощения, отражения и люминесценции. Различают атомный и молекулярный С. а., задачи к-рых состоят в определении соота. элементного и молекулярного состава в-ва. Эмиссионбый С. а. проводят по спектрам испускания атомов, ионои или молекул, возбужденных разл. способами, абсорбционный С. а.-по спектрам поглощения электромагн. излучения аиализнруем1>1ми объектами (см. Абсорбционная спектроскопия). В зависимости от цели исследования, св-в анализируемо о в-ва, специфики используемых спектров, области длин волн и др. факторов ход анализа, аппаратура, способы измерения спектров и метрологич. характеристики результатов сильно различаются. В соответствии с этим С. а. подразделяют на ряд самостоят. методов (см., в частности, Ато.мно-абсорбционный анализ. Атомно-флуоресцентный анализ, Инфракрасная спектроскопия, Комбинационного рассеяния спектроскопия, Люминесцентный анализ. Молекулярная оптическая спектроскопия. Спектроскопия отражения, Спектрофотометрия, Ультрафиолетовая спектроскопия, Фотометрический анализ, Фурье-спектроскопия, Рентгеновская спектроскопия). [c.392]

По диапазону длин волн (или частот) электромагн. излучения выделяют радиоспектроскопию, микроволновую спектроскопию, оптическую С. (см. Инфракрасная спектроскопия. Молекулярная оптическая спектроскопия. Ультрафиолетовая спектроскопия), рентгеновскую спектроскопию и гамма-спектроскопию (см. Мёссбауэровская спектроскопия. Гамма-абсорбционный аиализ). Оптическую С. на практике иногда отождествляют со спектрофотометрией. В каждом разделе С. используются свои приборы для получения, регистрации и измерения спектров. В соответствии с различием конкретных эксперим. методов выделяют спец. разделы С., напр. Фурье-спектроскопия, лазерная спектроскопия. [c.394]

Спектроскопия Оже-электронов спектроскопия рентгеновских фотоэлектронов спектроскопия. характеристических потерь спектроскопия ионного рассеяния спектроскопия масс вторичных ионов термиче-скр1- и электронно-стимулированная десорбция Дифракция медленных электронов сканирующая э/юктронная микроскопия Дифракция медленных электронов спектроскопия характер.чстических потерь [c.151]

Стали доступными тонкие методы исследования состава и структуры поверхности твердых тел (Оже-элекгронная спектроскопия, рентгеновская и ультрафиолетовая фотоэлектронная спектроскопия, спектроскопия дальней тонкой структуры рентгеновских спектров поглощения, масс-спектрометрия вторичных ионов и др.), в немалой степени обусловившие бурное развитие микроэлектроники в последние десятилетия. [c.4]

Борер. Я принадлежу к группе химиков, работающих с неизвестными ранее соединениями. До тех пор пока эти соединения не будут выделены в чистом виде, их невозможно идентифицировать обычными методами, такими, как инфракрасная спектроскопия, рентгеновский анализ, масс-сиектрометрияи т. д. В своей работе Джеймс и Мартин установили для гомологиче- [c.360]

Спектрометрию ПМР высокого разрешения применяли [731] для исследования о-дихлорбензольных растворов стереоблоч-ного полипропилена, а также полипропиленов с очень высоким содержанием изотактических и синдиотактических структур. Обсуждена связь между степенью стереорегулярности и экранированием протонов, а также некоторые осложнения, возни-каюшие при регистрации резонансного сигнала метиленового протона и при определении степени регулярности некоторых полимеров с использованием резонансных сигналов метиленового протона. Содержание стереорегулярных пар для двух фракций стереоблочного полимера определяли методом, основанным на использовании резонансных сигналов метильного протона. Содержание стереоблочных структур оказалось более высоким, чем найденное из данных о плавлении этих же фракций. Результаты, полученные методом ПМР, хорошо согласуются с результатами, полученными для ряда полимеров методами ИК-спектроскопии, рентгеновской дифракции и дифференциального термического анализа. [c.194]

