Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Структура искровых масс-спектров

    Во второй главе обсуждается структура искровых масс-спектров, дается интерпретация отдельных групп линий, регистрируемых фотопластинкой, рассматриваются причины наложений на аналитические линии спектра масс исследуемых веществ многозарядных образований и линий углеводородного фона. [c.7]

    СТРУКТУРА ИСКРОВЫХ МАСС-СПЕКТРОВ [c.50]

    Ионный луч на пути следования от источника к фотопластинке управляется электрическим и. магнитным полями. В современных. масс-спектрометрах обеспечивается высокая степень откачки анализаторов тем ие менее в анализаторе происходят столкновения заряженных частиц с атомами и молекулами остаточного газа, которые изменяют траектории ионов или вызывают их перезарядку. В результате на определенных участках фотопластинки возникают полосы фона и размытые линии. При попадании ионов на фотопластинку образуются вторичные и третичные ионы, электроны и другие виды излучения, которые приводят к созданию интенсивного фона, особенно в районе основных масс и линий, прилежащих к ним. Все эти факторы определяют структуру искровых масс-спектров и должны быть тщательно проанализированы, прежде чем будут выделены составляющие, имеющие непосредственное от-нощение к исследуемому образцу. [c.68]


    Исследованию основных аналитических характеристик метода вакуумной искры — чувствительности и точности получаемых данных — посвящена больщая часть публикаций. Пределы точности масс-спектрометрических результатов зависят от чувствительности эмульсии на различных участках фотопластинки, режимов работы искрового источника, характера образования ионов исследуемого вещества в искровом промежутке, структуры спектра масс, вариаций фона фотопластинки и условий ее проявления, соответствия индивидуальных ионных токов элементному составу анализируемых веществ, распределения примесей в пробе и т. д. [c.6]

    В четвертой главе представлены методы анализа твердых веществ на масс-спектрометре с искровым ионным источником. Рассмотрены особенности анализа полупроводников, металлов, изоляторов, геологических образцов и биологических объектов, отличающихся электрофизическими характеристиками, способами подготовки проб для анализа, структурой спектра масс и методами определения концентраций. Один из разделов этой главы посвящен масс-спектрометрическому определению газовых примесей и углерода в твердых телах. В этой же главе обсуждаются точность масс-спектрометрических результатов и [c.7]

    Для исследования изотопного состава природных элементов при помощи спектрального метода ранее всего были использованы молекулярные спектры. В 1927—1929 гг. при помощи молекулярных спектров были открыты тяжелые изотопы углерода (С ), азота (М ) и кислорода (О и О ), которые не удалось обнаружить в то время масс-спектрометрическим методом. На основе молекулярных спектров были получены также первые данные о распространенности этих изотопов в природных условиях. В 1931 г. в естественном таллии по сверхтонкой структуре некоторых спектральных линий были найдены два изотопа и Т1205, Годом позже спектроскопическим методом по структуре ряда дуговых и искровых линий свинца был открыт его четвертый изотоп который не был отмечен первыми масс-спектрометриче- [c.152]


Смотреть страницы где упоминается термин Структура искровых масс-спектров: [c.131]   
Смотреть главы в:

Аналитические возможности искровой масс-спектрометрии -> Структура искровых масс-спектров




ПОИСК





Смотрите так же термины и статьи:

Масс-спектр

Процессы, происходящие в вакуумном искровом разряде, и структура масс-спектров



© 2024 chem21.info Реклама на сайте