Дополнительные сведения об эффективной величине кислотности и о природе кислотных центров (льюисовского типа) можно получить на основании тщательного анализа данных, приведенных на рис. 3. Как видно из рисунка, максимумы скорости превращения не совпадают с максимумом кислотности. В том случае, если бы реакция катализировалась кислотами как бренстедовского, так и льюисовского типа, максимальная скорость реакции должна была бы наблюдаться при максимальной кислотности, получаемой при титровании амином (при условии, что рассматривается эффективная сила кислотных центров). Действительно, как нами было показано-ранее, в случае реакции деполимеризации паральдегида, которая, как известно, катализируется не только бренстедовскими ( [2804, ССЦСООН и др.) [12], но также и льюисовскими (Т1С14, А1С1з, ЗпС14 и др.) [13] кислотами, максимум скорости реакции совпадает с максимумом кислотности (см. рис. 4) [14, 15]. Скорость реакции полимеризации пропилена на никель-сульфатных катализаторах также хорошо согласуется с суммарной величиной бренстедовской и льюисовской кислотности при силе кислотных центров +1,5 [16]. Однако при изомеризации а-пинена в камфен на тех же самых катализаторах максимум скорости реакции не совпадал с максимумом кислотности [17]. В случае использования сульфата никеля максимальная кислотность при любой силе кислотных центров наблюдается при температуре прокаливания 350° С, а максимальная скорость реакции — на образце, предварительно прокаленном при 250 С (см. рис. 4). Подобное явление наблюдалось также при изомеризации бутена-1 в бутен-2 на сульфате никеля, нанесенном на окись кремния [18]. В реакции превращения хлористого метилена максимальную каталитическую активность показали образцы сульфата никеля, прокаленные при 400 С (см. рис. 3). Эта температура на 50° С превышает температуру, при которой наблюдается максимум кислотности. Наблюдаемое расхождение можно объяснить, принимая во внимание природу кислых центров сульфата никеля. На основании результатов, полученных при изучении новерхности сульфата никеля методами ИК-спектроскопии, рентгеновским, ЭПР и др. [19], пришли к выводу, что кислотные центры сульфата никеля характеризуются наличием ионов никеля с одной незаполненной орбиталью, которые проявляются в неполностью дегидратированной, метастабильной, промежуточной структуре б) (см. стр. 383). Образующаяся конфигурация является промежуточной формой между моногидратом (а) и ангидридом (е). Эта свободная орбиталь и возникающее сродство к электронной паре и объясняет льюисовскую природу кислотности сульфата никеля и его каталитическую активность. [c.382]

Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФЭС, ХР8), известная также как электронная спектроскопия для химического анализа (ЭСХА, Е8СА), весьма широко используется [c.297]

Общая химия (1984) -- [ c.181 ]

Общая и неорганическая химия Изд.3 (1998) -- [ c.159 ]

Химический энциклопедический словарь (1983) -- [ c.506 ]

Краткий химический справочник Ч.1 (1978) -- [ c.344 ]

Большой энциклопедический словарь Химия изд.2 (1998) -- [ c.506 ]

Общий практикум по органической химии (1965) -- [ c.95 ]

Вода в полимерах (1984) -- [ c.87 , c.90 ]

Методы количественного анализа (1989) -- [ c.15 ]

Физическая химия Том 1 Издание 5 (1944) -- [ c.106 ]

Неорганическая химия (1969) -- [ c.236 ]

Общая и неорганическая химия (1981) -- [ c.141 ]

Введение в молекулярную спектроскопию (1975) -- [ c.10 ]

Краткий химический справочник Издание 2 (1978) -- [ c.344 ]

Методы концентрирования микроэлементов в неорганическом анализе (1986) -- [ c.15 ]

Краткий химический справочник (1977) -- [ c.328 ]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология